「electron-microscopic」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

MICROGRID FOR SUPPORTING ELECTRON MICROSCOPIC SAMPLE AND ITS MANUFACTURE例文帳に追加

電子顕微鏡試料支持用マイクログリッド及びその製造方法 - 特許庁

FORMATION FOR THIN FILM SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPIC OBSERVATION例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料作製方法 - 特許庁

To provide a device for controlling an electron microscope that facilitates the moving operation of a microscopic image.例文帳に追加

顕微像の移動操作を容易にする電子顕微鏡の制御装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The micron marker of the obtained size is superimposed on the electron microscopic image and displayed.例文帳に追加

得られた寸法のミクロンマーカを電子顕微鏡像に重畳して表示する。 - 特許庁

TISSUE SAMPLE FORMATION METHOD, TISSUE SAMPLE FORMATION DEVICE, AND JIG FOR FORMING ELECTRON MICROSCOPIC SAMPLE例文帳に追加

薄片試料作製方法、薄片試料作製装置、電子顕微鏡用試料作製治具 - 特許庁

A personal computer 20 acquires the microscopic image generated by the electron microscope 10, and performs image processing using maximum entropy method to the microscopic image.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ２０は電子顕微鏡１０によって生成された顕微鏡画像を取得し、前記顕微鏡画像に最大エントロピー法を用いた画像処理を施す。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC METHOD, CHARGED PARTICLE BEAM INSPECTION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

荷電粒子線顕微鏡装置、荷電粒子線応用装置、荷電粒子線顕微方法、荷電粒子線検査方法、及び電子顕微鏡装置 - 特許庁

It is preferable that particulate iron having a particle diameter of ≥1 nm is not observed by microscopic observation with a transmission electron microscope (TEM).例文帳に追加

好ましくは、透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）観察により、粒子径１ｎｍ以上の粒子状の鉄が観測されない多孔質構造体。 - 特許庁

To provide a method for easily making a transmission electron microscopic sample without requiring an exclusive device.例文帳に追加

簡便でかつ専用の装置を必要としない、透過型電子顕微鏡観察用の試料作製方法を提供すること。 - 特許庁

A scanning electron microscope 10 generates a microscopic image by emitting electron beams from an electron gun to a sample, and detecting secondary electrons generated from the sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡１０は、電子銃から電子線を試料に照射し、試料から発生した二次電子を検出することによって顕微鏡画像を生成する。 - 特許庁

To provide an observation technology by a phase retrieval type electron microscope, making the intensity distribution of a parallel electron beam with a microscopic diameter in measuring a real image and an electron diffraction pattern bright and uniform.例文帳に追加

実像と電子回折像を測定する際の微小径かつ平行な電子線を、明るくかつ均一な強度分布にする位相回復方式の電子顕微鏡による観察技術を提供する。 - 特許庁

Moreover, the method includes a step of obtaining a plurality of electron microscopic images associated respectively with the plurality of sample regions, a step of processing the information associated with the plurality of electron microscopic images, and a step of determining a plurality of first grayscale values of the plurality of sample regions.例文帳に追加

さらに、この方法に、それぞれ複数のサンプル領域に関連する複数の電子顕微鏡画像を得ることと、複数の電子顕微鏡画像に関連する情報を処理することと、複数のサンプル領域の第１の複数のグレイスケール値を判定することが含まれる。 - 特許庁

This device includes a focus ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, and also includes a probe for separating the microscopic sample containing the desired region of the sample by a charged particle beam type molding process to take out the separated microscopic sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

To provide a technique for obtaining accurate energy spectral for obtaining a sharp electron image by suppressing the charging or potential strain on the surface of an insulator sample, caused when the insulator sample is observed in the field of an photoemission electron microscopic technique, and to provide a photoemission electron microscope that applies this technique.例文帳に追加

放射電子顕微鏡技術の分野において、絶縁物試料を観察した際に生じる試料表面の帯電や電位歪みを抑制し、鮮明な電子像を得て正確なエネルギースペクトルを得るための手法と、それを応用した放射電子顕微鏡の提供。 - 特許庁

An electron beam prism 3, a dispersion angle amplification lens 6 and aperture 8 are provided between an electron gun 2 and an observation sample 11, the energy dispersion of electron beam orbit occurs by the prism, dispersion angle is amplified by the dispersion angle amplification lens, and only an electron beam passing through the aperture provided next to the dispersion angle amplification lens is used, thereby preparing a microscopic image of the observation sample.例文帳に追加

電子銃２と観察用試料１１との間に電子線用プリズム３と分散角増幅用レンズ６とアパーチャ８とを設け、該プリズムによって電子線軌道のエネルギー分散を発生させ、分散角増幅用レンズによって分散角を増幅し、その後ろに設けたアパーチャを通り抜ける電子線のみを使って観察用試料の顕微鏡像を作成する。 - 特許庁

To provide method for operating microscopic structures or properly stopping milling through subsurface imaging, achieved by use of electron beam with energy sufficient to generate subsurface images.例文帳に追加

表面を進行しかつ、表面下の像を生成するのに十分なエネルギーを有する電子ビームを用いた表面下画像化によってミクロの構造を操縦又はミリングの適切な中止をする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for preparing a samaple for microscopic observation using a transmission type electron microscope facilitating the observation of a planar microstructure with a specific depth in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイス等における特定深さの平面的な微細構造の観察を容易にする、透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To damp the vibration by converting vibration energy into heat energy when a constituent member of a microscopic analysis device such as an electron microscope is vibrated in a natural vibration mode by the input of ambient vibration, sound.例文帳に追加

周囲の振動、音響の入力により、電子顕微鏡等の顕微分析装置の構成部材がそれぞれの固有振動モードにて振動するとき、その振動エネルギを熱エネルギに変換して前記振動を減衰させること。 - 特許庁

The present invention is for observation by an interference microscopic image by a two-step electron-beam biprism interferometer.例文帳に追加

従来の電子線干渉計測法では、電子線バイプリズムの極細線電極から発生するフレネル縞が取得画像ごとに変化して干渉像に重畳されるため、新たなアーティファクトの原因となり、高精度な再生像を得るには至っていない。 - 特許庁

The tin-doped indium oxide nanoparticle has an average primary particle size of 5-100 nm as determined by transmission electron microscopic observation, true density of 6.8-7.2 g/cm^3 as determined by pycnometry.例文帳に追加

錫ドープ酸化インジウムナノ粒子は、透過型電子顕微鏡による観察で測定された一次粒子の平均粒径が５〜１００ｎｍであり、ピクノメーター法で測定された真密度が６．８〜７．２ｇ／ｃｍ^3であることを特徴とする。 - 特許庁

After the object 33 is processed by the particle beam column 26, electrons released from the object using the particle beam column are detected by an electron detector 17 to acquire microscopic images of a processed portion.例文帳に追加

粒子ビームカラム２６で物体３３を加工した後、該粒子ビームカラムを用いて物体から放出される電子を電子検出器１７で検出し加工部の顕微鏡画像を取得する。 - 特許庁

In the first process, a conductive film 3 is formed by sputtering on a substrate 1 and an electron ray e is applied on the conductive film 3 to form a cylinder 7 having a microscopic diameter and mainly composed of carbon.例文帳に追加

第１工程では、基板１上にスパッタリングにより導電膜３を形成し、続いて導電膜３上に電子線ｅを照射して炭素を主成分とする微小径の円柱７を形成する。 - 特許庁

Due to this configuration, it is possible to sample the volatile substance containing sample without change of its properties, and easily prepare the sample as a sample for transmission electron microscopic observation.例文帳に追加

この構成により、揮発性物質含有試料を変質することなくサンプリングでき、透過電子顕微鏡の観察用試料として容易に作製できる。 - 特許庁

To provide an electron microscopic image processing system, capable of simultaneously performing reduction in noise and contour emphasis of an image which are conflicting image processing in the conventional art, in regard to an image containing many noise components which is a characteristic of a high-resolution electron microscope.例文帳に追加

高分解能の電子顕微鏡の特徴であるノイズ成分を多く含む画像に対し、ノイズの低減と画像の輪郭の強調という、従来技術では相反する画像処理を同時に行うことのできる電子顕微鏡の画像処理システムを提供する。 - 特許庁

In reviewing the defects, by irradiating the primary electron beam on the testpiece in such a state that the deflection amount of the electrostatic deflector 12 is reduced than the detection time of defects, and by forming the secondary electron microscopic picture of the defect candidate of the testpiece 19, the three-dimensional SEM image is obtained.例文帳に追加

欠陥レビュー時には、静電偏向器１２の偏向量を欠陥検出時より低下させた状態で１次電子線を試料に照射して試料１９の欠陥欠陥候補の２次電子画像を形成することにより立体的なＳＥＭ像が得られる。 - 特許庁

To provide an inspection technology capable of carrying out high-sensitivity detection of microscopic contamination or detects at high speed by eliminating negative charge by electron beam irradiation in a sample made of an insulator, in an inspection device by a reflection electron image.例文帳に追加

反射電子結像による検査装置において、絶縁物からなる試料においても電子線照射による負帯電を解消し、極微小の異物や欠陥の高感度検出を高速に行うことが可能となる検査技術を提供する。 - 特許庁

When the image processing using maximum entropy method is performed to the microscopic image, the personal computer 20 determines a filtering condition for the image processing based on an evaluation result for comparison between a preliminarily acquired electron microscopic image with large current value and an image using maximum entropy method.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ２０は、前記顕微鏡画像に最大エントロピー法を用いた画像処理を施す際に、あらかじめ取得された大照射電流量の電子顕微鏡画像と、最大エントロピー法を用いた画像との比較に対する評価結果に基づいて前記画像処理のためのフィルタリング条件を決定する。 - 特許庁

To provide a device which can sample an arbitrary site of a volatile substance containing sample, such as organic matters or organisms, as a microflake sample with a size capable of conducting transmission electron microscopic observation without change of its properties.例文帳に追加

有機物や生物等の揮発性物質含有試料の任意の部位を、変質することなく、透過電子顕微鏡観察が可能なサイズの微小薄片試料としてサンプリングでき、同時に電子顕微鏡観察が可能な装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample support member for electron microscopic observation capable of easily fixing and safely treating an extracted minute sample piece when extracting a more minute sample piece from a sample by FIB working and working it into a TEM sample.例文帳に追加

本発明の目的は、FIB加工で試料から、より微小な試料片を摘出し、TEM用試料に加工する際に、摘出した前記微小試料片を容易に固定、安全に取扱うことが可能な電子顕微鏡観察用試料支持部材を提供することにある。 - 特許庁

This method for making a sample comprises thinning a sample piece 2 that becomes the transmission electron microscopic sample, forming a pattern by a photo resist 3 followed by etching, and polishing a formed etched part 4 by an ion milling device to form an observation part 5.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察用の試料となる試料片２を薄片化した後、フォトレジスト３でパターンを形成して、エッチングを行い、形成されたエッチング部４にイオンミリング装置による研磨を行って観察部５を形成する試料作製方法である。 - 特許庁

The composition for a charge transporting film includes a polymer having a dissociative group, an electron-accepting compound and an organic solvent, in which the content of large aggregates having a particle size (2R) of a micron order is low when observed by scanning microscopic light scattering.例文帳に追加

解離性基を有する重合体、電子受容性化合物及び有機溶媒を含有する電荷輸送膜用組成物であって、 光散乱測定法で、粒径（２Ｒ）がミクロンオーダである大きな凝集体を含む割合が小さいことを特徴とする、電荷輸送膜用組成物。 - 特許庁

To provide a reembedding method of a slice for microscopic observation capable of improving efficiency and allowing an organism cell to be observed quickly in a method for embedding a thick slice in resin again and then slicing it again to obtain a thin slice and observing it by an electron microscope.例文帳に追加

厚切り切片を再び樹脂に包埋してから再びスライスして薄切切片とし、これを電子顕微鏡によって観察する方法で、効率の向上を図り、短時間で生物の細胞の観察ができる顕微鏡観察用切片の再包埋方法を提供する。 - 特許庁

In this sample support member for electron microscopic observation, the thickness of a minute sample piece fixing part is set to the thickness of a minute sample piece or more, and projection parts having a thickness and height larger than those of the minute sample piece are provided on both sample fixing-side ends of the sample support member.例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料支持部材の微小試料片固定部厚みを微小試料片厚さ以上にし、試料固定側の試料支持部材の両端に微小試料片以上の厚さおよび高さをもつ突起部分を設けたことにより達成される。 - 特許庁

(A) Pore size: 4-10 nm, (B) Pore volume: ≥0.60 mL/g, (C) Sphericity: ≥0.95 of a silica particle deemed as spherical as expressed by ratio of lengths of minor axis (D_S) to major axis (D_L) (D_S/D_L) determined by scanning electron microscopic observation.例文帳に追加

（Ａ）細孔径が４〜１０ｎｍ、（Ｂ）細孔容積が０．６０ｍｌ／ｇ以上、（Ｃ）シリカ粒子の球状換算として、走査型電子顕微鏡観察による短軸（Ｄ_Ｓ）と長軸（Ｄ_Ｌ）との長さの比（Ｄ_Ｓ／Ｄ_Ｌ）で表される真球度が０．９５以上。 - 特許庁

To provide an X-ray microscopic inspection apparatus which has superhigh-resolution power, enables a nondestructive inspection in a very short time and is equipped with excellent functions such as a target switching function, a high-precision electron probe controlling function, a CT function and an elemental analysis function.例文帳に追加

超高分解能で且つ非常に短時間での非破壊検査が可能であると共に、ターゲット切替機能、高精度の電子プローブ制御機能、ＣＴ機能、元素分析機能などの優れた機能を搭載したＸ線顕微検査装置を提供する。 - 特許庁

The present invention relates to the electromagnetic wave-shielding materials 10 including a transparent substrate 1 and a projection pattern layer 2 composed of a conductive composition formed in a prescribed pattern on the transparent substrate 1, wherein the conductive composition contains conductive particles and a binder resin, and in observation of a transverse cross section of the projection pattern layer 2 by electron microscopic photography, at least a part of the conductive particles has a fused continuation.例文帳に追加

透明基材１と、透明基材１上に所定のパターンで形成された導電性組成物からなる凸状パターン層２を有する電磁波シールド材１０であって、該導電性組成物は導電性粒子とバインダー樹脂を含んでなり、凸状パターン層２の横断面の電子顕微鏡写真による観察において、該導電性粒子の少なくとも一部が融合した連なりを有する。 - 特許庁

To provide a method for preparation of thinned samples that can prevent, when thinned samples are prepared by micro-machining utilizing a focused ion beam for use in transmission electron microscopic observation of sections of a film made up of an aggregate of micro-particulates, micro-particulates exposed on micro-machined end faces from coming off and prevent exposure of thinned regions from being exposed to the atmosphere.例文帳に追加

集束イオンビームを利用する微細加工により、微細粒子の凝集体からなる膜の断面を、透過電子顕微鏡観察する目的の薄片化試料を作製する際、微細加工端面に露呈する微細粒子の剥落を防止でき、また、薄片化された部位の大気暴露を防止可能な、薄片化試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

The composite stabilizer for a chlorine-containing polymer has a particle structure where calcium carbonate exists, as is measured by the electron microscopic method, on the surface of a particle of calcium hydroxide with a carbonation intensity ratio (RI_400), measured by the secondary ion mass spectrometric device(SIMS) and represented by a specific equation, in the range of at least 0.8.例文帳に追加

電子顕微鏡法で観察して水酸化カルシウムの粒子表面に炭酸カルシウムが存在する粒子構造を有し、且つ二次イオン質量分析装置（ＳＩＭＳ）で測定して、特定式で表される炭酸化強度比（ＲＩ_４００）が０．８以上の範囲である塩素含有重合体用複合安定剤。 - 特許庁

In the silver ink composed of silver powder and a solvent, an average particle diameter D_IA of primary particles of the silver powder obtained through image analysis of a scanning electron microscopic image is 0.6 μm or less, and the silver ink or the like for circuit formation composed of polyols is adopted as the solvent.例文帳に追加

上記課題を解決するため、銀粉と溶媒とからなる銀インクにおいて、前記銀粉は、走査型電子顕微鏡像の画像解析により得られる一次粒子の平均粒径Ｄ_ＩＡが０．６μｍ以下であり、前記溶媒はポリオール類からなることを特徴とした回路形成用の銀インク等を採用する。 - 特許庁

To accurately obtain mechanical characteristics at the time of plastic deformation of a polycrystalline material by rapidly and certainly estimating the non-uniform deformation state of the microscopic texture of the polycrystalline material when the polycrystalline material receives macroscopic deformation by a simple method using the crystal data of the polycrystalline material receiving no plastic deformation obtained by a back scattering electron beam diffraction (EBSD) method.例文帳に追加

後方散乱電子線回折（ＥＢＳＤ）法により得られた塑性変形を受けていない多結晶材料の結晶情報を用いて、多結晶材料が巨視的変形を受けた際の微視組織の不均一変形状態を、簡易な方法で迅速且つ確実に予測し、多結晶材料の塑性変形時の機械特性を正確に得る。 - 特許庁

The toner for developing a static image comprising at least a binder resin, a colorant and a crystalline substance is characterized in that the toner particle has a domain-matrix structure; and when the domain portion is approximated by an ellipse, the distribution of the angle of the major axis of the ellipse with an X axis optionally determined on an electron microscopic photograph has two or more peaks.例文帳に追加

少なくとも樹脂と着色剤と結晶性物質とを含有する静電荷像現像用トナーにおいて、該トナー粒子は海島構造を有するもので、該島にあたる部分を楕円に置き換えた時の該楕円の長軸と電子写真顕微鏡写真上で任意に設定されたＸ軸との間で形成される角度の分布が、２つ以上のピークを有することを特徴とする静電荷像現像用トナー。 - 特許庁