「functional circuits」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

As a functional section generating a reference signal for AD conversion, DA conversion circuits 27a and 27b for two pixels are prepared as the repetition unit of a separation filter in the horizontal row direction of read-out unit.例文帳に追加

ＡＤ変換用の参照信号を生成する機能部として、読出単位である水平行方向について分離フィルタの繰返単位である２画素分のＤＡ変換回路27a ，27b を用意する。 - 特許庁

A drive capacity regulation circuit 25 enhances the current drive capacity of the first and second transistors more for functional circuits 6-8 which are connected with the output terminals 4 and 5 and having a larger number of operating states.例文帳に追加

駆動能力調整回路２５は、出力端子４、５に接続される機能回路６〜８のうち、動作状態のものが多いほど第１および第２のトランジスタの電流駆動能力を高める。 - 特許庁

Clock buffers (DCL1-DCL3) for supplying clock signals generated in the clock generator to the functional blocks and control circuits (BAC1-BAC3) which can adjust skews between clock signals supplied to the plurality of functional blocks by changing a threshold voltage of the clock buffer are provided.例文帳に追加

上記クロック生成部で生成されたクロック信号を上記機能ブロックに供給するためのクロックバッファ（ＤＣＬ１〜ＤＣＬ３）と、上記クロックバッファのしきい値電圧を変化させることで、上記複数の機能ブロックに供給されるクロック信号間のスキューを調整可能な制御回路（ＢＡＣ１〜ＢＡＣ３）とを設ける。 - 特許庁

To obtain a high frequency moudle having package boards having predetermined functional circuits with the package boards detachable from a module board, and with a property of the package board easily evaluated before its assembly.例文帳に追加

所定の機能回路を有するパッケージ基板を有し、パッケージ基板はモジュール基板から着脱可能とされ、また、各パッケージ基板は組み立て前に容易に性能の評価をすることができる高周波モジュールを得る。 - 特許庁

To provide a composite device by which a plurality of functional devices are connected with a USB bus via one and the same USB logic circuit and moreover each function of which has independence as having simplified circuits, and to provide its realization method.例文帳に追加

複数の機能装置が同一のＵＳＢロジック回路を介してＵＳＢバスと接続でき、しかも簡略な回路を備えながら、各機能が独立性をもつ、複合デバイス及びその実現方法を提供する。 - 特許庁

To provide a current supply circuit and an AD converter circuit which reduce an unnecessary bias current while maintaining circuit performance by securing a necessary bias current in the AD converter circuit and other functional circuits.例文帳に追加

ＡＤ変換回路やその他の機能回路において、必要なバイアス電流を確保して回路性能を維持しながら、不要なバイアス電流を低減する電流供給回路及びＡＤ変換回路を提供すること。 - 特許庁

When communication is performed between an IP terminal 100 with its IP line and a non-IP terminal 200 with its non-IP line, the private branch exchange performs control so that only the DSP circuits 30 of the number required for functional specification are provided, and performs control so that the DSP circuits 30 are allocated to a communication control unit requiring them by software by dynamically utilizing the DSP circuits 30.例文帳に追加

ＩＰ端末１００およびそのＩＰ回線と非ＩＰ端末２００およびその非ＩＰ回線とで通信を行う場合、機能仕様上必要とされる数のＤＳＰ回路３０だけを設けるように制御し、ＤＳＰ回路３０を動的に利用して、必要な通話制御部に対してＤＳＰ回路３０をソフトウェアで割り当て制御することを特徴とする構内交換機である。 - 特許庁

The clock signal CLK is distributed to each of a plurality of the unit chip regions 40 through the first clock wiring network 30, and distributed to a plurality of functional circuits 70, 130 in the identical phase through a plurality of the delay conditioning cells 55.例文帳に追加

クロック信号ＣＬＫは、第一クロック配線網３０を介して複数の単位チップ領域４０のそれぞれへ分配され、複数の遅延調整セル５５を介して複数の機能回路７０、１３０に同位相で分配される。 - 特許庁

Pipes and circuits between components are connected and each electric parameter and gas supply status of the fuel cell set in operation are displayed for functional testing and exhibition of the fuel cell set.例文帳に追加

本発明は燃料電池セット中の各構成要件間の管路と回路を接続すると共に、燃料電池セットの操作時の各電気パラメータ及びガス供給状況を表示し、燃料電池セットの機能試験及び展示に供される。 - 特許庁

When testing operation is assigned by a mode signal MD, a clock signal CK of an input terminal 14 is selected by a selector 23 and supplied as a clock signal CLK to internal circuits of a control part 21 and each functional block 31.例文帳に追加

モード信号ＭＤで試験動作が指定されると、セレクタ２３によって入力端子１４のクロック信号ＣＫが選択され、クロック信号ＣＬＫとして制御部２１、各機能ブロック３１等の内部回路に供給される。 - 特許庁

After a pattern area rate and a pattern perimeter rate are extracted for each of a plurality of functional circuits, each of the plurality of functional circuit is divided into a first circuit region and a second circuit region using standards defined based upon extraction results, and the second circuit region is arranged at the periphery of at least one or more first circuit regions.例文帳に追加

複数の機能回路毎にパターン面積率及びパターン周囲長率を抽出した後、当該抽出結果により規定される基準を用いて、複数の機能回路のそれぞれを第一の回路領域と第二の回路領域とに分別し、少なくとも一つ以上の第一の回路領域の周囲に第二の回路領域を配置する。 - 特許庁

The image forming apparatus has a circuit architecture separately handling a main module circuit including a master control part controlling a whole and a plurality of sub-module circuits including a slave control part controlled with the master control part in accordance with each functional part of the inside of the apparatus 1.例文帳に追加

装置１内のそれぞれの機能部分に応じて、全体を統括するマスター制御部を含むメインモジュール回路とマスター制御部により制御されるスレーブ制御部を含む複数のサブモジュール回路とに分けて取り扱う回路アーキテクチャとする。 - 特許庁

To provide a functional testing and exhibiting device of a fuel cell power supply device for displaying each electric parameter and gas supply status in operation by connecting pipes and circuits between each component of a whole fuel cell power supply device.例文帳に追加

全体の燃料電池電力供給装置の各構成要件間の管線及び回路を接続し、操作時の各電気パラメータ及びガス供給状況を現出させる燃料電池電力供給装置の機能試験及び展示装置の提供。 - 特許庁

The switching part 360 connects at least one part of a plurality of outer terminals 310 individually to functional circuits 301, in the usual mode, and connects at least one part of the plurality of outer terminals 310 to inner terminals 320, in the test mode.例文帳に追加

そして、この切換部３６０は、通常モードでは複数の外側端子３１０の少なくとも一部を機能回路３０１に個々に接続し、テストモードでは複数の外側端子３１０の少なくとも一部を内側端子３２０と接続する。 - 特許庁

By using the latch 1 in a cell or the like, wherein logical circuits are constituted every functional block, the edge trigger operation and the level sense operation are switched flexibly, and hereby a test time for the scan path test is shortened, and simultaneously the fault detection rate can be improved.例文帳に追加

機能ブロック毎に論理回路が構成されているセルなどにラッチ１を用いることにより、エッジトリガ動作とレベルセンス動作とをフレキシブルに切り換えることによって、スキャンパステストのテスト時間を短縮しながら故障検出率を向上させることができる。 - 特許庁

Concerning the functional circuits of the semiconductor device and the display device, their power supply wiring and ground wiring are arranged in a comb shape for the second wiring, and the tip of those combs is electrically connected to the first wiring and the contact between the first wiring and the second wiring.例文帳に追加

半導体装置及び表示装置における機能回路で、電源配線及び接地配線を２ｎｄ配線で櫛状に配置し、それらの櫛の先端を１ｓｔ配線及び１ｓｔ配線−２ｎｄ配線間コンタクトで電気的に接続する。 - 特許庁

The voltage controller SC1 outputs the predetermined power supply voltage Vpp or a first voltage Vpp-Vt in a first period and a second period respectively via the local power line PL1 to the functional circuits WD11 to WD1n on the basis of a selection signal/BS1.例文帳に追加

電圧制御装置ＳＣ１は、選択信号／ＢＳ１に基づいて、既定電源電圧Ｖｐｐ、または第１電圧Ｖｐｐ−Ｖｔをそれぞれ第１周期と第２周期に、局部電力線ＬＰＬ１を介して機能性回路ＷＤ１１〜ＷＤ１ｎに出力する。 - 特許庁

Each storage block (e.g., B1) includes a local power line LPL1, a plurality of functional circuits WD11 to WD1n connected to the local power line LPL1, and a voltage controller SC1 connected between the global power line GPL and the local power line LPL1.例文帳に追加

各記憶ブロック（例えばＢ１）は、局部電力線ＬＰＬ１、局部電力線ＬＰＬ１に接続された複数の機能性回路ＷＤ１１〜ＷＤ１ｎと、全域電力線ＧＰＬと局部電力線ＬＰＬ１の間に接続された電圧制御装置ＳＣ１を含む。 - 特許庁

The communication device extracts a normal response from the processing results of the functional circuits through majority decision.例文帳に追加

同一の機能を有する複数の機能回路を有する半導体装置と、通信装置と、から構成し、半導体装置は各々の機能回路における処理結果を時分割で送信し、通信装置は受信した各々の機能回路における処理結果から多数決により正常な応答を抽出する。 - 特許庁

The asynchronous processor core (11) dispenses with a global clock and operates under autonomous or heteronomous distributed control of minimum functional circuits, so that it is not necessary to perform timing design and operation verification at any operating points on the assumption of delay under the worst conditions of all elements and wiring.例文帳に追加

非同期プロセッサ・コア（１１）はグローバル・クロックを不要とし、最小機能回路の自律的又は他律的な分散制御で動作するため、全ての素子と配線における最悪条件下のディレイを前提にした全動作点におけるタイミング設計と動作検証を行う必要がない。 - 特許庁

This semiconductor testing device 1 having a pattern memory circuit 12 used for performing functional tests on semiconductor integrated circuits is provided with a backup power source 14 which supplies electric power to the pattern memory circuit 12 when the power supply from a power supply unit 11 which supplies electric power to the pattern memory circuit 12 at normal time is shut off.例文帳に追加

半導体集積回路の機能試験をするためのパターンメモリ回路１２を有する半導体試験装置１において、通常時にパターンメモリ回路１２に電源を供給する電源ユニット１１からの電源の供給が遮断されたとき、パターンメモリ回路１２に電源を供給するバックアップ電源１４を備えた。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a display device featuring a thin shape, light weight, high-level functions and low cost by reducing a ground contact area required for the power supply wiring and ground wiring of functional circuits and by controlling supply voltage drop and earth voltage buildup caused by consumption current at the same time.例文帳に追加

半導体装置及び表示装置において、機能回路の電源配線及び接地配線に要する接地面積を少なくし、同時に消費電流による電源電圧降下及び接地電圧上昇を抑えることで、薄型・軽量・高機能・低価格の半導体装置及び表示装置を提供する。 - 特許庁

With this configuration, the first and second functional block circuits 50, 52 are formed into a circuit having less parasites if any, and the second circuit 52 does not operate while the first circuit 50 is operating and the first circuit 50 does not operate while the second circuit 52 is operating.例文帳に追加

そして、これら第１及び第２機能ブロック回路５０及び５２を寄生のない、又は、あっても少ない回路にするとともに、第１機能ブロック回路５０が動作している場合には第２機能ブロック回路５２は動作しないように構成し、第２機能ブロック回路５２が動作している間は第１機能ブロック回路５０は動作しないように構成する。 - 特許庁

This integrated circuit device includes a single circuit board 101 of a predetermined shape, various functional circuits formed on a surface of the circuit board 101 by a thin-film technique, an inspection circuit 110 having a plurality of MIS transistors 111 to 114, whose directions of gate electrodes projected from gaps between source and drain regions formed by the thin film technique on the surface of the board 101 are made mutually different.例文帳に追加

所定形状の一個の回路基板と、回路基板の表面に薄膜技術で形成されている各種の機能回路と、回路基板の表面に薄膜技術で形成されてソース領域とドレイン領域との間隙からゲート電極の突出した方向が相互に相違する複数のＭＩＳトランジスタからなる検査回路と、を具備している。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which realizes a high-performance, high-functional and miniaturized product by making fine a high withstanding voltage circuit operative at high voltages, and mounting such fine high withstand ing voltage circuit mixed with low withstanding voltage circuits on the same chip, and realize a semiconductor device manufacturing method which realizes such semiconductor device by a simple way, without increasing the manufactur ing cost.例文帳に追加

高電圧動作用の高耐圧回路の微細化を図るとともに、このような微細な高耐圧回路を低耐圧回路と同一チップ上に混載することにより、高機能化、高性能化、縮小化を実現することができる半導体装置及びこのような半導体装置を簡便な方法で、製造コストの増大を招くことなく実現することができる半導体装置の製造方法を実現することを目的とする。 - 特許庁