「integrated method」に関連した英語例文の一覧と使い方(97ページ目) - Weblio英語例文検索

INTEGRATED SEMICONDUCTOR LASER DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, INTEGRATED SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, OPTICAL PICK-UP DEVICE AND OPTICAL DISC DEVICE例文帳に追加

集積型半導体レーザ装置、集積型半導体レーザ装置の製造方法、集積型半導体発光装置、集積型半導体発光装置の製造方法、光学ピックアップ装置および光ディスク装置 - 特許庁

To provide an inexpensive high-performance probe device for inputting/outputting an electric signal for inspecting operation of a semiconductor integrated circuit, and to provide a method for manufacturing the probe device, and a method for inspecting the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の動作を検査する電気信号を入出力するための、低コストで高性能なプローブ装置、その製造方法および半導体集積回路の検査方法を実現する。 - 特許庁

To provide an inspecting method of a semiconductor integrated circuit capable of easily detecting disconnection failure, capable of reducing input test patterns and capable of reducing test time in the inspecting method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の検査方法において、断線不良を容易に検出でき、かつ、入力テストパターンを削減し、テスト時間を低減できる半導体集積回路の検査方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEST FUNCTION, STORAGE MEDIUM FOR STORING ELECTRONIC DESIGN DATA COMPRISING TEST CODE GENERATION PROGRAM, TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CODE GENERATION AUTOMATIZING METHOD AND ITS PROGRAM例文帳に追加

組込みテスト機能付き半導体集積回路、テストコード生成プログラムから成る電子設計データを保存する記憶媒体、該半導体集積回路のテスト方法、テストコード生成自動化方法及びそのプログラム - 特許庁

To provide a method for casting different materials integrated castings with which the good quality different materials integrated castings can be cast with a comparatively simple arrangement by improving an inclining casting method.例文帳に追加

傾動鋳造の手法を改良することにより、比較的簡単な手順で良質な異材料一体鋳物を鋳造することが可能な異材料一体鋳物の鋳造方法を提供する。 - 特許庁

During the first method, power failure continuation time, and the like are integrated, and at timing in which the integrated value satisfies a condition, the first method is then shifted to the second method to save data from the main memory 1 onto a nonvolatile memory 2, based on power supply.例文帳に追加

そして、第１の方式の時、停電継続時間などを積算し、その積算値が条件を満たすタイミングで第２の方式へ移行させ、給電に基づきメインメモリ１から不揮発性メモリ２へデータを退避させる。 - 特許庁

To provide a plasma display device including a reset unit in an integrated circuit, which may prevent an erroneous operation and damage of the inner integrated circuit (IC), and to provide a method for driving the device.例文帳に追加

内部の集積回路（ＩＣ）の誤動作及び破損を防止するために、集積回路内にリセット部が備えられるプラズマディスプレイ装置及びその駆動方法を提供する。 - 特許庁

To provide a hybrid integrated circuit device capable of improving reliability in the connection place between a conductive pattern and a circuit board, and to provide a method for manufacturing the hybrid integrated circuit device.例文帳に追加

導電パターンと回路基板との接続箇所の信頼性を向上させることができる混成集積回路装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

JPEG data of an integrated image Gs where the whole image G1 and the watched image G2 are integrated is encoded by a JPEG method and is distributed to a network NE.例文帳に追加

そして、全体画像Ｇ１と注視画像Ｇ２とを統合した統合画像ＧｓをＪＰＥＧ方式でエンコードしたＪＰＥＧデータをネットワークＮＥに配信する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a protective plate integrated display panel in which a display element and an observation surface-protective plate are integrated with a resin layer without producing air bubbles in the resin layer.例文帳に追加

表示素子と観察面保護板とを樹脂層により一体化した保護板一体型表示パネルを、前記樹脂層に気泡を生じさせること無く製造する。 - 特許庁

To provide a fastener integrated body formed into a strap shape by obliquely and parallelly arranging and jointing fasteners, the fasteners used therefor, and a method of producing the fastener integrated body.例文帳に追加

締結具を斜めに平行に配列してつなぎ合わせて帯状に形成した締結具集成体、それに用いる締結具、および、その製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for testing a semiconductor integrated circuit device by using a tester where the number of terminals is smaller than the number of input terminals of the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の入力端子数よりも少ない端子数のテスタを用いて半導体集積回路装置のテストを行うテスト方法を提供すること。 - 特許庁

Thus, the gain of the integrated frequency conversion circuit can be changed with a simple method without re-design/re- manufacture of an integrated circuit where the resistors to decide its gain are changed.例文帳に追加

利得を決定する抵抗を変えた集積回路を再設計・再製作することなく、集積化周波数変換回路の利得を簡便な方法で変更できる。 - 特許庁

To improve an integrated circuit device in a characteristics factor Q by a method, wherein a stray capacitance and a leakage resistance are made to have less effects on the inductance of a high-frequency band integrated circuit.例文帳に追加

高周波帯域用集積回路インダクスンスに関して漂遊キャパシタンスおよび漏れ抵抗の影響を低下させることによって、特性係数Ｑを改善する。 - 特許庁

In the method of manufacturing a thin film sample, a lump of the index sample is stuck to the analyte sample, they are integrated, and the integrated part is cut to form a sample piece.例文帳に追加

本発明の薄膜試料の作製方法では、検体試料に指標試料の塊を密着させて一体化させ、一体化させた部分を切り取って試料片とする。 - 特許庁

INTEGRATED ABSORPTION DOSE MEASUREMENT METHOD FOR MEASUREMENT ELEMENT OF SPHERICAL FLUOROGLASS DOSE, MEASUREMENT ELEMENT OF SPHERICAL FLUOROGLASS DOSE, AND INSTRUMENT FOR INTEGRATED ABSORPTION DOSE MEASUREMENT例文帳に追加

球状蛍光ガラス線量測定素子の積算吸収線量測定方法、球状蛍光ガラス線量測定素子、及び積算吸収線量測定用装置 - 特許庁

To provide an optical device including an optical waveguide and an optical coupler integrated into a bulk semiconductor substrate on which other circuitry is also integrated, and to provide a method of manufacturing the optical device.例文帳に追加

他の回路が集積されたバルク半導体基板に一体に集積可能な、光導波路及び光カップラを含む光素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a semiconductor integrated circuit in which the time required for manufacturing the semiconductor integrated circuit (including the time required for examinations) is shortened.例文帳に追加

半導体集積回路の製造（検査に要する時間を含む）に要する時間を短縮できる半導体集積回路の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a piezoelectric oscillator whose thickness is reduced and which maintains connection strength between an integrated circuit element and an integrated circuit element mounting pad.例文帳に追加

集積回路素子と集積回路素子搭載パッドとの接続強度を維持し、薄型化することができる圧電発振器の製造方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a pattern-forming method used for manufacturing process of semiconductor integrated circuits and which is capable of producing finer semiconductor integrated circuit than the prior methods.例文帳に追加

半導体集積回路の製造工程において用いるパターン形成方法であって、かつ、従来方法よりも更なる微細化が可能なパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor integrated circuit package capable of safely and efficiently executing a step of dicing of manufacturing steps of the integrated circuit package.例文帳に追加

集積回路パッケージの製造工程のダイシング工程を安全且つ効率的に行うことができる半導体集積回路パッケージの製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a timing violation without increasing a design TAT(turn- around time) and to provide the designing method for a semiconductor integrated circuit which can be highly integrated.例文帳に追加

その目的は、設計ＴＡＴを増大させることなくタイミング違反を防止すると共に高集積化が可能な半導体集積回路の設計方法を提供する。 - 特許庁

WIRE ADAPTED FOR INTEGRATION WITH STRUCTURAL MEMBER, STRUCTURAL MEMBER HAVING AT LEAST ONE INTEGRATED WIRE, AND MANUFACTURING METHOD OF WIRE INTEGRATED WITH STRUCTURAL MEMBER例文帳に追加

構造部材と一体化されるように適合されたワイヤ、少なくとも１本の一体化されたワイヤを有する構造部材、および構造部材と一体化されたワイヤの製造方法 - 特許庁

FAILURE DIAGNOSIS METHOD AND FAILURE DIAGNOSIS DEVICE OF INTEGRATED CIRCUIT, FAILURE CANDIDATE SPECIFICATION SYSTEM OF ELEMENT LEVEL, FAILURE DIAGNOSIS PROGRAM OF INTEGRATED CIRCUIT AND MEDIUM RECORDING PROGRAM例文帳に追加

集積回路の故障診断方法および故障診断装置、素子レベルの故障候補特定システム、並びに、集積回路の故障診断プログラムおよび該プログラムを記録した媒体 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit wherein correction of a circuit is easily enabled when the semiconductor integrated circuit is corrected by using dummy cells, and its manufacturing method.例文帳に追加

半導体集積回路をダミーセルを用いて修正する場合に、回路修正が容易に行える半導体集積回路、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit designed to cope with problems occurring in the context of parallel computing and to provide a method for operating a physical processor and the integrated circuit.例文帳に追加

並列計算のコンテキストにおいて生ずる問題に対処するように設計された集積回路、物理処理装置及び集積回路を動作する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a power supply control method for efficiently achieving power source management of a semiconductor integrated circuit equipped with a plurality of arithmetic units.例文帳に追加

複数の演算ユニットを備えた半導体集積回路の電源管理を効率的に行うことが可能な半導体集積回路及び電源制御方法を提供する。 - 特許庁

To realize a shortened developing period of a semiconductor integrated circuit and reduction of a developing cost in a method for designing a layout of the semiconductor integrated circuit using a standard cell.例文帳に追加

スタンダードセルを用いた半導体集積回路のレイアウト設計方法において、半導体集積回路の開発期間の短縮化及び開発コストの削減を実現する。 - 特許庁

To provide a correction method for an integrated circuit characteristic, for drastically reducing a product development period by controlling a characteristic parameter of an integrated circuit of a device performed with coupling.例文帳に追加

カップリングの行なわれるデバイスの集積回路の特性パラメータを制御し、製品開発期間を大幅に短縮する集積回路特性の修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing integrated circuits achieving reduction in time and cost, required for testing of an integrated circuit equipped with a plurality of logic circuits.例文帳に追加

複数個の論理回路を備える集積回路の試験に係る時間およびコストを低減することができる集積回路試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical integrated circuit module of which the yield is improved, an optical bench used for the module and a method of manufacturing the optical integrated circuit module.例文帳に追加

歩留まりの向上を図ることができる光集積回路モジュール、このモジュールに用いる光学ベンチ、及び光集積回路モジュールの作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method of a CMOS integrated circuit whereby the fault current of the CMOS integrated circuit having a high static power current and a high variation thereof can be detected.例文帳に追加

静止電源電流が大きくそのバラツキも大きいＣＭＯＳ集積回路の欠陥電流を検出可能なＣＭＯＳ集積回路の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for designing patterns of an integrated circuit capable of improving the yield of wafers even in a lithography step of a narrow tolerance and of reducing a manufacturing cost of an integrated circuit device.例文帳に追加

裕度が狭いリソグラフィ工程でもウェーハの歩留まりを向上させ、集積回路装置の製造コストを低減できる集積回路のパターン設計方法を提供する。 - 特許庁

To provide a layout changing method for a semiconductor integrated circuit that allows layout change with change in the minimum number of layers; suppresses the mask manufacturing cost to the minimum; and maintains timing of the semiconductor integrated circuit other than the changed parts.例文帳に追加

最小限度の層の変更のみでレイアウト変更を可能にし、マスク製作費用を最小限に抑え、変更箇所以外でのタイミングを保持する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit, a wafer and a manufacturing method for the integrated circuit making it difficult to analyze a circuit by reverse engineering or the like, thus precluding the possibility that the content of the circuit is known.例文帳に追加

リバースエンジニアリング等による回路の解析を困難にして回路の内容の把握を回避する集積回路、ウェハ及び集積回路の製造方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR POWER SUPPLY DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INTEGRATING THE SEMICONDUCTOR POWER SUPPLY DEVICE, AND IC CARD OR IC TAG MOUNTED WITH THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体電源素子、その製造方法、半導体電源素子を集積化した半導体集積回路、及び該半導体集積回路を搭載したＩＣカード又はＩＣタグ - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of securing independence between a normal mode and a test mode without increasing the number of pins, and to provide a method for testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、ピン数を増加させることなく、通常モードとテストモードとの独立性を確保することができる半導体集積回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR OPTIMIZATION DESIGNING OF INTEGRATED CIRCUIT AND STORAGE MEDIUM STORING PROGRAM FOR PERFORMING OPTIMIZATION DESIGNING OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路の最適化設計装置、集積回路の最適化設計方法、及び集積回路の最適化設計方法を行うためのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, OPTICAL SCANNING DEVICE USING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD FOR IDENTIFYING RETURN LIGHT, AND IMAGE FORMING APPARATUS USING OPTICAL SCANNING DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置、半導体集積回路装置を用いた光走査装置及び戻り光識別方法並びに光走査装置を用いた画像形成装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM STORING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DESIGN PROGRAM例文帳に追加

半導体集積回路設計装置、半導体集積回路設計方法および半導体集積回路設計プログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide an optimization method of a semiconductor integrated circuit which can perform optimization of a prescribed parameter of a semiconductor integrated circuit (for example, delay optimization) in a short time.例文帳に追加

半導体集積回路の所定パラメータの最適化（例えば、遅延最適化）を短時間で行うことができる半導体集積回路の最適化方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of preventing breach of timing and being highly integrated without increasing designing TAT and its designing method.例文帳に追加

設計ＴＡＴを増大させることなくタイミング違反を防止すると共に高集積化が可能な半導体集積回路およびその設計方法を提供すること。 - 特許庁

The designing method for the semiconductor integrated circuit includes a step (A) of generating layout data on the semiconductor integrated circuit and a step (B) of generating mask data based upon the layout data.例文帳に追加

半導体集積回路の設計方法は、（Ａ）半導体集積回路のレイアウトデータを作成するステップと、（Ｂ）レイアウトデータに基づいてマスクデータを作成するステップとを有する。 - 特許庁

To provide a test system, a semiconductor integrated circuit, and a test method, capable of easily performing failure analysis of a semiconductor integrated circuit based on a signature.例文帳に追加

シグネチャに基づいて、半導体集積回路の故障解析を容易に行うことができるテストシステム、半導体集積回路及びテスト方法を提供すること - 特許庁

To provide a database for designing an integrated circuit device in which data is stored at a state that it is flexibly utilized and a designing method for the integrated circuit device utilizing the database.例文帳に追加

データをフレキシブルに利用しうる状態で格納した集積回路装置の設計用データベース及びこれを利用した集積回路装置の設計方法を提供する。 - 特許庁