「mirror test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide an optical axis aligning instrument suitable for the use in an optical test of a large reflecting mirror.例文帳に追加

大型反射鏡の光学テストに使用するのに好適な光軸出し器具を提供する。 - 特許庁

OPTICAL TEST SYSTEM INCLUDING INTERFEROMETER WITH MICROMIRROR AND PIEZOELECTRIC TRANSLATOR FOR CONTROLLING TEST PATH MIRROR例文帳に追加

試験経路ミラーを制御するためマイクロミラー及び圧電変換器を有する干渉計を含む光学システム - 特許庁

Your rsyncd.motd should contain your IP address and other relevant information about your mirror, such as information about the host providing the Portage mirror and an administrative contact. You can now test your server as outlined in the Setting up your own local rsync mirror chapter above.例文帳に追加

rsyncd.motdには、あなたのIPアドレスやportageミラーを提供している旨、管理者への連絡方法等のあなたのミラーに関係する情報が含まれているでしょう。 - Gentoo Linux

The mirror 16 held by the mirror holding portion 46 is inserted so as not to come into contact with the mirror opening 27 and image light produced by a test pattern producing portion 44 is projected on a screen 47.例文帳に追加

ミラー保持部４６で保持されたミラー１６がミラー開口２７に接触しないように挿入し、テストパターン生成部４４で生成した画像光をスクリーン４７に投写する。 - 特許庁

One of the mirror cylinder 1A is installed at a position, where electron beam from the mirror cylinder can scan at least the upper side of the test piece side face and the other mirror cylinder 1B is installed at a position where the electron beam can scan at least the lower side of the test piece side face, respectively.例文帳に追加

一方の鏡筒１Ａは、該鏡筒からの電子ビームが、少なくとも試料側面の上側を走査出来る位置に、他方の鏡筒１Ｂは、電子ビームが、少なくとも試料側面の下側を走査出来る位置に、それぞれ設けられる。 - 特許庁

As the mirror 141 is moved by a slider crank mechanism, a wide range in the depth direction of the test body T is swept at high speed.例文帳に追加

このミラー１４１は、スライダクランク機構により移動するので、被検体Ｔの深さ方向の広い範囲が高速に掃引される。 - 特許庁

To enable an efficient and automatic test using an optical tester even if a back is subjected to mirror finishing.例文帳に追加

裏面が鏡面化処理された場合であっても、光学式検査装置による効率的な自動検査を可能とすること。 - 特許庁

In this fluorescence auxiliary test apparatus, laser beam radiated from a light source module is projected to a test object through a collimater, a dichroic mirror and a first condenser lens.例文帳に追加

蛍光補助試験装置において、光源モジュールから放射されたレーザ光は、コリメータと、ダイクロイックミラーと、第１の集光レンズを通過して試験対象物に投射される。 - 特許庁

As the result, a charged particle beam device using the X-ray reduction mirror 10 can perform highly accurately when it evaluates and analyzes a test-piece using a digital data obtained from the visible image of the test-piece.例文帳に追加

その結果、このＸ線低減ミラー１０を使用する荷電粒子線装置によれば、試料の可視化像に基づいて試料をデジタルデータで評価および分析を行う際に高精度で行うことができる。 - 特許庁

An inspection unit 11 constituted of the test lens 8, a plane mirror 9, and a Z-stage 10 has an inclined constitution centered at an approximately pupil position of the test lens 8, and each I-Z curve on the axis and out of the axis of the test lens 8 is determined corresponding to the tilt angle at that time.例文帳に追加

被検レンズ８、平面ミラー９およびＺステージ１０で構成される被検出ユニット１１を被検レンズ８の略瞳位置を中心に傾ける構成とし、この時の傾斜角度に対応させて被検レンズ８の軸上軸外のそれぞれのＩ−Ｚカーブを求める。 - 特許庁

The solar cell evaluating apparatus for evaluating the generation performance of a solar cell by irradiation thereof with a quasi-sunshine comprises a mirror box 12 at least the side wall surface of which is composed of a reflector, and a plurality of light sources 18 disposed in an extent corresponding to the size of a test sample in the mirror box.例文帳に追加

疑似太陽光を照射して太陽電池の発電性能を評価する太陽電池評価装置において、少なくとも側壁面が反射体からなるミラーボックス12と、このミラーボックス内にて被検体の大きさに相当する広さに配置された複数の光源18と、を具備する。 - 特許庁

An optical disk and a BCA information recording method are provided which enable correction of laser power for recording the BCA information by test writing to be performed by arranging a test area via a mirror area on the inner circumferential side of the BCA outside a user data recording area.例文帳に追加

ユーザーデータ記録領域外のＢＣＡの内周側にミラー領域を介してテスト領域を設け、試し書きによるＢＣＡ情報の記録レーザーパワー補正を実行できる光ディスク及びＢＣＡ情報記録方法を提供する。 - 特許庁

Then, it is easy to confirm whether or not to be able to correctly decode and process defective information in the recorder/player by using a test disk utilizing a mirror file having settled defective information that is not related to an actual defect on the disk in a DMA information confirmation test mode.例文帳に追加

従って、ＤＭＡ情報確認テストモードによりディスク上の実際の欠陥と関連のない既決欠陥情報を持つミラーファイルを利用したテストディスクを使用することにより、記録及び再生装置にて正しく欠陥情報を解読し処理できるか否かが容易に確認される。 - 特許庁

To provide a gas refractometer capable of suppressing local variation of the density of a gas under test due to the transfer of a reflecting mirror and improving measurement accuracy in a short time by feeding a laminar flow of the gas under test to a path of a gas laser beam.例文帳に追加

気体レーザ光束の光路に被検気体の層流を流すことで、反射鏡の移動による被検気体の局所的な密度変動を抑制し、時間をかけずに測定精度を向上させることができる気体屈折率測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect test method and a defect test device for performing high-speed scanning equal to one set to the number of rotation as three times as large when the number of rotation of a scanner motor for rotating a polygon mirror is set to the number of rotation where no problem occurs and for detecting minute defect.例文帳に追加

本発明はポリゴンミラーを回転させるスキャナモータの回転数を問題が生じない回転数に設定しても、その３倍以上の回転数に設定したのと同等な高速スキャンが可能で、微細な欠陥を検出することができる欠陥検査方法および欠陥検査装置を得るにある。 - 特許庁

A light path converting mechanism varying a direction of irradiation light from the theodolite 2 is composed of a first reflecting mirror 9A reflecting the irradiation light from the theodolite 2 at a right angle to an optical axis, and a movable second reflecting mirror 9B reflecting the light reflected by the first reflecting mirror 9A at a right angle to the optical axis and in a direction of the test piece 4.例文帳に追加

セオドライト２からの照射光の方向を可変とする光路変換機構を、セオドライト２からの照射光を、その光軸に対して直角に反射する第１の反射鏡９Ａと、第１の反射鏡９Ａで反射された光を、その光軸に対して直角かつ供試体４の方向に反射する、移動可能な第２の反射鏡９Ｂとで構成することができる。 - 特許庁

Transmission wave front measurement with respect to the test lens 1 is performed by an interferometer equipped with a null mirror 6, and each occurrence quantity of the third and fifth coma aberrations is found.例文帳に追加

ヌルミラー６を備えた干渉計により被検レンズ１に対する透過波面測定を行い、３次および５次のコマ収差の各発生量を求める。 - 特許庁

The laminar flow 51 of the gas under test has been fed to an entire optical measurement path between the gas side reflecting mirror 13B and a gas laser interferometer 30 formed by a gas laser beam Pb.例文帳に追加

気体レーザ光束Ｐｂが形成する気体側反射鏡１３Ｂと気体レーザ干渉計３０との間の光学的測長光路全体に被検気体の層流５１を流した。 - 特許庁

The index image projection section 30 together with the half mirror 26 and the objective lens 11 constitutes an index projection optical system which projects two index images onto the test object S from different directions via the objective lens 11.例文帳に追加

指標像投射部３０はハーフミラー２６および対物レンズ１１と共に、対物レンズ１１を介して被検体Ｓに二つの指標像を異なる方向から投影する指標投影光学系を構成している。 - 特許庁

To provide a mirror box for optotype presentation and an optotype presentation apparatus provided with the same for shortening a test distance of the display type optotype presentation apparatus.例文帳に追加

ディスプレイ型の視標呈示装置の検査距離を短くできる視標呈示用ミラーボックス及びこれを備える視標呈示装置を提供すること。 - 特許庁

Light L emitted from a light source 31 is reflected by a half mirror 35, converted into parallel light L_1 by a collimator lens 36, and then irradiated onto a convex surface 1a of a test lens 1 and transmitted therethrough.例文帳に追加

光源３１から出射した光Ｌをハーフミラー３５によって反射し、コリメータレンズ３６によって平行光Ｌ_1 に変換した後、被検レンズ１の凸面１ａに照射し、透過させる。 - 特許庁

A monitor device arranged on the outside of the optical path is used to obtain a picture of a MENS array or transmit and receive a test signal through the cross connection device in order to detect the existence of mirror element drift.例文帳に追加

光学パスの外側に配置された監視デバイスを用いて、ＭＥＭＳアレイの画像を得るか、あるいはミラー素子ドリフトの存在を検出するために、交差接続装置を通ってテスト信号を送信し、受領する。 - 特許庁

Furthermore, when the intensity Ib of mirror reflection light from the testing image for fixing and light emitting intensity Ia of a halogen lamp are detected by an image information detection part, the glossiness of the test image for fixing is calculated utilizing these data (S5).例文帳に追加

また、画像情報検出部４３が定着テスト画像Ｔの正反射光の強度Ｉｂ、およびハロゲンランプの発光強度Ｉａを検出すると、これらを用いて定着テスト画像の光沢度を算出する（Ｓ５）。 - 特許庁

To enable to inspect flaw easily, even in the case of a test object to which close installation of a flaw detection device is difficult and whose surface is changed greatly from a mirror finished surface to a diffusing surface.例文帳に追加

疵検査装置を、検査対象に近接設置が困難な検査対象であって、かつ検査対象の表面が、鏡面から拡散面まで大幅に変化するような場合であっても、容易に疵検査を可能とする。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit 20 includes an internal circuit 21 for inputting or outputting signal currents I3, I6; a current mirror 22 for outputting duplicate currents I5, I7, corresponding to the signal currents I3, I6; and a test pad 32 for extracting the duplicate currents I5, I7.例文帳に追加

信号電流I3、I6の入力又は出力に供する内部回路２１と、信号電流I3、I6に応じた複製電流I5、I7を出力するカレントミラー部２２と、複製電流I5、I7を取り出す試験パッド３２とを有する半導体集積回路２０による。 - 特許庁

Furthermore, a top table arranged with a length measuring mirror 23 using laser and with a test sample holder 6 that are mounted on the uppermost portion of the X stage is supported at three points to prevent shape distortions of the stages from exercising a harmful effect on the top table 8.例文帳に追加

また、最上部のＸステージ上に搭載するレーザー測長用のミラー２３及び試料ホルダ６を配置したトップテーブルを３箇所で支持し、ステージの形状変形がトップテーブル８に悪影響を及ぼさないようにした。 - 特許庁

A control part 30 allows the light source, the deflector, the photoreceptor drums 4 and the developing devices 7 to detect a plurality of test patterns for detecting the displacement of the plurality of toner images in the sub-scanning direction with respect to the intermediate transfer belt 11 during accelerating the rotation of the polygon mirror.例文帳に追加

制御部３０は、ポリゴンミラーの回転の加速中において、光源、偏向器、感光体ドラム４及び現像装置７に、中間転写ベルト１１に対して副走査方向における複数のトナー画像の位置ずれを検知するための複数のテストパターンを検知させる。 - 特許庁

A calculation control device 200 forms OCT images of the fundus oculi Ef from the result of the detection of new interference light LC in conformity of the new signal light LS through the test eye E and the new reference light LR through a reference mirror 174.例文帳に追加

演算制御装置２００は、被検眼Ｅを経由した新たな信号光ＬＳと、参照ミラー１７４を経由した新たな参照光ＬＲとに基づく新たな干渉光ＬＣの検出結果に基づいて眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。 - 特許庁

A correction plate 6 is arranged between the measuring lens 1 and the reference spherical reflecting mirror 7, and spherical aberration of a test transmission wavefront acquired by transmission through the measuring lens 1 and the correction plate 6 is measured actually, and the thickness of the correction plate 6 is calculated based on the measured value and the correspondence relation.例文帳に追加

測定用レンズ１と基準球面反射鏡７との間に補正板６を配置し、測定用レンズ１および補正板６を透過してなる被検透過波面の球面収差を実際に測定し、その測定値と上記対応関係とに基づき、補正板６の厚みを算定する。 - 特許庁

Since the current mirror circuit 223 has an output resistor at its output side and a voltage at one end of the resistor 225 is given to a DSP circuit 226 and calculated therein, the fluctuation component of the power supply VBB to discriminate the test result of an insulation resistance of a subscriber line 202 or the like is eliminated.例文帳に追加

カレントミラー回路２２３は、出力側に出力抵抗２２５を接続しており、その一端の電圧がＤＳＰ回路２２６に入力されて演算されるので、電源Ｖ_BBの変動分を除去して加入者線２０２の絶縁抵抗等の試験結果が判定される。 - 特許庁

A luminous flux from the test lens 7 is folded laterally by making the mirror frame 20 rotate to first and second insertion positions, and first tele-side imaging means 30 or second tele-side imaging means 32 assembled in a second plate 24 or a third plate 25 images the chart image to perform measurement at the tele-side.例文帳に追加

ミラー枠２０を第一、第二挿入位置に回動させることにより被検レンズ７からの光束を側方に折り曲げ、第二プレート２４または第三プレート２５に組み込まれた第一テレ側撮像手段３０または第二テレ側撮像手段３２でチャート像を撮像してテレ側での測定を行う。 - 特許庁

The streaming broadcast transmission/reception system further comprises an arrangement for receiving data from a CM broadcast transmission server and reproducing the CM data when the broadcasting path is crowded, and an arrangement for searching another streaming broadcast transmitter such as a mirror server through which a highest bit rate can be attained based on the test packet transmission result transmitted from a streaming server.例文帳に追加

さらにＣＭ放送送信サーバからのデータを受信し、放送経路が込み合った時にＣＭデータを再生することができる構成を備えたもので、ストリーミングサーバーから送信されているテストパケット送信結果により最も高いビットレートが得られるミラーサーバーなど別のストリーミング放送送信装置を探索することができる構成を備えたものである。 - 特許庁

This interferometer 10 includes a beamsplitter 32 for splitting a source beam into a test beam 40 and the reference beam 42, an imaging device 24 for detecting an interference pattern, a mirror 38 for reflecting the test beam toward the imaging device, a micromirror 44 for reflecting a portion of the reference beam toward the imaging device and a focusing mechanism 34 for focusing the reference beam on the micromirror.例文帳に追加

干渉計１０は、ソースビーム１４を試験ビーム４０及び基準ビーム４２に分割するビームスプリッタ３２と、干渉パターンを検出する結像デバイス２４と、前記試験ビームを結像デバイスの方向に反射するミラー３８と、前記基準ビームの部分を前記結像デバイスの方向に反射するマイクロミラー４４と、及び、前記基準ビームを前記マイクロミラーに集光する集光機構３４と、を含む。 - 特許庁