「physical testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PHYSICAL LAYER CHIP FOR IEEE1394 STANDARDS, AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４規格の物理層チップ及びそのテスト方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING SYSTEM, DATA STRUCTURE FOR SPECIFYING PHYSICAL MAP OF MEMORY BLOCK例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法、試験システム、メモリブロックの物理マップ特定用データ構造 - 特許庁

As a result of this constitution, the physical layer logic circuit 3 is connected to the a testing link layer circuit 22, and the boards 5, 6 are connected to the testing physical layer logic circuit 23.例文帳に追加

これにより、物理層ロジック回路３は、テスト用リンク層回路２２と接続され、ポート５、６はテスト用物理層ロジック回路２３と接続される。 - 特許庁

To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method optimum for testing a macro block including a physical layer circuit for data communication.例文帳に追加

データ通信用の物理層回路を含むマクロブロックのテストに最適なテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁

DEVICE FOR DETECTING PHYSICAL QUANTITY BY UTILIZING DISTANCE CHANGE BETWEEN ELECTRODES AND ITS OPERATION TESTING METHOD例文帳に追加

電極間距離の変化を利用して物理量を検出する装置およびその動作試験方法 - 特許庁

ELECTROLYTIC COPPER FOIL, METHOD FOR TESTING ITS PHYSICAL PROPERTY AND COPPER CLAD LAMINATE USING SAME ELECTROLYTIC COPPER FOIL例文帳に追加

電解銅箔及びその物性検査方法並びにその電解銅箔を用いた銅張積層板 - 特許庁

The pin assign converter outputs a logical pin number by converting it into a physical pin number of the testing unit.例文帳に追加

ピンアサインコンバータは、論理ピン番号を、試験ユニットの物理ピン番号に変換して出力する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device comprising a pin assign converter capable of converting a logical pin number of a testing unit into a physical pin number.例文帳に追加

試験ユニットの論理ピン番号を物理ピン番号に変換することができるピンアサインコンバータを備えた電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

The physical layer device 21 is equipped with a link layer interface 2, a physical layer logic circuit 3 and boards 4-6 and further is equipped with a testing link layer circuit 22 in the inside, a testing physical layer logic circuit 23 and switches 24-26.例文帳に追加

この物理層デバイス２１は、リンク層インターフェース２、物理層ロジック回路３、およびポート４〜６の他に、物理層ロジック回路３とポート４〜６の動作をテストするために、テスト用リンク層回路２２、テスト用物理層ロジック回路２３、およびスイッテ２４〜２６を内部に備えている。 - 特許庁

To shorten the testing time, and to reduce the testing cost and the manufacturing cost in a device having the transmitting-receiving function such as a physical layer device for an IEEE 1394 interface.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４インターフェースの物理層デバイスのように送受信機能を有するデバイスにおいて、テスト時間を短縮し、テストコスト及び製造費用の低減を図ること。 - 特許庁

To reduce a testing cost and a manufacturing cost, by reducing a testing time in a device having a transmission/reception function like the physical layer of an IEEE 13394 interface.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４インターフェースの物理層デバイスのように送受信機能を有するデバイスにおいて、テスト時間を短縮し、テストコスト及び製造費用の低減を図ること。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a model structure for testing, with a simple model, a physical phenomenon occurring when a mobile unit moves in the structure.例文帳に追加

構造物内を移動体が移動する際に発生する物理現象を簡単な模型によって試験することができる模型構造物の試験装置とその試験方法を提供する。 - 特許庁

The distributed testing system can be so expanded as to interface with physical agents and heterogeneous measurement without technical adjustment.例文帳に追加

分散テストシステムは、技術的な調整なしに物理エージェントおよびヘテロジニアスな測定にインタフェースするよう拡張可能である。 - 特許庁

The method includes a step for generating deficiency management information, as testing information, generated after performing the initialization to be verified on a testing disk obtained by generating a well- known physical deficiency on an empty testing disk and a step for confirming the testing information by using reference testing information about the initialization to be verified to provide the test result.例文帳に追加

空テストディスク上に周知の物理的な欠陥を生成することによって得られるテストディスク上に検証する初期化を行った後に生成される欠陥管理情報をテスト情報として生成する段階及び、検証する初期化についての基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認してテスト結果を提供する段階を含む。 - 特許庁

A chemical substance from the reactive flow is sent to a device for testing the physical properties of the chemical substance exhibiting the state of a chemical reaction.例文帳に追加

反応流からの化学物質が、化学反応の状態を示す化学物質の物理的性質を試験する装置に送られる。 - 特許庁

To provide an electronic part-testing apparatus with a pin assignment converter that can convert the logic pin number of a logic unit to a physical pin number.例文帳に追加

試験ユニットの論理ピン番号を物理ピン番号に変換することができるピンアサインコンバータを備えた電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device 2 contains a unit 23 for assignment in which assignment to physical address of memory is stored in readable, for the environmental model variable.例文帳に追加

テスト装置２は環境モデル変数の、メモリの物理アドレスに対する割り当てが読み出し可能に格納されている割り当てのためのユニット２３を含んでいる。 - 特許庁

To provide the testing method of the physical layer chip of IEEE1394 Standards, which can conduct a system test, without having to construct an expensive and complicated system.例文帳に追加

高価で複雑なシステムを構築せずにシステムテストを行うことができるＩＥＥＥ１３９４規格の物理層チップのテスト方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the melting of a welding wire, capable of directly measuring and evaluating the physical properties of the molten droplet of the welding wire, by melting the welding wire to form the molten droplet, and an apparatus for testing the melting of the welding wire.例文帳に追加

溶接ワイヤの溶滴の物性の測定評価を、溶接ワイヤを溶滴とすることで、直接行うことができる溶接ワイヤの溶解試験方法および溶接ワイヤの溶解試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To efficiently capture FBM (a fail bit map) information for indicating physical position information of failure in a testing device and an testing method, especially in the failure analysis, for a RAM inside an LSI chip, such as a CPU and a DSP.例文帳に追加

ＣＰＵやＤＳＰ等のＬＳＩ内部におけるＲＡＭ用の試験装置及び試験方法に関し、特に障害解析において故障の物理位置情報を表すＦＢＭ情報（フェイルビットマップ）の取得を効率良く行うこと。 - 特許庁

To provide a testing method, in which some of same integrated circuit (IC) chips are tested, in parallel with asynchronous actions via two physical connections between a circuit tester and each chip.例文帳に追加

いくつかの同一の集積回路チップを、テスタと各チップとの間の２つの物理的接点を介して非同期動作で並列に試験する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a low price semiconductor integrated circuit that can write a physical position in the wafer state to a semiconductor integrated circuit without use of a laser repair apparatus, and also to provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus that can write the physical position in the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

レーザーリペア装置を用いることなく、半導体集積回路にウェハ状態時の物理位置を書き込める安価な半導体集積回路、及び該半導体集積回路に前記物理位置を書き込む半導体集積回路検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for an actuator, that prevents physical breakage such as crack, chip, or fracture while increasing the rigidity, and provide a switch device including the actuator, and a testing device including the switch device.例文帳に追加

剛性を高めつつ、割れ、欠け、またはヒビ等の物理的な破壊を防ぐアクチュエータの製造方法、およびアクチュエータを備えるスイッチ装置、スイッチ装置を備える試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a method for opening, short circuit, a neck-down or inappropriate etching in which a trace is not brought into physical contact and is not excessively wasting time.例文帳に追加

トレースが物理的に接触されるものではなく、また過度に時間を費やすことのない開放、ショート、ネックダウンまたは不適切なエッチングのためのテスト装置および方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a testing method using aggregate itself to measure the strength or Young's modulus of the aggregate as a physical property regardless of the difference between broken stone or crushed sand and gravel or sand.例文帳に追加

骨材そのものを用いて、砕石や砕砂と、砂利や砂との相違に係らず、骨材の物質的性質としての強度やヤング係数を測定する試験方法を提供する - 特許庁

Verification by analysis, surveillance, testing and inspection is carried out to ensure that the physical state and the operation of a nuclear installation continue to be in accordance with its design, applicable national safety requirements, and operational limits and conditions.例文帳に追加

その評価は、十分に記録され、その後運転経験及び重要かつ新たな安全に関する情報に照らして更新され、並びに規制機間の権限の下で検討を受ける。 - 経済産業省

Even when internal configuration is different for every memory (when correspondence relation between a program address specified by a testing program and a physical address in a memory is different), a memory testing program can be used universally by inputting externally correspondence relation for every memory.例文帳に追加

メモリ毎に、その内部構成が異なる場合（試験プログラムで指定するプログラムアドレスとメモリ内の物理アドレスとの対応関係が異なる場合）であっても、メモリ試験プログラムに対して、メモリ毎の対応関係を外部から入力することで、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することが可能となる。 - 特許庁

The model animal for testing pruritus caused by drying is provided, wherein the glabrous skin of a tested animal is dried and the pruritus is caused by physical stimulation on the glabrous skin.例文帳に追加

試験動物の無毛皮膚を乾燥皮膚とし、前記乾燥皮膚に物理的な刺激を与えることにより掻痒が惹起され、乾燥による掻痒を試験するモデル動物を作製できることを見出した。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a model structure, which can test physical phenomena occurring when a mobile object moves in a structure, by using a simple model, and to provide the model structure.例文帳に追加

構造物内を移動体が移動する際に発生する物理現象を簡単な模型によって試験することができる模型構造物の試験装置とその試験方法及び模型構造物を提供する。 - 特許庁

For that reason, whether the DMA information generated after the initialization which a recording and reproducing device verifies is decoded and processed well can be easily confirmed by using the testing disk having the well-known physical deficiency.例文帳に追加

したがって、周知の物理的な欠陥を有するテストディスクを使用して、記録及び再生装置が検証する初期化後に生成されたDMA情報をうまく解読し処理しているかどうかを容易に確認できる。 - 特許庁

However, at that point one is no longer being a scientist, since the moment one moves from the world of physical models, predictions, observable testing, and so on, into the realm of God's purposes one is moving outside of science, 例文帳に追加

しかし、人がもはや科学者であることを止める地点では、人は物理的モデル、予測、観察可能な検証等々の世界から神の目的の領域へと移る瞬間から、人は科学の外部へと出るんだ。 - Ian Johnston『科学のカリキュラムで創造説？』

The essence of many scientific procedures is making predictions based on a hypothetical model of a physical phenomenon (without having direct observational evidence of the reality which that model is designed to explain) and then testing the prediction. 例文帳に追加

多くの科学的手続きの本質は、物理的現象の仮説モデルに基づく予測(モデルが説明しようと設計された事実性について直接的な観測に基づく証拠はなくてもよい)を作り、次に予測を検証することなんだ。 - Ian Johnston『科学のカリキュラムで創造説？』

To provide a tool for generating test data on a corresponding cycle base having a format characteristic to specific ATE for testing a physical serial device by extracting and removing timing irregularity such as drift or jitter from simulation test data on an event base.例文帳に追加

イベントベースのシミュレーション試験データからドリフトやジッタなどのタイミング不規則性を抽出及び除去し、物理的シリアルデバイスを試験する特定のＡＴＥに固有のフォーマットを有する対応するサイクルベースの試験データを生成するツールを提供する。 - 特許庁

A general memory test program can be used for memory testing, even when the internal memory configuration is different by memory (i.e., when the correspondence relation between a program address specified by the test program and internal physical address are different from each other) by inputting the correspondence relation for each memory from the outside.例文帳に追加

メモリ毎に、その内部構成が異なる場合（試験プログラムで指定するプログラムアドレスとメモリ内の物理アドレスとの対応関係が異なる場合）であっても、メモリ試験プログラムに対して、メモリ毎の対応関係を外部から入力することで、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することが可能となる。 - 特許庁

The ion conductive polymer composition whose value of scorching T5 (min) at 130.0°C±0.5°C is 1.5 to 20 in a Mooney scorch test in an unvulcanized rubber physical testing method mentioned in JIS K6300, and also, whose Mooney viscosity ML(1+4) at 100°C is 5 to 95 is extruded from an extrusion machine and continuously vulcanized.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ６３００記載の未加硫ゴム物理試験方法中のムーニースコーチ試験において１３０．０℃±０．５℃におけるスコーチＴ５（分）の値が１．５以上２０以下であり、かつ、１００℃におけるムーニー粘度ＭＬ（１＋４）が５以上９５以下であるイオン導電性ポリマー組成物を、押出機から押し出しながら連続加硫する。 - 特許庁