「program test time」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide an automatic test program generator capable of shortening a working time for regenerating a test program.例文帳に追加

テストプログラムを再生成するための作業時間を短縮することができるテストプログラム自動生成装置を提供する。 - 特許庁

To improve productivity by optimizing the "waiting time setting" in a test program description and by shortening the program execution time of a test program.例文帳に追加

テストプログラム記述における「待ち時間設定」を最適化してテストプログラムプログラム実行時間を短縮することにより生産性を改善できるＬＳＩテストシステムを提供すること。 - 特許庁

To reduce the capacity of a multi-axis test program and at the same time easily execute a multi-axis test.例文帳に追加

多軸試験プログラムの容量を小さくするとともに、多軸試験を容易に実行できるようにする。 - 特許庁

In the test time shortening processing, the time shortening device 22 performs the processing of interchanging the execution sequence of test items of the test program 50 so that an average execution time on conforming items may become in ascending order on the basis of both test execution time set in advance corresponding to each test described in the test program 50 and the probability of occurrence of defective units.例文帳に追加

この試験時間短縮処理は、時間短縮装置２２が、試験プログラム５０に記述されている各試験に対応する、予め設定された試験実行時間と、不良品発生確率とに基づいて、良品に対する平均実行時間を昇順となるように試験プログラム５０の試験項目の実行順序を入れ替える処理である。 - 特許庁

To provide a test information processing system, test information processing method, and test information processing program capable of accessing test information stored in a data base in a short time and of easy altering test specifications.例文帳に追加

データベースに格納されたテスト情報に短時間でアクセス可能な、且つテスト仕様の変更が容易なテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムを提供する。 - 特許庁

To shorten testing time of semiconductor devices, while preventing mistakes in setting and altering test conditions, within a test program.例文帳に追加

試験プログラム内での試験条件の設定ミスや変更ミスを防止しながら、半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a software test method and program, reduced in testing time.例文帳に追加

テスト時間を短縮することができるソフトウェアのテスト方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device shortening a loading time of a test program.例文帳に追加

テストプログラムのロード時間を短くすることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a program inspection device, a program inspection method, and a program inspection program, shortening test time while reducing an inspector's labor.例文帳に追加

検査者の労力を減じ、また、テスト時間を短縮することができる、プログラム検査装置、プログラム検査方法、及びプログラム検査プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a lifetime prediction test method of a polymer membrane capable of carrying out in short time evaluation of the lifetime of a polymer membrane, a test device, and a test program.例文帳に追加

高分子膜の寿命評価を、短時間で行うことができる高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a test support device, a test device, a test support method and a computer program which can appropriately select a test node for obtaining a snapshot so that a test can be completed in the minimum time along all of test scenarios.例文帳に追加

全てのテストシナリオに沿ってテストを最小時間で完了させることができるよう、スナップショットを取得するテストノードを適切に選択することができるテスト支援装置、テスト装置、テスト支援方法及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern producing apparatus, a circuit design apparatus, a test pattern producing method, a circuit design method, a test pattern producing program, and a circuit design program, for reducing the processing time in test pattern production and the amount of memory used.例文帳に追加

テストパターン生成時の処理時間や使用メモリ量の削減を図るテストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラムを提供する。 - 特許庁

To extract data effective in a dynamic test of a program from waveform data such as time series data to generate test data.例文帳に追加

時系列データなどの波形データの中からプログラムの動的テストに有効なデータを抽出してテストデータを生成すること。 - 特許庁

At the time of the IC test processing, the analysis and conversion processing part 1041 successively analyzes a program for one instruction from the read test program 301, and successively converts the analyzed program into a test program 302 for its own equipment, and stores it in the storage part 1044.例文帳に追加

解析変換処理部１０４１は、ＩＣテスト処理に際して、読み出したテストプログラム３０１から１命令分のプログラムを順次解析し、その解析したプログラムを自機用のテストプログラム３０２に順次変換して記憶部１０４４に記憶する。 - 特許庁

TEST FACILITY SYSTEM, TIME SYNCHRONIZING METHOD FOR APPLICATION SOFTWARE TO BE USED THEREFOR AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

試験設備システム及びそれに用いるアプリケーションソフトウェアの時刻同期方法並びにそのプログラム - 特許庁

To provide a semiconductor device, a test method, and a program capable of performing a test within a short period of time.例文帳に追加

本発明は、短い時間でテストを行うことが出来る半導体装置、試験方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a testing device capable of creating a test program where appropriate settling time detected automatically is reflected and reducing test costs.例文帳に追加

自動的に検出される適切なセットリングタイムが反映されたテストプログラムを作成し、テストコストを低減できる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of producing a test program which can shorten a test time even without having the knowledge about multithreading and capable of shortening the time required for preparation and debugging of the test program.例文帳に追加

マルチスレッドに関する知識を有しなくとも試験時間を短縮し得る試験プログラムを作成することができるとともに、その試験プログラムの作成及びデバッグに要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT, EXTERNAL TESTER, MEASUREMENT METHOD OF SETUP TIME, CONTROL PROGRAM, AND READABLE STORAGE MEDIUM例文帳に追加

テスト回路、集積回路、外部テスター、セットアップ時間の測定方法、制御プログラムおよび可読記憶媒体 - 特許庁

To provide a one-chip microcomputer capable of creating a test program without considering an address, where a STOP instruction is executed, and shortening a test period of time.例文帳に追加

ＳＴＯＰ命令を実行する番地を考慮せずにテストプログラムを作成でき、かつテスト時間を短縮できるワンチップマイクロコンピュータを得る。 - 特許庁

To reduce a pattern transfer time by minimizing the number of times of test pattern transfer from a buffer memory to a local memory, following a measurement sequence by a test program, and to thereby shorten the measuring time, in a function test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の機能テストに際して、テストプログラムによる測定シーケンスにしたがうバッファメモリからローカルメモリへのテストパターン転送回数を最小化してパターン転送時間を削減し、測定時間を短縮する。 - 特許庁

A program conversion device 1 stores the three hierarchized libraries of a main flow, a group flow and a sub-flow and precisely converts each flow of a test program by referring to the libraries at the time of converting the test program being a conversion source into the test program of the format fitted to the IC tester.例文帳に追加

プログラム変換装置１は、メインフロー、グループフローおよびサブフローの３つの階層化されたライブラリを記憶し、変換元となるテストプログラムを異なるＩＣテスタに適合する形式のテストプログラムに変換する際に、これらのライブラリを参照することによって、テストプログラムの各フローを正確に変換する。 - 特許庁

To verify, in a short time, the operation of a connection mechanism with high reliability by automatically determining the best combination of a test program with a load program with high load effects and performing a long time load test under high load.例文帳に追加

負荷効果の高い試験プログラムと負荷プログラムを最良な組み合わせを自動的に決定して高負荷による長時間負荷試験を行って短時間で信頼性の高い接続機構の動作検証を可能とする。 - 特許庁

The program selector 15 connects the CPU 14 with the second control program memory 17 at a moment in time becoming the test start date from the received comparison results, and connects the CPU 14 with the first control program memory 16 at a moment in time becoming the test end date.例文帳に追加

プログラムセレクタ１５は、入力された比較結果から試験開始日時となった時点で、ＣＰＵ１４を第２制御プログラムメモリ１７に接続させ、試験終了日時となった時点で、ＣＰＵ１４を第１制御プログラムメモリ１６に接続させる。 - 特許庁

To obtain an automatic test item creating device which reduces the development time of a program by reducing the test period of a purchased program and reducing the burden of an engineer who is familiar with the function of a program to be developed.例文帳に追加

購入プログラムのテスト期間の短縮と、開発するプログラムの機能に熟知したエンジニアの負担を軽減することでプログラムの開発期間を短縮するテスト項目自動作成装置を提供する。 - 特許庁

To integrate the management of a test bench of the largest arrangement and to increase the efficiency of verification time based on the construction of the test bench optimized for a verification program.例文帳に追加

最大構成のテストベンチ管理の一元化と、検証用プログラムに最適化されたテストベンチ構築による検証時間の効率化と、を実現する点にある。 - 特許庁

Then, the test directory tree 68 is used for selecting a test script to be used at the time of testing a newly compiled application program.例文帳に追加

そして、試験ディレクトリ・ツリー（６８）は、新しくコンパイルされたアプリケーション・プログラムを試験する際に使われる試験スクリプトを選択するために使用される。 - 特許庁

To solve the problem that since trimming data are random data unique to each chip, when a plurality of chips are measured simultaneously by an external device, individual control of chips is required, a test time, a test cost such as man-hour for test program development, and human errors due to complication of a test program are increased.例文帳に追加

トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁

REAL TIME SEQUENTIAL TEST METHOD AND PROGRAM AND RECORDING MEDIUM FOR MAKING COMPUTER RUN PROCESS IN THE METHOD例文帳に追加

実時間遂次検定方法及びその方法における処理をコンピュータに行わせるためのプログラム及び記録媒体 - 特許庁

To provide a test data filing system and a test data filing program capable of managing a test time as information varied by a subject, test contents, and a tester for practically managing test times in an ophthalmology hospital, which frequently uses a test apparatus, and using the test time served according to the subject and the tester as data resources of usability determination and test scheduling of the test apparatus inside the hospital.例文帳に追加

検査時間を被検者、検査内容及び検者によって変動する情報として管理することで、検査装置を多用する眼科病院において各検査時間の管理をより実用的に行うことができ、被検者及び検者に応じて実用化された検査時間を病院内の検査装置の利用効率の判断や検査スケジューリングのデータ資源として用いることができる検査データファイリングシステム及び検査データファイリングプログラムを提供する。 - 特許庁

To solve the following problem: test costs such as test time and test program development man-days increase, and human errors increase due to test program complications, because control by individual chips becomes necessary in the case where a plurality of chips are simultaneously measured by an external device, because trimming data is a random data peculiar to each chip.例文帳に追加

トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁

The entire test time for the semiconductor device 20 is reduced by utilizing the nonvolatile program period and entering the logic test pattern to test a logic circuit 30 such as a CPU within this period.例文帳に追加

この不揮発性プログラム期間を利用し、この期間内にＣＰＵ等のロジック回路３０をテストするためのロジックテストパターンを入力し、半導体装置２０全体のテスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁

Part of the ALET language is extracted from the program file, and a test bench for executing the test instruction at the predetermined time starting from execution of the related program instructions is automatically generated.例文帳に追加

本発明では、プログラムファイルからＡＬＥＴ言語の部分を抽出し、関連づけられたプログラム命令の実行から起算した所定の時刻にテスト命令を実行するテストベンチを自動生成する。 - 特許庁

The execution module is executed to generate an execution log recording transmitting and receiving messages exchanged between the test object program and the pseudo program in time series.例文帳に追加

実行モジュールを実行し、試験対象プログラムと擬似プログラムの間で交わされた送受信メッセージを時系列に記録した実行ログを生成する。 - 特許庁

To provide a device for creating automatically a program for input vector creation for a test at the manufacturing time of an LSI for loading a CPU.例文帳に追加

ＣＰＵを搭載するＬＳＩの製造時テスト用の入力ベクタ作成のためのプログラムを自動的に作成すること。 - 特許庁

The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験装置１の制御装置２０は、補助記憶装置１０に記憶されている試験プログラム５０を読み出した後、試験プログラム５０を制御装置２０内の時間短縮装置２２に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置２０内の主記憶装置２１に格納する。 - 特許庁

To reduce the amount of time to check that a semiconductor integrated circuit such as a microcomputer functions normally in a user mode without storing a test program in a program memory.例文帳に追加

マイクロコンピュータ等の半導体集積回路がユーザモードで正常に動作することをプログラムメモリに試験用プログラムを格納せずに短時間で確認できるようにする。 - 特許庁

To avoid much time and labor from being required for exchanging a test result and a mobile unit program between a mobile unit development department and a mobile unit test execution department even when the distance between both the departments is far.例文帳に追加

移動機の開発部門と試験実施部門が離れていても部門間の試験結果や修正した移動機プログラムのやりとりに時間と人手が掛からないようにする。 - 特許庁

To provide a data display capable of easily comparing the changes in test execution time that accompany the correction of a device testing program.例文帳に追加

デバイスの試験用プログラムの修正に伴う試験実行時間の変化を容易に比較することができるデータ表示装置を提供する - 特許庁

To provide a burn-in test program simulation device, its method, and a storage medium for simulating a burn-in test program for executing a burn-in test on an IC without using any actual device or any IC to be tested so as to shorten the evaluation time.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣのバーンイン試験を実行するためのバーンイン試験プログラムを実装置及び被試験ＩＣを使用せずにシミュレーションすることで評価時間を短縮するバーンイン試験プログラムのシミュレーション装置及び方法と記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

At the time of a test, a program data set circuit 15 can write a test pattern to the memory cell array 14 without passing through the shift register 12 by outputting set signals SA0, SA1 making forcedly the data latch circuit 13 a set state to the data latch circuit 13, and a transfer time of a test pattern can be omitted.例文帳に追加

テスト時に、プログラムデータセット回路１５は、データラッチ回路１３を強制的にセット状態にするセット信号ＳＡ０,ＳＡ１をデータラッチ回路１３に出力することによって、シフトレジスタ１２を介さずにテストパターンをメモリセルアレイ１４に書き込みでき、テストパターンの転送時間を省ける。 - 特許庁

A button telephone main unit 1 is provided with a second control program memory 17 storing new control program data, and a switching time storage table 19 storing test start date information of low use frequency to be switched to the new control program data and test end date information to be switched old control program data.例文帳に追加

ボタン電話主装置１内に、新制御プログラムデータを格納した第２制御プログラムメモリ１７、及び新制御プログラムデータに切り替えるべき使用頻度の低い試験開始日時情報、及び旧制御プログラムデータに切り戻すべき試験終了日時情報をそれぞれ格納した切替時間記憶テーブル１９を備えておく。 - 特許庁

To provide a debug supporting method which uses the display part of a memory dump and performs a test operation to reduce time needed to debug program.例文帳に追加

プログラムのデバッグに要する時間を短縮するために、メモリダンプの表示部分を使って、テスト操作を行うデバッグ支援方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic apparatus and a program capable of reducing an overhead of a processing time caused by a test at the start of hardware.例文帳に追加

ハードウェアの起動時に実行されるテストによる処理時間のオーバーヘッドを低減することができる電子機器、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection technique capable of maintaining test quality in the inspection of a tool for creating a predetermined program while reducing time and energy spent by a person in charge of a test.例文帳に追加

所定のプログラムを生成するツールの検査において、テスト担当者が費やす労力や時間を軽減しつつテスト品質を維持することができる検査技法を提供することを目的とする。 - 特許庁