「program test time」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To improve efficiency in an inspection and to shorten inspection time by automatically selecting an optimum test program and performing the electrical inspection of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の電気的検査を最適なテストプログラムを自動的に選定して行うことにより、検査の効率を改善し、検査時間の短縮を図る。 - 特許庁

To eliminate the need to generate a target program in which a test code is arranged every time verification is performed in an in-circuit emulator system.例文帳に追加

イン・サーキット・エミュレータシステムにおいて、検証を行う毎にテストコードを配置したターゲットプログラムを生成する必要をなくすことができることを目的とする。 - 特許庁

At the same time, the information on the setting voltage of the test program is utilized, thereby supplying an optimal voltage without requiring a power source control operation.例文帳に追加

且つ、テストプログラムの設定電圧の情報を利用しているため、電源制御の操作を要することなく、最適な電圧を供給することができる。 - 特許庁

A virtual test device software management means 3 measures an I/O input/output processing time and an execution processing time of a instruction word in execution of simulation of a control program stored in a control program memory 6 by means of a simulation program stored in a simulator system memory 5.例文帳に追加

仮想試験装置用ソフトウェア管理手段３は、シミュレータシステムメモリ５に格納されたシミュレーションプログラムにより、制御プログラムメモリ６に格納された制御プログラムのシミュレーションを実行したときのＩ／Ｏの入出力処理時間や命令語の実行処理時間を計測する。 - 特許庁

To provide a verification method of verifying an effective test program change time, in the situation where a test is allowed only once or times closely near thereto in a product such as the same magnetic storage device, and a verification system therefor.例文帳に追加

同じ磁気記憶装置などの製造物に対して１回程度しか試験できない状況において有効な試験プログラム変更時の検証方法及びその検証システムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a preprocessing method for a semiconductor test program capable of shortening operation time as compared to a conventional program, and a semiconductor testing device equipped with a compiler for executing the preprocessing method.例文帳に追加

従来のプログラムに比べて動作時間を短縮可能とする半導体試験用プログラムの前処理方法および当該前処理方法を実行するコンパイラを備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The virtual ALPG transmission type semiconductor test device has virtual ALPG function and real ALPG memory test function, in which a virtual ALPG operated on a hardware simulator and a real ALPG attained on hardware have the function of generating pattern at the same time by interpreting a test program although the real time is differed from each other and generate test patterns for a DUT designated by the program with a designated content at a designated speed.例文帳に追加

仮想ＡＬＰＧ機能と実ＡＬＰＧメモリテスト機能を具備し、ハードウェアシミュレータ上で動作する仮想ＡＬＰＧとハードウェアで実現する実ＡＬＰＧが、実時間は異なるが、テストプログラムを解釈し、プログラムの指定するＤＵＴに対するテストパターンを指定された内容で、指定された速度で発生して、仮想ＡＬＰＧと実ＡＬＰＧが同タイミングでパターンを発生する機能を有する仮想ＡＬＰＧ透過型半導体テスト装置とする。 - 特許庁

Thus, it is not necessary to rewrite a program for each type of an LSI while it is necessary when using a test device connected to the outside, and it is possible to simultaneously test the cache memory in parallel with the memory such as the SRAM other than the cache memory built in the same LSI, and to shorten the test time.例文帳に追加

これにより、外部に接続したテスト装置を用いた場合のようにＬＳＩの品種毎のプログラムの書き換えが不要となる上、同一ＬＳＩに内蔵されているキャッシュメモリ以外のＳＲＡＭ等のメモリと同時並行してキャッシュメモリのテストが可能となり、テスト時間の短縮が図れる。 - 特許庁

Since the test program suitable for the inspection of each semiconductor device is selected on the basis of the manufacture process information J1 and the electrical inspection is executed, the efficiency of the electrical inspection is improved, the inspection time is shortened and the burdens of the correction and alteration, etc., of the test program are reduced.例文帳に追加

製造プロセス情報Ｊ１に基づいて各半導体装置の検査に好適なテストプログラムが選定され、電気的検査が実行されるので、電気的検査の効率が高められて検査時間が短縮され、テストプログラムの修正、改定等の負担が軽減される。 - 特許庁

This constitution eliminates the need to generate the target program wherein a test code for outputting the trigger signal from the microcomputer part every time verification is performed is arranged.例文帳に追加

この構成により、検証を行う毎にマイクロコンピュータ部よりトリガ信号を出力させるテストコードを配置したターゲットプログラムを生成する必要をなくすことができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage of a serial access system in which high speed write-in can be performed by setting forcedly program data to a data latch circuit at the time of a test.例文帳に追加

テスト時にプログラムデータを強制的にデータラッチ回路にセットすることにより高速書き込みができるシリアルアクセス方式の半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for executing a software test for constructing and maintaining tests at a low cost without requiring much time and labor even when a target program is changed.例文帳に追加

対象プログラムが変更された場合でも、時間および労力をかけることなく、低コストで試験の構築および維持が可能なソフトウェア試験実行方法を提供する。 - 特許庁

When repair is performed by a spare cell of an adjacent memory block for a defective cell of a self-block as this invention, a memory test time can be shortened by matching the cell data topology, and the complexity of a test program can be reduced.例文帳に追加

本発明のように自己ブロックの不良セルを隣接したメモリブロックのスペアセルでリペアーした場合セルデータトポロジーを合わせることでメモリテスト時間を短縮させることができテストプログラムの複雑度を減少させることができる。 - 特許庁

At the time of executing program correction, correction ID is numbered for each correction factor, and at the time of registering a correction source file in a source configuration management file, information related with program correction such as correction ID, source file name, and test scenario name is stored in a corresponding chart.例文帳に追加

プログラム修正を行う場合に、修正要因毎に修正ＩＤを採番し、修正ソースファイルをソース構成管理ファイルに登録するとき、修正ＩＤ、ソースファイル名、およびテストシナリオ名などのプログラム修正に関わる情報を対応表に格納する。 - 特許庁

To provide a test pad arrangement device and a program capable of arranging favorably a number of test pads as much as possible on a wiring pattern after lay-out design is finished, and capable of contributing to the facilitation of a trouble analysis and to the shortening of a trouble analysis time.例文帳に追加

レイアウト設計終了後の配線パターンにできるだけ多くのテストパッドを好適に配置することができ、故障解析の容易化および故障解析時間の短縮化に寄与することができるテストパッド配置装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a test management device capable of constructing and maintaining tests at low cost, without having to spending time and efforts, even when the number of tests for an object program is increased.例文帳に追加

対象プログラムに対する試験の数が増えた場合でも、時間および労力をかけることなく、低コストで試験の構築および維持が可能な試験管理装置を提供する。 - 特許庁

The image forming device makes the LED print head emit light for a prescribed exposure time T1 after a photoreceptor drum is put in a rotating state and in an electrification state, if a test sequence program (steps 101-104) is started.例文帳に追加

テストシーケンスプログラムを開始すると、感光ドラムを回転状態とするとともに、帯電状態とした後、所定の露光時間Ｔ１の間ＬＥＤプリントヘッドを発光させる（ステップ101〜104）。 - 特許庁

To provide an installation program capable of reducing the time and labor of a user for the updating of the firmware of an image forming apparatus and test printing, the image forming apparatus and a printing system.例文帳に追加

画像形成装置のファームウェアのアップデート及びテスト印刷に対するユーザの手間を軽減することができるインストールプログラム、画像形成装置、及び、印刷システムを提供すること。 - 特許庁

Fundamentally, the inside of the IC chip is judged all the time to come within a prescribed temperature range (processings S3, S4), after one of the divided programs is executed, and the effective test program can be conducted thereby.例文帳に追加

基本的には、分割した一つのテストプログラム実行後、常にＩＣチップ内が所定温度範囲内にあるか判断し（処理Ｓ３，Ｓ４）、実効的なテストプログラムができるようにする。 - 特許庁

At the time of data writing test to the EEPROM of a non- contact or contact type IC card, a writing data generation program and a command are transmitted from an IC card tester to the IC card (603).例文帳に追加

非接触型または接触型ＩＣカードのＥＥＰＲＯＭへのデータ書き込み試験において、ＩＣカードテスタから、ＩＣカードに対して書き込みデータ発生プログラムおよびコマンドを送信する（６０３）。 - 特許庁

To substantially cut down an inspection cost by substantially shortening an inspection time in comparison with the past by digitally inspecting a D/A converter and a VCO integrated in a semiconductor chip at the same time, and to simplify a conventional test program for the inspection.例文帳に追加

半導体チップに内蔵されたＤ／ＡコンバータとＶＣＯをデジタル的に同時に検査することで、従来に比べて検査時間を大幅に短縮して検査コストを大幅に削減すると共に、従来の検査用テストプログラムを簡易化する。 - 特許庁

A run time checker 16 and a coverage checker 18 performing the verification of an application program at execution are provided, a class file 2 (13) is inputted, and the checker 16 performs verification at execution together with appropriate test data 15.例文帳に追加

アプリケーションプログラムの実行時の検証を行うランタイムチェッカ１６とカバレッジチェッカ１８を設け、ｃｌａｓｓファイル２（１３）を入力として、適切なテストデータ１５と共にランタイムチェッカ１６で実行時検証を行う。 - 特許庁

To confirm whether a response from a viewer is reflected normally on a program at preparation time or test-reproducing broadcast data at a broadcasting station side, before broadcasting in broadcasting using a bi-directional service.例文帳に追加

双方向サービスを利用した放送において、放送前に放送局側で放送データを作成、または、テスト再生する場合、視聴者からの応答が、正常に番組に反映されるかどうかの確認を行う。 - 特許庁

To shorten the time arriving at a definite value in temperature and humidity by automatically washing a temperature sensing resistor to obtain accurate temperature and humidity measured values in a corrosion testing machine incorporating the cycle prescribed in a program to execute the corrosion test of a test piece, to facilitate the transfer to a next test in a transfer time within a definite range defined in JIS, and to enhance the reproducibility of the corrosion state in the natural world.例文帳に追加

プログラムに規定されたサイクルを組んで試験片の腐食試験を実施する腐食試験機において、測温抵抗体を自動的に洗浄することで、正確な温湿度の測定値を得て、これにより、温湿度が一定値に到達する時間を短縮させ、日本工業規格に定めた一定の範囲内の移行時間で次の試験への移行を容易とし、かつ、自然界における腐食状態の再現性を向上することにある。 - 特許庁

To provide a system, a method and a program capable of easily selecting and executing a test scenario to be reused, and simplifying a retesting work even at the time of executing program correction such as enhance or failure correction including the change of the relation of a module.例文帳に追加

エンハンスや不良修正などのプログラム修正に対して、モジュールの関係が変更になるようなプログラムの修正であっても、再利用したいテストシナリオを簡単に選択して実行でき、再テスト作業を簡略化することができるシステム、方法、およびプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored.例文帳に追加

本発明の課題は、複数のＩＣ試験を行う場合に、全ＩＣ試験項目の実行時間が短くなるように最適な試験順序にてＩＣ試験を実行することのできるＩＣ試験装置、ＩＣ試験方法、及びそのＩＣ試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

i. Components designed for use in controlling the vibration test equipment falling under 1 and that use a program for vibration testing and digitally control vibration testing in real time in a bandwidth exceeding 5 kilohertz 例文帳に追加

１　（一）に該当する振動試験装置の制御に使用するように設計した部分品であって、振動試験用のプログラムを用いたものであり、かつ、五キロヘルツを超える帯域幅で実時間での振動試験をデジタル制御するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide an apparatus and a method for efficiently testing a semiconductor integrated circuit by eliminating a loss time occurring whenever signals of address and data are output to an object under test having an automatic program function.例文帳に追加

自動プログラム機能を有する被試験対象に対してアドレス及びデータを出力する度に生ずる無駄時間を無くすことで効率的に試験を行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate the alterations of the beginning addresses of an initializing part, an interrupt table and an address space table in a test program region, the beginning addresses of an access region, an instruction generating region and correct answer information and the scope of an area, and to make it possible to deal with the execution time.例文帳に追加

テストプログラム域における初期処理部、割込みテーブル、アドレス空間テーブルの先頭アドレスやアクセス域、命令生成域、正解情報の先頭アドレスと領域範囲の変更を容易とし、また、実行時間への対応を可能とすること。 - 特許庁

A program failed bit and a bit with marginal characteristics are detected by reading storage information by switching a circuit setting value so that a margin becomes small in comparison with the time of a usual use at the time of a test, and the high yield and the high reliability are obtained by relieving the failed bit or improving characteristics by performing re-programming.例文帳に追加

テスト時に、通常の使用時よりマージンが小さくなるように回路設定値を切り変えて記憶情報を読み出すことにより、プログラム不良ビット、マージナルな特性のビットを検出し、再プログラムを行って救済、または特性を改善することにより、高歩留まり、高信頼性を実現する。 - 特許庁

In the 2nd test program 2, when a packet for request is received from the communicating function, a response packet with information to respond to that request integrated to a protocol control part header is transmitted back when a specified delay time is passed after reception of the packet.例文帳に追加

第２のテストプログラム２は、試験対象の通信機能から要求用のパケットを受信すると、その要求に応答するための情報をプロトコル制御部ヘッダに組み込んだ応答用のパケットを、パケット受信後に所定の遅延時間が経過するのを待って返信する。 - 特許庁

This optical disk recording medium 10 for recording each program having a track number added in a program area is constructed in such a manner that time equivalent to a desired reproducing position is set in an index 00 indicating a pause zone of a track number 1, and various data such as optional test data are recorded in an index 01 indicating the data zone of the track number 1.例文帳に追加

プログラム毎にトラック番号が付された状態でプログラムエリアに記録される光ディスク記録媒体１０であって、トラック番号１のポーズ区間を示すインデックス００に所望の再生位置に相当する時間を設定すると共に、トラック番号１のデータ区間を示すインデックス０１に任意のテストデータ等の各種データを記録する、ことを特徴とする。 - 特許庁

To shorten a test time by automatically performing examination and preparation of a redundancy analyzing and verifying program and to prevent dispersion of a verified quality level owing to difference of recognition levels by automating examination of verifying contents and a relieving code expected value and discrimination of acceptance or rejection.例文帳に追加

冗長解析検証プログラムの検討及び作成を自動で行なうことにより、テスト時間を短縮するとともに、検証内容、救済コード期待値の検討、及び合否判定を自動化することにより、認識レベルの差による検証品質レベルのばらつきを防止する。 - 特許庁

To provide a method and device for an accelerated oxidation test of a fuel or a mineral oil product usable especially for simulation of a change with elapse of time of the fuel or the mineral oil product, a computer program for controlling the device, and a memory media readable by a computer.例文帳に追加

特に燃料または鉱物油製品の経時変化のシミュレーションに使用されることができる、燃料または鉱物油製品の加速酸化試験の方法とその装置、ならびにその装置をコントロールするためのコンピュータ・プログラムおよびコンピュータによる読み取り可能なメモリメディアを提供すること。 - 特許庁

To provide: a synchronization system capable of carrying out individualized time synchronization with a tested apparatus (an opposite apparatus) that performs an opposite test and communications to establish a flexible opposite environment, and capable of reducing a development work quantity of a pseudo switching equipment (the communications apparatus); a synchronization method; a synchronization program; and a communications apparatus.例文帳に追加

対向試験や通信を行う被試験装置（対向装置）と個別の時刻同期を行い柔軟な対向環境を構築することができ、擬似交換機（当該通信装置）の開発作業量を削減することができる同期システム、同期方法、同期プログラム及び通信装置を提供する。 - 特許庁

This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.例文帳に追加

ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of executing the operation time power supply current test of a prescribed operation in the state that a ROM 1320 performs a read operation even when the instruction code of an operation program is arranged in a RAM 1320 and a CPU 1310 reads the instruction code from the RAM 1310.例文帳に追加

動作プログラムの命令コードをＲＡＭ１３２０に配置し、ＣＰＵ１３１０はＲＡＭ１３１０から命令コードを読み出しても、ＲＯＭ１３２０が読み出し動作をした状態で、所定の動作の動作時電源電流テストを実施出来る半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method, system and program for evaluating learning disability which can easily obtain clear evaluation, in a short time, while minimizing the stress of tested animals to be suitable for screenings of central nervous system disorder or disease, its curative medicine, side effects of the curing medicine, and to provide its test model animals.例文帳に追加

簡便で、被験動物のストレスが少なく、かつ、短時間で明確な評価が得られ、中枢神経系障害又は疾患のスクリーニング、中枢神経系障害又は疾患の治療薬のスクリーニング、中枢神経系障害又は疾患の治療薬の副作用のスクリーニング、中枢神経系障害又は疾患モデル動物のスクリーニングに好適な学習機能障害評価方法、並びにその装置及びプログラムを提供する。 - 特許庁

This is a program that provides outstanding and enthusiastic trainees with additional two years of training after the current three years, which offers an opportunity to acquire more sophisticated skills. More specifically, those who have passed a skill examination equivalent to Level 3 of the National Trade Skill Test upon the completion of the three year training will be permitted to re-enter Japan after a certain period of time if they wish in order to learn more advanced technical and managerial skills.例文帳に追加

これは、優秀で意欲のある実習生には、現行の3年間実習期間終了後、更に2年間程度、よりレベルの高い技能を修得する機会を与えるものであり、具体的には3年終了時に技能検定3級レベルの技能評価試験に合格した者で本人が希望する場合に、一定期間経過後に再入国を認め、より高度な内容の技能や管理者としてのスキル習得などを目指すものである。 - 経済産業省