「quality evaluation method」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method and an apparatus, for the noninvasive quality evaluation of a mammal embryo, wherein the shape of the mammal embryo is observed, the oxygen consumption as an index of the metabolic activity of the mammal embryo is measured and the viability and the normality of each mammal embryo can be grasped at an early stage and precisely.例文帳に追加

哺乳動物胚の形態観察と代謝活性の指標である酸素消費量の計測を行い、個々の哺乳動物胚の生存性や正常性を、早期に正確に把握できる哺乳動物胚の無侵襲的品質評価方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a stable image quality over a long period of time, by realizing an evaluation method with which change in state of friction for an image carrier can be grasped easily, in a short period of time, selecting a desirable condition for the image carrier and maintaining cleaning function, even when image formation is carried out without lubricant.例文帳に追加

像担持体の摩擦状態変化を簡易に短時間で把握できる評価法を実現し、像担持体の好ましい性状を選択して、潤滑剤を用いずに画像形成を行なってもクリーニング性能が担保され長期にわたる安定画像品質を得られるようにする。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing for high quality liquid crystal display substrates for inspection with neither admixture of air bubbles nor gap non-uniformity disturbing recognition of defects and the assembling device in the liquid crystal display substrates used for evaluation of a manufacturing process of the liquid crystal display substrates.例文帳に追加

本発明は液晶表示基板の製造プロセスの評価に用いる液晶表示基板において、不良発見の妨げとなる気泡の混入やギャップ不良の無い高品質な検査用液晶表示基板の製造方法及び組立装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To more strictly perform the evaluation of a defective factor even for an object to be inspected wherein a cyclic light and shade pattern appears in a photographed image, in the optical member inspection method in an image inspection device for inspecting the quality of an optical member such as a lens or the like.例文帳に追加

レンズ等の光学部材の品質を検査するための画像検査装置における光学部材検査方法において、撮影した画像に周期的な濃淡模様が現れるような被検物に対しても不良要因の評価をより厳密に行うことが可能な光学部材検査方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a developer residual amount detecting means and an evaluation method for evaluating the propriety (propriety of light transmittance) of the quality of an optical fiber holding member constituting the optical developer residual amount detecting means arranged in a developing case in order to detect the residual amount of developer in the developing case for every individual part.例文帳に追加

現像ケース内の現像剤残量を検知するために現像ケース内に配置される光学的な現像剤残量検知手段を構成する光ファイバ保持部材の品質の良否（光透過性の良否）を個々の部品毎に評価することを可能とする現像剤残量検知手段、評価方法等の提供。 - 特許庁

To provide a device and a method for manufacturing an inorganic compound thin film library manufacturing/evaluating efficiently a laminated thin film of high quality of an inorganic compound compounded with a large number of elements, in a short time, and allowing continuous and automatic execution ranging over from the manufacturing of the thin film library up to the evaluation of each thin film.例文帳に追加

多数の元素が複合した無機化合物の高品質な積層薄膜の作製・評価を短時間で効率的に行い、さらに薄膜ライブラリーの作製から各薄膜の評価までを連続的に自動的に実行しうる、無機化合物薄膜ライブラリー製造装置および製造方法を提供する。 - 特許庁

This quality control method and a performance evaluation method for the liquid or semi-solid cosmetic measure vertical-directional force vertical to both-roll-shaft plane generated in roll shafts when a sample applied on roll faces is extended and/or cleaved in a nip space formed by two rolls of at least a driving roll and a freely rotated or synchronization-rotated roll.例文帳に追加

少なくとも駆動ロール及び自由回転又は同期回転ロールの二本のロールにより形成されるニップ間で、ロール面に塗布された試料の伸長及び／または分裂の際にロール軸に発生する、両ロール軸平面に垂直方向の力を測定することを特徴とする液状又は半固形状化粧料の品質管理方法及び性能評価方法。 - 特許庁

To provide a method of etching a silicon substrate that can make the absolute amount of metal impurities as a generation source other than the silicon substrate lower than before during etching of the silicon substrate which is important for metal impurity evaluation by high-sensitivity chemical analysis necessary for shipping a product of high quality; and to provide a method of analyzing impurities of the silicon substrate using the same.例文帳に追加

高品質な製品を出荷するために必要な高感度化学分析による金属不純物評価を行うために重要なシリコン基板のエッチングにおいて、シリコン基板以外が発生源となる金属不純物の絶対量を従来に比べて低くすることができるシリコン基板のエッチング方法と、それを利用したシリコン基板の不純物分析方法を提供する。 - 特許庁

To enable high chromaticity detection accuracy by detecting accurate color information in a display color evaluation method of a display screen, to provide a display device having high color quality by preventing oversight of local irregular colors at the inspection, and to enable total or sampling inspection in a quantity production line by shortening an inspection time greatly.例文帳に追加

表示画面の表示色評価方法において、正確な色情報を検出して高い色度検出精度が得られるようにすること、および、検査時の局所的な色むらの見落としをなくし、色品質の高い表示装置を得ること、さらに、検査時間を大幅に短縮して量産ラインの中で全数又は抜き取りによる検査を可能にすること。 - 特許庁

The GOI evaluation method of the silicon wafer is provided, which determines quality of electric characteristics of a gate oxidation film by at least forming the gate oxide film on the silicon wafer, by performing X-ray diffraction measurement to silicon wafer surface layer part directly under the formed gate oxide film, and whether or not half width of a rocking curve to be obtained by measurement is 0.00110° or less.例文帳に追加

少なくとも、シリコンウェーハ上にゲート酸化膜を形成し、形成されたゲート酸化膜直下のシリコンウェーハ表層部をＸ線回折測定して、測定により得られるロッキングカーブの半値幅が０．００１１０°以下であるか否かにより、ゲート酸化膜の電気的特性の良否判定をするシリコンウェーハのＧＯＩ評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation method of a material for a semiconductor wafer storage container capable of determining the kind of a resin causing a component adhering to the surface of a semiconductor wafer when preserved in a resin semiconductor wafer storage container formed by assembling a plurality of components having different materials, and acquiring data effective for development of a high-quality semiconductor wafer storage container.例文帳に追加

材質の異なる複数の部品を組み立てた樹脂製の半導体ウェーハ収納容器に保存した場合の半導体ウェーハの表面に付着する成分が、どの樹脂に起因するのかを判定することができ、高品質の半導体ウェーハ収納容器の開発に有効なデータを得ることができる半導体ウェーハ収納容器用材料の評価方法を提供する。 - 特許庁

In this evaluation method, acceptability of the quality of a laser spot weld zone 4 is discriminated based on the specific range of a ratio between a radius ϕa of a planar shape S of the laser spot weld zone 4 in the scanning direction of a phased array probe 20 and a radius ϕb of the same in the direction orthogonal thereto.例文帳に追加

このレーザスポット溶接部の評価方法では、フェイズドアレイ探触子２０の走査方向におけるレーザスポット溶接部４の平面形状Ｓの径φａと、フェイズドアレイ探触子２０の走査方向に直交する方向におけるレーザスポット溶接部４の平面形状Ｓの径φｂとの比が一定の範囲内であるか否かに基づいて、レーザスポット溶接部４の溶接品質の可否を判断する。 - 特許庁

To provide an evaluation method and device for an electron emission element and a manufacturing method and device therefor capable of analyzing in a high precision and sensitivity the structure and condition of carbon or carbon compounds acquired from the sedimentary film in the activation process to aim at realizing a high-quality electron emission element and of reflecting the analytical results to the formation of the sedimentary film.例文帳に追加

品質性に優れた電子放出素子の実現を図るべく、活性化工程により得られる堆積膜中の炭素または炭素化合物の構造および状態を精度良く高感度で分析を行うことができ、また、その分析結果を堆積膜の形成に反映させることのできる電子放出素子の評価方法および電子放出素子の評価装置および電子放出素子の製造方法および電子放出素子の製造装置を提供する。 - 特許庁

In the information storage medium evaluation method for evaluating the information storage medium provided with a wobble track, being a track for guiding a light beam, wobbled in accordance with a frequency whose phase is modulated with predetermined timing, the quality of the wobble track is evaluated on the basis of a reproduction signal corresponding to the wobble track obtained from reflection light of the light beam which irradiates the wobble track.例文帳に追加

光ビームを案内するトラックであって、所定情報を反映させるために所定のタイミングで位相が変調された周波数に対応してウォブルされたウォブルトラックを備えた情報記憶媒体を評価する情報記憶媒体評価方法は、前記ウォブルトラックに対して照射された光ビームの反射光から得られる前記ウォブルトラックに対応する再生信号に基づき前記ウォブルトラックの品質を評価する。 - 特許庁

To provide an organic EL device, capable of simply evaluating the manufacturing quality of a pixel region of a pixel section by an ink jet for a short period, when forming the pixel region of the pixel section of the organic EL device by the ink jet and improving the yield and the throughput, in a manufacturing process by quickly feeding back evaluation results to the manufacturing process of the pixel section with the ink jet, and to provide a manufacturing method therefor.例文帳に追加

有機ＥＬ装置の画素部の画素領域をインクジェットにより形成する場合に、インクジェットによる画素部の画素領域の製造品質を簡易かつ短時間にて評価することが可能であり、この評価結果をインクジェットによる画素部の製造工程に速やかにフィードバックすることで製造工程における歩留まり及びスループットを向上させることが可能な有機ＥＬ装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁