「reference light」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The first reference light is split into a plurality of second reference lights which are different in the optical path length from each other, and each second reference light arrives at a position different from others on the observation plane 16.例文帳に追加

第１参照光は、光路長が互いに異なる複数の第２参照光に分割され、各第２参照光は、観測面１６のそれぞれ異なる位置に到達する。 - 特許庁

The control part 40 displays a tilt standard reference light pixel and a tilt standard reference signal light pixel by controlling the space modulator 14, and records a tilt reference hologram.例文帳に追加

制御部４０は、空間変調器１４を制御することによって、チルト基準参照光画素と、チルト基準信号光画素と、を表示して、チルト基準ホログラムを記録するようにした。 - 特許庁

A eyeground observation device 1 (optical image measuring apparatus) divides low-coherence light L0 into signal light LS for an eyeground Ef and reference light LR for a reference mirror 174, superposes signal light LS passed through the eyeground Ef and reference light LR passed through the reference mirror 174 on each other to generate interference light LC, detects the interference light LC, and forms tomographic images.例文帳に追加

眼底観察装置1（光画像計測装置）は、低コヒーレンス光Ｌ０を眼底Ｅｆに向かう信号光ＬＳと参照ミラー１７４に向かう参照光ＬＲとに分割し、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳと参照ミラー１７４を経由した参照光ＬＲとを重畳させて干渉光ＬＣを生成し、この干渉光ＬＣを検出して断層画像を形成する。 - 特許庁

The reference exposure part 14 performs a reference exposure with R light, G light, B light and gray light by using a non-exposed portion of a photographic film 28 as a reference exposure area, in order to form image information used when determining image processing conditions.例文帳に追加

基準露光部１４は、画像処理条件を決定する際に使用される画像情報を形成するために、写真フィルム２８の未露光部分を基準露光領域としてＲ光、Ｇ光、Ｂ光、及びグレイ光により基準露光する。 - 特許庁

The reference receiving light quantity correction unit 38 corrects the reference receiving light quantity A when the change rate is smaller than a predetermined threshold Th1 and the receiving light quantity X is larger than a threshold Th2 determined based on the reference receiving light quantity A.例文帳に追加

基準受光量補正部３８は、変化率が予め定められた閾値Ｔｈ１よりも小さく、かつ、受光量Ｘが基準受光量Ａに基づき定められる閾値Ｔｈ２よりも大きい場合に、基準受光量Ａを補正する。 - 特許庁

The intensity of the output laser light is compared with the reference output value, and the reference stimulation value of the laser diode 5 is changed based on the comparison result.例文帳に追加

出力レーザ光の強さを出力基準値と比較し、レーザダイオード５の励起基準値を変更する。 - 特許庁

A reference shadow region setting unit 420 sets a reference shadow region 320 outside the light region 31.例文帳に追加

参照影領域設定部４２０は、光領域３１の外側に参照影領域３２０を設定する。 - 特許庁

On the hologram recording medium 45, a hologram is recorded using reference light focused on scanning reference point B.例文帳に追加

ホログラム記録媒体４５には、走査基点Ｂに収束する参照光を用いてホログラムが記録されている。 - 特許庁

During recording, a polarization hologram pattern 8c diffracts reference light Lb outgoing from the objective lens 9 so that the reference light Lb from the objective lens 9 is superposed on a converged point of information light La outgoing from the objective lens 9, while the reference light Lb from the objective lens 9 converges at a position deviated from the converged point of the information light La.例文帳に追加

記録時、対物レンズ９から出射した参照光Ｌｂが、対物レンズ９から出射した情報光Ｌａの集光点と重なるとともに、情報光Ｌａの集光点からずれた位置で集光するように、偏光ホログラムパターン８ｃが参照光Ｌｂを回折させる。 - 特許庁

This quasi light generating device comprises a light source part, a spectral dispersion part, a monochromatic light intensity control part, a monochromatic light mixing part, a quasi light detection part, and a comparison part which detects the difference between quasi light and reference light.例文帳に追加

本発明の疑似光発生装置は光源部、分光分散部、単色光強度制御部、単色光混合部、疑似光検知部および疑似光と基準光との差分を検出する比較部からなる。 - 特許庁

To provide an image pickup device for reducing the positional deviation of a light emitting device with reference to a lens device, and also, reducing the emitted light quantity of the light emitting device.例文帳に追加

レンズ装置に対する発光装置の位置ずれ、ひいては発光装置の発光量を低減できる撮像装置。 - 特許庁

A relative position to the line sensor of the reference light passing region is specified based on a received light signal of light passed through a lattice region.例文帳に追加

格子部を通過した光の受光信号に基づいて、基準透光部のラインセンサに対する相対位置を特定する。 - 特許庁

The substrate includes an incidence light surface 210a and an emission light surface 210b, the emission light surface including a reference vertical surface.例文帳に追加

基材が入射光面２１０ａと射出光面２１０ｂとを備え、その射出光面が参考垂直面を有する。 - 特許庁

Light from a light source is reflected by a reflector 201 and made incident on an optical waveguide 123 from a lower part as the reference light 5.例文帳に追加

光源からの光は、反射器２０１で反射され、参照光５として光導波路１２３に下方から入射する。 - 特許庁

The optical phase of the light multiplexing the carrier light and the reference light is feedback-controlled so that the detected phase difference becomes zero.例文帳に追加

検出した位相差がゼロになるように、搬送光と参照光を合波した光の光位相をフィードバック制御する。 - 特許庁

Further, the image reader includes a light adjustment portion for adjusting the light volume of the elecrtroluminescent light source so that the reference concentration is adjusted.例文帳に追加

さらに、このエレクトロルミネッセンス光源の光量を調整する光量調整部を備え、基準濃度の調整が可能である。 - 特許庁

The object light-superposed light W+_1 is transmitted through a semitransparent mirror 550 and becomes object light and reference light-superposed light W+WW+_1 by superposition of non-modulated reference light WW_1 of circularly polarized light reflected by the semitransparent mirror 550, on the normal Z1 axis of an imaging part 5, and optical waves having the same polarization direction interfere with each other.例文帳に追加

物体重畳光W+_1が半透明鏡５５０を透過し、半透明鏡５５０で反射した円偏光の無変調の参照光WW_1が撮像部５の法線Ｚ１の同軸上で重畳され物体参照重畳光W+WW+_1 となり同じ偏光方向の光波同士が干渉する。 - 特許庁

Or, a second light entering part 22 where a reference light out of a wavelength range for a measuring object enters is provided, and a second light receiving element for receiving the reference light of different spectral sensitivity wavelength from the light receiving element for receiving light from the measuring object is installed in the light receiving part 5.例文帳に追加

あるいは、測定対象とする波長域の域外の波長の参照光を入光する第２入光部２２を設けるとともに、受光部５に参照光の受光用であって測定対象光のための受光素子と分光感度波長が異なる第２の受光素子を設ける。 - 特許庁

Then, a light intensity distribution according to the correlation between the light intensity of interference light and a reference light path is obtained by a thickness calculation part 16, and the thickness of the semiconductor wafer W is obtained according to the light path length difference between the second and third light intensity peaks from a side with a smaller reference light path length.例文帳に追加

そして、厚み算出部１６において、干渉光の光強度と参照光路長との相関による光強度分布を求め、参照光路長が小さい側から２番目及び３番目の光強度ピークの光路長差から半導体ウエハＷの厚みを求める。 - 特許庁

A master medium 11 is irradiated with the reference light beam R_i to produce diffracted light S_i, so that a duplication medium 12 is exposed to transfer a hologram by interference fringes of total 2n of recording light beams comprising the reference light beams R_i and object light beams S_i.例文帳に追加

参照光ビームＲ_ｉをマスター媒体１１に照射し回折光Ｓ_ｉを生じさせ、各参照光Ｒ_ｉと各物体光Ｓ_ｉの計２ｎ個の記録光ビームの干渉縞により複製媒体１２にホログラムを露光する。 - 特許庁

Scanning is performed with a light beam from a light source 1 corresponding to a pinhole array of an axially-rotating Nipkow disk 7, and the light beam is divided into searching light toward the target object 18 and reference light toward a reference optical path by a beam splitter 12.例文帳に追加

光源（１）からの光ビームが軸回転するニポウディスク（７）のピンホールの配列に応じて走査され、ビームスプリッター（１２）により対象物体（１８）へ向かう探索光と、参照光路へ向かう参照光とに分割される。 - 特許庁

Incident light L1 of p-polarized light is caused to enter a hologram record medium 6, and transmitted light L2 at this time is reversed to generate reproducing reference light L3.例文帳に追加

Ｐ偏光の入射光Ｌ１をホログラム記録媒体６に入射し、このときの透過光Ｌ２を反転させて再生参照光Ｌ３を生成する。 - 特許庁

To set a function of the phase difference between reference light and light to be referred instead of interference light output in an optical fiber sensor utilizing light interference.例文帳に追加

光の干渉を利用する光ファイバセンサにおいて、干渉光出力に代えて、参照光と被参照光との位相差の関数をセンサ出力とする。 - 特許庁

The reference and edge sensor 15 is provided with the other set of a light-emitting part and a light-receiving part, namely an edge signal detection light-emitting part 23 and an edge signal detection light-receiving part 24.例文帳に追加

基準・エッジセンサ１５にはもう１組の発光部と受光部、すなわち、エッジ信号検出発光部２３とエッジ信号検出受光部２４がある。 - 特許庁

In addition, a light guide part 12 for branching a part of light from the LED 20 as reference light, and allowing light to enter a correction sensor 35 is formed in the block 10.例文帳に追加

また、ＬＥＤ２０からの光の一部を参照光として分岐させて補正センサ３５に入射させる導光部１２をブロック体１０に設けた。 - 特許庁

Signal light 14 modulated in accordance with recording data and reference light 15 are generated from a light beam from a wavelength variable laser light source 11.例文帳に追加

記録データに応じて変調された信号光１４と参照光１５とを波長可変のレーザ光源１１からの光ビームによって発生させる。 - 特許庁

To control signal light power of a semiconductor optical amplifier at a predetermined level, without reference to the level of the light power of input light and the wavelength of the input light.例文帳に追加

入力光の光パワーの大きさによらずに、また、入力光の波長によらずに半導体光増幅器の信号光パワーを所定レベル制御する。 - 特許庁

During recording and reproducing operations, the reference beam is emitted to a recording position of the reference tilt hologram and the reference incident angle (reference angle Sr) of the reference beam in the radial tilt direction is detected based on a received light state.例文帳に追加

記録／再生動作時には、まず、基準チルトホログラムの記録位置に参照光を照射し、その受光状態から、ラジアルチルト方向における参照光の基準入射角度（基準角度Ｓｒ）を検出する。 - 特許庁

On each of the light emitting elements E, the measured value is compared with the reference value, and the corrected value of each light emitting element E is obtained.例文帳に追加

発光素子Ｅごとに測定値を基準値と比較し、各発光素子Ｅの補正値を求める。 - 特許庁

To suitably indicate the life-time of a light source comprising a light emitting diode without reference to in-use conditions.例文帳に追加

使用される条件に関わらず、発光ダイオードからなる光源の寿命を適切に報知する。 - 特許庁

To properly keep the ratio of a signal light amount to a reference light amount, and to maintain photorefractive effect.例文帳に追加

信号光量と参照光量の比を適正に保持し、且つ、フォトリフラクティブ効果を維持すること。 - 特許庁

Preferably, the light reflectance of the reference surface is 4%, and a light transmittance is 96%.例文帳に追加

なお、基準面の光反射率が４％であり、光透過率が９６％であることが好ましい。 - 特許庁

An eyeground observation device 1 is an optical image measuring device for dividing low-coherence light LO into signal light LS and reference light LR, detecting interference light LC obtained by superposing the signal light LS through an eye E to be examined and reference light LR through a reference mirror 174, and forming the image of the eyeground Ef.例文帳に追加

眼底観察装置１は、低コヒーレンス光Ｌ０を信号光ＬＳと参照光ＬＲに分割し、被検眼Ｅを経由した信号光ＬＳと参照ミラー１７４を経由した参照光ＬＲを重畳して得られる干渉光ＬＣを検出して眼底Ｅｆの画像を形成する光画像計測装置である。 - 特許庁

A CCD19 captures images of an interference fringe generated by interference between the object light and the reference light.例文帳に追加

ＣＣＤ１９は、物体光と参照光との干渉により発生する干渉縞を撮像する。 - 特許庁

In the surface light-emitting device, structure bodies 30 are arranged in a range of a plurality of point light sources 10 on a reference plane 10A.例文帳に追加

基準面１０Ａの、複数の点光源１０の間の領域に、構造体３０を設ける。 - 特許庁

A fundus observation apparatus 1 divides low coherence light L0 into the signal light LS and reference light LR, generates and detects interference light LC from the signal light S through the eye E to be examined and the reference light LR through a reference mirror 174, and forms the tomographic image of the fundus Ef on the basis of the detected result.例文帳に追加

眼底観察装置１は、低コヒーレンス光Ｌ０を信号光ＬＳと参照光ＬＲとに分割し、被検眼Ｅを経由した信号光ＬＳと参照ミラー１７４を経由した参照光ＬＲから干渉光ＬＣを生成して検出し、その検出結果に基づいて眼底Ｅｆの断層画像を形成する。 - 特許庁

A phase mask pattern to impart a discrete phase structure to reference light is formed in a reference light region to be irradiated with reference light in a phase mask, while a phase mask pattern for imparting a continuous phase structure to signal light is formed in a signal light region to be irradiated with a signal light.例文帳に追加

位相マスクにおいて参照光が照射される参照光領域には参照光に離散的な位相構造を与えるための位相マスクパターンを形成し、信号光が照射される信号光領域には信号光に連続的な位相構造を与えるための位相マスクパターンを形成する。 - 特許庁

An optical system for measuring light and an optical system for reference light are superposed on approximately the same structures.例文帳に追加

ほぼ同じ構造体の上に測定光用光学系と参照光用光学系を重ねて設ける。 - 特許庁

This photometer is provided with a photometer body for receiving the secondary light L3 and the reference light L2 for spectroscopic analysis, and a selection mechanism 24 capable of automatically introducing either the secondary light L3 or the reference light L2 into the photometer body, and is constituted to conduct separation/measurement of the the secondary light L3 and the reference light L2.例文帳に追加

二次光Ｌ３及び参照光Ｌ２を受光して分光分析する光度計本体と、その光度計本体に前記二次光Ｌ３又は参照光Ｌ２のいずれか一方を自動的に選択導入可能な選択機構２４とを備えてなり、前記二次光Ｌ３と参照光Ｌ２とを分離測定できるように構成した。 - 特許庁

A fundus oculi observing device 1 generates interference light LC by splitting a low-coherence light LO into a signal light LS and reference light LR and superimposing the signal light LS having passed through the eye E to be inspected and the reference light LR having passed through a reference mirror 174, and forms an OCT image from the detected result.例文帳に追加

眼底観察装置１は、低コヒーレンス光Ｌ０を信号光ＬＳと参照光ＬＲに分け、被検眼Ｅを経由した信号光ＬＳと参照ミラー１７４を経由した参照光ＬＲを重畳させて干渉光ＬＣを生成して検出し、この検出結果を基にＯＣＴ画像を形成する。 - 特許庁

Wavelengths of each object light and reference light are determined corresponding to color of the monochromatic partial original images.例文帳に追加

各物体光および参照光の波長は、当該単色部分原画像の色に応じて定める。 - 特許庁

The space light modulator 3 electrically controls the position and the modulation pattern of the reference light RL.例文帳に追加

空間光変調器３は、参照光ＲＬの位置および変調パターンを電気的に制御する。 - 特許庁

The light beam from a light source 110 is split into a measurement light beam and a reference light beam by a first splitter 120, and the measurement light beam is further split into first to n-th measurement light beams by a second splitter.例文帳に追加

光源１１０からの光は、第１スプリッタ１２０によって測定用の光と参照光とに分けられ、測定用の光は、第２スプリッタによりさらに第１〜第ｎ測定光に分けられる。 - 特許庁

Continuous light from a reference light source 1 is converted to light pulses with a light pulse modulator 2, input in an optical resonator (light orbiting part 3) and output light pulse series frequency-swept stepwise is obtained.例文帳に追加

基準光源１からの連続光を光パルス変調器２で光パルスに変換し、光共振器（光周回部３）に入力し、ステップ的に周波数掃引された出力光パルス列を得る。 - 特許庁

Recording is carried out by changing incident angles of the reference light in each original image.例文帳に追加

各原画像ごとに、参照光の入射角度を変えて記録を行う。 - 特許庁