「sample contamination」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a water sampler capable of easily collecting sample water and preventing contamination of the sample water.例文帳に追加

試料水の採取が容易であり、また試料水の汚染が防止される採水器を提供する。 - 特許庁

CONTAMINATION QUANTITY AND CONTAMINATION-DENSITY MEASURING METHODS OF SEMICONDUCTOR WAFER, AND PRODUCTION OF LOCALLY CONTAMINATED SAMPLE例文帳に追加

半導体ウェハの汚染量測定方法および汚染密度測定方法並びに局部汚染試料の作製方法 - 特許庁

Based on this, when changes in the image of the sample are observed, a contamination film forming treatment is performed which forms a contamination film on the surface of the sample.例文帳に追加

それによって、試料の像の変化が観測されたら、試料の表面にコンタミネーション被膜を生成するコンタミネーション被膜の生成処理を行う。 - 特許庁

To prevent fly of a sample inside a sample vessel that adheres to a lid of the sample vessel or its proximity when the lid is opened and closed, and to reduce the cross contamination to another sample and contamination inside the device.例文帳に追加

試料容器の蓋を開閉するときの蓋やその近傍に付着した試料容器内の試料が装置内へ飛散することを防止し、他の試料へのクロス・コンタミネーションや装置内の汚染を低減する。 - 特許庁

To prevent sample contamination in electron irradiation in an analytical electron microscope.例文帳に追加

分析電子顕微鏡において、電子線照射時の試料汚染を防止する。 - 特許庁

To provide a molten metal collecting device and its method capable of preventing a reaction between a sample and a sample collection vessel internal air and contamination of the sample with slag or a material at the tip for collecting a contamination-free sample.例文帳に追加

試料と試料採取容器内空気との反応、試料へのスラグあるいは試料採取容器の先端部材料の混入を防ぎ、汚染されていない試料の採取ができる溶融金属採取装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microchip for which cleaning work is not required and there is no contamination of a sample liquid, a sample liquid supplying apparatus, a sample liquid supplying method, and an analyzer.例文帳に追加

洗浄作業が不要で、かつサンプル液のコンタミネーションがないマイクロチップ、サンプル液供給装置、サンプル液供給方法及び分析装置を提供する。 - 特許庁

Even under cooling conditions, sample contamination or frost deposition can be prevented.例文帳に追加

本発明によれば、冷却条件下であっても試料汚染や霜付着を防止できる。 - 特許庁

To effectively and surely prevent a cross-contamination in a pressurizing sample preprocessor.例文帳に追加

加圧式の試料前処理装置において、クロスコンタミネーションを有効に且つ確実に防止する。 - 特許庁

To detect contamination in a tank for putting a sample therein, of an environmental test device performing an accelerated test of a sample of a semiconductor device and the like.例文帳に追加

半導体装置等の試料の加速試験を行う環境試験装置の、試料を入れる槽内の汚染を検知する。 - 特許庁

Wash instrument, tools, etc., after washing each sample to prevent cross-contamination.例文帳に追加

また、使用する器具については、１試料毎に洗浄を行い相互汚染の発生を防止すること。 - 厚生労働省

To reduce accumulation of a contamination film by covering a sample surface with an atmosphere such as inert gas hardly causing contamination and eliminating residual gas causing hydrocarbon a factor of forming the contamination film on the sample surface.例文帳に追加

試料表面をコンタミネーションの要因となりにくい不活性ガス等の雰囲気で被覆し、コンタミネーション膜生成の要因となるハイドロカーボンの原因となる残留ガスを試料表面から排除することで、コンタミネーション膜の堆積を低減すること。 - 特許庁

To provide a sample dispenser capable of detecting the clogging of a sample probe in an earlier inside contamination stage and preventing the occurrence of troubles where the contaminant accumulated on the inside of the sample probe flows out into a sample, or the inner volume of the sample probe fluctuates.例文帳に追加

サンプルプローブの詰まりをより早期の内径汚れの段階において検出でき、サンプルプローブの内径に蓄積した汚れ物質がサンプル内に流出したり、サンプルプローブの内容積が変動したりする不都合の発生を防止する。 - 特許庁

The silicon substrate 13 may be the standard sample in which a metal contamination amount on the surface of the substrate 13 is known or may be the sample to be measured.例文帳に追加

シリコン基板１３は、基板１３表面の金属汚染量既知である標準試料でもよいし、又は被測定試料でもよい。 - 特許庁

For this reason, the introducing amount of a sample irradiated with a laser beam into the rear stage is large and made stable, and the contamination of the sample chamber is also prevented.例文帳に追加

このため、レーザ照射した試料の後段への導入量が多く且つ安定すると共に、試料室の汚染防止も図られる。 - 特許庁

To provide a highly accurate decomposing method for completely decomposing sample resin and preventing sample loss or contamination from outside.例文帳に追加

試料樹脂が完全に分解され、試料損失もしくは外部からの汚染の恐れが無く、精度の高い、樹脂の分解方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample chuck capable of realizing flatness, electric contact, lightweight, low contamination and cost reduction in holding a semiconductor sample.例文帳に追加

半導体サンプルの保持にあたって、平坦性、電気的接触、低重量、低汚染および低コストが実現できるサンプルチャックを提供すること。 - 特許庁

The microsampling apparatus for sampling the target contamination in the analyzing pretreatment of the contamination on the surface of the device or the contamination in a film has a cutting part, a foreign matter sampling part, an observation part and a sample feeding stage.例文帳に追加

デバイス表面または膜中埋没異物の分析前処理における目的異物の採取するマイクロサンプリング装置において、切削部、異物採取部、観察部、および試料搬送ステージを有する。 - 特許庁

To provide an automatic analysis apparatus which prevents contamination by a component evaporating from a sample to be inspected.例文帳に追加

被検試料から蒸発した成分による汚染を防ぐことが可能な自動分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plasma processing device capable of improving processing efficiency by reducing contamination of a sample.例文帳に追加

試料の汚染を低減して処理の効率を向上することのできるプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

The sample wafer 15 has an enough metal impurity concentration, so that the metal contamination is sufficiently evaluated.例文帳に追加

サンプルウェーハ１５は、金属不純物の濃度が高く、金属汚染の評価を十分に行うことができる。 - 特許庁

By switching irradiating quantities and irradiating positions of the refrigerant, contamination or frost deposition on the sample is able to be prevented.例文帳に追加

冷媒の照射量と照射位置を切り替えることにより、試料汚染や霜付着を防止できる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a quantitative contamination sample and an apparatus of manufacturing the same sample that can, with high efficiency and in a short time, contaminate the surface of a substrate with good quantifiability as well as with good reproducibility.例文帳に追加

短時間に高い効率で基板表面を定量性、再現性よく汚染しうる定量汚染試料作製方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an antistatic method that causes less contamination of a surface of a sample in an ion beam analysis method for analyzing a sample in its depth direction while removing the surface of the sample by radiating a primary ion beam onto the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面に一次イオンビームを照射して試料表面を除去しつつ、試料の深さ方向の分析を行うイオンビーム分析方法において、試料表面の汚染が少ない帯電防止方法を提供する。 - 特許庁

JIG FOR CONDUCTION PROCESS OF NONCONDUCTIVE SAMPLE AND METHOD FOR EVALUATING CONTAMINATION OF CONDUCTION PROCESS APPARATUS USING THE JIG例文帳に追加

非導電性試料の導電処理用治具およびこれを用いた導電処理装置の汚染評価方法 - 特許庁

To reduce the degree of contamination of a sample to be treated in an electrolytic solution by a metal eluted from an anode.例文帳に追加

電解液中で処理される試料が陽極から溶出する金属によって汚染されることを低減する。 - 特許庁

To provide a sample preparation apparatus having high durability, capable of reducing greatly contamination of a constitutive material into the sample, and hardly influenced by a sample used in the past, a sample preparation method and a highly-accurate elemental analysis method.例文帳に追加

耐久性が高く、構成材料の試料へ混入を著しく減少でき、かつ過去に使用した試料による影響を受けることが少ない試料調整器具、試料調整方法、及び高精度の元素分析方法を提供することできる。 - 特許庁

To provide a highly reliable autoanalyzer wherein little carry-over of a sample or reagent occurs and, therefore, by which contamination can be prevented and the sample or reagent can be accurately pipetted.例文帳に追加

サンプルや試薬の持ち帰りが少なく、汚染を防ぎかつサンプルや試薬を正確に分注することができる信頼性に優れた自動分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample measuring apparatus for preventing contamination from reaching a sample inside a keeping case even when a pressure inside a mini environment declines.例文帳に追加

本発明は、ミニエン内の圧力低下が発生したとしても、保管ケース内の試料への汚染の到達を抑制する試料計測装置の提供を目的とする。 - 特許庁

Furthermore, conventional tapes, adhesives, or liquids for fixing are unnecessary, and the sample holder and the sample measurement method are free of contamination or degradation due to these materials.例文帳に追加

さらに、従来の固定用のテープや接着剤、液体などが不要となり、これらの材料による汚染や劣化のない試料ホルダと試料の測定方法を提供する。 - 特許庁

Namely, the biological sample is reacted with the enzymes in the same conditions to apply a constant pretreatment to the sample, while preventing contamination by enzyme reactions.例文帳に追加

すなわち、ある生体試料と複数種類の酵素とをそれぞれ同一の条件で反応させて、酵素反応によるコンタミネーションを防止し、試料に一定の前処理を施す。 - 特許庁

The fine contamination particles possibly distort a scattered light signal to be measured from the illuminated sample inside the flow cell.例文帳に追加

汚染微粒子は、フローセル内の照明された試料からの計測されるべき散乱光信号を歪めるおそれがある。 - 特許庁

To provide a reaction vessel and a plasma processing apparatus free from elemental impurity contamination on a sample and damages by the plasma.例文帳に追加

元素不純物で試料が汚染されず、且つプラズマによる損傷が少ない反応容器及びプラズマ処理装置。 - 特許庁

To prevent sample contamination by a simple structure without causing any deterioration in resolution in an electron beam inspection device.例文帳に追加

電子ビーム検査装置において、分解能の低下を生じることがなく、簡単な構造で試料汚染を防止する。 - 特許庁

To provide a system for reducing a risk of contamination and carry-over and quantifying a sample liquid on an arbitrary substrate.例文帳に追加

汚染とキャリーオーバーの恐れをさらに少なくする、任意の基板上へ試料液を定量するシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for rapidly quantifying chlorine in silver powder with high sensitivity by preventing a loss and the contamination of a sample.例文帳に追加

試料の損失及び汚染を防止し、銀粉中の塩素を迅速かつ高感度に定量する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system for quantitating a sample liquid onto an optional substrate which further reduces the risks of contamination and carryover.例文帳に追加

汚染とキャリーオーバーの恐れをさらに少なくする、任意の基板上へ試料液を定量するシステムを提供する。 - 特許庁

To suppress deposition on a sample by a scattering substance and a contamination substance of the sample generated from the sample by charged particle irradiation in a charged particle beam device, and partial parts of other samples generated from the other samples.例文帳に追加

荷電粒子線装置で荷電粒子照射により試料から生じる試料の飛散物質，汚染物質その他の試料から生じる試料の一部分による試料への堆積を抑制することができる。 - 特許庁

To provide a main system that determines a small-number carrier dispersion length with regard to a sample such as semiconductor wafer and a contamination level in the sample based on this, and a subsystem that detects an electrically defective map of the sample.例文帳に追加

半導体ウェハ等の試料に関する少数キャリア拡散長とこれに基づく試料内の汚染レベルを決定する主システム並びに試料の電気的欠陥マップを検出するサブシステムを提供する。 - 特許庁

To measure and analyze a contamination state of a sample at low cost without a time delay, and to take a proper contamination countermeasure, by transmitting measurement data acquired by measuring the sample by a detection device by a user, to an environmental information server through a network, and operating and analyzing the contamination state by the environmental information server based on detection data.例文帳に追加

ユーザが試料を検出装置で測定した測定データをネットワークで環境情報サーバに送信し、環境情報サーバが検出データに基づいて汚染状態を演算、解析することにより、試料の汚染状態を時間遅れなく低コストで計測、解析し、適切な汚染対策を可能とする。 - 特許庁

To provide a sample contamination method which creates samples formed by evenly contaminating semiconductor devices on a substrate.例文帳に追加

基板上の半導体デバイスを均一に汚染した試料を作成できる試料汚染方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To simplify the operation and to prevent the occurrence of dilution and contamination of a sample that enable determining whether residual material including blank liquid or clearing solvent remains in a sample-holding part.例文帳に追加

操作を簡略化するとともに、試料保持部におけるブランク液や洗浄液を含む残存物質の有無の判定を可能にして、試料の希釈やコンタミネーションの発生を防止する。 - 特許庁

To provide a sample solution supply method and a vessel, which dispense with washing operation, are free from any fear of contamination of sample solution, and are also free from pulsating flow and precipitation during feeding of the solution.例文帳に追加

洗浄作業が不要で、かつサンプル液のコンタミネーションの心配もなく、更に脈流や送液途中での沈殿も生じないサンプル液供給方法及び容器を提供する。 - 特許庁

A sample wafer 15 is sampled from the lower end portion of the cylindrical portion 9b or from the tail portion 9c, which is grown while accompanied with the voltage application, and the metal contamination of the sample wafer 15 is evaluated.例文帳に追加

この電圧印加を伴って育成された直胴部９ｂの下端部またはテイル部９ｃからサンプルウェーハ１５を採取し、このサンプルウェーハ１５の金属汚染を評価する。 - 特許庁

On the contrary, If the air is shut off in the vessel 4, the contact between the monitor sample 2 and the air is broken off, and thereby cross-contamination caused by adhesion of the substance to the sample can be prevented.例文帳に追加

一方、容器４を遮蔽状態とすることにより、モニタ試料２と大気との接触が断たれ、測定物質がモニタ試料２に付着して二次汚染されることが防がれる。 - 特許庁