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sample devicesの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 88件
To provide sample processing devices with variable valve structures and methods that use the devices.例文帳に追加
本発明はバルブ構造を有する試料プロセッシングデバイスを提供すること。 - 特許庁
LIQUID SAMPLE IONIZATION METHOD, MASS SPECTROMETRY, AND DEVICES THEREOF例文帳に追加
液体試料イオン化法、質量分析法及びそれらの装置 - 特許庁
Also provided are devices for determining the concentration of analyte in the sample, where the devices have a sample identification element for identifying whether a sample is a control fluid or a test fluid.例文帳に追加
さらに、サンプル中の分析物濃度を決定するための装置を提供し、この場合の装置はサンプルが対照流体であるか試験流体であるかを同定するためのサンプル同定要素を有している。 - 特許庁
To rapidly and automatically perform the reception and the delivery of a sample between devices in the case of analyzing and observing a foreign matter on the sample in a vacuum container by two or more kinds of devices.例文帳に追加
試料上の異物を真空容器中において、2種類以上の装置で分析・観察する際の、装置間の試料受け渡しを迅速かつ自動的に行う。 - 特許庁
APPARATUS AND METHODS FOR HIGH RESOLUTION SEPARATION OF SAMPLE COMPONENTS ON MICROFABRICATED CHANNEL DEVICES例文帳に追加
微細加工チャネルデバイス上の試料成分の高分解能分離装置および方法 - 特許庁
METHOD FOR PRODUCING APPARATUS FOR COLLECTING PHYSIOLOGICAL SAMPLE AND A PLURALITY OF TEST STRIP DEVICES例文帳に追加
生理学的サンプル採取装置および複数の検査細片装置の製造方法 - 特許庁
Sample processing devices with variable valve structures and methods of using the same are disclosed.例文帳に追加
可変性バルブ構造を有する試料プロセッシングデバイスおよびその使用法を開示する。 - 特許庁
This head space sampling device contains a sample receiver 2 capable of housing a waste water sample 4; a sparger chamber steam column 12; a sample receiver cover assembly sparger tube 5 for connecting the sparger chamber steam column to the sample receiver; one or more detecting devices 275; and one or more analytical devices 20.例文帳に追加
ヘッドスペース試料採取装置は、廃水試料(4)の収容可能な試料受け器(2)、スパージャ室蒸気カラム(12)、スパージャ室蒸気カラムを試料受け器に連結する試料受け器カバーアセンブリ、スパージャチューブ(5)、1以上の感知装置(275)及び1以上の分析装置(20)を含む。 - 特許庁
The salesperson of the devices transmits a request signal requesting the provision of the sample information (a).例文帳に追加
機器の販売員は、サンプル情報の提供を要求する要求信号を送信して行う( )。 - 特許庁
The devices for determining the concentration of the analyte in a physiological sample are provided.例文帳に追加
生理学的サンプル中の特定成分濃度を決定するための装置が提供されている。 - 特許庁
To easily listen to plural sample voices when recording voices with plural microphone devices.例文帳に追加
複数のマイクロフォン装置で音声を録音する際に、複数の採取音声を聞き取りやすくする。 - 特許庁
The transport system includes a carrier holding a set of sample test devices and a drive subsystem for moving the carrier through the sample testing machine.例文帳に追加
運搬システムは、一式の試験試料装置を保持する担体と、担体を試料試験機を通して移動させる駆動サブシステムとを備えている。 - 特許庁
The sample block (36) temperature is changed exclusively by the thermoelectric devices (39) controlled by the computer.例文帳に追加
サンプルブロック(36)の温度は、コンピュータにより制御される熱電装置(39)によってのみ変えられる。 - 特許庁
To conduct radiation measurements for a subject and a sample such as food as objects, using individual devices.例文帳に追加
被検者と、食品等の試料とを対象とした放射線測定が別個の装置を用いて行われる。 - 特許庁
The temperature of the sample block (36) is changed exclusively by the thermal electric devices (39) controlled by a computer.例文帳に追加
サンプルブロック(36)の温度は、コンピュータにより制御される熱電装置(39)によってのみ変えられる。 - 特許庁
To provide blood sample collection devices, methods of using such devices, and processes that eliminate the risk of error and contamination, while also providing specific isolation of target components.例文帳に追加
血液サンプル採取装置、この装置を使用する方法、及びエラーや汚染のリスクが無く、しかも目標とする成分を特別に分離するプロセスを提供する。 - 特許庁
This X-ray analyzer 1 has a sample block 4 for supporting a sample S horizontally, X-ray irradiation devices 7, 8 for irradiating the sample S with X-rays, a storage phosphor plate 9 for detecting X-rays R1, R2 emitted for the sample S, and an X-ray source arm 6 for supporting the X-ray irradiation devices 7, 8.例文帳に追加
試料Sを水平に支持する試料台4と、試料SにX線を照射するX線照射装置7,8と、試料Sから出るX線R1,R2を検出する蓄積性蛍光体プレート9と、X線照射装置7,8を支持するX線源アーム6とを有するX線分析装置1である。 - 特許庁
Separate thermoelectric conversion devices 126, 128 are connected to each, under surface of a sample chamber 104 and the pump chamber 110.例文帳に追加
サンプルチャンバ104とポンプチャンバ110の下面に、別の熱電変換デバイス126、128が結合される。 - 特許庁
The sample may be disposed upon or within a porous or solid sample storage medium 110 and subsequently archived in, and retrieved from, storage elements 120 such as multi-well plates, for example, using robotic devices or other automated devices.例文帳に追加
サンプルは多孔質または固体サンプル保存媒体110上または内部に配置され、たとえば、ロボット装置またはその他の自動化装置を使用して、マルチウェルプレートなどの保存エレメント120に保管され、そこから回収される。 - 特許庁
In the microscope 100, a sample 4 may be kept stationary, while providing devices 24 and 26 both in an illumination beam path 2 and in an detection beam path 5, the devices 24 and 26 making two beam paths 2, 5 slide in their region near the sample.例文帳に追加
顕微鏡100において、試料4を定置に保持することができ、照明光路2と検出光路5とには、この両光路2,5を試料近傍領域において摺動させる装置24,26が設けられている。 - 特許庁
To provide devices and methods for sample purification, and detection and removal of target agents from a sample with increased efficiency and specificity and substantial savings in time and cost over the devices of the conventional art.例文帳に追加
先行技術のデバイスを超えた、増加した効率及び特異性並びに時間及びコストにおける実質的な節約を伴った、サンプル精製並びにサンプルからの標的因子の検出及び除去のためのデバイス及び方法の提供。 - 特許庁
In order to optimally align a plurality of weak identification devices which constitute an identification device, scores of respective weak identification devices in processing a sample learning image are obtained.例文帳に追加
識別器を構成する複数の弱識別器を最適な配列とするために、各弱識別器にサンプル学習画像を処理させたときのスコアが取得される。 - 特許庁
To provide microtomes or other tissue sample sectioning devices to produce sections of samples, specifically microtomes or other tissue sample sectioning devices that have surface orientation sensors to sense orientations of surfaces of the samples.例文帳に追加
試料の切片を作成するためのミクロトームまたは他の組織試料裁断装置に関し、特に、いくつかの実施態様は試料表面の配向を感知する表面配向センサを備えたミクロトームまたは他の組織試料裁断装置を提供する。 - 特許庁
To perform sample check accurately and rapidly without skill by continuously flowing sample bottles into an inspection apparatus to display judgment expressions of all inspecting devices together.例文帳に追加
サンプルびんを連続して検査装置に流し、各検査器の良否表示を集約して表示できるようにし、サンプルチェックを熟練を要せず、正確かつ短時間で行うことができるようにする。 - 特許庁
In a technique for arranging samples on the diagnostic analyzer, flexible device is installed between sample carrier and conveyer, to carry forward the sample carrier beyond fixed alignment device, and then the direction of the conveyer is reversed; and when a sample carrier is set and it can contact each of its alignment devices, it is so constituted that the flexure element of a sample carrier that contacts respective alignment devices is deformed.例文帳に追加
サンプルを診断用分析器に配置する技術において、サンプルキャリアとコンベヤーとの間にたわみデバイスを設け、固定位置合わせ要素を越えてサンプルキャリアを前進させ、その後コンベヤーの方向を反転させて、全てのサンプルキャリアがそれぞれの位置合わせ要素と接触できるようにしたとき、それぞれの位置合わせ要素と接触したサンプルキャリアのたわみ要素が変形するようにする。 - 特許庁
The assembly includes: a sample block (36), a number of Peltier thermal electric devices (39), and a heat sink (34), clamped together.例文帳に追加
アセンブリは、サンプルブロック(36)、多数のペルチエ熱電装置(39)、および熱シンク(34)からなり、これらは、一緒に締め付けられている。 - 特許庁
To provide a sample contamination method which creates samples formed by evenly contaminating semiconductor devices on a substrate.例文帳に追加
基板上の半導体デバイスを均一に汚染した試料を作成できる試料汚染方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
Methods for determining a concentration of an analyte in the sample, and the devices and systems used in conjunction with the same, are provided herein.例文帳に追加
サンプル中の分析物の濃度を定量するための方法、これと共に使用される装置及びシステムが本明細書で提供される。 - 特許庁
The assembly is composed of a sample block (36), a number of Peltier thermal electric devices (39) and heat sink (34), all of which are clamped together.例文帳に追加
アセンブリは、サンプルブロック(36)、多数のペルチエ熱電装置(39)、および熱シンク(34)からなり、これらは、一緒に締め付けられている。 - 特許庁
Sample processing devices that include transmissive layers and control layers to reduce or eliminate cross-talk between processing chambers in the processing device are disclosed.例文帳に追加
処理装置の処理チャンバ間のクロストークを減少または排除するために、透過層と制御層とを含む試料処理装置が開示されている。 - 特許庁
To provide a sample processing system capable of reducing complex tasks (incorporation of programs, various setting), associated with the connection of conveyance devices.例文帳に追加
搬送装置の接続に伴う面倒な作業(プログラムの組み込み、各種設定等)を少なくすることができる試料処理装置を提供する。 - 特許庁
One portion of the cooling devices disposed in the section for work includes a cooling liquid (70) and the tissue sample is inserted into the cooling liquid for freezing.例文帳に追加
該作業用区画内に配置された該冷却装置の一部に冷却液(70)を含み、それに該組織試料を挿入して冷凍する。 - 特許庁
To provide microflow devices, kits and methods useful for detecting or isolating desired target cells or target molecules from a sample.例文帳に追加
試料から所望の標的細胞または標的分子を検出または単離するのに有用なマイクロフロー装置、キット、および方法の提供。 - 特許庁
The assembly is made up of a sample block (36), a number of Peltier thermal electric devices (39), and heat sink (34), clamped together.例文帳に追加
本発明のアセンブリは、サンプルブロック(36)、多数のペルチエ熱電装置(39)、および熱シンク(34)からなり、これらは、一緒に締め付けられている。 - 特許庁
WEIGHING INSTRUMENT FOR FINE POWDER SAMPLE, ITS APPLIED ANALYTICAL SAMPLING DEVICE AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZER EQUIPPED WITH ABOVE-STATED DEVICES例文帳に追加
微粉末試料の重量計量装置とそれを利用した分析試料作製装置、さらに、かかる装置を備えた蛍光X線分析装置 - 特許庁
The sample delay devices 4X and 4Y generate signals X'(k) and Y'(k) obtained by applying delay of M/2 being half of adaptive filter length M to the input signal Y(k).例文帳に追加
サンプル遅延器4X,4Yは、入力信号Y(k)を適応フィルタ長Mの半分であるM/2の遅延が施された信号X’(k),Y’(k)を生成する。 - 特許庁
Through the correspondence of the timing, the time arrangement of a collected sample is set, when the characteristic of the data signal is clarified in a display or other devices.例文帳に追加
タイミングの対応によって、ディスプレイまたは他の出力装置においてデータ信号の特性を明らかにする際、採取したサンプルの時間配置が設定される - 特許庁
To effectively correct the effect of polarization even if a sample to be measured has a polarization characteristic, without causing increases in the sizes and costs of devices.例文帳に追加
装置の大型化や価格上昇を招くことなく、測定試料が偏光特性を有する場合でも、偏光による影響を効果的に補正する。 - 特許庁
To provide a nucleic acid analyzer that eliminates aging variation of a measuring device and difference between devices using a reference sample and performs accurate fluorescent measurement.例文帳に追加
基準試料を用いて測定装置の経時変化、装置間の器差をなくすことができ、高精度に蛍光測定が可能な核酸分析装置を実現する。 - 特許庁
The inspection device is equipped with a plurality of detection devices 11, 12 to receive electron beams emitted from a sample W and to obtain image data expressing the sample W, and a switching mechanism M to make the electron beams incident on one out of a plurality of the detection devices 11, 12, and the plurality of the detecting devices 11, 12 are arranged in the same container MC.例文帳に追加
検査装置は、試料Wから放出された電子ビームを受け取って、試料Wを表す画像データを取得する複数の検出装置11、12と、複数の検出装置11、12のうちの一つに電子ビームを入射させるための切り換え機構Mとを具備し、複数の検出装置11、12が同一の容器MC内に配置されていることを特徴とする。 - 特許庁
Sample collection for analyzing units 800 and 820 for analyzing biochemical analysis items is performed in dispensing devices 202 and 840 to use a pipette nozzle to be repeatedly used, and sample collection for analyzing units 100 and 810 for analyzing immune analysis items is performed in dispensing devices 102 and 830 to use a disposable nozzle tip.例文帳に追加
生化学分析項目を分析する分析ユニット200,820へのサンプル採取は、繰り返し使用するピペットノズルを用いる分注装置202,840で行い、免疫分析項目を分析する分析ユニット100,810へのサンプル採取は、ディスポーザブルなノズルチップを用いる分注装置102,830で行う。 - 特許庁
Sample collection for analysis units 200 and 820 for analysis biochemical analysis items is performed in dispensing devices 202 and 840 to use a pipette nozzle to be repeatedly used, and sample collection for analysis units 100 and 810 for analyzing immune analysis items is performed in dispensing devices 102 and 830 to use a disposable nozzle tip.例文帳に追加
生化学分析項目を分析する分析ユニット200,820へのサンプル採取は、繰り返し使用するピペットノズルを用いる分注装置202,840で行い、免疫分析項目を分析する分析ユニット100,810へのサンプル採取は、ディスポーザブルなノズルチップを用いる分注装置102,830で行う。 - 特許庁
Test sample mounting devices 13a and 13b for use in a bending testing apparatus for measuring the durability of a test sample by bending the test sample by applying load to the test sample includes shaft sections 22a and 22b turning holding sections 21a and 21b with the bending and enabling the pair of holding sections 21a and 21b to move close to or away from each other.例文帳に追加
荷重を加えることにより試験試料を屈曲させ当該試験試料の耐久性を測定する曲げ強さ試験装置に用いられる試験試料装着装置13a及び13bは、前記屈曲に伴い、把持部21a及び21bを回動し、一対の把持部21a及び21bを近接又は離反するように移動可能とする軸部22a及び22bと、を備える - 特許庁
The problem is dissolved by setting an inspecting device for each sample bottle for the each sample bottle, and selecting only a judgment signal of the set inspecting device from judgment signals of inspecting devices transmitted from the inspection apparatus and connecting a sample checker displaying the result of the quality judgment thereof to the glass bottle inspection apparatus.例文帳に追加
各々のサンプルびんについて検査器を設定し、各々のサンプルびんについて、検査装置から送られる各検査器の良否信号から設定した検査器の良否信号のみを選別し、その良否判定結果を表示するサンプルチェッカをガラスびん検査装置に接続することで、前記課題を解決する。 - 特許庁
Control sections 10 of second to (n)-th image forming devices 100 as sample machines input gradation characteristics of respective patches of the first image forming device 100 as a target machine.例文帳に追加
サンプル機としての(2)〜(n)番の画像形成装置100の制御部10は、ターゲット機としての(1)番の画像形成装置100の各パッチの階調特性を入力する。 - 特許庁
One apparatus includes: a sample container (50); a plurality of separation capillaries (54, 64, 74); a plurality of fraction collection devices (60, 70); a detector (78); and an analyzer (82).例文帳に追加
1つの装置は、サンプル容器(50)、複数の分離キャピラリー(54、64、74)、複数の画分収集デバイス(60、70)、検出器(78)、および分析機(82)を備える。 - 特許庁
After completion of specimen analysis or smear preparation, the sample rack L is conveyed by the specimen conveyance devices 3, 4, and recovered into the specimen input recovery device 2.例文帳に追加
検体の分析又は塗抹標本の作製が完了した後、サンプルラックLは検体搬送装置3,4により搬送され、検体投入回収装置2に回収される。 - 特許庁
To enable it to perform an alignment work between respective imaging apparatuses easily in a sample display device which uses a plurality of imaging devices having different magnification ranges.例文帳に追加
異なる倍率レンジを有する複数の撮像装置を使用する試料表示装置において、各撮像装置間の位置合わせ作業を容易に行えるようにする。 - 特許庁
To provide a mechanism in which gradient driving of a sample stage does not influence on other peripheral devices such as a photoelectron microscope or the like installed in combination, in a charged particle microscope provided with the sample stage having the gradient function.例文帳に追加
本発明の課題は、傾斜機能をもつ試料ステージを備えた荷電粒子顕微鏡において、併設される光学顕微鏡等の他の周辺機器に対して試料ステージの傾斜駆動が影響を及ぼさないような機構を提供することにある。 - 特許庁
The charged particle beam device comprises particle supply sources 13, 14, 16 for providing charged particle beams 31, optical devices 18, 20, 22, 24, 26, 27 for directing the charged particle beams onto the sample and an ozone unit for reducing the charging and/or contamination of the sample.例文帳に追加
荷電粒子ビーム31を供給するための粒子供給源13、14、16と、荷電粒子ビームを試料上に指向するための光学装置18、20、22、24、26、27と、試料の帯電及び/又は汚染を軽減するためのオゾンユニットを含む。 - 特許庁
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