「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Strong reflected light is obtained even in the case of the low-reflectance sample, e.g. a transparent sample, by employing total reflection light from the boundary surface of the sample.例文帳に追加

試料境界面からの全反射光を用いることにより、透明試料等で低反射率の試料においても、強い反射光を得ることができる。 - 特許庁

The sample-dispensing mechanism 11 is constituted so as to make the sample probe move, even to a sample chucking position 25 set outside the upper surface of the housing 1, when seen from above.例文帳に追加

試料分注機構１１は上方から見て筐体１上面の外の筐体外試料吸引位置２５にも試料プローブを移動させるものである。 - 特許庁

A sample is disposed on a substrate, and a marker having a three-dimensional shape with a height equal to or higher than the surface of the sample is disposed at the periphery of the sample.例文帳に追加

基板上に、試料と、高さが試料表面と同じか試料表面よりも高い三次元形状のマーカを試料の外周部に配置する。 - 特許庁

To provide a sample excavating method which enables the excavation of the side surface of a columnar or rod-shaped sample by utilizing glow discharge, and to provide a sample excavating apparatus.例文帳に追加

グロー放電を利用した円柱状又は棒状の試料の側面の掘削を可能とする試料掘削方法、及び試料掘削装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample injector for a moisture measuring device capable of simply extruding a sample which is a viscous substance, and having the barrel inner surface to which the sample hardly adheres.例文帳に追加

簡単に粘性体である試料を押し出すことができ、バレル内面に試料が付着しにくい水分測定器用の試料インジェクタを提供すること。 - 特許庁

To focus on a wide range of a sample with an irregular surface and a structure of the inside of the sample to obtain a clear microscopic image of the sample in a short time.例文帳に追加

表面に凹凸がある試料の広い範囲や試料内部の構造に焦点を合わせて、試料の鮮明な顕微鏡画像を短時間に取得する。 - 特許庁

With a probe 1 brought close to a sample 3, pulse voltage from a pulse power source 11 is impressed on the sample 3 to vaporize atoms in the surface of the sample 3.例文帳に追加

探針１を試料３に接近させた状態で、試料３にパルス電源１１からのパルス電圧を印加して試料表面の原子を蒸発させる。 - 特許庁

A photoelectron emitted from the sample 7 is detected by an electron spectroscope 11, and a sample analyzing means 21 provides elementary information of a sample 7 electrode surface.例文帳に追加

試料７から放出された光電子は電子分光器１１で検出され、試料分析手段２１は、試料７の極表面の元素情報を得る。 - 特許庁

To measure an element distribution of the region extremely shallow from the surface of a sample while suppressing the mixing of the atom layer in the vicinity of the surface of the sample.例文帳に追加

試料の表面近傍の原子層のミキシングを抑制しつつ、試料表面から極めて浅い領域の元素分布を測定すること。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND SAMPLE SURFACE OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

荷電粒子線装置及びこれを用いた試料表面観察方法 - 特許庁

To perform cross section polishing of a metal sample or a ceramic sample whose surface is coated with an insulating layer, without generating sagging near the outermost surface.例文帳に追加

表面が絶縁層で覆われた金属試料やセラミックス試料の断面研磨を、最表面近傍にダレを生ずることなく行う。 - 特許庁

The sample, to which these treatments are subjected is transferred to a final surface analyzer, so as not to generate adhesion of carbon and the surface of the sample is analyzed to accurately analyze the element in the surface of the sample.例文帳に追加

これらの処理を施した試料を、炭素付着が起こらないように、最終的な表面分析装置に移し、表面分析を行うことにより、表面の元素を精度良く分析することができる。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE SURFACE SHAPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および試料表面形状の計測方法 - 特許庁

METHOD OF SURFACE TREATMENT, AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

表面処理方法及び電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

To effectively re-construct a dth dimensional surface from the aggregation of sample points.例文帳に追加

サンプル点の集合からｄ次元面を効果的に再構築する。 - 特許庁

The surface of a sample is scanned with the charged particle beam and the electrostatic latent image on the surface of the sample is measured on the basis of a detection signal obtained by the scanning.例文帳に追加

試料面を荷電粒子ビームで走査し、この走査で得られる検出信号により試料面の静電潜像を測定する。 - 特許庁

The surface of a sample 12 is scanned by the converged electron beam.例文帳に追加

集束された一次電子線によって試料１２上を走査する。 - 特許庁

The sample points can decide a 3D volume or surface.例文帳に追加

そのサンプル点は３Ｄボリュームあるいは表面を画定することができる。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING SAMPLE BY SURFACE PLASMON RESONANCE METHOD例文帳に追加

表面プラズモン共鳴法によるサンプル試料の測定方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING SURFACE OR INTERNAL INFORMATION OF SAMPLE例文帳に追加

試料の表面または内部情報検出方法およびその装置 - 特許庁

The micro piece is cut out from a sample surface by only the work of the V-groove.例文帳に追加

Ｖ溝加工のみから、試料表面より微小片を切り出す。 - 特許庁

INOCULATING APPARATUS FOR BIOLOGICAL SAMPLE IN AGAR SURFACE OF PETRI CAPSULE例文帳に追加

ペトリカプセルの寒天表面における生物学的サンプル用接種装置 - 特許庁

SURFACE PLASMON RESONANCE ANGLE DETECTION DEVICE, AND SAMPLE TEMPERATURE CONTROL METHOD例文帳に追加

表面プラズモン共鳴角検出装置及び試料温度制御方法 - 特許庁

BIOLOGICAL SAMPLE MEASURING APPARATUS SYSTEM BY SURFACE PLASMON RESONANCE例文帳に追加

表面プラズモン共鳴による生物学的試料測定用装置システム - 特許庁

SURFACE FLAW INSPECTION DEVICE OF SAMPLE, AND FLAW DETECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

試料表面の欠陥検査装置及びその欠陥検出方法 - 特許庁

To provide a measurement method and an analysis method of a sample surface and a measuring device and an analytical device of the sample surface, capable of acquiring accurately information of the sample surface by a device having a simple structure.例文帳に追加

簡易な構成の装置によって正確に試料表面の情報を得ることができる試料表面の測定方法及び分析方法並びに試料表面の測定装置及び分析装置を提供する。 - 特許庁

In the sample holder for cooling/heating, the sample 22 is set directly on the sample holder base 19; the entire rear surface of the sample 22 is in contact with the sample holder base 19, thus uniformly cooling the sample, as compared with before.例文帳に追加

このように本発明の冷却加熱用試料ホルダにおいては、試料２２は試料ホルダベース１９上に直接セットされ、試料２２の裏面全体が試料ホルダベース１９に接しているので、従来に比べ、試料を効率よく一様に冷却することができる。 - 特許庁

To provide a positioning device that does not rub off a sample not to scatter a dust even the sample is flattened and sucked with the circumference surface of the sample pressed and with the sample held to the predetermined position in order to keep the plate-like sample sucked to the predetermined position of the sample support.例文帳に追加

板状の試料を試料台の所定の位置に吸着させるために、試料の外周面を押さえて試料を所定の位置に保持したまま、試料を平坦化や吸着しても、試料を擦らずに発塵しない位置決め装置を提供する。 - 特許庁

The sample holder 40 is constituted so that at least a part of an opened sample holding surface 37a is constituted of a membrane 32 and the taper part 37b in the periphery of the membrane 32 and the sample 38 can be cultured on the sample holding surface 32a of the membrane 32.例文帳に追加

試料保持体４０は、開放された試料保持面３７ａの少なくとも一部が膜３２と膜３２の周囲のテーパ部３７ｂで構成され、膜３２の試料保持面３２ａにおいて試料３８を培養可能である。 - 特許庁

To provide a method for evaluating the wetting properties of a solid surface for evaluating wetting properties at an arbitrary location in a sample surface efficiently, even in a large-area sample, especially a sample which includes a curved surface and an inclined surface, and easily obtaining the distribution.例文帳に追加

大面積試料、特に曲面や傾斜面を含む試料においても、試料面内の任意の箇所のぬれ性を効率良く評価し、これらの分布を容易に得ることを可能にした固体表面のぬれ性評価方法を提供すること。 - 特許庁

The conditions are a sample size: 40 mm square, the supporting method of a sample: supported only at each peripheral edge of 5 mm, a face push method: the central part of the sample is pushed by 0.5 mm perpendicularly to the sample surface, and a stress measurement region: the central part of the sample.例文帳に追加

試料サイズ：４０ｍｍ角 試料の支持方法：各周縁部５ｍｍのみで支持 面押し方法：試料中央部を試料表面に対して垂直に０．５ｍｍ押圧 応力測定部位：試料中央部 - 特許庁

The sample holder 14 allows the sample surface 32a of the sample stand 32 to approach the incident surface 20a of the light guide member 20 accompanied by the mounting to the sample holder housing part 22 and brings the peripheral part 34b of the support member 34 into contact with the upper inner surface of the sample holder housing part 22 to cut off disturbance light.例文帳に追加

試料ホルダ１４は、試料ホルダ収容部２２への装着に伴って、導光部材２０の入射面２０ａに対して試料台３２の試料面３２ａを近接させるとともに、支持部材３４の周囲部３４ｂを試料ホルダ収容部２２の上部内面に当接させて外乱光を遮光する。 - 特許庁

To provide a sample preparing system with superior operability, with regard to a sample preparation system in which the machining surface of a sample is irradiated with an ion beams, while the machining surface of the sample is being rotated about an axis that is orthogonal with respect to the surface of the sample, which is in a non-orthogonal state to the ion beams inside a vacuum chamber.例文帳に追加

真空チャンバ内で、イオンビームに対して試料の加工面が非直交の状態で、前記試料の加工面に対して直交する軸を中心に回転されながら、前記加工面にイオンビームが照射される試料作成装置に関し、操作性の良い試料作成装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The jointed part strength testing machine of the measuring sample jointed to the sample-holding surface of a sample-holding member is equipped with an impact-applying mechanism for applying the impact to the jointed part of the measuring sample from the direction crossing the sample-holding surface at right angles by utilizing the energy when the weight is freely dropped.例文帳に追加

試料保持部材の試料保持面に接合された測定試料の接合部強度試験装置であって、錘を自由落下させる際のエネルギーを利用して前記測定試料の接合部に対して試料保持面と直交する方向から衝撃を加える衝撃印加機構を備えた。 - 特許庁

In the sample analyzing method wherein the probe is brought into contact with the surface of the sample and scanned to measure the surface physical properties of the sample, the sample is fixed to a sample stand by an adhesive or a pressure sensitive adhesive.例文帳に追加

試料の表面に、プローブを接触させ、前記プローブを走査することにより、前記試料の表面物性を測定する分析方法において、前記試料を、接着剤ないし粘着剤により試料台に固定することを特徴とするプローブを用いる試料分析方法である。 - 特許庁

The bottom surface 24 of a sample rack 2 is placed on a cooling part 14.例文帳に追加

サンプルラック２はその底面２４が冷却部１４上に載置されている。 - 特許庁

METALLIC COATING SURFACE EVALUATION METHOD AND DEVICE, AND EVALUATION REFERENCE SAMPLE例文帳に追加

メタリック塗装表面評価方法および装置並びに評価基準標本 - 特許庁

SAMPLE FOR OBSERVING SEMICONDUCTOR WAFER SURFACE CRYSTAL DEFECT AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体ウェーハ表層結晶欠陥観察用試料とその作製方法 - 特許庁

The surface state of the sample 7 can be observed in this state with a probe.例文帳に追加

この状態で、プローブにより試料７の表面状態が観察される。 - 特許庁

In this state, the surface state of the sample 7 is observed by a probe.例文帳に追加

この状態で、プローブにより試料７の表面状態が観察される。 - 特許庁

SURFACE PLASMON RESONANCE ANGLE DETECTION DEVICE AND SAMPLE SUPPLY COLLECTION METHOD例文帳に追加

表面プラズモン共鳴角検出装置及び試料供給回収方法 - 特許庁

SURFACE PLASMON RESONANCE SENSOR CHIP AND ANALYSIS METHOD OF SAMPLE USING IT例文帳に追加

表面プラズモン共鳴センサチップ及びそれを用いた試料の分析方法 - 特許庁

METHOD OF OBSERVATION OF SAMPLE FLOATING ON LIQUID SURFACE UNDER SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

液体の表面を浮遊する試料の走査電子顕微鏡観察方法 - 特許庁

MANUFACTURE OF CHIP SAMPLE, AND METHOD AND SYSTEM FOR OBSERVING WALL SURFACE OF THE SAME例文帳に追加

小片試料の作製とその壁面の観察方法及びそのシステム - 特許庁

To provide a measuring method and a measuring device of a sample surface capable of measuring especially the sample surface with high accuracy compared with hitherto.例文帳に追加

特に、試料表面を従来に比べて高精度に測定できる試料表面の測定方法及び測定装置を提供することを目的としている。 - 特許庁