「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

The sample piece 3 collected from a wafer 1 is mounted to a side surface 4a of a flat-plate sample base 4.例文帳に追加

ウェハ１から採取した試料片３を、平板状の試料台４の側面４ａに設置する。 - 特許庁

A photographing device 29 photographing the cut surface of the sample is positioned in front of the sample 10.例文帳に追加

試料１０の正面には、試料の切断面を撮影する撮影装置２９が配置されている。 - 特許庁

Three distance sensors 7 for measuring the distance up to the sample surface are disposed over the sample 6.例文帳に追加

試料６の上方には試料面までの距離を測定する３つの距離センサ７が配設されている。 - 特許庁

To provide a low-temperature testing device capable of having light irradiated from the lower surface of a sample stage to a sample.例文帳に追加

試料ステージの下面から試料に光を照射することができる低温試験装置を提供する。 - 特許庁

Each preliminary solution 10 is supplied to the sample space 22 so as to extend over the entire bottom surface of the sample space 22.例文帳に追加

各予備溶液10は、試料空間22の底面全面に広がるように試料空間22に供給する。 - 特許庁

The measurement of electrostatic latent image on the surface of the sample while moving the sample having a charge distribution is preferably performed.例文帳に追加

電荷分布を有する試料を移動させながら試料面の静電潜像を測定してもよい。 - 特許庁

Then, the graphite particles transferred to the sample 11 are fixed to the sample surface by a fixing mechanism 18.例文帳に追加

そして、試料１１に転写したグラファイト粒子を定着機構１８で試料表面に定着させる。 - 特許庁

The probe is approached to a surface of a magnetic sample to detect a condition of the surface of the sample based on a tunnel current generated between the probe and the surface of the sample.例文帳に追加

そして、この深針を磁性試料の表面に近接させ、前記深針と前記磁性試料の前記表面との間に生じたトンネル電流より、前記磁性試料の前記表面の状態を検出する。 - 特許庁

The surface plasmon sensor apparatus includes a surface plasmon sensor 2, and a closed chamber 11 that surrounds a detector 3 formed of metal thin-films contacted with a sample of the surface plasmon sensor 2 and stores the sample so as to replace the sample.例文帳に追加

表面プラズモンセンサー２と、表面プラズモンセンサー２の試料と接触する金属薄膜からなる検出部３の周囲を囲み、試料を交換可能に収容する密閉室１１とを有する。 - 特許庁

In addition, at least one contact surface exists between the sample placed in the measuring space and gas surrounding the sample, while the shape of the surface is held with surface tension which the sample has.例文帳に追加

なお、測定空間中に置かれた試料と試料の周辺にあるガスとが接触する面を少なくとも一箇所以上持ち、その面の形状は試料の持つ表面張力により維持される。 - 特許庁

To provide a method for treating the surface of a three-dimensional polymer sample, comprising setting a conductive metal grid on a sample table and injecting plasma ions into the surface of the three-dimensional polymer sample, to modify the surface of the polymer sample and improve the electric conductivity of the surface of the polymer sample, and to provide equipment therefor.例文帳に追加

伝導性をもった金属グリッドを試料台上に設置して立体高分子試料の表面にプラズマイオン注入が行われるようにすることで、高分子表面改質を成し、これにより高分子表面の電気伝導度を向上させる方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁

METHOD FOR ESTIMATING SAMPLE CONCENTRATION IN SURFACE PLASMON RESONANCE ANGLE MEASUREMENT例文帳に追加

表面プラズモン共鳴角測定における試料濃度予測方法 - 特許庁

The SQUID fluxmeter is arranged on the surface side of the sample.例文帳に追加

ＳＱＵＩＤ磁束計は、試料の表面側に配置されている。 - 特許庁

SAMPLE CELL FIXING STRUCTURE OF SURFACE PLASMON RESONANCE PHENOMENON MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

表面プラズモン共鳴現象測定装置の試料セル固定構造 - 特許庁

SURFACE PLASMON SENSOR APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE USING THE SENSOR例文帳に追加

表面プラズモンセンサー装置およびこれを用いた試料測定方法 - 特許庁

This ion beam machining/observation device makes the hole in the sample surface or forms the deposition film in the hole of the surface of the sample.例文帳に追加

本発明は、試料表面に穴をあけ又は試料表面の穴にデポジション膜を形成するイオンビーム加工・観察装置に関する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PERFORMING SURFACE ANALYSIS ON SAMPLE例文帳に追加

サンプルの表面分析を行う方法及びこれを実施する装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SURFACE-TREATING SAMPLE USING PLASMA例文帳に追加

プラズマを用いた試料の表面処理方法及び表面処理装置 - 特許庁

SURFACE ANALYSIS METHOD FOR SOLID SAMPLE USING CP/MAS NMR例文帳に追加

ＣＰ／ＭＡＳＮＭＲを用いた固体試料の表面解析方法 - 特許庁

The display part 32 is formed in the inner surface of the article sample display part 24.例文帳に追加

商品見本展示部24の内面に表示部32を形成する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF SURFACE STRUCTURE OF SAMPLE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び試料の表面構造測定方法 - 特許庁

By this method, the temperature rise on the sample surface can be restrained, and the sample surface can be inspected without lowering throughput.例文帳に追加

本手法では試料表面での温度上昇を抑えることができ、またスループットを低下させずに試料表面を検査可能にする。 - 特許庁

A desired region on the surface of the sample 202 can thereby be irradiated with the ion beam 201b at an angle of wide range for the sample surface.例文帳に追加

イオンビーム２０１ｂを試料２０２の表面の所望の領域に、試料表面に対して広範囲の角度で照射可能となる。 - 特許庁

SURFACE PLASMON RESONANCE ANGLE DETECTION DEVICE AND SAMPLE SUPPLY METHOD例文帳に追加

表面プラズモン共鳴角検出装置及び試料供給方法 - 特許庁

The intentional electrification of the electric charge can carry out by the method of providing the sample surface with ion and charging the sample surface, using an ionized.例文帳に追加

電荷の意図的な帯電はイオナイザを利用し、試料表面にイオンを提供して試料表面を帯電させる方法で行える。 - 特許庁

For integration, carbon shadowing is performed for analyte sample surface protection, and the lump of the index sample is scattered on the analyte sample.例文帳に追加

なお、一体化させる際には、まず、検体試料表面保護のためにカーボン蒸着させて、指標試料の塊を検体試料上にばら撒く。 - 特許庁

A part of the sample base 4 corresponding to the back surface side of the sample piece 3 is removed to form an observation window part 4b in the sample base 4.例文帳に追加

次いで、試料台４の、試料片３の裏面側に相当する部分を除去し、試料台４に観察用窓部４ｂを形成する。 - 特許庁

A relative position between the sample 16 and the search needle 20 is changed along the sample 16 surface, and the relation between the sample 16 and the search needle 20 is controlled so as to be kept in the fixed state, and a surface characteristic of the sample 16 is measured by a control signal.例文帳に追加

試料表面に沿って試料・探針間の相対的位置を変化させ、試料と探針の関係が一定状態に保持されるように制御し、制御信号で試料の表面特性が測定される。 - 特許庁

To fabricate an SEM sample and STEM sample without operation for planarizing a sample surface by an FIBAD film conducted before cross-sectional processing and slice processing by an FIB, and without causing a damage by FIB radiation on the sample surface.例文帳に追加

FIBによる断面加工や薄片加工に先立って行なわれていたFIBAD膜による試料表面平坦化作業を行なうこと無く、試料表面にFIB照射損傷を与えることなく、SEM試料やSTEM試料を作製する。 - 特許庁

The device 10 comprises the commodity sample 11, a commodity sample base 12 mounted with the commodity sample 11 on the upper surface, and a selection button 13 mounted on the front surface of the commodity sample base 12.例文帳に追加

商品見本照明装置１０は、商品見本１１と、商品見本１１が上面に取り付けられた商品見本台１２と、商品見本台１２の前面に取り付けられた選択ボタン１３とを備える。 - 特許庁

A sample stage for holding the sample 13 is provided with a sample holder 14 for fixing the sample, a sample cover 15 having an opening 35 in an electronic beam irradiation part and covering the circumference of the sample surface with a micro clearance, and a mechanism introducing the gas in a space between the sample holder 14 and the sample cover 15.例文帳に追加

試料１３を保持するための試料ステージには、試料１３を固定する試料ホルダー１４と、電子ビーム照射部に開口３５を有して、試料表面周辺を微小な間隙で覆う試料カバー１５と、試料ホルダー１４と試料カバー１５間の空間にガスを導入する機構とを設ける。 - 特許庁

By spraying deposition-film forming gas from the gas gun 5 for the protection film on the surface of the sample cooled by the sample-cooling mechanism, the deposition-film forming gas is trapped at the surface of the sample, whereby, a protection film is formed on the surface of the sample.例文帳に追加

試料冷却機構３によって冷却された試料表面に、保護膜用ガス銃５からデポジション膜形成用ガスを吹き付けることにより、デポジション膜形成用ガスは試料表面にトラップされ、試料表面に保護膜を形成する。 - 特許庁

After that, the probe is moved in a direction for separating from the sample surface (2); a servo system for constantly maintaining the gap between the probe and the sample surface is stopped, and the probe is moved to a measurement point in a direction along the sample surface while the probe is being separated from the sample (3).例文帳に追加

その後、探針を試料表面から離れる方向に移動させ（ ）、探針と試料表面との間隙を一定に保つサーボ系を停止させ、探針を試料から離した状態で試料表面に沿う向に測定点まで移動させる（ ）。 - 特許庁

To obtain a sample-heating or a sample-cooling device, provided with a mechanism for removing the positional variation on the surface of the sample due to heat expansion or heat shrinkage of the heating or cooling member or the sample.例文帳に追加

加熱又は冷却部材や試料の熱膨張・熱収縮による試料表面の位置の変動を除去するための機構を持つ試料加熱又は冷却装置を得ること。 - 特許庁

To provide a magnetic resonance force microscope capable of providing sample information on the surface of a sample or a micro area on the surface of the sample while permitting wide area scanning.例文帳に追加

試料表面もしくは試料表面微小領域の試料情報を得ることができるとともに、より広域走査を可能にする磁気共鳴力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A characteristic X-ray 11 is generated from a sample 2 surface area, when a sample 2 surface on the sample block 3 is irradiated with an electron beam 6 emitted acceleratedly from a filament 5.例文帳に追加

そして、フィラメント５から加速されて放出された電子線６が試料台３上の試料２表面に照射されると、試料２表面領域から特性Ｘ線１１が発生する。 - 特許庁

The apparatus for analysis of a sample includes a radiation source, which is adapted to direct a converging beam of X-rays toward a surface of the sample and to direct a second collimated beam of the X-rays toward the surface of the sample.例文帳に追加

試料分析装置は、第１のＸ線収束ビームを試料表面に向け、第２のＸ線平行ビームを試料表面に向けるように構成された照射源を含む。 - 特許庁

Here, the sample holding surface 11 of the sample holding base 2 has an angle respective to the plane containing each of the upper parts of the pair of projecting parts projected over the sample holding surface 11.例文帳に追加

ここで、試料保持台２の試料保持面１１は、試料保持面１１よりも突出した一対の凸部３２それぞれの上部を含む平面に対して角度を有する。 - 特許庁

When a sample 1 is bonded to a copper ring 3, the direction of the sample 1 is rotated by 90° with respect to the conventional direction of the sample to set an FIB processing surface toward a dicing processing surface 1b.例文帳に追加

試料１を銅リング３に接着する際、試料１の向きを従来のそれに対して９０°回転させることでＦＩＢ加工面をダイシング加工面１ｂ方向にする。 - 特許庁

All the sample stands 12 are arrayed so that each sample fixing surface 12a has the same plane in common.例文帳に追加

すべての試料台１２は試料固定面１２ａが同一平面を共有するように配列されている。 - 特許庁

To provide a device and method for vacuum processing, capable of uniforming temperature of a sample within a surface of the sample.例文帳に追加

試料温度を面内で均一にすることのできる真空処理装置および真空処理方法を提供する。 - 特許庁

This has a sample holder 8 and a means to eject a gas to reduce dew condensation on the sample surface.例文帳に追加

試料ホルダ８と、試料表面への結露を低減させるための気体を噴出する手段とを有する。 - 特許庁

The sample provided in the pipe is dripped on the reagent in the cell, to diffuse the sample to the surface of the reagent.例文帳に追加

そして、管内に設けられた試料をセル内の試薬に滴下して試料を試薬の表面に拡散させる。 - 特許庁

A sensor 19 to detect a state of a cutting surface of the sample is arranged in front of the sample 10.例文帳に追加

試料１０の正面には、試料の切断面の状態を検出するためのセンサ１９が配置されている。 - 特許庁

The sample 1 is irradiated with a laser beam through the prism 3 to allow occurrence of a near field on a sample surface.例文帳に追加

試料１にはプリズム３を通してレーザー光が照射され、試料表面には近接場が発生する。 - 特許庁