「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

A gold pad to fix a sample is formed at the tip of the sample holder and includes a laminated structure of the nickel and the gold from the surface of the sample holder.例文帳に追加

また、試料ホルダの先端には該試料を固定するための金パッドが形成されており、かつ、その金パッドは試料ホルダ表面からニッケル、金の積層構造で構成されている。 - 特許庁

The defect inspection apparatus has a spot light source 2 and a sample stage 7 to be placed on with a sample 5 and aligns the focus of the light to the surface of the sample 5 by an objective lens 4.例文帳に追加

本発明にかかる欠陥検査装置は点光源１と、試料５を載置する試料ステージ７を備え、対物レンズ４により試料５の表面に光の焦点を合わせている。 - 特許庁

An infrared ray generated by an FTIR 5 provided with an interferometer gets incident into the sample 2, and total-reflected in an inside of the sample 2 to be emitted from the specified surface a of the sample 2.例文帳に追加

干渉計を備えたＦＴＩＲ５で発生する赤外光が試料２に入射し、試料２の内部で全反射して前記試料２の特定の表面ａより出射する。 - 特許庁

To execute drift correction correctly, even if a sample surface shape is changed by ion sputtering onto a sample at the time of analysis of the sample.例文帳に追加

試料分析時に試料がイオンスパッタされて、試料表面形状が変化しても、ドリフト補正が正しく行われる試料分析方法および電子線分析装置を提供すること。 - 特許庁

The means moves toward the peripheral part of the sample holder plate while the tip part remains in contact with the film-like sample without slipping on the surface of the film-like sample.例文帳に追加

当該手段は、その先端部がフィルム状試料に当接したまま、フィルム状試料の表面上を滑ることなく、試料ホルダー板の外周部に向かって移動するものである。 - 特許庁

As a result, the shadow of the goods sample 13 is not formed on a surface of the inclined plate 12b and the appearance of a goods sample room 11 is not worsened by the shadow of the goods sample 13.例文帳に追加

これにより、傾斜板１２ｂの表面には商品サンプル１３の影ができず、商品サンプル１３の影によって商品サンプル室１１の見栄えが悪くなることがない。 - 特許庁

A sample holder 1 holds the pedestal 26 of a sample 2 to make a specified surface a of the sample 2 perpendicular to an incident light or come to the vicinity thereof, and is mounted on a stage 4.例文帳に追加

試料ホルダー１は、試料２の特定の表面ａが入射光に対して垂直あるいはその近傍になるように試料２の台座２６を保持し、ステージ４に載置される。 - 特許庁

To provide a sample preparation method for a microsampling operation using a focused ion beam, which prevents substances sputtered by and which prevents sample processing from adhering to a sample surface.例文帳に追加

集束イオンビームを用いたマイクロサンプリングにおいて、試料加工の妨げとなる、スパッタリングされた物質の試料表面への付着を防止する試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

Then, the small sample is recovered from the reactor and an indenting tool for measuring the hardness of the sample is squeezed into the surface of the sample to be measured in order to determine the relation between the indentation depth and load (Step S3).例文帳に追加

その後、小型試料を原子炉から回収して被測定表面に硬さ測定用押込み圧子を押込み、押込み深さと押込み荷重との関係を求める（工程Ｓ３）。 - 特許庁

MULTI-ARRAY ACCOMPANYING SURFACE ENERGY TRANSITION FOR MAINTAINING SEPARATION OF SAMPLE ON ARRAY例文帳に追加

アレイ上における試料の分離を保つための、表面エネルギー遷移を伴うマルチアレイ - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR OBSERVATION OF SAMPLE SURFACE, METHOD AND DEVICE FOR FLAW INSPECTION例文帳に追加

試料表面の観察方法及びその装置並びに欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

The method comprises irradiating the surface of a sample 71 with an electron beam, while modifying acceleration voltage Vacc of the electron beam, emitted from an electron gun 10 and detecting primary repulsive electrons made to repulse in the neighborhood of the surface of the sample with a detector before reaching the surface of the sample.例文帳に追加

電子銃１０から放出される電子ビームの加速電圧Ｖaccを変更しながら、電子ビームを試料７１の表面に照射し、試料表面に到達する前に試料表面近傍で反発された一次反発電子を検出器で検出する。 - 特許庁

The adhesive 3 is applied over the substantially whole area on the the sample surface 7.例文帳に追加

接着剤（３）は実質的に試料表面（７）上の全区域にわたり塗布される。 - 特許庁

First, the approximate value of the thickness of the conductive film formed on the surface of an unknown sample is calculated.例文帳に追加

先ず未知試料表面に形成された導電性膜の厚さの近似値を求める。 - 特許庁

The contrast agent layer 52 is made to remain on the surface 56 of the sample 4 during a predetermined period of time.例文帳に追加

所定時間の間、試料４の表面５６上にコントラスト剤層５２を残す。 - 特許庁

To perform a work to allow a probe to approach a sample surface in nano probing in a short time.例文帳に追加

ナノプロービングにおいてプローブを試料表面に近づける作業を短時間で行う。 - 特許庁

To provide a method of removing foreign matter on a sample surface which detects foreign matter on the sample surface and removes the detected foreign matter on the sample surface when having detected the foreign matter, and to provide a charged particle beam apparatus used for this method.例文帳に追加

本発明は、試料表面上の異物検出を行うとともに、異物が検出されたときには、試料表面上の異物を除去する試料表面上の異物除去方法及びこれに用いる荷電粒子線装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A sample surface is three-dimensionally scanned with the light outgoing from the objective lens 2.例文帳に追加

対物レンズ２から出射する光は３次元的に試料表面を走査される。 - 特許庁

Moreover, the objective optical system 4 is configured to be non-telecentric on the side of the sample surface 5.例文帳に追加

その上で、対物光学系４は、標本面５側を非テレセントリックに構成する。 - 特許庁

The bottom surface of the sample held by the three points type chucks 330 is horizontally held.例文帳に追加

３点式チャック３３０によって把持される供試材の底面は、水平に保持される。 - 特許庁

MEASURING METHOD OF GLUCOSE EXISTING ON SKIN SURFACE AND SAMPLE COLLECTION DEVICE FOR GLUCOSE MEASUREMENT例文帳に追加

皮膚表面に存在するグルコース測定方法及びグルコース測定用試料回収装置 - 特許庁

MULTI-PROBE TYPE SCAN PROBE MICROSCOPE APPARATUS AND SAMPLE SURFACE EVALUATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

マルチプローブ型走査プローブ顕微鏡装置およびそれを用いた試料表面評価方法 - 特許庁

A lens surface 12 is formed at a side facing the sample 6 in the acoustic lens 2.例文帳に追加

音響レンズ２において試料６に対面する側にレンズ面１２を形成する。 - 特許庁

A laser beam absorbing layer absorbing the pulse laser beam L is provided on the surface of the sample 12.例文帳に追加

試料12の表面に、パルスレーザ光Ｌを吸収するレーザ光吸収層を設ける。 - 特許庁

The condensate on the sample surface is dried and vanishes, when the temperature in the thermostat is raised.例文帳に追加

試料表面の結露は、恒温槽内の温度が上昇ときに、乾燥し消失する。 - 特許庁

The sample block 10 formed with a flat surface in advance is set on the stage 15.例文帳に追加

予め平坦な表面が形成された試料ブロック１０を、ステージ１５にセットする。 - 特許庁

To provide a sample preparation method which easily can analyze any defect in the vicinity of wafer surface.例文帳に追加

ウェハの表面近傍欠陥を容易に解析できる試料作製方法を提供する。 - 特許庁

The sample liquid and the labeling material may be simultaneously brought into contact with the sensing surface of the sensor.例文帳に追加

センサのセンシング面には、試料液と標識物質とを同時に接触させてもよい。 - 特許庁

EELS spectrum data is gathered at each point of coordinates (X, Y) on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の座標（Ｘ，Ｙ）の各点でそれぞれ、ＥＥＬＳスペクトルデータを採取する。 - 特許庁

Irregularities having the size of about 1 μm are provided uniformly on the sample stand adsorption surface 12b.例文帳に追加

試料台吸着面１２ｂは１μｍ程度の凹凸が一様に付けられている。 - 特許庁

To make measurable the horizontal force to the sample surface with high accuraby and stably.例文帳に追加

試料表面に対する水平力を、高精度で安定して測定できるようにする。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, NANO TWEEZERS DEVICE, AND SAMPLE SURFACE SHAPE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置、ナノピンセット装置および試料表面形状観察方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD FOR FINE THREE-DIMENSIONAL SHAPE ON SURFACE OF SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた試料表面の微細立体形状の観察法 - 特許庁

A surface of the first sample T is observed by an electron microscope (step S14).例文帳に追加

前記第１試料Ｔの表面を電子顕微鏡によって観察する（ステップＳ１４）。 - 特許庁

Consequently, the semiconductor layer of the sample 10 is etched and etch pits are produced on the surface of the semiconductor layer.例文帳に追加

これにより、試料１０の半導体層はエッチングされ、その表面にエッチピットが出る。 - 特許庁

Infrared rays and visible light are incident on the surface of the sample at the same position at the same time.例文帳に追加

赤外線と可視光線は試料表面上の同じ位置に同時に入射する。 - 特許庁

To provide a liquid measuring method by a surface acoustic wave requiring only a small amount of sample.例文帳に追加

少量のサンプルで可能な弾性表面波による液体測定方法を提供する。 - 特許庁

Fine particles are dispersed on the surface of the sample, a surface irregularity image is measured, a probe of a cantilever is moved onto the fine particles, the distance between the cantilever and the sample is vibrated to ensure the contact area with the sample surface, and the displacement response of the cantilever is obtained.例文帳に追加

試料表面上に微粒子を分散させて、表面凹凸像を測定後、カンチレバ−の探針を微粒子上に移動させて、カンチレバ−と試料間の距離を振動させて、試料面との接触面積を確保して、カンチレバ−の変位応答を得るようにした。 - 特許庁

RIDGE LINE POSITION DETECTOR AND RIDGE LINE POSITION DETECTION METHOD FOR SURFACE SHAPE OF SAMPLE例文帳に追加

試料の表面形状の稜線位置検出装置及び稜線位置検出方法 - 特許庁

CLEAN SAMPLE COLLECTING APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING CLEAN VALUE OF EQUIPMENT SURFACE USING THE SAME例文帳に追加

清浄試料採取装置及びこれを使用する設備表面の清浄値測定方法 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR ADJUSTING LIGHT AXIS OF SURFACE ANALYSIS AND LIGHT AXIS ADJUSTMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

表面分析の光軸調整用標準試料とそれを用いた光軸調整法 - 特許庁

The tip part 6 of the sample injector is inserted into the guide hole 7 and thereby guided surely to the center part of the sample injection hole 3, to thereby prevent sample adhesion on the disk surface around the sample injection hole 3.例文帳に追加

試料注入具の先端部６をガイド孔７に挿入することで試料注入孔３の中心部へと確実に案内することができ、試料注入孔３の周囲のディスク面への試料付着を防止できる。 - 特許庁

This constitution allows the specific sample stage for the electron beam device comprising the specific sample holder 13 and the sample cover 15 to function and form a gas layer flow covering an extremely thin layer alone on the sample surface.例文帳に追加

本発明では、特殊な試料ホルダー１３および試料カバー１５から構成された電子ビーム装置用の特殊な試料ステージを機能させることにより、試料表面上の非常に薄い層のみを覆うガス層流を形成する。 - 特許庁

When the sample 6 is given in executing the analysis, a sample identification part 18 recognizes the sample number thereof, an image processing part 21 detects a defective part by the image of the analysis surface of the sample 6 obtained by a CCD camera 12.例文帳に追加

分析実行時に試料６が与えられると試料識別部１８がその試料番号を認識し、が層処理部２１はＣＣＤカメラ１２により得られた試料６の分析面の画像により欠陥部を検出する。 - 特許庁

The cathode luminescence apparatus has a light passage part in the vicinity of the surface of a sample mounted to a sample base, and the light passage part protrudes to the side of the sample and has a small hole for transmitting an irradiating electron beam and light emitted from the sample at the tip part of the protrusion.例文帳に追加

試料台に載置される試料の表面の近傍に、試料側に突出し、その頂部に照射電子線および試料からの発光を透過させるための小孔を有する採光部をもつカソードルミネッセンス測定装置。 - 特許庁