「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

The liquid sample inlet passage 1 is provided diagonally to the surface of the sensor 5.例文帳に追加

液体試料導入路１は、センサ５の表面に対して斜めに設ける。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ANALYZING POLE SURFACE LAYER PART IN ELECTRON BEAM MICRO-ANALYSIS例文帳に追加

電子線マイクロアナリシスにおける極表層部分析用試料作製方法 - 特許庁

To easily grasp the analysis region of a sample surface for performing spectral analysis.例文帳に追加

分光分析を行う試料表面の分析領域の把握を容易にする。 - 特許庁

SURFACE PLASMON RESONANCE CELL, AND METHOD OF ANALYZING SAMPLE FLUID USING THE SAME例文帳に追加

表面プラズモン共鳴セル及びそれを利用した試料流体の分析方法 - 特許庁

Comparison of surface water analyses with previous sample are presented in Table 1.例文帳に追加

表流水の分析値と以前のサンプルの分析値との比較を表1に示す。 - 英語論文検索例文集

Comparison of surface water analyses with previous sample are presented in Table 1.例文帳に追加

表流水の分析値と以前のサンプルの分析値との比較を表1に示す。 - 英語論文検索例文集

METHOD FOR MEASURING ORGANIC STAIN ON SURFACE OF SOLID SAMPLE AND ITS PRETREATING DEVICE例文帳に追加

固体試料表面の有機物汚れの測定方法及びその前処理装置 - 特許庁

METHOD OF REMOVING FOREIGN MATTER ON SAMPLE SURFACE AND CHARGED PARTICLE APPARATUS例文帳に追加

試料表面上の異物除去方法及びこれに用いる荷電粒子装置 - 特許庁

SAMPLING PLATE AND METHOD OF ANALYZING SURFACE OF FILM SAMPLE USING THE SAME例文帳に追加

サンプリング用板及びそれを用いたフィルム状試料の表面分析方法 - 特許庁

A sample liquid is sandwiched between parallel plates, and the liquid is held between the plates by surface tension of the sample liquid.例文帳に追加

平行平板の間に試料液体を挟持し、試料液体の表面張力によって平板間に該液体を保持させる。 - 特許庁

A sample protection member (substrate 10) is disposed so as to cover the surface of a part cut by an ion beam IB of a sample 3.例文帳に追加

試料３のイオンビームＩＢにより切削される部分の表面を覆うように試料保護部材（基板１０）を配設する。 - 特許庁

To provide a surface developing method for sample blocks that will not cause damages to a sample block and which does not have problems on hygienic grounds.例文帳に追加

試料ブロックの欠損などをおこすことなく、また、衛生上問題のない試料ブロックの面出し方法を提供する。 - 特許庁

The defects on the sample 26 are detected by using the 2-dimensional map of the sample 26 created from a surface voltage measured.例文帳に追加

試料２６上の欠陥は、測定された表面電圧から生成された試料２６の二次元マップを使用して検出する。 - 特許庁

The negative ions in the impurities are introduced in the surface of the sample 9 which is held on a sample board 10 in the chamber 2.例文帳に追加

不純物の負イオンはドーピング室２の試料台１０に保持されている被加工試料９の表面に導入される。 - 特許庁

To easily prepare a plane TEM sample selectively remaining a specific surface between layers of a sample comprising a multilayer film.例文帳に追加

多層膜からなる試料の層間にある特定面を選択的に残存させた平面ＴＥＭ試料を容易に作製する。 - 特許庁

After the height of the sample block 1 is controlled, the surface part of the sample block 10 is sliced by running a cutter 20.例文帳に追加

試料ブロック１の高さを調整した後、カッタ２０を走行させて試料ブロック１０の表層部の薄切りを行う。 - 特許庁

To highly accurately detect a defect in a sample without destructing a metal structure even if the surface of the sample has recessions and protrusions.例文帳に追加

サンプル表面が凹凸である場合でも、金属構造物を破壊することなく高精度でサンプル内の欠陥を検出する。 - 特許庁

Next, the thin film sample is reversed in order to etch an opposite surface and fixed to a sample stand 3 having a Farady cup therein.例文帳に追加

次に、反対面をエッチングするため、薄膜試料１を反転し、内部にファラデーカップを有した試料台３に固定する。 - 特許庁

To improve precision of analysis on a sample surface by controlling a damage such as a change in a bonding state, and the composition of the sample.例文帳に追加

試料の結合状態および組成の変化などの損傷を抑制し、試料表面の分析精度を向上させる。 - 特許庁

A measuring person confirms the surface observation image of the sample by visible light on a screen and selectively indicates the noticeiable region on the sample (S4).例文帳に追加

測定者は可視光による試料の表面観察画像を画面上で確認し、注目領域を選択指示する（Ｓ４）。 - 特許庁

When a minimum blood sample volume is detected, the test strip is moved with respect to the blood sample extraction site, so that a bending surface of the test strip faces the blood sample, movement of the blood sample to a measurement site on the strip is facilitated utilizing the surface tension of the blood sample droplet, and blood glucose in the sample is measured at this measurement site.例文帳に追加

最小限の血液検体量が検出されると、テストストリップの屈曲面が血液検体に対向するように、テストストリップが血液検体採取部位に関して移動され、血液検体小滴の表面張力を利用して、テストストリップ上の測定地点への血液検体の移動を促進し、この測定地点で検体中の血糖が測定される。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of observing a sample surface by easily detecting potential contrast of the sample surface based on a capacitance difference of the sample by irradiating the sample with charged particles through a dielectric material, while the sample is arranged in the atmosphere; and to provide a sample observation method using the same.例文帳に追加

本発明は、試料を大気中に置きながらも、誘電体を介して荷電粒子を試料に照射することにより、その静電容量差から容易に試料表面の電位コントラストを検出し、試料表面の観測を可能とした荷電粒子線装置及びこれを用いた試料観測方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The spectrochemical analysis device 10 for analyzing the state of the surface of the sample under presence of the atmosphere medium has the atmosphere medium 13 filled between the sample 11 on a sample base and a window material 12, and spectrochemically analyzes the surface of the sample while varying the interval between the the sample 11 on the sample base and the window material 12 during the analysis.例文帳に追加

雰囲気媒体の存在下での試料表面の状態を分析する本発明の分光分析装置１０は、試料台上の試料１１と窓材１２との間に雰囲気媒体１３を満たし、試料台上の試料１１と窓材１２との間隔を分析の間に変動させつつ、試料表面の分光分析を行う。 - 特許庁

A sample 10 is moved, while irradiating the sample surface 10a of the sample 10 with an electron beam 9, and characteristic X-rays 13 generated from the sample 10 by movement of the sample 10 are converged by a spectral crystal 14, and the convergence position is detected by an X-ray detector 15, to thereby measure the sample surface 10a.例文帳に追加

試料１０の試料表面１０ａに電子ビーム９を照射しながら試料１０を移動させ、試料１０の移動において試料１０から発生する特性Ｘ線１３を分光結晶１４により集光させて、その集光位置をＸ線検出器１５によって検出することにより試料表面１０ａの測定を行う。 - 特許庁

A method for acquiring an image from a sample flake repeats steps of acquiring an image of a surface layer of a sample (1) and steps of slicing the surface layer of the sample and exposing the next flake on the surface, and includes the step of exposing the sample to a staining agent after at least one of the steps of slicing the surface layer of the sample.例文帳に追加

試料(1)の表面層の画像を取得するステップと、前記試料の表面層を除去し、それにより次の薄片を表面にもたらすステップとが繰り返される、試料の薄片から画像を得る方法であって、少なくとも、前記試料の表面層の除去のうちの一つの除去の後に、前記試料は染色剤にさらされるステップを有することを特徴とする。 - 特許庁

The sample cell 200 has a reference surface 202 for generating sample light beams passing through the sample 206 and reference light beams not passing through the sample 206 by transmitting a part of the incident light beams and reflecting the residual part, and a reflection surface 204 positioned in parallel with the reference surface 202 across the sample 206.例文帳に追加

試料セル２００は、入射する光ビームの一部を透過するとともに残りを反射することにより、試料２０６を通る試料光ビームと試料２０６を通らない参照光ビームとを作り出す参照面２０２と、試料２０６を間に挟んで参照面２０２に対して平行に位置する反射面２０４とを有している。 - 特許庁

In a processing method for processing the sample, first a hole part is made in the sample along a cross section of the sample so that the hole part has a contact with a cross section of the sample which is to be exposed to the surface by processing (S101).例文帳に追加

試料を加工する加工方法では、まず、試料の、加工によって表面に露出させる予定の断面に、穴部が接するように、試料の断面に沿って試料に当該穴部を形成する（Ｓ１０１）。 - 特許庁

To provide a sample degrading device suitable for analyzing and evaluating an impurity on a surface in an arbitrary specific region, of a sample and that in the sample, and to provide an impurity analyzing method of the sample using the same.例文帳に追加

試料の任意の特定領域における表面および試料中の不純物を分析・評価するのに好適な試料分解処理装置及びこれを用いた試料の不純物分析方法を提供する。 - 特許庁

This skin effect observation device is provided with a magnetic field measuring coil inserted into the conductor sample to measure a magnetic field in the inside of the conductor sample, and an electric field measuring electrode contacting with the conductor sample to measure an electric field on the surface of the conductor sample.例文帳に追加

導体試料に挿入してこの導体試料内部の磁場を測定する磁場測定コイルと、この導体試料に接触して導体試料表面の電場を測定する電場測定電極とを設ける。 - 特許庁

The electron beam device 1 is used equipped with a primary optical system 10 irradiating electron beams on the surface of the sample, and a secondary optical system 30 forming images of the sample surface by detecting secondary electron beams emitted from the sample surface.例文帳に追加

試料表面に対して前記電子ビームを照射する一次光学系１０と、前記試料表面から放出される二次電子を検出して試料表面の画像を形成する二次光学系３０とを備えた電子線装置１を使用する。 - 特許庁

In the flaw inspection device, an illumination optical system is constituted so that the surface of the sample is irradiated with inspecting illumination light having a predetermined incident angle with respect to the line normal to the surface of the sample to form a slit-like beam spot on the surface of the sample.例文帳に追加

本発明の欠陥検査装置によると、照明光学系は、試料の表面の法線に対して所定の入射角を有する検査用照明光を試料表面に照射し、試料表面にスリット状のビームスポットを生成する。 - 特許庁

According to this constitution, when the surface of the sample is to be scanned by a probe for measuring the sample with the probe, either the surface-direction fine positioning mechanism or the moving mechanism will be used, and thereby the surface characteristics of the sample are measured.例文帳に追加

上記の構成で、探針で試料を測定するために探針で前記試料の表面を走査するとき、表面方向微動機構と、移動機構のうちいずれか一方が使用され、これにより試料の表面特性が測定される。 - 特許庁

In the flaw inspection device, an illumination optical system is constituted so that the surface of the sample is irradiated with inspecting illumination light having a predetermined incident angle with respect to the normal line of the surface of the sample to form a slitlike beam spot on the surface of the sample.例文帳に追加

本発明の欠陥検査装置によると、照明光学系は、試料の表面の法線に対して所定の入射角を有する検査用照明光を試料表面に照射し、試料表面にスリット状のビームスポットを生成する。 - 特許庁

To provide a surface analysis device capable of analyzing a state of a surface sample from the surface to a depth of submicrons, while cutting.例文帳に追加

切削しながら表面からサブミクロンの深さにおける表面サンプルの状態を分析できる表面分析装置を提供する。 - 特許庁

To precisely measure a surface charge distribution without vanishing the surface charge distribution on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の表面電荷分布を消失させることなく、表面電荷分布を精度良く測定する方法および装置を実現する。 - 特許庁

A surface state evaluating step for observing a surface state of a facing surface of the sample magnetic head subjected to the floating test is performed.例文帳に追加

次に、浮上試験を経た試料磁気ヘッドの対向面の表面状態の観察をする表面状態評価工程を行う。 - 特許庁

The scattered light from the surface of the sample 3 is successively converted into an electrical signal through an image forming lens 4 and a CCD 5 and a CCD image is recorded and analyzed to obtain data where the surface roughness or surface shape of the sample is shown as a numerical value for evaluating the microroughness of the surface of the sample.例文帳に追加

試料３表面からの散乱光を、順次、結像レンズ４、ＣＣＤ５を経て、電気信号に変換させ、ＣＣＤ画像を記録、解析し、試料の表面粗さまたは表面形状を表す数値化されたデータを得、試料表面のマイクロラフネスを評価する。 - 特許庁

Subsequently, in the two-layered sample constituted by laminating the layer 1 of the first substance and the layer 2 of the second substance, the temp. response of the rear surface of the two-layered sample is actually measured after pulse heating is applied to the surface of the two-layered sample.例文帳に追加

次いで、第１物質の層１と第２物質の層２の積層により構成される２層試料において、当該２層試料の表面をパルス加熱し、そのときの裏面の温度応答を実測する。 - 特許庁

A film comprising Os (osmium) is formed on the surface of the sample before processed into a slice form and this sample having the Os film on its surface is processed into the slice form to prepare the sample for the transmission electron microscope.例文帳に追加

薄片状に加工する前のサンプルにＯｓ（オスミウム）からなる膜をサンプルの表面に形成し、その後に加工して薄片状とすることを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料の作製方法。 - 特許庁

The integrating sphere 2 is equipped with a sample opening 2a, the light detecting opening 2b, provided at a position symmetric with respect to the normal line 2n of the sample surface 1, arranged in the sample opening 2a and a mirror surface reflecting opening 2t.例文帳に追加

また積分球２は、試料開口２ａと、該試料開口２ａに配置される試料面１の法線２ｎに関して対称な位置に設けられた受光開口２ｂ及び鏡面反射開口２ｔとを備える。 - 特許庁

This probe control method is adopted for the scanning probe microscope for changing the relative position relation between the probe 20 and a sample 12, and measuring the sample surface by a measuring part, while scanning the sample surface by the probe.例文帳に追加

この探針制御方法は、探針２０と試料１２の相対的な位置関係を変化させ、探針が試料の表面を走査しながら測定部で試料表面を測定する走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING SURFACE TENSION OF LIQUID SAMPLE AND METHOD FOR MEASURING SURFACE TENSION USING THE SAME例文帳に追加

液体試料の表面張力の測定装置およびその装置を用いた表面張力の測定方法 - 特許庁

The shape of the reflecting surface of the mirror 18 is an equiangular spiral having the center on the surface of the sample 26.例文帳に追加

ミラー１８の反射面の形状は、試料２６の表面上に中心を有する等角螺旋である。 - 特許庁

To provide a method of polishing a sample wafer, which can obliquely polish one surface of the wafer without causing surface sag.例文帳に追加

面だれを発生させることなくウェハの一面を斜めに研磨可能な試料ウェハの研磨方法の提供。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING RADIATION LIGHT FROM SURFACE PLASMON, SAMPLE CELL FOR DETECTING RADIATION LIGHT FROM SURFACE PLASMON AND KIT例文帳に追加

表面プラズモン放射光検出方法および装置、表面プラズモン放射光検出用試料セルおよびキット - 特許庁