「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

Calibration is executed in order to adjust primary beams 110 on the sample surface to an ideal arrangement in response to the change of operating conditions of inspection conditions and the like such as an electric field on the sample surface, and a voltage applied to the sample in accordance with the characteristic of the sample.例文帳に追加

試料の特性に応じて試料表面における電界や、試料に印加する電圧などの検査条件等の動作条件の変更に対応し、試料表面における一次ビーム110を理想的な配置に調整するため、キャリブレーションを行う。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ULTRASONIC FLAW DETECTION OF FLAW ON SURFACE OF SAMPLE TRAVELING AT FIXED SPEED例文帳に追加

定速度で移動する被検体表面傷の超音波探傷方法及び装置 - 特許庁

To observe a sample surface with high sensitivity without depending on an environmental temperature.例文帳に追加

環境温度に依存することなく、高感度で試料表面を観察すること0 - 特許庁

The surface inspection apparatus is provided with a beam source 1 by which the sample 10 is irradiated with a charged particle beam 2 and a detection part 18 which detects charged particles from the surface of the sample.例文帳に追加

表面検査装置は、荷電粒子ビーム２を試料１０に照射するビーム源１と、試料表面からの荷電粒子を検出部する検出部１８とを備える。 - 特許庁

A mounting metal fitting 40 for mounting the sample stand 10 on a sample holder 50 at the FIB processing time is screwed with an opposite surface 10d facing to the loading surface 10b.例文帳に追加

また、搭載面１０ｂと対向する対向面１０ｄには、ＦＩＢ加工時に試料台１０を試料ホルダ５０に装着するための装着金具４０が螺合される。 - 特許庁

In forming the hole of the surface of the sample or in filling the hole of the surface of the sample, an image of an area including the hole and the depth of the hole or the height of the deposition film are displayed.例文帳に追加

試料表面の穴あけ加工中又は試料表面の穴埋め加工中、穴を含む領域の像と穴の深さ又はデポジション膜の高さが表示される。 - 特許庁

The measuring cell 8 is fixed on the sample stage of an atomic force microscope 20, and a probe is allowed to fall on the surface of the Al layer 4 of the sample 7 to measure the surface shape of the Al layer.例文帳に追加

この測定セル８を、原子間顕微鏡２０の試料ステージに固定し、試料７のＡｌ層４の表面に探針を降ろし表面形状測定を行う。 - 特許庁

The PC 28 measures the surface potential of the sample 36 from the state of vibration.例文帳に追加

ＰＣ２８は、この振動状態から試料３６の表面電位を測定する。 - 特許庁

The slide glass 120 is subjected to a visible light reflection preventive/near IR light reflective coat 124 on a sample holding surface 120a touching a top surface, i.e., the sample 140.例文帳に追加

スライドガラス１２０は、上面すなわち標本１４０と接する標本保持面１２０ａに、可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４が施されている。 - 特許庁

To provide an evaluation method of elastic modulus of an extreme surface in a solid material sample.例文帳に追加

固体物質資料の極表面の弾性率の評価方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a phenomenon of reattachment of produced cutting chips on a surface of a sample on a slicer to sequentially take in data on a cutting surface while slicing the sample.例文帳に追加

試料をスライスしながら、その切断面のデータを順次取り込むスライサ装置において、発生した切り屑が試料の表面に再付着する現象を防止する。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, while keeping the physical quantities constant at the measuring parts, the sample surface is scanned by the probe by the moving mechanisms, to thereby measure the sample surface.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡では測定部で物理量を一定に保ちながら移動機構により探針で試料の表面を走査して試料の表面を測定する。 - 特許庁

To readily set the distance between an electrode and a sample in the range of potential measurement time, in a surface electrometer for measuring the surface potential of the sample in non-contact.例文帳に追加

試料の表面電位を非接触にて測定する表面電位計において、電極と試料との間の距離を容易に電位測定時の範囲内とする。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF SURFACE CONTOUR OF SAMPLE AND PROBE DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、試料表面形状の計測方法、及びプローブ装置 - 特許庁

IONIZATION METHOD OF NEEDLE-LIKE SAMPLE SURFACE LAYER BY USING BOTH ULTRASHORT PULSE LASER CONVERGENCE AND HIGH VOLTAGE APPLICATION, AND ANALYTICAL METHOD OF NEEDLE-LIKE SAMPLE SURFACE LAYER USING IT例文帳に追加

超短パルスレーザー集光と高電圧印加の併用による針状サンプル表層のイオン化方法、及びこれを使用した針状サンプル表層の分析方法 - 特許庁

An X-ray detector for irradiating the surface of a sample with X-rays to detect reflected X-rays from the surface of the sample at a predetermined angle position is fixedly provided.例文帳に追加

試料面にＸ線を照射し、該試料面から反射してくる反射Ｘ線を所定の角度位置で検出するように前記Ｘ線検出器を固定する。 - 特許庁

When the boundary surface of the sample is varied by Δz in a height direction, the reflection light is regarded to come from a position shifted by Δx in a lateral direction on the boundary surface of the sample.例文帳に追加

試料境界面が高さ方向にΔｚ変化すると、反射光は、試料境界面内で横方向にΔｘずれた位置から出てくるとみなされる。 - 特許庁

When the sound velocity of the acoustic matching layer 2 on the side of the sample is lower than the sound velocity of the sample, the curved surface is made concave, but when faster, the curved surface is made convex.例文帳に追加

音響整合層２の被検体側の音速が被検体の音速よりも小さいときには前記曲面形状は凹状に、大きいときには凸状にする。 - 特許庁

The light is obliquely made incident on the sample, and the cut surface is irradiated with the light in the slit-shape.例文帳に追加

標本には斜めに入射しスリット状に切断面が照射される。 - 特許庁

To maintain accuracy of detecting the top surface of a sample with a simple and easy method.例文帳に追加

簡便な方法でありながら試料の最表面の検出精度を維持する。 - 特許庁

An analyzing position is specified by irradiating the surface of the sample with a laser beam, in alignment with the optical axis of secondary ions and observing the position of the laser spot generated on the surface of the sample.例文帳に追加

二次イオンの光軸に一致させて試料表面にレーザ光を照射させ、試料表面に生じたレーザスポットの位置を観察することで分析位置を特定する。 - 特許庁

To largely increase a secondary particle quantity emitted from a sample surface, by irradiating the sample surface with a particle group composed of two or more atoms.例文帳に追加

２個以上の原子からなる粒子団を試料表面に照射することにより、試料表面から放出される２次粒子量を大幅に増大させるようにすること。 - 特許庁

To prevent re-reflection of reflected electrons or secondary electrons emitted from a sample surface to the sample surface side, and to increase the amount of electrons detected by an electron detector.例文帳に追加

試料面から放出される反射電子や二次電子の試料面側への再反射を防止すると共に、電子検出器での電子検出量を増大させる。 - 特許庁

DETERMINATION OF SAMPLE SHAPE BY MEASUREMENT OF SURFACE GRADIENT WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡での表面勾配の測定によるサンプル形状決定 - 特許庁

A reagent B is put in the microtube and a sample A is adhered to a lid or wall surface.例文帳に追加

マイクロチューブに試薬Ｂを入れ、蓋または壁面に試料Ａを付着させる。 - 特許庁

The excess liquid of the liquefied sample is discharged from the surface of the apparatus.例文帳に追加

液状化されたサンプルからの余った液体は、装置の表面から排出される。 - 特許庁

The painted surface of the sample 5 is irradiated with light from a diagonal direction by an illuminating device 30, and brightness image data on the painted surface of the sample 5 is acquired by an image acquisition device 10.例文帳に追加

サンプル５の塗装表面に照明装置３０で斜め方向から光を照射し、サンプル５の塗装表面の輝度画像データを画像取得装置１０で取得する。 - 特許庁

The sample 7 is arranged at the focal position of the rotary oval surface of the reflecting surface 6a of the infrared reflecting mirror 6 for guiding infrared rays to the sample 7 from the infrared ray source 9.例文帳に追加

赤外線光源９から試料へ光を導く赤外線反射鏡６の反射面６ａの回転楕円面の焦点位置に、試料７が配置される。 - 特許庁

The sample processing and observing method includes: irradiating a sample 5 with a focused ion beam 3 to form an observed surface; irradiating the observed surface with an electron beam 4 to form an observed image; removing the surface opposite to the observed surface of the sample 5 to form a lamella 5t including the observed surface; and obtaining a transmission electron image of the lamella 5t.例文帳に追加

集束イオンビーム３を試料５に照射し観察面を形成し、電子ビーム４を観察面に照射し、観察像を形成し、試料５の観察面と反対側の面を除去し、観察面を含む薄片部５ｔを形成し、薄片部５ｔの透過電子像を取得する試料加工観察方法を提供する。 - 特許庁

The surface of the sample that is a hard film is adsorbed and fixed on the film-like sample-holding surface of a fixing plate and processed by a cutting blade from the through-hole provided to the fixing plate, to prevent the sample processing trouble caused by the deformation of the soft substrate at the time of pressing of the cutting blade to the sample, and thereby enables a desired sample processing.例文帳に追加

硬質な膜である試料表面を固定板のフィルム状試料保持面に吸着固定し、固定板に設けられた貫通穴側から切削刃により加工することにより、切削刃を試料に押し付けた際の軟質基板の変形による試料加工不具合を防止し、所望の試料加工を可能とする。 - 特許庁

When the sampling needle 5 penetrates a septum in a sample container and is inserted into a sample container, a flat surface 22 that is extended axially over the length exceeding the thickness of the septum of the sample container is formed at one portion of the outer surface of the sample needle 5 for releasing the pressurized state inside the sample container to atmospheric pressure.例文帳に追加

このサンプリングニードル５が試料容器のセプタムを貫通して試料容器内に挿入されたとき、試料容器内部の加圧状態を大気圧に開放するために、サンプリングニードル５の外側面の一部には試料容器のセプタムの厚さ以上の長さにわたって軸方向に延びる平坦面２２が形成されている。 - 特許庁

The bottle 10 mounted on the turntable 12 and the sample liquid in the bottle 10 are swung, the inner surface of the bottle 10 is washed with the sample liquid, then the sample liquid is discharged, and a new sample liquid same as the discarded sample liquid is dispensed to the washed bottle 10.例文帳に追加

ターンテーブル１２に搭載されたボトル１０及びボトル１０内のサンプル液を揺り動かしてボトル１０の内面をサンプル液で洗浄した後にサンプル液を排出し、廃棄したサンプル液と同一の新たなサンプル液を共洗いしたボトル１０に分注する。 - 特許庁

In the laser desorption ionization mass spectrometry, the impermeable sample liquid containing a sample is dripped on the membrane to allow the liquid droplet of the sample liquid to be present on the surface of the membrane and this sample liquid is dried to form the crystal of the sample to perform a laser desorption ionization mass spectrometry.例文帳に追加

メンブレン上に、サンプルを含む非浸透性のサンプル液を滴下し、メンブレン表面上に前記サンプル液の液滴を存在させ、サンプル液を乾燥させてメンブレン上にサンプルの結晶を形成させ、レーザー脱離イオン化質量分析を行う方法。 - 特許庁

To provide a sample stand for making a sample, so to speak, with little redeposition, in which sample stand materials are attached on a surface of the sample as ion beams sputter the stand, in making a sample used for TEM observation by an ion milling method.例文帳に追加

本発明は、ＴＥＭ観察に用いる試料をイオンミリング法により作製するに当たり、イオンビームが試料台をスパッタすることにより生じる試料台物質が試料表面に付着するいわゆるリデポジッションの少ない試料を作製する試料台を提供する。 - 特許庁

To prevent contamination on the surface of a sample subject to laser treatment or the change of bonding state of atoms on the surface due to the contact of the surface of the sample with an outside air before laser treatment, in a laser annealing device.例文帳に追加

レーザーアニール装置において、レーザー処理の前にレーザー処理されるべき試料の表面が外気に触れることによる表面の汚染や、表面の原子の結合状態の変化を防止する。 - 特許庁

To scan the whole surface of a sample in a short period of time and enable any minute defect to be detected without inflicting thermal damage on the sample.例文帳に追加

試料全面を短時間で走査し、試料に熱ダメージを与えることなく微小な欠陥を検出することができるようにする。 - 特許庁

An electrode part surrounding the metal sample is cooled when the contaminated part of the surface of the metal analytical sample is removed by sputtering.例文帳に追加

金属分析試料の表面汚染部をスパッタリングにより除去するにあたり、金属試料を取り囲む電極部を冷却する。 - 特許庁

The substrate surface has fluid-tight relation with the sample channel, and the working electrode domain is in the fluid-communication state with the sample channel.例文帳に追加

基材表面は、試料流路と流密関係にあり、作用電極領域は、試料流路と流体連通状態にある。 - 特許庁

The surface of sample liquid in the measurement unit 10 is covered with oil, thus preventing the sample liquid from being evaporated and improving measurement accuracy.例文帳に追加

測定ユニット10内の試料液の表面はオイルにより覆われているため、試料液の蒸発が防止され、測定精度が向上する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of scanning the entire sample surface in a short time and detecting minute defect without causing thermal damage to the sample.例文帳に追加

試料全面を短時間で走査し，試料に熱ダメージを与えることなく微小な欠陥を検出することができるようにする。 - 特許庁

A sample surface of the sample 4 is irradiated with an electron beam from an electron beam irradiation section 1 through a hole 30 in an ellipsoidal mirror 3.例文帳に追加

電子線照射部１から楕円面鏡３の孔部３０を通過して試料４の試料面に電子線が照射される。 - 特許庁

When the sample 20 and a contact pin 3 are not conductive to each other, the potential observed on a surface of the sample 20 has an uneven potential distribution.例文帳に追加

試料２０とコンタクトピン３とが非導通の場合、試料２０の表面に観測される電位は、不均一な電位分布を有する。 - 特許庁

The subsystem for detecting defects on the sample 26 is configured by accumulating charges at a plurality of positions on the surface of the sample 26.例文帳に追加

試料２６上の欠陥を検出するサブシステムは、試料２６の上面上の複数の位置に電荷を堆積するように構成する。 - 特許庁

It is also preferred that a boundary sample in which the surface glossiness is adjusted to a threshold value or less, is prepared beforehand, and that the surface roughness of the concrete surface after the treatment is controlled to be equivalent to the surface roughness of the boundary sample.例文帳に追加

表面の光沢度が前記閾値以下であるように調整した限度見本を予め作製し、該限度見本の表面粗さと同等になるように処理後のコンクリート表面の表面粗さを管理することでも良い。 - 特許庁

In the method of detecting the solidification structure of steel, a cross-section of a sample of a steel casting piece is polished, a surface other than a polished surface 2 of a sample 1 is electrically insulated to be an electrically insulated surface 3, and the polished surface 2 is corroded.例文帳に追加

鋼鋳片の試料の断面を研磨し、試料１の研磨面２以外の面を電気絶縁処理して電気絶縁処理面３とし、研磨面２を腐食することを特徴とする鋼の凝固組織検出方法である。 - 特許庁