「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To disclose a method of uniformizing the surface tension of a sample fluid on a clinical analyzer.例文帳に追加

臨床分析機器上の試料流体の表面張力を均一化する方法が開示される。 - 特許庁

Three screws 21 penetrate an area between an opposing surface 9 of the sample placement section 2 and the connection section 15.例文帳に追加

試料配置部２の対向面９と接続部１５の間は、３本のネジ２１が貫いている。 - 特許庁

To accurately form a dent in the surface of a sample by a pressure element in a hardness testing machine.例文帳に追加

硬さ試験機において、試料表面に圧子によるくぼみをより正確に形成すること。 - 特許庁

The luminous fluxes focus at the surface of the sample 7 and form a spot through an objective lens 6.例文帳に追加

そして、対物レンズ６を通って、試料７の表面で焦点を結んでスポットを形成する。 - 特許庁

A region including a trench 1c is subjected to FIB processing from the side of the dicing processing surface 1b of the sample 1.例文帳に追加

試料１のダイシング加工面１ｂ側からトレンチ１ｃを含む領域をＦＩＢ加工する。 - 特許庁

Hereby, the sample surface can be detected with high driving resolution held by the indenter.例文帳に追加

こうすることで圧子が持っている高い駆動分解能で試料表面を検出することができる。 - 特許庁

The laser light is reflected against the sample surface 11 multiple times, so that the Raman scattering light is increased.例文帳に追加

試料面１１でレーザ光が複数回反射することにより、ラマン散乱光が増加する。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING SURFACE-LAYER IMPURITY OF POLYSILICON, AND SAMPLE-TREATING CONTAINER FOR ETCHING POLYSILICON例文帳に追加

ポリシリコンの表層部不純物の分析方法およびポリシリコンをエッチングするための試料処理容器 - 特許庁

Momentary photoconduction is thereby induced to the sample to cause field evaporation of molecules on the surface.例文帳に追加

これにより、試料に瞬間的に光伝導を誘起し、表面の分子を電界蒸発させる。 - 特許庁

The sample 1 is warmed through the glass 2 and stuck onto the surface of the glass 2.例文帳に追加

薄切片試料１は、スライドガラス２を介して暖められ、スライドガラス２の表面に貼り付く。 - 特許庁

To perform darkfield illumination with a simple configuration arranged with a surface light source near a sample.例文帳に追加

面光源を試料の近傍に配置した簡易な構成で暗視野照明を行えること。 - 特許庁

A ^1H spin of the contact liquid thereby diffuses gradually from the surface to the sample contacting therewith, after the ^1H contained in the sample is relaxed.例文帳に追加

従って、試料に含まれる^1Hが緩和した後、接触液の^1Hスピンをそれに接触している試料の方に、表面から徐々に拡散させて行く。 - 特許庁

Laser beams are applied to a sample whose elements are analyzed, and a luminous column is formed on the irradiation surface of laser beams in the sample.例文帳に追加

元素分析を行うべき試料に対してレーザ光を照射し、前記試料の、前記レーザ光の照射面において発光柱を形成する。 - 特許庁

To provide a culturing container simply performing the collection of a sample and culturing and that will not adversely affect an examination surface due to the action of sample collection.例文帳に追加

試料の採取と培養を簡便に行い得る培養容器であって、試料採取行為が検査面に悪影響を及ぼさないものを提供する。 - 特許庁

A sample holder 40 has a film 32 which has a liquid sample 20 on an open first surface 32a, and the film 32 is configured by no less than two layers.例文帳に追加

試料保持体４０は、開放された第１の面３２ａに液体試料２０が保持される膜３２を有し、該膜３２が２層以上で構成される。 - 特許庁

Consequently, the portions of the sample 14 in the exposed areas can be exposed directly to the light even when the surface electrode layer 20 is provided on the sample 14.例文帳に追加

このように、試料１４上に表面電極層２０を設けても、試料露出領域では試料１４に光を直接当てることができる。 - 特許庁

Since the metal sample contacts the protruding portion, the analysis is possible without being affected due to the ruggedness, even if the ruggedness exists on the surface of the metal sample.例文帳に追加

金属試料は突起部と接触するので、金属試料に凹凸が存在しても、凹凸の影響を受けることなく分析することができる。 - 特許庁

A surface potential shift of the sample 20 is determined to determine whether the sample 20 and the contact pin 3 are conductive to each other.例文帳に追加

試料２０の表面電位シフトを判断する事によって、試料２０とコンタクトピン３との導通、非導通を正しく判定する事が可能となる。 - 特許庁

The second cutter blade 3 is used for a thinly slicing process, that is one where a lamina sample of a target thickness is cut off from the surface of the sample block 11.例文帳に追加

第二のカッタブレード３は、薄切り工程、即ち、試料ブロック１１の表面から所定の厚さの薄片試料を採取する際に使用される。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a quantitative contamination sample and an apparatus of manufacturing the same sample that can, with high efficiency and in a short time, contaminate the surface of a substrate with good quantifiability as well as with good reproducibility.例文帳に追加

短時間に高い効率で基板表面を定量性、再現性よく汚染しうる定量汚染試料作製方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for very easily sampling and measuring gas discharged from the surface of a sample without burdening any load on the sample.例文帳に追加

試料に負担をかけることなく、かつ極めて簡便に、試料表面から放出されるガスを精度高く採取および測定する装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vacuum processing apparatus having a function for removing particles on the surface of the sample stage in order to improve the yield of the sample being processed.例文帳に追加

処理対象の被処理試料の歩留まりを向上させるため、試料台表面の異物除去機能を備えた真空処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample processing folder for performing the cutting processing of the surface of a sample, wherein a hard film such as an inorganic film is formed on a soft substrate such as a film, or the like.例文帳に追加

フィルム等の軟質な基板の上に、無機膜等の硬質な膜が形成されている試料表面を切削加工するための試料加工フォルダー。 - 特許庁

A conductive thin film is formed on the sample surface by allowing adhesion of atoms of a sputtered target 2 onto a sample 10 placed on a stage 11.例文帳に追加

スパッタされたターゲット２の原子がステージ１１上に載置された試料１０に付着することにより試料表面上に導電性薄膜が形成される。 - 特許庁

A sample cup 11, to which a cell inner frame 10 is fitted, is placed on a sample cup placing stand 71 in a state that a cup end surface 111 turns to the underside.例文帳に追加

セル内枠１０を嵌合した試料カップ１１を、カップ端面１１１が下側となった状態で、試料カップ載置台７１上に載置する。 - 特許庁

Entire surface of the sample 2 can be observed, by moving the sample 2 or a microscope 8 continuously in the x-y plane.例文帳に追加

試料２または顕微鏡８をｘ−ｙ面内において連続的に移動させることにより、試料２表面全面を観察できるようにする。 - 特許庁

Based on the phase error information, shape information on the surface of the sample 14 or dielectric response in the sample 14 can be obtained.例文帳に追加

前記した位相誤差の情報に基づいて、試料１４の表面における形状情報や、試料１４における誘電応答を得ることができる。 - 特許庁

The sample plate 42 is arranged while being separated from the bottom surface by a support post 44 to easily unload the reagent creeping to the reverse side of the sample plate 42.例文帳に追加

試料プレート４２は支持柱４４により底面から離して配置され、試料プレート４２裏面に回り込む試薬の排出を容易とする。 - 特許庁

A photo electron is emitted from the surface of a sample 12 being placed on a sample stage 13 by applying ultraviolet rays from an ultraviolet-ray irradiation device 15.例文帳に追加

紫外線照射装置１５からの紫外線照射により試料ステージ１３上に載置された試料１２の表面から光電子が放出される。 - 特許庁

As a result of this, the sample can be prevented from coming into contact with part of sample suction device, such as the syringe body, the inner surface of a tube, or the tip of a plunger.例文帳に追加

このためサンプルはシリンジ本体やチューブの内面、プランジャーの先端などのサンプル吸引装置の一部と接触を防止することができる。 - 特許庁

The inspection method includes the step of irradiating a sample with an X-ray beam focused to define a spot on the surface of the sample.例文帳に追加

検査方法は、サンプルの表面上においてスポットを画定するべく合焦されるＸ線ビームを使用してサンプルを照射する段階を含んでいる。 - 特許庁

A plurality of processing probes 2 having a tip 21 for processing a sample are arranged side by side on the side of a probe 1 for measuring very fine projecting and recessed parts on the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の微細な凹凸を計測するプローブ１の側方に、試料加工用チップ２１をもつ加工用プローブ２を複数個並設した。 - 特許庁

By above-mentioned way, the focusing of the X-rays is performed on the surface of the sample 2, and the sample is irradiated with the X-rays in the best focused condition.例文帳に追加

これにより試料２上ではＸ線の焦点合わせが行なわれ、Ｘ線が最も集光された状態で試料に照射される。 - 特許庁

Based on this, when changes in the image of the sample are observed, a contamination film forming treatment is performed which forms a contamination film on the surface of the sample.例文帳に追加

それによって、試料の像の変化が観測されたら、試料の表面にコンタミネーション被膜を生成するコンタミネーション被膜の生成処理を行う。 - 特許庁

Subsequently, the surface layer part of the sample block 10 is sliced using a cutter 1 and the cut-off lamina sample 11 is held to the carrier tape 2 to be recovered.例文帳に追加

次いで、カッタ１を用いて、試料ブロック１０の表層部を薄切りし、切り取られた薄片試料１１をキャリアテープ２に保持して回収する。 - 特許庁

In this X-ray diffraction device, an incident part 110 and an emission part 150 both of which are formed of glass are provided at the wall surface of the sample chamber 100 and a first shading member 300 is arranged in the sample chamber 100.例文帳に追加

この装置は、試料室100の壁面にガラス製の入射部110と出射部150とを備え、試料室100内に第一遮蔽体300が配置される。 - 特許庁

An opposite face to the sample 1 with which ions or the like scattered from the sample easily collide on the surface of a holder plate is coated with an insulating thin film 13.例文帳に追加

ホルダー板１２の表面のうち、試料１から散乱したイオン等が衝突し易い、試料１との対向面を絶縁性薄膜１３で被覆する。 - 特許庁

To detect attached foreign matter on the surface of a transparent or translucent sample in a visible light wavelength region without including inner foreign matter on the inside of the sample.例文帳に追加

可視光波長域における透明体または半透明体の試料表面の付着異物を、試料内部の内包異物と混在なく検出する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a flat sample capable of inspecting with high sensitivity a defect not only on the surface of the flat sample but also inside or on the rear.例文帳に追加

平板状試料の表面のみならず、内部、裏面の欠陥に対して、感度良く検査することができる平板状試料の検査方法を得る。 - 特許庁

A sample 2 is brought into contact with or peeled from the surface of an inspection target such as the stage, the chuck or the like to measure the change quantity of the peel charge quantity of the sample 2.例文帳に追加

ステージやチャックなどの被検査物１の表面に試料２を接触・剥離させて、試料２の剥離帯電量の変化量を測定する。 - 特許庁

As test preparation, a sample 29 is filled in a cylindrical container 3 having an open face on the upper face, and the upper surface of the sample is smoothed to be substantially flat.例文帳に追加

試験準備として、円筒形で上面に開口面を有する容器３に試料２９を充填し、試料２９の上面をほぼ平滑に均す。 - 特許庁

When forming an oxide film on the surface of the sample 10 to be oxidized by exposing the sample 10 to an ozone gas, a target oxidation region is locally heated.例文帳に追加

被酸化試料１０にオゾンガスを暴露することにより、当該試料の表面に酸化膜を形成するにあたり、被酸化領域を局所加熱する。 - 特許庁

The sensor part 5 is constituted of rubber 5a in contact with the sample 2 surface on a sample table 3, and a piezoelectric element 5b attached to a side face of the rubber 5a.例文帳に追加

センサー部５は、サンプル台３上の試料２表面と接触するラバー５ａと、ラバー５ａの側面に装着した圧電素子５ｂとで構成される。 - 特許庁

The intensity of the scattered ions from a sample is measured by the spin of an incident ion species and the surface magnetic structure of the sample is analyzed on the basis of the measuring data.例文帳に追加

試料から散乱した散乱イオン強度を入射イオン種のスピン別に計測し、その計測データにより試料表面の磁気構造を解析する。 - 特許庁

A surface of the sample irradiated with the ion beam can be directly cooled by the gaseous refrigerant by supplying the gaseous refrigerant inside the sample chamber.例文帳に追加

気体冷媒を試料チャンバ内に供給することで、試料Sにおけるイオンビームの照射面を直接気体冷媒で冷却することができる。 - 特許庁