「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

When the surface layer part of the sample block 11 is cut, the sample block 11 is fed in the X-direction, and the cutter 21 is moved to the direction W in synchronism with it.例文帳に追加

試料ブロック１１の表層部を切断する際には、試料ブロック１１をＸ方向へ送り出すとともに、これに同期させてカッタ２１をＷ方向へ移動させる。 - 特許庁

The drilled cross section can be formed at a specific position of the sample S by glow discharge, and the surface of the sample S can be drilled in a short time, over a broad range.例文帳に追加

グロー放電によって、試料Ｓの特定の位置に掘削断面を形成することができ、また試料Ｓの表面を広範囲に短時間で掘削することができる。 - 特許庁

Since the fixed mirror 11 can be allowed to approach the sample 50, the light flux 2A can be incident on the reflecting surface 50a of the sample 50 at an angle near to vertical incidence.例文帳に追加

固定ミラー１１を試料５０に接近させることができるので、垂直入射に近い角度で光束２Ａを試料反射面５０ａに入射できる。 - 特許庁

To provide a detection coil and an inspecting device capable of detecting not only a surface of a sample but also a deep part or an internal part thereof without giving pretreatment to the sample.例文帳に追加

試料に前処理を施さずに、試料の表面だけでなく深部あるいは内部をも検出できる検出コイル及び検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

Then, the defective bodies 15 are buried into the concrete sample 11, and the positions are determined three-dimensionally from the outer-periphery surface of the concrete sample 11.例文帳に追加

そして、これらの欠損体１５はコンクリート供試体１１の内部に埋設され、それらの位置はコンクリート供試体１１の外周面から三次元的に決定されている。 - 特許庁

The most flat region of the analyzing surface of the sample 3 is selected to adjust the position of the sample 3 so that the beam enters the selected region at a predetermined angle.例文帳に追加

試料３の分析面の最も平坦な領域を選定し、選定された領域にビームが所定角度で入射されるように試料３の位置を調整する。 - 特許庁

To conduct spin detection without generating magnetic interaction between a sample and a probe, and to prevent the probe from being damaged even in the sample having a surface of sharp uneveness.例文帳に追加

試料と探針との磁気的相互作用なしにスピン検出を行うことができ、且つ表面凹凸が激しい試料に対しても探針の破損を防止できる。 - 特許庁

To provide an observation sample preparation device capable of preparing an observation sample from a mold making material that traces the surface of a subject in a simple and effective manner.例文帳に追加

被検体の表面を転写した型取り材から観察用試料を簡便かつ効率的に作製できる観察用試料作製装置を提供することにある。 - 特許庁

To accurately and easily perform the processing positioning in a charged particle beam apparatus even if the sample is not transparent and even if no characteristic shape exists on the sample surface.例文帳に追加

透明試料以外でも試料表面に特徴のある形状がない場合でも、荷電粒子ビーム装置における加工位置決めを高精度かつ容易に行えるようにする。 - 特許庁

Alternatively counter-wound spiral coils arranged adjacent to each other on the outer surface of two concentric cylindrical surfaces that surround the NMR sample minimize the electric field over the sample region.例文帳に追加

あるいは、NMR試料を包囲する2つの同軸の円筒面の外面上に互いに隣接して配置された逆巻きらせんコイルが、試料領域に対して電場を最小化する。 - 特許庁

When the explorer 12 is brought into contact with the sample S, the lever 11 is bent, corresponding to the irregular shape of the sample surface, and the interval of the gap G of a bent part is changed.例文帳に追加

探針１２を試料Ｓに接触させると、試料表面の凹凸形状に応じてレバー１１が撓み、撓んだ部分のギャップＧの間隔が変化する。 - 特許庁

To prevent a generated cut-chip from redepositing on a surface of a sample in a slicer device for segmentially fetching the data of a cut face thereof, while slicing the sample.例文帳に追加

試料をスライスしながら、その切断面のデータを順次取り込むスライサ装置において、発生した切り屑が試料の表面に再付着することを防止する。 - 特許庁

In this process, the probe is moved to the sample surface, until the amplitude of probe vibration in excitation frequency receives effect slightly by the force between a tip and a sample.例文帳に追加

このプロセスでは、励振周波数でのプローブ振動の振幅が、ティップと試料との間の力によって多少影響を受けるまで、プローブを試料表面に移動する。 - 特許庁

Then, each coordinate position of the sample shots is measured and during the measurement, a relative position of each sample shot region relative to a predetermined standard surface of a wafer is detected.例文帳に追加

そして、そのサンプルショットの座標位置がそれぞれ計測され、この計測の際にサンプルショット領域毎にウエハの所定基準面に対する相対位置が検出される。 - 特許庁

The sample comprising a transparent substrate is subjected to laser interference exposure in a state that a heated matter having a surface shape composed of a periodic unevenness is press-bonded to the sample.例文帳に追加

透明基板からなるサンプルは、周期的な凹凸からなる表面形状を有する加熱された物体を圧着した状態で、レーザ干渉露光が行われる。 - 特許庁

The system includes a probe 12 for scanning the surface of a sample, a light source 16, and a spectroscope 18 for detecting signal light emitted from the sample.例文帳に追加

本発明の信号光測定システムは、試料の表面を走査するプローブ１２、光源１６、試料から放射される信号光を検出する分光器１８を備えている。 - 特許庁

In this case, at a low angle region than the boundary angle of θa, the scattering angle of 2β is changed so that the irradiation width of X rays onto the sample surface becomes the width of the sample.例文帳に追加

ここで、境界角度θａよりも低角度領域では、試料表面へのＸ線の照射幅が試料の幅になるように、発散角２βを変化させる。 - 特許庁

The sample table 3 is moved by the moving mechanism 4, and a mechanical strain generated in the rubber 5a in contact with the surface of the sample 2 is detected by the piezoelectric element 5b.例文帳に追加

移動機構４でサンプル台３を平行移動し、試料２の表面と接触したラバー５ａに生じた機械的歪みを圧電素子５ｂにより検出する。 - 特許庁

Also, in the analysis chamber, a sample electrode surface 22 for placing a sample 20 is arranged so that distance to a counter electrode 24 is electrically closer than that to a peripheral wall 11.例文帳に追加

また、分析チャンバーは、試料２０を載置する試料電極面２２を、対向電極２４までの距離が周壁１１までの距離より電気的に近くなるように配設する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of obtaining a stable scanning image by sufficiently reducing the influence of charge-up of a sample surface.例文帳に追加

試料表面のチャージアップの影響を十分に軽減し、安定した走査画像を得ることができる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供する。 - 特許庁

Raman scattering light R is generated from the sample S by evanescent light generated by a total internal reflection of the laser light L on the sample surface 111, and exits through the opening 212.例文帳に追加

試料面１１１でレーザ光Ｌが全反射して発生したエバネッセント光により試料Ｓから発生したラマン散乱光Ｒは、開口部２１２を通って放出される。 - 特許庁

To irradiate electron beams to the surface of a sample with a uniform dose, in an electron beam device for irradiating an electron beam to the sample from an electron gun having a cathode and an anode.例文帳に追加

カソードおよびアノードを有する電子銃から電子線を試料に照射する電子線装置において、試料表面に電子線を一様な照射量で照射する。 - 特許庁

To prevent cut chips from sticking to the surface of a sample in a slicer device in which the sample is sliced while data of cut surfaces thereof are taken successively.例文帳に追加

試料をスライスしながら、その切断面のデータを順次取り込むスライサ装置において、発生した切り屑が試料の表面に再付着することを防止する。 - 特許庁

Since a sample stage (12) both rotates and translates in r-direction, the sample surface is scanned by the optical spot of m×n pieces in matrix.例文帳に追加

試料ステージ（１２）は回転移動すると共にｒ方向にも並進移動するため、試料表面はｍ×ｎ個のマトリックス状の光スポットにより走査されることになる。 - 特許庁

In this mirror finished surface polishing method, an object to be polished (a sample 1) is fixed to a support bed 2, a polishing turning tool 3 is confronted with the sample 1, and a magnetic polishing liquid 4 is supplied to a narrow gap between them.例文帳に追加

支持台２に研磨対象（試料１）を固定し、試料１には研磨バイト３を対面させ、両者の狭間へ磁気研磨液４を供給する。 - 特許庁

Cooling water R with which a cooling tank 30 is filled up is set to a temperature at which film boiling by which a steam film is formed on the surface of the sample occurs when the water is brought into contact with the sample S.例文帳に追加

冷却槽３０に満たした冷却水Ｒを、サンプルＳに接触すると、その表面に水蒸気膜を形成する膜沸騰が起こる温度に設定する。 - 特許庁

After the analysis of the inclusion at that position is completed, the constant-speed move and high-speed beam scanning of the sample stage are resumed and the above operation is executed for the entire surface of a sample.例文帳に追加

その位置における介在物分析終了後再び試料ステージの定速移動と高速ビームスキャンを再開させ、上記動作を試料全面に亘って実行する。 - 特許庁

An analysis device 20 for the sample includes a radiation source 26, constituted so as to guide the radiation beam 27 along a beam axis and hit it on the target region of the surface of the sample.例文帳に追加

試料の分析装置20は、放射線ビーム27を、ビーム軸に沿って導き、試料の表面上の目標領域に当てるように構成されている放射線源26を含む。 - 特許庁

To prevent longitudinal stripes appearing in a section sample cut by a focused electron ion beam which seems attributable to the uneven microstructure on the surface of the sample.例文帳に追加

サンプル表面上のミクロな凹凸形状に起因すると考えられる、集束電子イオンビームにより切断したサンプル断面試料中に見られる縦すじの発生を防止する。 - 特許庁

Consequently, the electric characteristics of the semiconductor sample 10 can be measured without removing the insulation film 11 bonded to the surface of the semiconductor sample 10.例文帳に追加

これにより、半導体試料１０の表面に接着される絶縁膜１１を取り除くことなく、半導体試料１０の電気的特性を測定することが可能となる。 - 特許庁

To provide an element analyzer for determining accurately an element content included in a sample without being influenced by a surface shape of the sample.例文帳に追加

試料の表面性状の影響を受けることなく試料に含有される元素含有量を精度良く定量することができる元素分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a coating method that can be easily applied to an observation sample for a scanning electron microscope and can fully observe fine structure of a sample surface.例文帳に追加

走査電子顕微鏡用の観察試料に簡便に適用することができ、かつ試料表面の微細構造を十分に観察し得るコーティング方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for determining the adsorption state of material adsorbed on the sample surface, without forming an analytical curve by adjusting a standard adsorption sample.例文帳に追加

標準吸着試料を調製して検量線を作成することを行わずに、試料表面に吸着した物質の吸着状態を判定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam dimension measuring device and an electron beam dimension measuring means which can keep potential on a sample surface constant to measure the sample with greater accuracy.例文帳に追加

試料表面の電位を一定にして精度よく試料を測定することのできる電子ビーム寸法測定装置及び電子ビーム寸法測定方法を提供すること。 - 特許庁

This method tests materials applied to the surface of a sample and include a process of directing an excitation beam of a known beam width and intensity section toward the sample area.例文帳に追加

試料の表面に適用された材料を試験する方法は、既知のビーム幅および強度断面を有する励起ビームを試料の領域に方向付けることを包含する。 - 特許庁

To effectively observe irregularity of the surface of a sample, by detecting secondary electrons from the sample mounted in a lens magnetic field with a plurality of secondary electron detectors.例文帳に追加

レンズ磁界内に設置された試料からの二次電子を複数の二次電子検出器により検出して試料表面の凹凸を効果的に観察すること。 - 特許庁

A laser beam can be concentrated on a sample to excite optical emission on the top surface of a sample being processed and such a step can include a laser process.例文帳に追加

レーザー光は、また、処理中のサンプル表面での光学的放出を励起するべくサンプル上に集中させることができ、これはレーザー工程を含むことが可能である。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) 102 for inspecting a sample 124 includes a probe assembly 106 including a first tip 302 and a second tip 304 directed respectively to a surface 131 of the sample 124.例文帳に追加

サンプル(124)の表面(131)にそれぞれ向けられる第１の先端部(302)及び第２の先端部(304)を含むプローブアセンブリ(106)を含む、該サンプル(124)を検査するための原子間力顕微鏡(AFM)(102)。 - 特許庁

Since charges on the sample 7 move in the direction of the device via the conductive plate 19 and the microprobe 12, charge-up on the surface of the sample 7 can be prevented.例文帳に追加

このとき、試料７上の電荷は、導電板１９及びマイクロプローブ１２を介して装置方向に移動するため、試料７の表面がチャージアップすることが防止される。 - 特許庁

A laser beam from a laser beam source is guided onto the sample surface by a light source side optical fiber, and a minute region on the sample is excited by near-field light on the fiber head.例文帳に追加

レーザ光源からのレーザ光を光源側光ファイバで試料表面に導き、ファイバ先端の近接場光によって試料の微小領域を励起する。 - 特許庁

A sensor unit 140 scans the surface of the sample while it moves in the direction of X by a linear sensor carriage 130, and the sample 110 is rotated by spindle 120.例文帳に追加

センサ・ユニット１４０は、リニア・センサ・キャリッジ１３０によりＸ方向に動き、試料１１０がスピンドル１２０により回転しているときに、試料表面を走査する。 - 特許庁

In such a state that a graphite crucible 5 housing the silicon sample 15 is provided in an impulse furnace 1, the silicon sample 15 in the graphite crucible 5 is heated at a temperature below the melting point of the silicon sample 15 while supplying an inert gas G to reduce and remove the oxidation film on the surface of the silicon sample 15.例文帳に追加

インパルス炉１内に、シリコン試料１５を収容した黒鉛るつぼ５を設け、その状態で不活性ガスＧを供給しながら前記黒鉛るつぼ５内のシリコン試料１５をその融点未満の温度で加熱し、シリコン試料表面の酸化膜を還元除去するようにした。 - 特許庁

To provide a thermophysical property measuring method capable of forming a uniform and stable blackened film with high reproducibility and high adhesiveness to a sample, on a sample surface, to form thereby the sample capable of measuring accurately a thermophysical property, and capable of measuring accurately the thermophysical property by using the sample.例文帳に追加

試料表面に均一で再現性が高く、試料との粘着性が高く安定性がある黒化膜を表面に形成し、それにより正確な熱物性の測定が行われる試料とし、その試料を用いることにより正確な熱物性の測定が可能な熱物性測定方法とする。 - 特許庁

The filtration assembly 10 includes: a sample reservoir 20 for holding a fluid sample to be filtered; a fluid port 38 in fluid communication with the sample reservoir; a filter element 45 disposed in a flow path between the sample reservoir and the fluid port; a filter support surface 31 for supporting the filter element.例文帳に追加

濾過アセンブリ１０は、濾過されるべき流体サンプルを保持するためのサンプルリザーバ２０と、サンプルリザーバと流体的に連通する流体ポート３８と、サンプルリザーバと流体ポートとの間の流路中に配置されるフィルタ要素４５と、フィルタ要素を支持するためのフィルタ支持面３１とを備える。 - 特許庁

After filling the liquid sample into a sample holding hole comprising the through hole and the bottom surface part in the state where the first face of the sampler is faced upward, the lid part is placed, to thereby hold the liquid sample, and measuring light is irradiated from the upper direction or the lower direction to the liquid sample.例文帳に追加

サンプラの第１の面を上に向けた状態で貫通孔と底面部とから成る試料保持孔中に液体試料を充填した後、蓋部を載置することにより液体試料を保持させ、その液体試料に対して上方向又は下方向から測定光を照射する。 - 特許庁