「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a surface-attached contaminant inspection sample recovery device capable of collecting surely surface-attached contaminant adhering to the wall surface or the floor surface without a work for wiping off from the floor surface with a filter paper or the like by a worker without remaining on the surface as much as possible.例文帳に追加

壁面や床面に付着した表面汚染付着物を、作業者が床面から濾紙等で拭き取るなどの作業を行うことなく、かつ出来るだけ表面に残すことなく確実に採取することが出来る表面汚染付着物検査試料回収装置を提供する。 - 特許庁

The heater unit includes a plate-shaped silicon-carbide-containing heater part 1, a sample stand 3 mounted on an upper surface of the heater part 1 so as to mount the heated object and an adhesive 2 adhering the upper surface of the heater part 1 to a surface of sample stand 3 opposed to its heating object mounting surface and has a laminated and integrated structure.例文帳に追加

ヒータユニットは、板状の炭化ケイ素を含むヒータ部１と、被加熱物が載置される、ヒータ部１の上面に載置される試料台３と、ヒータ部１の上面と、試料台３の被加熱物が載置される面に対する反対面とを接着する接着剤２とから構成されおり、積層構造且つ一体化構造を有する。 - 特許庁

To provide a surface state measuring device, capable of easily (in a short time) and accurately measuring the sample surface state (curved surface or micro surface), without having to use a plurality of kinds of measuring devices (using one device) and without having to measure a plurality of parts of the sample and performing averaging processing.例文帳に追加

複数種類の測定装置を使用することなく（１台の装置を用いて）、また試料の複数箇所を測定して平均化処理するといったことなく、容易に（短時間で）且つ精度良く試料表面状態（曲面や微小面）の測定を行うことが可能な表面状態測定装置を提供する。 - 特許庁

The back of the sample 5 is irradiated with pulsed light from a pulse YAG laser 6 in a heating period at the prescribed temperature, and the thermal diffusibilty of the sample 5 is measured from the change of the surface temperature.例文帳に追加

この所定温度加熱期間にパルスＹＡＧレーザ６からパルス光を試料５の裏面に照射し、表面の温度変化から試料５の熱拡散率を測定する。 - 特許庁

In the sample, the incident angle (an angle between a sample surface and X rays) of white X rays 2 is changed thinly within a range of ±2° by a goniometer 6 for adjusting the incident angle.例文帳に追加

試料２は入射角度を調整するためのゴニオメータ６により、白色Ｘ線の入射角（試料表面とＸ線との角度）を±２°の範囲内で細かく変化させられる。 - 特許庁

A carrier tape 2 is bonded to the surface of the sample block 10 and an aligning reference mark 12 is applied to the carrier tape 2 in the peripheral part of the sample block 10 using a punch 7.例文帳に追加

試料ブロック１０の表面にキャリアテープ２を貼り付けた後、ポンチ７を用いて、試料ブロック１０の周辺部でキャリアテープ２に位置合わせ用の基準マーク１２を付ける。 - 特許庁

According to the method, a machining probe 1a (or 1b) of a scanning probe microscope, which has a vertical surface or a vertical edge and is harder than a sample material, is press-fitted into a dent measuring sample to form a dent.例文帳に追加

垂直面または垂直な稜を持った試料材質よりも硬い加工用の走査プローブ顕微鏡探針1a(または1b)を圧痕測定用の試料に押し込んで圧痕を形成する。 - 特許庁

The evanescent wave excites fluorescent pigment in a sample in the well 21, being confined to that near the interface between the top surface 10a of the transparent substrate 10 and the sample.例文帳に追加

このエバネセント波によってウエル２１中の試料中の蛍光色素を励起して、透明基板１０の上面１０ａと試料との境界面近傍の蛍光色素だけを励起させる。 - 特許庁

To easily dispose of cut chips when sample holders are arranged in two positions in a slicer device repeatedly slicing a sample surface layer part and sequentially recording an image and the like of the cross sectional face.例文帳に追加

試料表層部の薄切りを繰返し切断面の画像等を順次記録するスライサ装置において、試料ホルダを二個所に設ける場合に切り屑の処理を容易にする。 - 特許庁

Then the charged particle energy spectrum on the measurement sample surface is measured, the signal intensity ratio is calculated and referred to the calibration curve and the abrasion loss of the measurement sample is determined.例文帳に追加

次いで、測定試料表面の荷電粒子エネルギースペクトルを測定し、特定元素の信号強度比を算出し、検量線と照合して、測定試料の摩耗量を決定する。 - 特許庁

To obtain technology for controlling light in a nano-region, capable of lighting and turning out the nano-region in the surface of a sample as a pinpoint, receiving radient light from the sample, and being utilized effectively.例文帳に追加

試料表面のナノ領域をピンポイント的に点灯・消灯したり、試料からの放射光の受光を可能にし、有効活用できるナノ領域の光制御技術を実現する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that can easily scan a probe in XY directions, can perform control for bringing the probe closer to a sample surface, and can measure the undercut structural section of a sample.例文帳に追加

探針のＸＹ方向へ走査および試料表面へ接近させる制御が簡単で、試料のアンダカット構造部分の計測が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A first portion 53 of the contrast agent layer 52 diffuses into the sample 4 and a second portion 54 of the contrast agent layer 52 remains on the surface 56 of the sample 4 during the predetermined period of time.例文帳に追加

所定時間の間、コントラスト剤層５２の第１の部分５３は試料４内に拡散し、コントラスト剤層５２の第２の部分５４は試料４の表面５６上に残留する。 - 特許庁

To provide a liquid sample cooling device for an analytical device, capable of rapid cooling without the occurrence of dew condensation on the surface of a rack or a sample container, and requiring little energy consumption.例文帳に追加

ラックや試料容器の表面に結露を生じることなく急速冷却が可能で、しかもエネルギー消費の少ない、分析装置用の液体試料冷却装置を提供する。 - 特許庁

In the analysis of a large sample, the cover case 10 from which the lid member 16 is removed is lowered, and the analysis is performed in the state where the sample upper part is protruded from the upper end surface of the cover case 10.例文帳に追加

一方、大形試料を分析する際には蓋部材１６を取り外したカバーケース１０を下降させ、その上端面から試料上部が突出した状態で分析を行う。 - 特許庁

Rotation of the light source unit 29 about the vertical axis is substituted, by the rotation of the sample 24 about the normal line to the surface of the sample 24 by means of a pulse motor 22.例文帳に追加

光源ユニット２９の鉛直軸を中心とする回転は、パルスモータ２２の駆動により、試料２４がその試料面法線を中心に回転することにより、代行される。 - 特許庁

To provide a sample preparing device and sample preparing method capable of sampling a minute foreign substance adhering to a semiconductor device surface and accurately observing and analyzing it.例文帳に追加

半導体装置表面に付着している微小異物を採取し、精度の良い観察、分析を行うことができる試料作製装置および試料作製方法を提供する。 - 特許庁

Next, the intensity of X rays from the unknown sample is corrected by a formula for imparting the attenuation quantity of the intensity of X rays due to the conductive film on the surface of the unknown sample to calculate the approximate value of a quantitative analytic value.例文帳に追加

次に表面の導電性膜によるＸ線強度の減衰量を与える式により、該未知試料からのＸ線強度を補正し定量分析値の近似値を求める。 - 特許庁

In the case of an ion beam that is tilted against a sample surface, the region where the beam is actually irradiated is displayed and the line is processed in consideration of the tilting of the sample against the beam.例文帳に追加

試料表面に対して傾斜したイオンビームの場合にもビームに対する試料の傾斜を考慮して、実際にビームが照射される領域を表示して加工する。 - 特許庁

Furthermore, the second sheath solution introducing flow channel 12 meeting with the sample solution introducing flow channel on the downstream side is set so that the upper surface thereof may be positioned on the same plane as the base of the sample solution inlet flow channel 10.例文帳に追加

また、下流側で合流する第２のシース液導入流路１２は、その上面がサンプル液導入流路１０の底面と同一平面上に位置するようにする。 - 特許庁

To provide a doping device wherein impurities can be introduced so that a sample can electrically keep neutrality by irradiating a neutral particle beam having low energy to the surface of the sample.例文帳に追加

試料の表面に低エネルギーの中性粒子ビームを照射し、試料が電気的に中性を保つように不純物を導入することができるドーピング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can correctly position a probe in a short time to an observation point of a sample without making the probe approach the surface of the sample.例文帳に追加

探針を試料表面にアプローチさせること無く、試料の観察ポイントに対して探針を短時間且つ正確に位置決めさせることが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a preparation method of a sample observed by a transmission electron microscope and reduced in the change in the vicinity of the surface of the original sample.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡で観察するための試料の作製方法に関し、元のサンプルの表面近くの変化が少ない透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To reduce electron rays to an embedding material in a surface analysis method by an EPMA(electronic probe microanalyzer) for a sample embedding material consisting of a sample that is embedded by the embedding material.例文帳に追加

包埋材に包埋された試料からなる試料包埋体に対するＥＰＭＡによる面分析法において、包埋材への電子線照射をできるだけ低減できるようにする。 - 特許庁

In imaging mode, a probe 20 is brought into a contact distance of the sample 12 and the strength of the interaction is measured when the probe 20 and sample surface are scanned relatively.例文帳に追加

画像化モードでは、プローブ２０が試料１２と接触する距離にもっていかれ、プローブ２０と試料の表面とが相対的に走査されるときに、相互作用の強度が測定される。 - 特許庁

In this case, the center part of the magnet, to which the sample tube is inserted, is filled with sterilisation gas of pressure higher than the atmospheric pressure and therefore, the sample having a contact surface with the gas is maintained in a sterilized state.例文帳に追加

この際、試料管が挿入されるマグネット中心部を、大気圧より高い圧力を持った滅菌ガスで充満しガスと接触面を持った試料を滅菌状態に保つ。 - 特許庁

This device is equipped with a search needle 20 for scanning the surface of a sample 16 and a deformation detecting means 21 for detecting deformation relative to the interval between the sample 16 and the search needle 20.例文帳に追加

この表面測定装置は、試料１６の表面を走査する探針２０と、試料と探針の間隔に係る変位を検出する変位検出手段２１を備える。 - 特許庁

To provide an evaluating method of an internal defect of a sample capable of exactly evaluating the existence of the defect, even when the sample has the defect even at a position considerably deep from the surface.例文帳に追加

表面より十分に深い位置にまで欠陥を有する試料であっても、欠陥の有無を的確に評価できる試料内部欠陥の評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe capable of observing highly sensitively a surface shape of a sample having a high aspect ratio of irregularity, and capable of detecting an electric characteristic of the sample.例文帳に追加

アスペクト比の高い凹凸を有する試料の表面形状を感度良く観察することが可能であるとともに、試料の電気特性を検出することが可能であるプローブを提供する。 - 特許庁

To provide a test stand constituted so that the surface of a sample is not subjected to percussion when the sample is rotated and capable of acquiring accurate data.例文帳に追加

試料を回転させる際に試料表面が歳差運動を生じないようにし、試料の回転などにより測定する場合に正確なデータが取得できる試料台の提供。 - 特許庁

To provide an ultrasonic image display device capable of confirming the fine structure of a sample surface and capable of easily confirming the stereoscopic structure on the depth side of the sample.例文帳に追加

試料表面の微細構造を確認することができ、さらに、試料の奥行き側の立体的な構造を容易に確認することができる超音波画像表示装置を提供すること。 - 特許庁

Both sample inside information and surface information are observed in the same view field, since an irradiation X-ray and an irradiation electron beam to the sample are thereby projected on the same axis.例文帳に追加

これにより試料への照射Ｘ線と照射電子線が同軸上に落射されるため、同一視野で試料内部情報、表面情報の両方を観察することができる。 - 特許庁

To measure a correct secondary electron current by cleaning the surface of a sample in advance when the secondary electron current generated by secondary electrons emitted from a sample is measured.例文帳に追加

試料から放出された二次電子による二次電子電流を測定する際に、前もって試料表面をクリーニングして正確な二次電子電流を測定できる技術を提供する。 - 特許庁

An ultraviolet-ray is applied on the sample 4 from a mercury lamp 6, and the image of the photo-electrons from the surface of the sample 4 is focused on a photo-electron detector 17 by the electron lenses 13, 14.例文帳に追加

水銀ランプ６から試料４に紫外線が照射され、試料４の表面からの光電子が電子レンズ１３，１４により光電子検出器１７に結像される。 - 特許庁

With this, an evaporation film is laminated on the surface of the sample at the vacuum evaporation device and the sample 6 can be immediately moved to the focusing ion beam machining/observation apparatus 2.例文帳に追加

これにより、真空蒸着装置で蒸着膜を試料表面に積層して直ぐに該試料６を収束イオンビーム加工観察装置２に移動させることが可能となる。 - 特許庁

To provide an ion milling device and method capable of directly cooling a surface of a sample irradiated with an ion beam at the time of milling by irradiating the sample with the ion beam.例文帳に追加

イオンビームを試料に照射してミリングを行う際、試料におけるイオンビームの照射面を直接冷却することができるイオンミリング装置とイオンミリング方法とを提供する。 - 特許庁

The ionization device which is an ion source used for ionizing a sample is equipped with (a) a laser and (b) a surface holding the sample and including a carbon nanotube material.例文帳に追加

本発明のイオン化装置は、サンプルをイオン化するために使用されるイオン源であって、ａ）レーザと、ｂ）前記サンプルを保持し、カーボンナノチューブ材を含む面とを備えていることを特徴とする。 - 特許庁

a method of measuring the number of cells in a sample, the percentage of live cells in a sample, and certain characteristics of cells, such as size, shape, and the presence of tumor markers on the cell surface. 例文帳に追加

試料中の細胞の数、試料中の生きている細胞の割合、細胞の特徴（大きさ、形状、表面の腫瘍マーカーの有無など）などを計測するための手法。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

An output of a differential amplifier 6 corresponds to a force due to an interaction between the probe 1 and the sample 3, it is given to a display means 14, and a surface shape of the sample 3 is obtained.例文帳に追加

差動増幅器６の出力は、探針１と試料３との間の相互作用による力に対応し、表示手段１４に与えられて試料３の表面形状が得られる。 - 特許庁

The heat source 30 is arranged to one focal point of the rotary oval surface, and a sample S is arranged at the other focal point to converge the infrared rays from the heat source 30 to the sample.例文帳に追加

この回転楕円面の一方の焦点円に熱源３０を配置し、他方の焦点に試料Ｓを配置することで、熱源３０からの赤外線を試料に収束させる。 - 特許庁

In this storage container for a medicine or a sample, a transparent label 4 that produces color by means of laser is attached on the outer surface of a transparent container body 2 for storing a medicine or a sample.例文帳に追加

医薬品又は検体を入れる透明な容器本体２の外面に、レーザーによって発色する透明ラベル４が装着されている医薬品又は検体用収納容器。 - 特許庁

To provide a cross section processing method by which the cross section of a sample with an organic substance formed on the surface can be obtained in proper precision, and to provide a manufacturing method of a cross section observation sample.例文帳に追加

表面に有機物が形成されている試料の断面を精度よく得ることができる断面加工方法及び断面観察試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a photographing device for measuring optical anisotropy capable of obtaining the actual image of a sample in each condition, while combining such conditions as normal vector of a reflection surface of the sample, orientation of the sample, phtographing angle of a camera, and illuminating direction of lighting.例文帳に追加

試料の反射表面の法線ベクトル、試料の向き、カメラの撮影角度、照明の照射方向の条件を組み合わせながら、各条件での試料の実画像を取得できる光学異方性測定用の撮影装置を得る。 - 特許庁

The emission spectrophotometer 1 of the present invention comprises a sample supporting base 10 with an opening 13, and an electrode 4 provided below an exposed portion 3d, which is exposed from the opening 13, of a metal sample 3 placed on the surface 10a side of the sample supporting base 10.例文帳に追加

本発明の発光分光分析装置１は、開口１３を有する試料支持台１０と、その表面１０ａ側に載置した金属試料３の開口１３からの露出部分３ｄの下方位置に設けた電極４とを有する。 - 特許庁

The chip is constituted so as to be provided with a chip substrate 1 and a groove part 2 which is formed on the surface of the chip substrate 1, in which a first living body sample is circulated and in which a second living body sample complementarily reacted with the first living body sample is arranged.例文帳に追加

チップ基板１と、チップ基板１の表面に形成され第１の生体試料を流通させるとともに該第１の生体試料と相補的に反応する第２の生体試料を配置するための溝部２とをそなえて構成する。 - 特許庁