「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an electron bombarded recoil hydrogen analyzer that can accurately and easily analyze hydrogen contained on the surface of a sample and in the sample by 'on the spot' observation being practically useful.例文帳に追加

実用上有用な「その場」観察によって、試料の表面および内部に含まれる含有水素を正確にかつ簡便に分析することができる電子衝撃型反跳水素分析器を提供する。 - 特許庁

To make a conveyance device movable a specific point on the sample surface shown by coordinate values before bending deformation to a prescribed target position, even if a retained sample is bent by its own weight.例文帳に追加

保持した試料が自重で撓んでいる場合であっても、撓み変形前の座標値で表された試料表面上の特定点を所定の目標位置に移動させることができるようにする。 - 特許庁

A semiconductor substrate, into which impurities are introduced, is prepared and a sample is cut from the semiconductor substrate by a cleavage method or a mechanical grinding method so as to expose the inspection surface of the sample (step SP11).例文帳に追加

不純物が導入された半導体基板を準備して、へき開法又は機械研磨法によって、検査面が露出されるように半導体基板から試料を切り出す（ステップＳＰ１１）。 - 特許庁

To provide a weathering test apparatus which can suppress temperature rise of a sample, stably change the intensity of light irradiated on the sample surface, and maintain the same water spray condition.例文帳に追加

試料の温度上昇を抑制でき且つ試料面への光の照射強度を安定に変更することができ且つ水の噴霧条件を同一に保つことが出来る耐候性試験装置を提供する。 - 特許庁

The distribution in the sample depth direction of the adsorbed material is displayed by an exponential function, and the adsorption state of the material adsorbed on the sample surface is determined, or the adsorbed material is quantified.例文帳に追加

また、吸着物質の試料深さ方向の分布を指数関数で表示し、試料表面に吸着した物質の吸着状態判定を行ったり、吸着物質の定量を行う。 - 特許庁

An analytical sample 10 is contained in the recess 2 of a supporting substrate 1a and secured thereto while touching the surface 10a of the analytical sample 10 tightly to the bottom face of the recess 2.例文帳に追加

支持基板１ａの凹部２内に分析試料１０を収容して、分析試料１０の表面１０ａを凹部２の底面に密着させて、分析試料１０を支持基板１ａに固定する。 - 特許庁

The ground pin 12 is used to ground a sample to be subjected to charged particle beam drawing, and is paramagnetic, and a contact portion 12c which comes into contact with the sample has a curved surface.例文帳に追加

本発明によるアースピンは、荷電粒子ビーム描画に供される試料を接地するためのアースピン１２であって、常磁性を示し、試料と接触する接触部１２ｃが曲面を有する。 - 特許庁

To provide a sample object constitution member capable of constituting the sample object with which the reflection on an undesirable surface of detection light of an autofocusing device is suppressed.例文帳に追加

観察に悪影響を与えることなく、ＡＦ装置の検出光の不所望な面での反射が抑えられた標本体を構成することを可能にする標本体構成部材を提供する。 - 特許庁

This pharmaceutical or the foods sample is simply provided at low cost by transferring a part to be a logo on a sample surface using a transfer seal on the market so as to have an external appearance favorably compared with the real one.例文帳に追加

市販されている転写シールを用いるによって、安価で簡易に標章となる部分がサンプル表面上に転写され、しかも本物と美観が変わらない製剤または食品サンプル。 - 特許庁

A dry analysis element which is provided with a sample storage part on a surface of a water non-permeation sheet and in which reagent required for analysis is applied and dried in the sample storage part is provide for measurement.例文帳に追加

上記課題は、水不透過性シートの表面に検体収容部が設けられ、該検体収容部に分析に必要な試薬が塗設乾燥されている乾式分析素子によって達成される。 - 特許庁

The side surface of the columnar sample S such as a rod material or the like is arranged in a counter relation to the electrode installed in a glow discharge tube 1 in a sample chamber (treatment chamber) 3 into which an argon gas (inert gas) is supplied.例文帳に追加

アルゴンガス（不活性ガス）が供給される試料室（処理室）３内で、グロー放電管１が備える電極に対して、棒材等の円柱状の試料Ｓの側面を対向配置する。 - 特許庁

To provide an element measuring technique using a secondary ion mass analyzer capable of accurately measurement an element in the measurement target region in a sample while preventing the surface roughening of the sample.例文帳に追加

試料の表面荒れを防止しつつ、試料中の測定対象領域における元素を正確に測定することができる、二次イオン質量分析装置を用いる元素測定技術を提供する。 - 特許庁

A substance whose magnetism changes from diamagnetism to paramagnetism or ferromagnetism, according to the existence of an stimulus from outside, is either added into the measuring sample, or applied to the surface of the sample tube.例文帳に追加

外部からの刺激の有無に応じて、磁性が反磁性から常磁性または強磁性に変化する物質を、測定試料中に混合するか、または、試料管表面に塗布するようにした。 - 特許庁

An accelerated voltage is generated between an ion source and a sample P, and ion beam B released from the ion source are focused and irradiated on a given processing position P3 to process the surface of the sample P.例文帳に追加

イオン源と試料Ｐとの間に加速電圧を生じさせ、イオン源から放出されるイオンビームＢを集束し所定の加工位置Ｐ３に照射させて、試料Ｐの表面を加工する。 - 特許庁

Accordingly, excess adhesive 6 for bonding the sample S is trapped in the groove 4, the sample S can be fixed horizontally at the bottom of the recess, and the adhesive 6 does not stick to the surface of the holding base 2.例文帳に追加

これにより、試料Ｓを接着するときの余剰の接着剤６が溝４に取り込まれ、凹部底面に試料Ｓを平行に固定できるし、保持台２の表面に接着剤６が付着しない。 - 特許庁

A sample is directly irradiated with an evanescent wave 32 running out on the surface of an optical element 21 in the laser beam 31, and light transmitted or diffused in the sample is directly condensed by the light receiving element 2.例文帳に追加

このレーザ光３１のうち、光学素子２１表面上に染み出したエバネッセント波３２で試料に直接照射し、試料内を透過または拡散した光を直接受光素子２で集光する。 - 特許庁

When positioning a wafer 1 by putting it on a sample table 3, an end 4a of a wafer receiver 17 (lever mechanism) 4 is contacted with one portion of the wafer 1 at an upper point than the top surface of the sample table 3 to receive the wafer 1.例文帳に追加

ウエハ１を試料台３に載せて位置決めするに際し、ウエハ受け（梃子機構）４の先端４ａが試料台３の上面より上方でウエハ１の一部に接触してウエハを受ける。 - 特許庁

On all the second and after measuring points, an electrode potential, when the displacement current from the sample holding part 11 becomes equal to the reference current (is), is obtained as surface potential of the sample 9.例文帳に追加

そして、２番目以降の全ての測定点では、試料保持部１１からの変位電流が基準電流ｉｓに等しくなるときの電極電位が試料９の表面電位として取得される。 - 特許庁

To provide an absolute surface reference which makes it possible to automatically correct a shift in the position of a glass sample relative to one plane.例文帳に追加

一つの平面に対するガラス検体の位置の変動を自動的に補正し得る絶対的表面基準を提供する。 - 特許庁

Thereby, the magnetic head for testing having dirt (surface state) which is the same as the sample magnetic head subjected to the floating test is completed.例文帳に追加

これにより、浮上試験を経た試料磁気ヘッドと同様の汚れ（表面状態）を有する試験用磁気ヘッドが完成する。 - 特許庁

The second reflectivity spectrum is analyzed, using the diffuse reflection characteristic in order to determine the characteristics of the surface layer of the sample 22.例文帳に追加

サンプル２２の表面層の特性を求めるために散漫反射特性を使用して、第２の反射率スペクトルが解析される。 - 特許庁

Through this two-dimensional scanning, secondary electrons (se) generated from the surface of the sample 5 are detected by a detector 18.例文帳に追加

この２次元走査に基づいて試料５の表面から発生した２次電子ｓｅは、検出器１８によって検出される。 - 特許庁

The growing degree of the dew is determined based on a changing rate of a particle size of the dew on the sample surface measured at each prescribed time.例文帳に追加

露の成長度合いは、所定時間ごとに測定された試料表面上の露の粒径の変化割合に基づいている。 - 特許庁

DEVELOPMENT OF HIGHLY SENSITIVE FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD BY DIRECT IRRADIATION WITH EXCITATION LIGHT TO SURFACE FUNCTIONAL PARTICLE OBTAINED BY CONDENSING SAMPLE MATERIAL例文帳に追加

試料物質を濃縮した表面機能性粒子への励起光の直接照射による高感度蛍光分析法の開発 - 特許庁

In addition, light emission intensity is enhanced by placing a tape 23 transmitting the laser light 4 on the surface of the analysis object sample 1.例文帳に追加

さらに、分析対象試料１の表面に、レーザ光４を透過するテープ２３を置いて発光強度を高めている。 - 特許庁

The sample stand 10 has the first support part 20 and the second support part 30 integrally coupled in a body on the top surface 10b.例文帳に追加

試料台１０は、天面１０ｂに一体的に結合された第１の支持部２０及び第２の支持部３０を有する。 - 特許庁

To provide a plasma processing apparatus which allows the improvement of the evenness of processing in a direction of a sample surface, and a plasma processing method.例文帳に追加

試料の面方向について処理の均一性を向上させたプラズマ処理装置またはプラズマ処理方法を提供する。 - 特許庁

To make constant an interval for taking in data in a slicer apparatus for successively taking in the data of a cut surface, while slicing a sample.例文帳に追加

試料をスライスしながら、その切断面のデータを順次取り込むスライサ装置において、データ取り込みの間隔を一定にする。 - 特許庁

A reducing lens of this sample evaluating device is adjusted so that an intermediate image forming surface M is positioned in the center of the front stage power.例文帳に追加

中間結像面Ｍは、前段パワーの中心に位置するように試料評価装置の縮小レンズが調整される。 - 特許庁

A soil sample is collected from the soil of a field from the surface to the depth of 5 cm, and the collected soil is dried at 60°C by using a ventilation dryer.例文帳に追加

圃場の表面から深さ5cmまでの土壌から土壌試料を採取し、通風乾燥機を用いて60℃で乾燥する。 - 特許庁

To obtain a maximum-contrast image in a short time by setting an aperture diaphragm corresponding to the height of ruggedness on the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面の凹凸高さに対応して開口絞りを設定し、最大コントラストの画像を短時間で取得する。 - 特許庁

To provide a plasma processing apparatus with the uniformity of flow distribution of processing gas in a surface direction of sample improved.例文帳に追加

試料の面方向についての処理用ガスの流量の分布の均一性を向上させたプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

The radical plasma-etches the damage layer generated on the cut surface of the thin piece sample 30 by the convereged ion beam working.例文帳に追加

フッ素ラジカルは集束イオンビーム加工によって薄片試料（３０）の切削端面に生じたダメージ層をプラズマエッチング処理する。 - 特許庁

To accurately measure a contact angle, and to easily measure dynamic surface tension by using a small quantity of sample liquid.例文帳に追加

少量の試料液体を用いて接触角を正確に測定するとともに、動的表面張力を簡便に測定する。 - 特許庁

Hereby, the state of the sample surface is not disturbed by light from the light source, to thereby improve measurement precision.例文帳に追加

これにより、試料表面の状態が光源の光によって乱されるようなことがなくなり、測定精度が向上する。 - 特許庁

Furthermore, the surface potential distribution of the sample is found, on the basis of a plurality of detection results of the detector by different acceleration voltage.例文帳に追加

さらに、異なる加速電圧での検出装置の複数の検出結果に基づいて、試料の表面電位分布を求める。 - 特許庁

A second surface contour of the sample is determined from the response of the probe and the tilt angle of the stage during the reverse scan.例文帳に追加

試料の第２の表面輪郭が、逆方向走査の間のプローブの応答及びステージの傾斜角度から決定される。 - 特許庁

The container 50 is fixed to an under surface of a substrate 12 of a sample assembly 10 via an electrically insulating heat transfer sheet 68.例文帳に追加

ヒータ容器５０は、電気絶縁性の伝熱シート６８を介して、試料組立体１０の基板１２の下面に固定される。 - 特許庁

The surface of the sample 7 including the circular pattern is irradiated with illumination light from an illumination device 16 through the half mirror 13.例文帳に追加

照明装置１６からの照明光は、ハーフミラー１３を通してこの円形パターンを含む試料７の表面を照明する。 - 特許庁

The energy-filter drift tube is constructed so as to match the scattered electrons according to the polar angle of the orbit from the surface of the sample.例文帳に追加

エネルギーフィルタ・ドリフトチューブは、散乱電子を標本表面からの軌道の極角に従って一致させるように構成される。 - 特許庁

To provide a surface-analyzing apparatus which can efficiently analyze and measure target points on a sample in a short time.例文帳に追加

短時間で効率的に試料上の目的部位の分析測定を行えるようにした表面分析装置を提供する。 - 特許庁

To keep a vertical state, even when the thick plate part of a sample is used as the bottom surface, and to perform accurate measurements on the coefficient of thermal expansion.例文帳に追加

試料の板厚部分を底面とした場合でも垂直状態を保持し、精度良い線膨張率の測定を行う。 - 特許庁

A sample block 10 is held on a moving stage 31, and a cutter blade 11 is placed near an upper surface of the moving stage 31.例文帳に追加

標本ブロック１０は移動ステージ３１上に保持され、カッタブレード１１は移動ステージ３１の上面近くに配置される。 - 特許庁

At this time, by having the illumination light deflected by a scanner unit 27, an observation surface of the sample 12 is scanned by the illumination light.例文帳に追加

このとき、走査ユニット２７により照明光が偏向されることで、照明光で標本１２の観察面が走査される。 - 特許庁

To make accurately measurable the reflection rate on the surface of a sample having light transparency.例文帳に追加

光透過性を有する試料の表面の反射率を正確に測定することが可能な反射率測定装置を提供する。 - 特許庁