「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

Its pore surface is modified and refined by using a coating and a chemical modifying material suitable for a desired separated sample for the monolithic structure.例文帳に追加

該モノリス構造体に所望の分離試料に適したコーティング、化学修飾材を用いて、その細孔表面を修飾改質する。 - 特許庁

The parallel beams 26 are transmitted through a transmission type X-ray detector 28 and enter the surface of the sample 30 under total reflection conditions.例文帳に追加

この平行ビーム２６は透過型Ｘ線検出器２８を透過してから，試料３０の表面に全反射条件で入射する。 - 特許庁

A scintillator layer 12 of ZnS (Ag) or the like is set on a surface of a wrapping film 10 for covering a sample face 20a of the smear filter paper 20.例文帳に追加

スミヤろ紙２０の試料面２０ａを覆うラッピングフィルム１０の表面にＺｎＳ（Ａｇ）などのシンチレータ層１２を設ける。 - 特許庁

To enable high-precision colorimetry by correcting the result of measurement according to the angle of inclination of a measuring apparatus body with a sample surface.例文帳に追加

試料面に対する測定器本体の傾斜角度に応じて測定結果を補正することにより、高精度の測色を可能にする。 - 特許庁

A heating light source 13 is arranged in an internal space of a reflector 15 comprising at least a face opposing the sample and a wall surface extended to a sample side from the face, and a transparent plate material 22 is arranged on the light source side.例文帳に追加

本発明は、少なくとも試料と対向する面と、この面より試料側に延長する壁面とによるリフレクター１５の内部空間に加熱用光源１３を配置し、光源側に透明板材２２を配置する。 - 特許庁

The radiant energy emission mechanism has the radiant energy emission face 12 facing the sample for radiating radiant energy with uniform intensity to the substantially whole surface of the sample.例文帳に追加

輻射エネルギ放出機構は輻射エネルギ放出面１２を有しており、この輻射エネルギ放出面は、試料に対向して試料の表面の略々全域に均一強度の輻射エネルギを照射するようにしてある。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sample-such as a food sample, an imitation, and an ornament-by imitating the three-dimensional shape, curved surface, concavity/convexity, hue, pattern, gloss and the like of a real product.例文帳に追加

本発明は、食品サンプル、擬似見本及び装飾品等において、本物の製品の立体形状や曲面や凹凸並びに色相や模様及び光沢等を似せてサンプル品を製造する方法に関する。 - 特許庁

In the irradiation process, the second surface 10b upward directed by the rotation process of the sample 20 is irradiated with the converged ion beam, and a membrane region 20a is formed at the sample 20 in the extending direction of the contact.例文帳に追加

照射工程において、回転工程により上面を向いた第２面１０ｂに対して集束イオンビームを照射し、コンタクトの延在方向に沿うように試料２０に薄膜領域２０ａを形成する。 - 特許庁

The detected difference between liquid surface height and suction height H3 is calculated by a control part (control means), and when this difference is larger than an upper limit value, a sample is determined as being excessive, and the dispensation of the sample is stopped.例文帳に追加

検知された液面高さと吸引高さＨ３との差を制御部（制御手段）により算出し、この差が浸漬上限値より大きい場合には、サンプル量が過剰であると判断し、サンプル分注を止める。 - 特許庁

To provide an inexpensive anemometer for a weather/light resistance testing machine capable of measuring wind speed accurately even when a sample is rotated around a light source without disturbing wind passing along the sample surface.例文帳に追加

安価で、試料表面を通過する風を乱すことなく、試料が光源の周囲を回転した場合においても、風速を精度良く測定することが可能な、耐候光試験機用の風速計を提供する。 - 特許庁

When a sample having a low reflective index on the sample surface is observed, an operator moves an optical microscope 21 along an optical axis O so as to focus an illuminating light transmitted by a half mirror 23 onto the cantilever.例文帳に追加

試料表面の反射率が低い試料を観察するときは、オペレータは、ハーフミラー２３を透過した照明光がカンチレバ上にフォーカスするように、光学顕微鏡２１を光軸Ｏ方向に沿って移動させる。 - 特許庁

A coating material 103 formation face of a base 101 is brought into contact with a polishing cloth and polished, and the coating material 103 on a top of a sample piece 102 is removed to expose a surface 121, which is a polishing object of the sample piece 102.例文帳に追加

研磨布に基台１０１の被覆材１０３形成面を当接して研磨し、試料片１０２の上部の被覆材１０３を除去し、試料片１０２の研磨対象となる表面１２１を露出させる。 - 特許庁

An analytical chip to analyze a measuring object substance in a liquid sample comprises a substrate and a channel formed on a surface of the substrate to flow the liquid sample from an upstream side to a downstream side.例文帳に追加

液体試料中の測定対象物質を分析するための分析チップであって、基体と、該基体の表面に形成された、上流側から下流側へ前記液体試料を流すための流路と、を備える。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a thin sample for a transmission type electron microscope in which a coat layer is unlikely to be released from a particle surface and there is no damage in the inside of particles and the coat layers, and an observation method of the thin sample.例文帳に追加

粒子表面からコート層が剥がれ難く、粒子内部とコート層に損傷のない透過式の電子顕微鏡用薄片試料の作製方法と薄片試料の観察方法を提供する。 - 特許庁

After an array probe is arranged on the outer peripheral surface of the sample welded steel pipe (S2), an ultrasonic beam is directly allowed to enter the flaw without being reflected from the outer and inner peripheral surfaces of the sample welded steel pipe (S3).例文帳に追加

サンプル溶接鋼管の外周面上にアレイ探触子を配置後（Ｓ２）、超音波ビームをサンプル溶接鋼管の外周面及び内周面で反射させることなく直接欠陥に入射する（Ｓ３）。 - 特許庁

To provide a charged particle beam lithographic apparatus that precisely converges charged particle beams on the surface of a sample by measuring the height of the sample with sufficient accuracy.例文帳に追加

試料の高さを十分な精度で測定することにより、荷電粒子ビームを高い精度で試料の表面に収束させる荷電粒子ビーム描画装置およびそれを用いた描画方法を提供することにある。 - 特許庁

A measurement cell 5 is constituted so that the surroundings of the powder sample except on the surface of the measurement cell 5 attached to an integration ball 3 are surrounded by a light absorption member which absorbs the light with which the powder sample is irradiated.例文帳に追加

測定セル５は、積分球３に付設された測定セル５の面以外の粉末試料の周囲を、粉末試料に照射された光を吸収する光吸収部材で囲むように構成される。 - 特許庁

In the first washing step, as it is immediately after the dispensing nozzle has come in contact with the sample, the dispensing nozzle can be easily washed because it is washed before the sample comes in contact with air and adheres to the outer surface of the dispensing nozzle.例文帳に追加

第一洗浄工程では、分注ノズルが検体に接触した直後で、検体が空気に触れて分注ノズルの外壁面に固着する前に洗浄するので分注ノズルの洗浄を容易に行える。 - 特許庁

A digital image at a first excitation time and a digital image at a second excitation time are obtained by irradiating a sample with a first excitation light and a second excitation light respectively and photographing a surface of the sample at the respective times (S1-S4).例文帳に追加

試料に対して第１励起光及び第２励起光をそれぞれ照射し、試料の表面をそれぞれ撮影して第１励起時デジタル画像及び第２励起時デジタル画像を取得する（Ｓ１〜Ｓ４）。 - 特許庁

A base plate 3 is equipped with a reaction vessel 5, each channel 13, 15, 17, 19 connected to the reaction vessel 5, and a sample vessel channel 35a connected to a sample vessel 35, and one end of each channel is extracted to the under surface.例文帳に追加

ベースプレート３は、反応容器５、反応容器５に接続された各流路１３，１５，１７，１９、サンプル容器３５に接続されるサンプル容器流路３５ａを備え、各流路の一端が下面に引き出されている。 - 特許庁

By this constitution, the shape of the contaminated region, dropping mark or the like on the surface of the sample 3 can be clearly observed by the visual confirmation device 11 while the sample 3 is set to the X-ray analyzer 1.例文帳に追加

このように構成することにより、Ｘ線分析装置１に試料３をセットしたままで、試料表面の汚染部位や点滴痕等の形状を暗視野のもとで視認装置１１により明瞭に観察できる。 - 特許庁

Similarly, the intensity of the reflected light from the surface of the sample near the recessed part is detected while moving the sample in the optical axis direction, so as to detect a position in the optical axis direction, where the intensity of the reflected light becomes the largest.例文帳に追加

そして、凹部近傍の試料表面についても同様に、試料を光軸方向に移動させながら反射光強度を検出し、反射光強度が最大となる光軸方向の位置を検出する。 - 特許庁

When the solid sample is analyzed by using the X-ray fluorescence analysis system, the surface of the solid sample is covered by an organic film with the thickness of not more than 400 μm which is composed of only elements whose atomic number is not more than eight.例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析装置による固体試料の分析の際に、原子番号８以下の元素のみから構成され、膜の厚みが４００μｍ以下である有機膜で、当該試料の表面を覆う。 - 特許庁

In the sample holder 6, a fixing member 11 is adopted, capable of sandwiching the sample container 9 by the holding part 10, by pressing the holding part 10 from the outer surface 10a of the holding part 10 toward the inside of the holding part 10.例文帳に追加

試料ホルダ６には、保持部１０の外面１０ａから保持部１０の内側に向かって保持部１０を加圧して、保持部１０により試料容器９を挟持する固定部材１１が採用されている。 - 特許庁

A microscope stage (14) includes a platform (16), a sample holder (18) mounted on the platform (16) and a positioning device (20) for moving the sample holder (18) in a displacement surface parallel to the platform (16).例文帳に追加

プラットフォーム（１６）と、プラットフォーム（１６）に載置される試料ホルダ（１８）と、プラットフォーム（１６）に平行な変位面内で試料ホルダ（１８）を移動させるための位置決め装置（２０）を備える顕微鏡ステージ（１４）が記載される。 - 特許庁

The method contains (a) a step for forming a non-blockading opening on the skin surface from which a blood sample is extracted and (b) a step for extracting the blood sample from the non-blockading opening by being supported with vacuum and skin extension.例文帳に追加

方法は（ａ）血液サンプルを抜き取る皮膚面に非閉塞開口を形成するステップ及び（ｂ）皮膚の非閉塞開口から血液サンプルを真空及び皮膚伸張の補助により抜き取るステップを含む。 - 特許庁

A photomultiplier 14 photoelectrically converts light coming from the sample 9 irradiated with the laser beam and passing through a confocal pinhole 11 arranged at a conjugate position to a surface irradiated with the laser beam on the sample 9.例文帳に追加

フォトマルチプライヤ１４は、レーザ光の照射された標本９から到来し、標本９におけるレーザ光の照射面と共役な位置に配置される共焦点ピンホール１１を通過した光を光電変換する。 - 特許庁

A secondary electronic signal obtained from the sample 9 is detected by a detector 14a and/or a 14b, and an image of the sample is displayed on a first display surface area of an image display device 15 on the basis of the detection.例文帳に追加

試料９から得られる二次電子信号は検出器１４ａ及び／又は１４ｂにより検出され、これにもとづいて像表示装置１５の第１表示面領域には試料像が表示される。 - 特許庁

A minute flow channel groove 6 used as a flow channel for a liquid sample having a width and a depth of several hundred mm at most and holes 3 and 4 for introducing and discharging the sample are formed on one surface of a glass substrate 1.例文帳に追加

ガラス基板１の片面には、数１００μｍ以下の幅、深さを持つ液体試料用流路として用いる微小な流路溝６と試料導入及び排出のための穴３，４が形成されている。 - 特許庁

To reliably analyze a failure of a sample W or evaluate the material thereof by measuring the surface potential in a different state such as a non-operation state and an operation state of the sample W such as a multilayer ceramic device.例文帳に追加

積層セラミックデバイス等の試料Ｗの非動作状態及び動作状態等の異なる状態での表面電位を測定することにより、試料Ｗの故障解析又は材料評価を確実に行う。 - 特許庁

CO generated in the second determining process S14 corresponds to the amount Z of total oxygen corresponding to the sum of the amount X2 of oxygen adhering to the surface of the Si sample 38 and the amount Y of oxygen in the sample.例文帳に追加

第二定量工程Ｓ１４において発生するＣＯは、Ｓｉ試料３８の表面付着酸素量Ｘ２及び試料中酸素量Ｙの合計に相当する全酸素量Ｚに対応している。 - 特許庁

The disc 1 comprises base boards 2 and 3, optically detectable coded information located on or within the base boards 2 and 3, and a sample support surface for supporting the biological, chemical or biochemical sample 5.例文帳に追加

ディスク（１）は、基盤（２、３）と、光学的に検出可能で基盤（２、３）の表面または内部に位置する暗号化情報と、生物学的、化学的、又は生化学的なサンプル（５）を支持するサンプル支持表面とを備える。 - 特許庁

A focal position is regulated to arrange the surface of a sample in an upper limit position of the depth of a focus or in a position slightly lower than the upper limit position when observing the sample in this scanning charged corpuscular beam device.例文帳に追加

本発明の走査荷電粒子線装置によると、試料の観察時に、試料の表面が焦点深度の上限の位置に又は上限の位置より僅か下方に配置されるように、焦点位置を調整する。 - 特許庁

The three-dimensional shape data of the base object 10 are input to a computer as the data of a polygon or Bezier curved surface, and a plurality of sample points Q1 to Q5 are defined on an object surface 11 (a).例文帳に追加

基本物体１０の三次元形状データを、ポリゴンやBezier曲面のデータとしてコンピュータに入力し、物体表面１１に多数のサンプル点Ｑ１〜Ｑ５を定義する(a)。 - 特許庁

To provide a system for measuring surface resistance value, utilizable for evaluation or design of a sample of an electromagnetic shield material or the like, capable of acquiring accurately an estimated value of a surface resistance value not depending on a measuring device.例文帳に追加

電磁シールド材などの試料の評価や設計に利用できる、測定装置に依存しない面抵抗値の推定値を精度良く得られる面抵抗値測定システムを提供する。 - 特許庁

To solve such a problem that the surface potential and surface shape of a sample cannot be stably measured regardless of the fluctuation of resonance frequency of a spring.例文帳に追加

この発明は、バネの共振周波数の変動に無関係に安定して試料の表面電位と表面形状を測定することができないという課題を解決しようとするものである。 - 特許庁

The refractive index measuring instrument (10) is constituted to measure the refractive index (n) of a sample (P) having an incident surface (S1) and an emitting surface (S2) both of which constitute a vertical angle (θ).例文帳に追加

屈折率測定装置（１０）は、頂角（θ）を構成する入射面（Ｓ１）と射出面（Ｓ２）とを有する試料（Ｐ）の屈折率（ｎ）を測定する屈折率測定装置（１０）である。 - 特許庁

Equal hue curved surface data consists of a plurality of pieces of sample data on an equal hue curved surface crossing with an a*b* plane by a crossing curved line P and extending in the direction of an achromatic axis (L*).例文帳に追加

等色相曲面データは、ａ^＊ｂ^＊平面と交差曲線Ｐで交差して無彩色軸方向（Ｌ^＊）に伸びる等色相曲面上の複数のサンプルデータから構成される。 - 特許庁

When the mask 12 is lowered to a measuring surface 28 and abuts against the ATR prism of the ATR apparatus, the opening part 12a is positioned on the sample coating surface 22a of the ATR prism.例文帳に追加

マスク１２が測定面２８に降ろされて、マスク１２がＡＴＲ装置のＡＴＲプリズムに当接したとき、開口部１２ａはＡＴＲプリズムの試料塗布面２２ａに位置する。 - 特許庁

The scanning direction of electron beam is rotated in a direction reverse to the rotational distortion caused by the focus correction of an object lens for correct the distortion, when observing the oblique sample surface, the focus correction is performed, so that a whole surface is focus, to secure an image which does not have curvature distortions.例文帳に追加

電子ビームの走査の方向を、対物レンズの焦点補正に伴って発生する回転歪みと逆方向に回転させることにより歪みを補正する。 - 特許庁

This biochip is preferably constituted so as to flow a sample-containing liquid onto the surface to which molecules are fixed of the transparent substrate and can be suitably used for measuring a surface plasmon.例文帳に追加

このバイオチップは、透明基板の分子を固定化する面の表面に、サンプルを含む液を流すことができることが好ましく、表面プラズモン測定に好適に用いることができる。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus which are improved, in order to measure a dimension of a periodic feature on a surface of a sample based on a detection of X-rays scattered from the surface.例文帳に追加

表面から散乱したＸ線の検出に基づいて、試料の表面上における周期構造の寸法を測定するための、改善された方法および装置を提供する。 - 特許庁

To solve a problem that a surface potential and a surface shape of a sample are not able to be measured stably irrespective of fluctuation of a resonance frequency of a spring.例文帳に追加

この発明は、バネの共振周波数の変動に無関係に安定して試料の表面電位と表面形状を測定することができないという課題を解決しようとするものである。 - 特許庁

This laser emission spectrophotometer for conducting analysis of constitutive elements in an analyzed sample using an emission spectrophotometer, by irradiating a surface of the analyzed sample with high energy density of laser using giant pulse laser to excite the element on the surface of the analyzed sample and to emit light is provided with an optical system for irradiating diagonally the analyzed sample with the high energy density of laser beam provided by converging the giant pulse laser.例文帳に追加

ジャイアントパルスレーザーを用いて、被分析試料表面に高エネルギー密度のレーザーを照射することにより被分析試料表面の構成元素を励起、発光させ、発光分光分析装置を用いて、被分析試料の構成元素分析を行うレーザー発光分光分析装置において、ジャイアントパルスレーザーを集光して得られる高エネルギー密度のレーザー光を、被分析試料に対し斜めに照射する光学系を備えたこと。 - 特許庁

This condensation core measuring device includes: a cooling mechanism 48 for generating condensation on the sample surface; and a derivation processing part for deriving a growing degree of dew generated on the sample surface by the cooling mechanism 48, and deriving the adhesive size based on the derived growing degree.例文帳に追加

試料表面で結露を生じさせる冷却機構４８と、冷却機構４８によって試料表面に発生した露の成長度合いを導出するとともに、この導出された成長度合いに基づいて、付着物の大きさを導出する導出処理部と、が含まれている。 - 特許庁