「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an ion beam processing device and method capable of accurately specifying a processing site on the surface of a sample, and grasping a processing progress, in case of cross-section processing through irradiation of ion beams from a rear side of the sample.例文帳に追加

試料の裏面からイオンビームを照射して断面加工する場合に、試料の表面における加工場所を正確に特定し、さらに加工進行状況を把握することのできるイオンビーム加工装置及び方法を提供する。 - 特許庁

Reference installation of the assay cartridge in this instrument is made possible so as to feed the sample and reagent to the testing surface by a specified and flexible means, thereby supplying the sample type to be analyzed with specific assay protocol.例文帳に追加

本機器は、指定の、かつ、弾力的なやり方で、サンプルと試薬を、試験表面に搬送するよう、アッセイカートリッジを照合設置することが可能であり、それによって、分析されるサンプルの型に特異的なアッセイプロトコールを供給する。 - 特許庁

The residual gas eliminating mechanism 25 ionizes residual gas remaining inside the sample chamber 3 so as to electrically collect and eliminate it, and particularly, hydrocarbon in the residual gas is prevented from adhering to the sample 16 surface.例文帳に追加

この残留ガス除去機構２５は、試料室３内に存在する残留ガスをイオン化し電気的に収集して除去する機構を有しており、特に残留ガス中のハイドロカーボンが試料１６表面に付着するのを防止する。 - 特許庁

To provide a tire testing apparatus capable of testing a sample tire efficiently in a shorter period of time in evaluating various performance features of the tire by pressing the tread surface of the sample tire against the external surfaces of rotating drums driven to rotate.例文帳に追加

供試タイヤのトレッド表面を、回転駆動される回転ドラムの外表面に押圧して、タイヤの諸性能を評価するに当り、より短い時間で効率的に試験を行うことができるタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁

This hydrophilic, flexible polyurethane foam, when its sample of 10×10×10mm size is floated in distilled water and retained under an atmospheric pressure, takes 5 or less hours until the top surface of the sample goes down under water.例文帳に追加

１０ｍｍ×１０ｍｍ×１０ｍｍの大きさのサンプルを蒸留水に浮かべ大気圧下に放置したときに、該サンプルの最上部が水面下に入るまでの時間が５時間以内である親水性軟質ポリウレタンフォーム。 - 特許庁

Then the device and the sample are incubated under a condition sufficient to separate the acceptor from the surface layer, coresponding to the presence of the specimen in the sample to optically investigate the change degree of the structural color, based on the separation of the acceptor.例文帳に追加

そして、試料中の被検物の存在に応じて前記表面層から受容体が遊離し得る条件で該デバイスと試料をインキュベートし、受容体の遊離に基づく構造色の変化の度合いを光学的に調べる。 - 特許庁

To provide a three-dimensional shape measuring apparatus for precise measurement without generating shades to the measurement area of a measurement sample, without being affected by the surface shape of the measurement sample, and without saturating brightness.例文帳に追加

測定標本の計測エリアに影を生じることがなく、測定標本の表面形状に影響されず、輝度が飽和しない状態で、高精度に計測を行うことが可能な３次元形状測定装置を提供する。 - 特許庁

Laser beams generated from laser light sources (1, 2 and 3) are converted into light beams having divergence along one direction by the line shaped optical beam generator (12) and are projected onto a sample (25) through a beam deflector (18) to scan the surface of the sample.例文帳に追加

そして、レーザ光源(1，2，3)から発生したレーザビームをライン状光ビーム発生装置(12)により一方向に発散性を有する光ビームに変換し、ビーム偏向装置(18)を介して試料(25)に投射し、試料表面を走査する。 - 特許庁

A plate-like body sample 40 to be analyzed is placed on a lower-side sheet material 21 of this tool 1 for analyzing the plate-like body, and a ring 10 is placed on the surface of the plate-like body sample 40, and further an upper-side sheet material 20 is placed on the ring 10.例文帳に追加

板状体分析用治具１の下側シート材２１に分析すべき板状体試料４０を載せ、その板状体試料４０の表面にリング１０を載せ、更に上側シート材２０をリング１０の上に載せる。 - 特許庁

The colorimetric device 1 is constituted by holding a head 11 for measuring the colors of color patches printed on the top surface of a sample medium M by a guide cover 31 not in contact with the sample medium M and fixing a grip bar 51 to the upper part of the head 11.例文帳に追加

測色装置１では、サンプルメディアＭの表面に印刷されたカラーパッチを測色するヘッド１１を、ガイドカバー３１によってサンプルメディアＭとは非接触に保持し、ヘッド１１の上部には握り棒５１を固定している。 - 特許庁

To obtain correct results from a measurement, even if the distance from an X-ray source or a detector to the measuring surface of a sample is changed, according to the switching of plural samples or the change of a sample position.例文帳に追加

Ｘ線源や検出器から試料の測定面までの距離が複数の試料の切り換えや試料の位置の変更に応じて変化しても正しい測定結果が得られるような蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

The substrate sample holding mechanism is constituted of a plate type frame and a pushing unit to hold substrate samples in a region surrounded by the plate type frame in such a way that only the end surface of external circumferential part of each substrate sample is in contact with the holding mechanism.例文帳に追加

板状枠体とプッシングユニットとで基板サンプルの保持機構を構成し、板状枠体で囲まれる領域に基板サンプルを保持し、基板サンプルの外周縁部端面のみを保持機構と接触させて保持する。 - 特許庁

Successively, a reference current (is), which is a displacement current from a sample holding part 11 independent of the distance between the vibration electrode 12 and the sample 9 surface 91 is determined, from the plurality of relations between the electrode potential and the displacement current.例文帳に追加

続いて、電極電位と変位電流との複数の関係から、振動電極１２と試料９の表面９１との間の距離に依存しない試料保持部１１からの変位電流である基準電流ｉｓが求められる。 - 特許庁

A sales promotion sheet 8 on which sales promotion information related to merchandise to be subjected to sales promotion is printed is attached freely detachably onto the surface of a wide sample 1 installed in a sample display part Aa of the vending machine A.例文帳に追加

自動販売機Ａの見本陳列部Ａａに設置される幅広型見本１の表面に、販売促進する商品に関連した販売促進情報が印刷された販売促進シート８が着脱自在に取り付けられている。 - 特許庁

The sample holder 9 includes a screen part 14 which receives side surfaces of the linear samples 18 and 38 and a groove 17 having a V-shaped cross section which is provided on the screen part 14 and which is brought into contact with the side surface of the linear sample 18.例文帳に追加

この試料ホルダ９は、線状試料物１８，３８の側面を受ける衝立部１４と、衝立部１４に設けられていて線状試料物１８の側面に接触する断面Ｖ字状の溝１７とを有する。 - 特許庁

In a device for surface enhanced Raman spectroscopy using the device 110, the spectrum intensity of the Raman spectrum measured from the sample 115 is corrected by using the spectrum intensity of the Raman spectrum measured from the reference sample 113.例文帳に追加

この光電場増強デバイス１１０を用いた表面増強ラマン分光装置では、参照試料１１３から測定したラマンスペクトルのスペクトル強度を用いて、試料１１５から測定したラマンスペクトルのスペクトル強度を補正する。 - 特許庁

Next, the scanning Kelvin force microscope having the conductive cantilever 1A wherein the work function A of the probe 2A is concretely calculated is used to measure the surface potential (y) of an unknown sample different from the standard sample 3A.例文帳に追加

次に、深針２Ａの仕事関数Ａが具体的に算出された導電性カンチレバー１Ａを有する走査型ケルビンフォース顕微鏡を用いて、標準試料３Ａとは異なる未知試料の表面電位ｙを測定する。 - 特許庁

Then, after the liquid reaches an approximate level for dipping the surface of at least a sample 8, a valve for opening/ closing is provided halfway to a liquid discharge pipe 18, and liquid in the sample chamber 12 is discharged slightly to the outside each time continuously.例文帳に追加

そして、液が少なくとも試料８の表面を浸す程度に達した後、液排出管１８の途中に設けられた開閉用バルブ（図示せず）を開け、試料室１２内の液を継続的に外部へ僅かずつ排出させる。 - 特許庁

The work function (x) in the microregion of the unknown sample can be calculated on the basis of a relational expression of y=(A-x)/e from the work function A of the probe 2A of the conductive cantilever 1A and the surface potential (y) of the unknown sample.例文帳に追加

導電性カンチレバー１Ａの深針２Ａの仕事関数Ａと、未知試料の表面電位ｙとから、ｙ＝（Ａ−ｘ）／ｅの関係式に基づいて、未知試料の微小領域における仕事関数ｘを算出できる。 - 特許庁

To provide an exposure method and an exposure device, capable of locally optimizing such factors as incident angle, polarizing direction, and exposure amount, according to places in a sample when patterning the solid sample having a rough on its surface.例文帳に追加

表面に凹凸のある立体サンプルにパターニングを行うに際して、サンプル内の場所に応じて部分的に、入射角度、偏光方向、露光量などの条件の最適化が可能な露光方法及び露光装置を提供する。 - 特許庁

To measure the thermal capacity per unit area, thermal permeability and thermal diffusivity of a micro-area and a thin film on the surface of a sample with high spatial resolution by measuring a thermo-reflectance signal of the sample by use of a thermophysical property microscope.例文帳に追加

熱物性顕微鏡を用いて試料の熱反射信号を測定し、試料表面の微小領域及び薄膜の単位体積あたり熱容量、熱浸透率、熱拡散率を高い空間分解能により測定すること。 - 特許庁

With this spectrum, a process for obtaining a signal intensity ratio of a plurality of elements is performed for a plurality of times, etching the standard sample surface in parallel, and a calibration curve indicating the distribution of the signal intensity ratio of a plurality of elements in the standard sample.例文帳に追加

このスペクトルから、複数の元素の信号強度比を求める工程を、標準試料表面をエッチングしながら複数行い、標準試料における複数の元素の信号強度比の分布を示す検量線を作成する。 - 特許庁

This measuring instrument is equipped with 1st, 2nd, and 3rd lighting means 10, 20, and 30 which irradiate the sample surface of a sample 1 to be measured at mutually different angles and constants corresponding to the irradiation angles are stored in a memory 51.例文帳に追加

測定試料１の試料面を互いに異なる照射角度で照明する第１、第２、第３の照明手段１０，２０，３０を備え、複数の照射角度にそれぞれ対応する複数の定数がメモリ５１に格納されている。 - 特許庁

The rapid X-ray structure analyzer for ultrafine structures comprises an incident angle changing mechanism for controlling an angle formed by the surface of a sample and X rays; a mounting block for adjusting the height of the mechanisms; a mounting block for adjusting the height of the sample, a two-dimensional detector, a supporting rack for the two-dimensional detector, and a sample holder.例文帳に追加

試料の表面とX線のなす角を制御する入射角変更機構、その機構の高さを調節する台、試料の高さを調節する台、２次元検出器、２次元検出器用の支持台、および試料ホルダから構成される超微細構造体のX線迅速構造解析装置。 - 特許庁

AE wave (acoustic wave), produced from the sample member 2 during this period, is measured by an AE-wave measuring means 50 and the waveform of the AE wave is analyzed by a control means 40 and a PC 53, and fine changes produced in the surface layer of the sample member 2 are measured on the basis of a change in the waveform, to discriminate the abrasion of the sample member 2.例文帳に追加

その間にサンプル部材２から発生するＡＥ波（弾性波）をＡＥ波測定手段５０により測定して、制御手段４０及びＰＣ５３により波形解析し、その波形の変化等に基づいて、サンプル部材２の表層に生じた微小な変化を測定してサンプル部材２の摩耗を判別する。 - 特許庁

The method for controlling the distance between a light probe and a sample is carried out by detecting the focus position of the propagating beam exiting from a light probe 13 and controlling relative positions of the light probe 13 and a sample 2 so as to align the focus position onto the measurement surface 2a of the sample 2, for a wide range measurement using propagating light.例文帳に追加

伝播光を用いた広範囲測定を行う際に、光プローブ１３から射出する伝播光束の焦点位置を検出し、この焦点位置が試料２の被測定面２ａとなるように上記光プローブ１３と試料２との相対位置を制御する光プローブと試料間距離の制御方法。 - 特許庁

This microscope has a cantilever 14 with the probe 15, a Z micromotion part 13b changing an interval between a sample 17 and the probe 15, an XY scan control part 19 imparting relative displacement in the sample surface direction between the sample 17 and the probe 15, displacement detection means 21, 22 detecting displacement occurring in the cantilever 14, and a Z direction control part 20.例文帳に追加

探針１５を有するカンチレバー１４、試料１７と探針の間隔を変化させるＺ微動部１３ｂと、試料と探針の間で試料表面方向に相対変位を与えるＸＹ走査制御部１９と、カンチレバーで生じる変位を検出する変位検出手段２１，２２と、Ｚ方向制御部２０とを備える。 - 特許庁

The sample holder 14 is equipped with a means, having a mechanism of inclination and rotation, in addition to the movement of the position of the sample or a means for altering the position of the lens barrel 1 of the scanning electron microscope and a reflected electron detector 12, to make the lens barrel 1 and the reflected electron detector 12 face the surface of the sample.例文帳に追加

前記試料ホルダ１４は、試料位置の移動に加え傾斜と回転の機構を有するか、前記走査型電子顕微鏡の鏡筒１と反射電子検出器１２の位置を変更し、前記鏡筒１と反射電子検出器１２を前記試料表面に対向させるための手段を備える。 - 特許庁

When light for position measurement is passed through an area with high number of aperture including the entire reflection area of an edge part of an objective lens, intense reflecting light is obtained even in the sample with low reflectivity in a transparent sample, etc. by the entire reflecting light from a boundary surface of the sample and reflecting light from a large illumination angle.例文帳に追加

位置計測用の光を、対物レンズの辺縁部分の全反射領域を含む高開口数の領域に通すと、試料境界面からの全反射光及び大きな照明角度からの反射光により、透明試料等で低反射率の試料においても、強い反射光を得ることができる。 - 特許庁

The angle of the optical axis of the incident illumination light on the sample and the angle of the optical axis for measuring the sample surface have a mirror reflection relation relative to the normal of the sample.例文帳に追加

照明光を試料に入射する工程と、試料の表面をあおり光学系により測定する工程とを含み、照明光を試料に入射する光軸の角度と、試料の表面を測定する光軸の角度が試料の法線に対して鏡面反射の関係となることを特徴とする試料の鏡面反射光分布測定方法。 - 特許庁

In the method for polishing a sample for observing metal texture, when finishing polishing is to be made to the sample for observing metal texture after the rough polishing of the surface by a polishing machine, polishing sagging is generated at the boundary between an including and/or a deposit existing in the sample and a foundation metal.例文帳に追加

表面を粗研磨した後の金属組織観察用試料に、研磨機で仕上げ研磨を施すに際して、前記試料中に存在する介在物及び／又は析出物と基地金属との境界に研磨だれを生じさせることを特徴とする金属組織観察用試料の研磨方法である。 - 特許庁

A sample is arranged on the slide of a laser dissection microscope to make the slide movable in parallel on an extension surface, and an adhesive collection system, with the center aligned with the optical axis, is lowered to the sample, bonded adhered to the sample, freely moved in parallel, together with the slide, and then strayed from the optical axis of the microscope.例文帳に追加

レーザ解剖顕微鏡のスライド上に試料を配置し、スライドはその延在面で平行移動可能とし、粘着性採集装置をその中心を光軸に合わせた状態で試料上まで下降させ、試料に付着させてスライドと共に自由に平行移動しかつ顕微鏡の光軸から外れる。 - 特許庁

The biosensor comprises a sample inlet and an air outlet for communicating with the sample inlet, and the biosensor has a protective film that can be adhered to and separated from an adhesion surface that can shield the sample inlet and the air outlet from the outside of the biosensor.例文帳に追加

本発明に係るバイオセンサは、試料導入口と、該試料導入口と連通する空気排出口とを備えたバイオセンサであって、該試料導入口および該空気排出口をバイオセンサの外部と遮断しうる、接着面との接着および剥離が可能な保護フィルムを有することを特徴としている。 - 特許庁

In a measuring method of elastic modulus of an extreme surface in a solid material sample such as resin film by using an atomic force microscope, a probe of an atomic force microscope is contacted at an elastic displacement as a displacement of a solid material sample within the range providing elastic deformation without providing plastic deformation to the solid material sample.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた樹脂フィルム等の固体物質試料の極表面の弾性率の測定方法であって、原子間力顕微鏡の探針を、固体物質試料に塑性変形を与えることなく弾性変形を与える範囲内の固体物質試料の変位量である弾性変位量で接触させる。 - 特許庁

This method is applied for a scanning type probe microscope having a measuring part for scanning a sample 12 by a probe 25 to measure a physical quantity about the sample surface, and constituted to be provided with an XY fine moving mechanism 24 for moving the probe finely, and an XY stage 51 for moving the sample roughly.例文帳に追加

この測定方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する物理的量を測定する測定部を有し、かつ探針を微動させるＸＹ微動機構２４と試料を粗動させるＸＹステージ５１を備えるように構成された走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

To provide a dispensation method in which the thinning of a sample and a reagent is minimized as much as possible by liquid which performs suction and discharge and is dispersed through flow of an air layer and liquid film of a piping wall surface occurring when the sample and the reagent are sucked, and accuracy in concentration calculation of a biological sample component is improved.例文帳に追加

本発明の目的は、サンプル・試薬を吸引する際に生じる空気層と配管壁面の液膜の流れを通して拡散する吸引吐出を行う液体によるサンプル・試薬の薄まりを極力小さくし、生体サンプルの成分の濃度算出の正確性を向上させる分注方式を提供することにある。 - 特許庁

The surface plasmon resonance angle detection device applies light with a required angle width to the incidence side of a prism 5 that adheres to a sensor chip 7 where a sample solution is sucked and detects a resonance angle where the absorbance to the sample solution can be maximized according to the intensity of reflection light from the sensor chip 7 for specifying a sample constituent.例文帳に追加

表面プラズモン共鳴角検出装置は試料溶液が吸着されるセンサーチップに密着したプリズムの入射側に所要角度幅の光を照射してセンサーチップからの反射光の強度により試料溶液への吸光度が最大になる共鳴角を検出して試料成分を特定する。 - 特許庁

The part of the supporting film holder 51A of the support film 38 to which the observed sample 26 is adhered, protruding from the bottom surface of the supporting film holder 51A, or a part of it, is pinched with a pair of tweezers and is mounted on a observed sample mounting part formed on the tip of the body 9A in a sample holder.例文帳に追加

観察試料２６が付着された支持膜体３８の、支持膜体ホルダー５１Ａの底面からはみ出した部分又はその一部をピンセットで摘み、載置台３３上に置かれている試料ホルダの本体９Ａの先端部に形成されている観察試料取り付け部に、該支持膜体３８をセットする。 - 特許庁

In a preferred embodiment, the liquid sample is tested for the presence of soluble constituent(s) by contacting a sample with a sensor array under specific conditions, removing unbound sample constituent(s), determining the mass increase on the surface and comparing the mass increase data with a reference standard using pattern recognition software.例文帳に追加

好ましい態様において、特殊な条件下で試料とセンサーアレイとを接触し、非結合性の試料成分を除去し、表面上の質量増加を決定し、パターン認識ソフトウェアを用いて前記質量増加データと参照用基準とを比較し、可溶性成分の存在に関して液体試料を測定する。 - 特許庁

A condensing lens 32 is accommodated in a vacuum chamber 5, by using the vacuum chamber 5 in which a sample 7 is installed and the condensing lens 32 in which irradiation light is condensed on the surface of the sample 7 in the photoelectron microscope, having the light source system for excitation for irradiating the sample with irradiation light from a light source 1.例文帳に追加

光源１からの照射光を試料に照射する励起用光源システムを備えた光電子顕微鏡を、試料７が設置される真空チャンバ５と、照射光を試料７の表面に集光する集光レンズ３２とを用い、集光レンズ３２を真空チャンバ５内に収容した構成とする。 - 特許庁

To provide an FIB(focused ion beam) device and an FIB machining method that can accurately cut and connect wiring by the FIB machining on the surface of a sample such as an LSI with a flattened surface.例文帳に追加

表面が平坦化されたＬＳＩなどのサンプルの表面に，ＦＩＢ加工により配線の切断や接続を精度よく行うことができるＦＩＢ装置及びＦＩＢ加工方法を提供する。 - 特許庁

An inspection device for the sample has a radiation source, and a detecting element array arranged to receive a radiation from a surface due to irradiation in an area of the surface by the radiation source.例文帳に追加

試料の検査用装置は、放射線源と、放射線源による表面の領域の照射に起因する表面からの放射線を受け取るために配置された検出素子アレイと、を有する。 - 特許庁

Moreover, the objective lens 58 is disposed on the optical axis Ax so as to face a side surface 11 of the operation element 10 and observes the sample inside the observation structure part 20 via the side surface 11.例文帳に追加

また、対物レンズ５８は、操作素子１０の側面１１に対面するように光軸Ａｘ上に配置され、側面１１を介して観測構造部２０の内部にある試料の観測を行う。 - 特許庁

The prism-shaped oscillator measurement 13 is brought close to an optional sample surface as a probe and suitable to a probe for a scanning microscope observing the surface condition.例文帳に追加

振動子マス１３は四面体形状であり、その振動子マス１３を任意の試料表面にプローブとして近接させ、表面状態を観察する走査型力顕微鏡のプローブに適している。 - 特許庁

To provide an anisotropic friction data acquisition method of a scanning probe microscope capable of acquiring anisotropic friction data in a minute region on the sample surface, when measuring various characteristics on the surface of a wafer or the like.例文帳に追加

ウェハ等の表面上の各種特性を測定するとき試料表面の微小領域で異方摩擦データを取得できる走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法を提供する。 - 特許庁