「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

A thermal diffusivity α and a thermal permeability b of thin film are determined from an equation 1:b=√(Cλ) to which a measurement value of amplitude of temperature change of a measuring sample surface having a molybdenum film formed thereon is assigned, and an equation 2:α=λ/C to which a measurement value of phase of the measuring sample is assigned.例文帳に追加

モリブデンを成膜した測定試料表面の温度変化の振幅の測定値を代入した式１と測定試料の位相の測定値を代入した式２とから薄膜の熱拡散率α及び熱浸透率ｂを求める。 - 特許庁

To provide a reaction method capable of performing an orientation control of a sample by using the grade of a magnetic susceptibility on a boundary surface even in a field where the size of a sample is as small as a micro-scale and where magnetic force does not act efficiently.例文帳に追加

試料の大きさがマイクロスケール程度に小さく、磁気力が有効に作用しないような場でも、試料配向制御を境界面における磁化率勾配を用いて制御することができる反応方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A ruled line 10a is formed on the surface on the side of the metal film 3 of a sample 10 obtained by forming the metal film 3 on a single crystal substrate 2, and the sample 10 is cleaved along the ruled line 10a while cooled in liquid nitrogen 50.例文帳に追加

単結晶基板２上に金属膜３が成膜された試料１０の金属膜３側の表面に罫書線１０ａを形成し、試料１０を、液体窒素５０中で冷却しながら、罫書線１０ａに沿ってへき開する方法とする。 - 特許庁

If the tip is brought into contact with the sample surface in the middle of lowering the indenter as shown in Fig. (c), and assuming that the lowering quantity at that time is 60 μm, the indenter is returned to the origin and the sample is raised by 58 μm a little shorter than the lowering quantity as shown in Fig. (d).例文帳に追加

（ｃ）のように圧子下降の途中で先端が試料表面に触れ、その時の下降量が６０μｍであったとすると、（ｄ）のように圧子を原点に戻し試料をそれよりわずかに小さい５８μｍだけ上昇させる。 - 特許庁

To provide a stress measuring and testing method, capable of easily extracting a sample to be measured from dies without the adhesion of part of the sample to be measured to the surface of a tester, such as a die or a rotating shaft after the completion of stress measurement and test.例文帳に追加

応力測定試験終了後の被測定試料の一部がダイあるいは回転軸など試験機の表面に付着することなく、被測定試料をダイから簡単に取り出すことができる応力測定試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide microtomes or other tissue sample sectioning devices to produce sections of samples, specifically microtomes or other tissue sample sectioning devices that have surface orientation sensors to sense orientations of surfaces of the samples.例文帳に追加

試料の切片を作成するためのミクロトームまたは他の組織試料裁断装置に関し、特に、いくつかの実施態様は試料表面の配向を感知する表面配向センサを備えたミクロトームまたは他の組織試料裁断装置を提供する。 - 特許庁

To eliminate liquid leakage in a jointing face, and to allow efficient measurement by making the measurement allowed, even in a small amount of a sample, in a surface plasmon resonance cell, a lid thereof, a sensor chip thereof, and to provide an analytical method for a sample liquid using them.例文帳に追加

表面プラズモン共鳴セル，その蓋及びそのセンサチップ並びにそれを用いた試料流体の分析方法において、接合面からの液漏れを無くし、少ない試料でも測定可能なように測定をより効率的に行えるようにする。 - 特許庁

A method for inspection includes directing a beam of X-rays to impinge upon an area of a sample containing first and second specified structures 24 formed respectively in first and second thin film layers, which are superimposed on a surface of the sample 22.例文帳に追加

検査のための方法が、サンプル２２の表面上に重畳された第１および第２の薄膜層内に夫々形成された第１および第２特定構造２４を含むサンプルの領域に衝当する様にＸ線のビームを導向する段階を含む。 - 特許庁

The apparatus for recording values related to zero-point errors is provided with both a spindle for rotating a sample and a sensor carriage 230 for supporting a linear-shape-measuring sensor unit 220, which includes a plurality of displacement sensors A, B, C, in such a way that the sensor unit 220 is opposed to the surface to be measured of the sample.例文帳に追加

零点誤差関連値記録装置は試料を回転させるスピンドルと、複数の変位センサＡ，Ｂ，Ｃを含む真直形状測定用のセンサユニット２２０を試料の測定面に相対するように支持するセンサキャリッジ２３０を備える。 - 特許庁

To provide a method for creating a cross section fit to observation by cutting directly a sample surface by a femtosecond laser, and to provide a method for creating a cross section fit to observation by removing a processed deformed layer of the outermost surface by irradiating the femtosecond laser onto a polished and processed sample cross section, in sample cross section creation of a composite material comprising a plurality of different materials.例文帳に追加

複数の異なる材料から成る複合材の試料の断面作成において、試料表面をフェムト秒レーザで直接切断して観察に適した断面を作成する方法を提供するものであり、また研磨加工された試料断面にフェムト秒レーザを照射して最表面の加工変形層を除去することで観察に適した断面を作成する方法を提供しようとするものである。 - 特許庁

The upper surface of the sample stand 12 is formed into a curved surface changed in height in the longitudinal direction of the long sample S placed on the sample stand 12.例文帳に追加

長尺試料Ｓの測定部分を支持する試料台１２と、該試料台１２と協働して長尺試料Ｓを支持すると共に該長尺試料Ｓを支持する高さを変化することにより長尺試料Ｓの水平姿勢を調整する水平姿勢調整手段１３と、を備えていて、試料台１２の上面が、該試料台１２に載せた状態の長尺試料Ｓの長手方向に、高さが変化する曲面状となっている。 - 特許庁

The surface atom visualizing apparatus 1 is equipped with an exciting unit 2 for irradiating the surface atom of the solid sample 5 with high-energy exciting light 9 for exciteing itinerant valence electrons, to convert the same into photoelectrons and an electron microscope unit 3 for forming an atomic image on the surface of the solid sample 5, on the basis of the photoelectrons excited from the itinerant valence electrons by the exciting unit 2.例文帳に追加

表面原子可視化装置１は、固体試料５の表面原子に高エネルギ励起光９を照射し、遍歴的な価電子を励起して光電子に変換する励起ユニット２と、励起ユニット２によって遍歴的な価電子から励起された光電子に基づいて、固体試料表面上の原子像を生成する電子顕微鏡ユニット３とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a device that can measure the surface temperature of a minute region of a sample at high accuracy, high space resolution, and high speed by a thermo-reflectance method, can analyze the temperature dependence of the surface reflection even of a sample whose temperature dependence of the surface reflection is not known, and can instantly determine the temperature using the results.例文帳に追加

試料の極微少領域の表面温度をサーモリフレクタンス法により高精度・高空間分解能・高速度で測定することを可能とするとともに、表面反射率の温度依存性が知られていない試料についても、その表面反射率の温度依存性を解析し、その結果を用いて温度を即時に決定することを可能にする装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for quantitatively measuring the surface potential distribution of a solid, especially a semiconductor with high space dissolving capacity using a scanning type tunnel microscope by solving the conventional technical problem that the distance between a probe and the surface of a sample and the thickness of the depleted layer of the surface of the sample are unclear and the measurement in the depleted layer region is difficult, and an apparatus therefor.例文帳に追加

探針／試料表面距離が不明、試料表面の空乏層 厚が不明、空乏層領域での計測が困難、という従来技術の問題点を解決し、固体表面、特に半導体表面の表面電位分布を、走査型トンネル顕微鏡を用いて高い空間分解能で定量的に計測する方法とそのための装置を提供する。 - 特許庁

In this surface potentiometer 1, on the first measuring point among the plurality of measuring points set on the sample 9 surface 91, a relation between an electrode potential and a displacement current is obtained, while changing the electrode potential of a vibration electrode 12; and a plurality of relations are obtained, while changing a distance between the vibration electrode 12 and the sample 9 surface 91.例文帳に追加

表面電位計１では、試料９の表面９１上に設定された複数の測定点のうち最初の測定点において、振動電極１２の電極電位を変更しつつ電極電位と変位電流との関係が取得され、振動電極１２と試料９の表面９１との間の距離を変更しつつ当該関係が複数取得される。 - 特許庁

The single crystal diamond is grown by a vapor phase synthesis method, wherein the retardation between two mutually orthogonal linearly polarized lights outgoing from a principal surface being the opposite surface by irradiation of a linearly polarized light regarded as the synthesis of two mutually orthogonal linearly polarized lights on the other principal surface is a maximum of ≤50 nm per 100 μm of a sample thickness across the whole sample.例文帳に追加

１主面から２つの互いに直交する直線偏光の合成とみなされる直線偏光を照射して、対面の主面から出射した２つの互いに直交する直線偏光の位相差が、試料全体にわたり、試料厚さ１００μｍあたり最大５０ｎｍ以下であることを特徴とする気相合成法により成長された単結晶ダイヤモンドである。 - 特許庁

To provide a surface measuring device uninfluenced by a pattern even in the case of a sample having the pattern formed on the surface, capable of realizing a wider effective measuring area compared with a resolution of height information.例文帳に追加

表面にパターンが形成された試料の場合でも前記パターンの影響を受けず、かつ、高さ情報の分解能に比べて広い有効計測面積が可能となる表面測定装置を提供すること。 - 特許庁

The label 3 has a front part 3a which forms the front surface of the tobacco sample 1 and an extension part X which is extended from the front part 3a and touches the inside surface of the peripheral wall W of the dummy body 2.例文帳に追加

そして、見本表示ラベル３は、タバコ見本１の前面を形成する前部３ａと、その前部３ａから延設されるとともに、ダミー本体２における周壁Ｗの内面に当接する延設部Ｘとを備える。 - 特許庁

The incident angle of the inspecting illumination light is slightly smaller than the incident angle when the reflected light from the undersurface of the transparent thin film provided on the surface of the sample is totally reflected by the upper surface of the transparent thin film.例文帳に追加

検査用照明光の入射角は、試料の表面の透明薄膜下面にて反射した反射光が透明薄膜上面にて全反射するときの入射角より僅かに小さい角度である。 - 特許庁

To provide a time resolving type surface analyzing apparatus capable of temporally resolving both of the structure and image of the surface of a sample within a real time to measure them and capable of efficiently performing the measurement of both of them.例文帳に追加

試料表面の構造と試料表面の像とを、どちらもリアルタイムで時間分解して測定することができ、両方の測定を効率的に行うことができる時間分解型表面分析装置を提供する。 - 特許庁

The electrode support part 6 disposed on a surface opposed to a heating sample supporting surface of the support base material 1 has an effect to suppress heat radiation from the heating element 2 by thermal insulation or heat radiation toward the heating element.例文帳に追加

支持基材１の加熱試料支持面と反対の面側に設けられている電極支持部６は、断熱又は発熱体側への熱輻射により、発熱体２からの放熱を抑制する効果を奏する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for making inspection and/or modification of a sample surface with charged particles easy, for enabling those with respect to cost effectiveness, and for overcoming a problem in relation to surface charge accumulation.例文帳に追加

試料表面を荷電粒子により調査及び／又は改変するのを容易且つ費用効率的に可能にし、表面電荷蓄積に関係する問題が克服されるような装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The incident angle of the inspecting illumination light is slightly smaller than the incident angle when the reflected light from the undersurface of the transparent thin film provided on the surface of the sample is totally reflected by the upper surface of the transparent thin film.例文帳に追加

検査用照明光の入射角は、試料の表面の透明薄膜下面にて反射した反射光が透明薄膜上面にて全反射するときの入射角より僅かに小さい角度である。 - 特許庁

In an objectivizing method for a (surface) inspection method by image processing, information z (x, y) is derived on each image point (x, y) in a measurement region on the surface of the sample, and a resultant amount is calculated from them.例文帳に追加

本発明は画像処理による（表面）検査方法の客観化方法は、検査試料表面の測定域の各像点（ｘ，ｙ）に対し情報ｚ（ｘ，ｙ）を求め、これから結果量を算出する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting a surface defect, capable of highly accurately inspecting a state of a disk substrate itself with wave-like distortion and a defect on a surface of a sample caused with local wave-like distortion.例文帳に追加

ディスク基板そのものがうねりを持つ状態や、局所的なうねりが生じた試料の表面の欠陥を高精度に検査できるようにした表面欠陥検査方法及びその装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method of correcting measured shape data etc., in a shape measurement of a sample surface capable of performing correct surface shape management by realizing a means for properly correcting the error of shape measurement data due to temperature fluctuation.例文帳に追加

試料表面の形状測定で、温度変化による形状測定データの誤差を適切に補正する手法を実現し正確な形状管理を行える形状測定データの補正方法等を提供する。 - 特許庁

To conduct elementary analysis in a sample electrode surface and in a site deeper than the surface without carrying out etching, in analysis using total reflection photoelectron spectroscopy.例文帳に追加

エッチングを行うことなく、全反射光電子分光法を用いた分析で、試料極表面とそれより深いところの元素分析を行うことができる試料分析方法および試料分析装置を提供すること。 - 特許庁

A specimen vessel 9 is provided with a droplet capturing section 9b for capturing a droplet of the liquid sample attached to a lower end of the dispensing probe on the inner surface in the vicinity of the insertion opening 9a by a surface tension.例文帳に追加

検体容器９は、挿通口９ａの近傍内面に分注プローブの下端に付着する液体試料の液滴を表面張力によって捕捉する液滴捕捉部９ｂが設けられている。 - 特許庁

The preceding stage power is used to image the main light ray on an optical axis near the center of the subsequent stage power, the subsequent stage power is used to image the final image of a sample surface 2 on an image surface 6.例文帳に追加

そして、前段パワーは、主光線を後段パワーの中心付近で光軸上に結像されるために、後段パワーは、試料面２の最終的な像を結像面６に結像させるために用いられる。 - 特許庁

The piezoelectric film 31 is fixed by the sample fixing tool 20, to form the upper surface where the measuring surface in the crossing direction to the electric field direction can be brought into direct contact with the probe 13 (explorer 33).例文帳に追加

圧電体薄膜３１は、試料固定治具２０によって、電界方向に対して交差する方向の測定面とプローブ１３（探針３３）とが直接接触することができる上面になるように固定される。 - 特許庁

To provide a method of determining surface tension by observing the interface shape of a small amount of liquid placed on a solid sample that vibrates vertically and comparing the observed surface tension with surface tension calculated by numerical analysis, and to provide a measuring apparatus.例文帳に追加

上下振動をする固体試料上に設置した小量の液体の界面形状を観測し、数値解析により求められる界面形状との比較により表面張力を決定する方法と測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The surface information of the sample W before cut is compared with that after cut, the surface information in an area where a difference is zero or near to zero is removed as a background part, and a residue is stored as the surface information expressing a brightness distribution of the cut cross section, in a controller 10.例文帳に追加

切断前および切断後の試料Ｗの表面情報を比較して、差がゼロまたはゼロに近い領域の表面情報を背景部として除去し、残りを切断面の輝度値分布を表わす表面情報として制御装置１０に記憶する。 - 特許庁

Hereby, the sample 10 for analysis suitable for analyzing the surface state and the state of a plane parallel to the surface by using a SEM or a TEM can be formed easily and highly accurately without fouling the surface of an analysis object film pattern 14.例文帳に追加

これにより解析対象膜パターン１４の表面を汚すことなく、ＳＥＭやＴＥＭなどを用いた表面状態および表面と平行な面内における状態の解析に好適な解析用試料１０を、高精度かつ容易に形成することができる。 - 特許庁

The light receiving surface of a photodetector 15 is arranged in the light condensing position of the objective lens 106, and the light receiving surface is irradiated with the luminous flux which returns from the objective lens 106 after being condensed by the objective lens 106 and reflected on the surface of a sample 100.例文帳に追加

光検出器１５は、対物レンズ１０６の集光位置に受光面が配置されており、対物レンズ１０６によって集光させた光束が標本１００の面上で反射した後に対物レンズ１０６を戻って当該受光面へ照射される。 - 特許庁

When atoms or atom groups on the surface of a sample 3 are ionized by a pulse voltage applied to the sample 3 from a pulse generator 1 or pulsed laser light 7a or the like irradiated from a laser 7, generated ions 8 fly by being accelerated by an electric field generated by a direct-current high-voltage power source 2 between the sample 3 and an extraction electrode 5.例文帳に追加

パルス発生器１から試料３に印加されるパルス電圧やレーザー７から照射されるパルスレーザー光７ａなどにより、試料３の表面の原子又は原子団をイオン化させると、発生したイオン８は、試料３と引出電極５の間に直流高圧電源２により発生された電界により加速されて飛行する。 - 特許庁

This method of detecting the poison of the platinum catalyst has a process for vaporizing a sample by the first heating, a process for heating the vaporized sample by the second heating, a process for bringing the heated vaporized sample into contact with the platinum catalyst, and a process for anlayzing a surface of the platinum after the contact, and the processes are carried out in order.例文帳に追加

第１の加熱により試料を気化させる工程、上記気化した試料に対してさらに第２の加熱を行う工程、上記さらに加熱された気化した試料を白金触媒に接触させる工程、上記接触後の白金触媒の表面分析を行う工程を順次行うことを特徴とする、白金触媒毒の検出方法。 - 特許庁

In a scanning probe microscope 10 for making a probe 16 provided for one end of the cantilever 15 scan along the surface of a sample 30 and measuring the height and a distribution of the physical state of the sample 30, the resonance frequency of the cantilever 15 is detected before and after the measurement of the sample 30 to detect the presence or absence of the adhesion of foreign matter to the tip of the probe 16.例文帳に追加

カンチレバー１５の一端に設けられたプローブ１６を試料３０の表面に沿って走査させて試料３０の高さ及び物理状態の分布を測定する走査プローブ顕微鏡１０において、試料３０の測定の前後にカンチレバー１５の共振周波数を検出してプローブ１６の尖端への異物の付着の有無を検知する。 - 特許庁

A worker can bond thereby the adhesive sheet 11 in a proper position to seal the sample injection hole 5, by simple work of removing the separation paper 12 after the sample injection, and of pressing the adhesive sheet 11 onto the disk surface, and the liquid sample is surely prevented from being leaked since bonding force is prevented from getting low by touching the adhesive face.例文帳に追加

これにより、作業者は、試料注入後に剥離紙１２を取り除いて接着シート１１をディスク表面に押圧するという簡単な作業で、接着シート１１を適正な位置に貼付して試料注入孔５を封止することができ、接着面に触れて接着力が低下することもないため、液体試料の漏洩を確実に防止できる。 - 特許庁

The ion beam apparatus includes a sample holder 4 for fixing a sample 6 formed with a section by irradiating with a predetermined focusing ion beam from a surface side, and a gas ion beam irradiation unit 2 for emitting a gas ion beam to a region including the section of the sample 6 fixed by the holder 4 to remove a damage layer on the section.例文帳に追加

表面側から所定の集束イオンビームが照射されて断面が形成された試料６を固定するための試料ホルダー４と、試料ホルダー４により固定された試料６の、上記断面を含む領域に気体イオンビームを照射して上記断面上のダメージ層を除去する気体イオンビーム照射装置２とを有する。 - 特許庁

In the of secondary ion for mass analysis method insulating material, a Pt-Pd alloy thin film that is a conductive continuous film is formed on the surface of a sample that is the insulating material, the sample with the Pt-Pd alloy thin film is irradiated with a primary ion beam and an electron beam, and the secondary ions generated from the sample are extracted and are subjected to mass analysis.例文帳に追加

本発明の絶縁物の二次イオン質量分析方法は、絶縁物である試料の表面に導電性の連続膜であるＰｔ−Ｐｄ合金薄膜を成膜し、このＰｔ−Ｐｄ合金薄膜付き試料に一次イオンビーム及び電子ビームを照射し、この試料から発生する二次イオンを引き出し、質量分析する。 - 特許庁

This method is applied for the scanning type probe microscope provided with a measuring part for measuring atomic force or the like as to the sample surface by scanning a sample 12 using a probe 25, a fine motion mechanism 24 for moving the probe finely, a prove approaching mechanism 11 for changing a space between the probe and the sample, the optical microscope 22, and a focusing driving mechanism 21.例文帳に追加

この焦点合せ方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する原子間力等を測定する測定部と、探針を微動させる微動機構２４と、探針と試料の間隔を探針接近機構１１と、光学顕微鏡２２と、その焦点合せ用駆動機構２１を備える走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

The surface plasmon sensor 1 is formed on a prism 5 and is composed to detect the refractive index of a sample 14 by irradiating a light beam 13 projected from a light source 2 for a metal film 6 in contact with the sample 14 containing the detection target, to the opposite face to the face where the sample 14 is in contact with the metal film 6.例文帳に追加

表面プラズモンセンサー１は、プリズム５上に形成されており、検出対象を含む試料１４を接触させた金属膜６に対し、光源２から出射された光ビーム１３を金属膜６の試料１４が接触している面とは反対側の面に照射することにより、試料１４の屈折率を検出する構成である。 - 特許庁

A constitution, where a function 11 for irradiating a sample surface with a light having energy larger than the band gap of a sample and smaller than the work function of the sample and functions 12 and 13 modulating light intensity and detecting the fluctuation components of Auger electron intensity synchronized with light intensity added in addition to the function of a conventional Auger electron spectral device are added, is arranged.例文帳に追加

本発明では、従来のオージェ電子分光装置の機能に加え、試料表面に試料のバンドギャップより大きくかつ試料の仕事関数より小さいエネルギーを持つ光を照射する機能１１と、その光強度を変調しそれと同期したオージェ電子強度の変動成分を検出する機能１２，１３を付加した構成を有している。 - 特許庁

To simply produce a chemical microdevice having a large number of fine pattern holding parts, which hold a sample on the surface of a plate, formed thereto to inexpensively mass-produce the chemical microdevice of a constant quality, and to properly detect the fluorescence from the sample when the sample held to each of the holding parts is irradiated with exciting light to detect fluorescence.例文帳に追加

プレートの表面に試料を保持させる微細パターンの保持部が多数形成された化学マイクロデバイスの製造が簡単に行えて、一定した品質の化学マイクロデバイスを安価に量産できるようにすると共に、保持部に保持させた試料に励起光を照射させて蛍光を検出する場合に、試料からの蛍光を適切に検出できるようにする。 - 特許庁

An electron microscope can display the observed image on a display unit 28 by applying an acceleration voltage to an electron gun to irradiate a sample with an electron beam based on predetermined image observation conditions, scanning the desired area of the surface of the sample while secondary electrons or reflected electrons emitted from the sample are detected by one or more detectors, thereby focusing the image.例文帳に追加

電子顕微鏡は、所定の像観察条件に基づいて、電子銃に加速電圧を印加して電子線を試料に照射し、試料から放出される二次電子または反射電子を１以上の検出器で検出しながら試料表面の所望の領域を走査することで、観察像を結像し表示部２８にて表示可能である。 - 特許庁