「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

An image of a surface 1a and a reference identification part 2 of the sample 1 existing in an imaging position C is displayed as initialization by performing image processing by an image processing means 15.例文帳に追加

撮像位置Ｃにある試料１の表面１ａおよび基準識別部２の画像を、初期化したように画像処理手段１５で画像処理して、表示する。 - 特許庁

(a) A sample for evaluation is prepared which has, on a surface, an evaluation film undergoing a change in property when the energy density of an incident energy beam exceeds a threshold.例文帳に追加

（ａ）入射するエネルギビームのエネルギ密度が閾値を超えると物性が変化する性質を有する評価膜が表面に形成された評価用試料を準備する。 - 特許庁

An adjusting part 22 selects light of specific wavelength out of light emitted from a halogen lamp 21, to steadily irradiate the surface of the sample 3 through a lead-in part 23.例文帳に追加

ハロゲンランプ２１から射出される光から、調整部２２により特定の波長の光を選択し、導入部２３を通して試料３の表面に定常的に照射する。 - 特許庁

To provide a microprobe making the fine movement of a cantilever possible by forming a piezoelectric resistor on the cantilever and an apparatus for measuring the surface of a sample using the same.例文帳に追加

カンチレバー上にピエゾ抵抗体を形成することで微動させることを可能にしたマイクロプローブおよびそのマイクロプローブを用いた試料表面測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer test method and a semiconductor wafer tester which can compensate the unevenness of electric characteristics on a holding surface of a sample chuck.例文帳に追加

サンプルチャックの保持面における電気的特性のばらつきを補償することができる半導体ウェハ試験方法および半導体ウェハ試験装置を提供すること。 - 特許庁

Consequently, since free electrons are generated in the barrier layers, the electrons in the well layer excited by a laser beam are reduced in diffusion of the surface of a sample.例文帳に追加

これにより、障壁層において自由電子が発生するから、レーザ光によって励起された井戸層の電子が試料表面へ拡散してしまうのを低減できる。 - 特許庁

SIGNAL DETECTION DEVICE, PROBE MICROSCOPE BY SIGNAL DETECTION DEVICE, AND SIGNAL DETECTION METHOD, OBSERVATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE SURFACE BY USING SIGNAL DETECTION METHOD例文帳に追加

信号検出装置、信号検出装置によるプローブ顕微鏡、及び信号検出方法、信号検出方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 - 特許庁

By scanning (radial movement) a disk surface plural times, a domain varying in reflectance is detected, and plural skew error signal values for each sample position are obtained.例文帳に追加

ディスク面に対するスキャン（半径方向移動）を複数回行うことで、光反射率が変動する領域の検出と、サンプル位置ごとの複数のスキューエラー信号の値を得る。 - 特許庁

To provide a noncontact interatomic force microscope that can solve a variation problem of the sensitivity of each probe in a multiprobe and allows accurately to observe a sample surface.例文帳に追加

マルチプローブにおける各プローブ毎の感度のばらつきの問題を解決し、サンプル表面を正確に観察することができる非接触型原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

By patterning a large quantity of ligand in an array on the surface of the base, the bonding pattern of a sample to an array is analyzed, thus identifying the microbe taxonomically.例文帳に追加

基材表面に多くのリガンドをアレイ状にパターン化により、アレイに対する試料の結合パターンを分析すれば、微生物を分類学的に同定ができる。 - 特許庁

To provide an ion microscope having an ion beam with a spot size of 10 nm or less at a surface of a sample using a gas field ion source, and excellent in versatility and long term reliability.例文帳に追加

気体電界イオン源を用いて試料表面でスポットサイズ１０ｎｍ以下のイオンビームを有する汎用性、長器信頼性に優れたイオン顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To realize an electron microscope having a simple structure and being low cost, where the electron microscope can provide observation of a three-dimensional image of the ruggedness on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の凸凹の立体的な画像を観察することができる電子顕微鏡において、構成が簡単で低コストで得ることができるようにする。 - 特許庁

The angle resolving and retarding independently operating type electron spectroscope allows electrons emitted from the surface of a sample to be injected into a front-stage electrostatic lens via an introducing port.例文帳に追加

角度分解・リターディング独立動作型電子分光器では、試料表面から放出される電子が取り込み口を介して静電型前段の電子レンズに入射される。 - 特許庁

A microorganism transformed with the recombinant vector and absorbing arsenic in the cell surface layer is used to remove the arsenic from a sample such as an arsenic-containing liquid or soil.例文帳に追加

そして、組換えベクターにより形質転換され、ヒ素を細胞表層に吸着する微生物を用いて、ヒ素を含む液体または土壌等の試料からヒ素を除去する。 - 特許庁

The merchandise sample 1 the rear surface of which is opened is made of plastic film or sheet by simulating the front half of the outer shape of merchandise to be sold by an automatic vending machine.例文帳に追加

自動販売機で販売する商品の外形の前側半分をプラスチック製フィルム又はシートで模ることにより、後面開放の商品サンプル１を形成する。 - 特許庁

For the objective lens, an immersion lens having a high abstraction field is used, and identification of azimuth of the electrons scattered on the surface of the sample is made possible.例文帳に追加

対物レンズには、高い抽出電界を有するように構成されたイマージョンレンズが使用され、標本表面で散乱された電子の方位角の識別を可能にする。 - 特許庁

Since the deviation of the position of the focus of the electron beam from the origin in the surface of a sample corresponds to the deviation of the focal position, the focal position can be detected easily.例文帳に追加

サンプルの表面における電子ビームの焦点の位置の原点からのずれは、焦点位置のずれに対応しているから、焦点位置を容易に検出することができる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope equipped with an observational optical system enabling a surface of a sample to be optically observed with a high magnification while having a wide scanning range.例文帳に追加

広い走査範囲を有しながらも、試料表面を高倍率で光学的に観察できる観察光学系を備えた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Or the contact angle is calculated from a detecting value of interfacial pressure by detecting the interfacial pressure generated inside the sample liquid by surface tension of an interface.例文帳に追加

あるいは、界面の表面張力によって試料液体内部に発生する界面圧力を検出して、界面圧力の検出値から接触角を算出する。 - 特許庁

To provide an ion microscope excellent in versatility and long-term reliability having an ion beam with a spot size of 10 nm or less at a surface of a sample using a gas field ion source.例文帳に追加

気体電界イオン源を用いて試料表面でスポットサイズ１０ｎｍ以下のイオンビームを有する汎用性、長器信頼性に優れたイオン顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A condenser lens telecentrically illuminating a sample surface, a field diaphragm, an aperture diaphragm and a diffusing means having action to diffuse illuminating light are provided in this optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡に、標本面をテレセントリックに照明するコンデンサレンズと視野絞りと開口絞りと照明光を拡散する働きをもつ拡散手段を設ける。 - 特許庁

To easily evaluate the surface liquid repellency and in-plane distribution of a sample in a short time with high precision by a simple constitution even with respect to samples having various sizes.例文帳に追加

様々なサイズの試料でも、簡単な構成で容易に、かつ、短時間で、試料表面の撥液性及び面内分布を高精度で評価できるようにする。 - 特許庁

In addition, a measuring optical system 4 is provided below a window W of the bottom surface of the sample cell 3, and a fluorescence detector 5 is provided close to the measuring optical system 4.例文帳に追加

また、試料セル３底面部のウィンドウＷ下方には計測光学系４が設けられ、この計測光学系４に近接して蛍光検出器５が設けられている。 - 特許庁

The intensity data related to the sample surface stored in the memory 20 are sent to an image processing means 21, to be binarized to data of '1' or '0' with this processing means.例文帳に追加

メモリ２０に記憶された試料面Ｓ_1〜Ｓ_nに関する強度データは画像処理手段２１に送られ、画像処理回路２１は、強度データを”１”または”０”のデータに２値化する。 - 特許庁

At the same time, the compounding (S/C, S/PA, etc.) of a sample is changed to operate a surface adsorbed water ratio β_OH from an adsorbed water ratio βo calculated by the centrifugal test.例文帳に追加

同時に試料の配合（Ｓ／Ｃ、Ｓ／ＰＡ等）を変化させて、遠心試験で求めた吸着水率βｏから表面吸着水率β_ＯＨを演算する。 - 特許庁

The integration of a light scattering detector with an environment of high-speed mechanical processing is achieved by adding alteration to the transparent surface of the sample holding region of a centrifuge.例文帳に追加

高速機械処理の環境への光散乱検出器の一体化は、遠心機のサンプル保持領域の透明な表面に変更を加えることで達成される。 - 特許庁

By operating the above Z fine-move part and the mechanism 17 for approaching probe in cooperation, a sample with a surface that is inclined and is wavy can be measured in a wide range.例文帳に追加

Ｚ微動部と探針接近用機構を協調動作させることで、傾斜やうねりのある試料表面を有する試料を広範囲に測定することを可能にする。 - 特許庁

An image of the sample surface is picked up by an imaging part 10, and image data is incorporated into a personal computer 14 used as an image analyzing means, to make an image analysis.例文帳に追加

撮像部１０により試料表面の画像を撮像して、画像解析手段であるパーソナルコンピュータ１４に画像データを取り込んで画像解析が行なわれる。 - 特許庁

To provide a sample-handling apparatus for easily measuring also a position on a liquid surface in a container which has a relatively small diameter and/or is deep.例文帳に追加

比較的小さな直径および／または深い容器内の液面の位置をもっと便利に測定できる試料取扱い装置、およびその装置の操作方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe for a scanning probe microscope capable of simultaneously measuring the surface shape of a sample and a plurality of physical properties in a microregion.例文帳に追加

試料表面の形状、および微小領域での複数の物性を同時測定することが可能な顕微鏡用プローブ及び走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The cell surface antigen is e.g. a new cell surface antigen such as CD53 and the sequence information of the cell surface antigen can be obtained by overcoming a problem in which it has been difficult hitherto to isolate a sample having sufficient level for determining the sequence.例文帳に追加

この細胞表面抗原は、例えば、ＣＤ５３のような新規の細胞表面抗原であり、これまで配列を決定するのに十分なレベルの標品を単離をすることが困難であったという問題点を克服することによってを配列情報を得ることができた。 - 特許庁

The reference flat plate 1 is equipped with a first rotary device 3 for rotating the reference flat plate 1 centering around the virtual rotary axis almost parallel to the surface of the sample, a second rotary device 4 for rotating the reference flat plate 1 in the plane of the sample and a moving device 5 for moving the reference flat plate 1 in the direction almost vertical to the surface of the reference flat plate 1.例文帳に追加

基準平板１は、その基準平板１を試料の面と略平行な仮想の回転軸Ｂを中心として回転させる第１回転装置３と、その基準平板１を面内で回転させる第２回転装置４と、その基準平板１をその面に対して略垂直方向に移動させる移動装置５とを備えている。 - 特許庁

Alkali solution is fed to the sucking and holding surface 11 sacking and holding a sample W by negative pressure to emulsify the gel grinding particles, and a cleaning jig 4 is brought into contact with the sucking and holding surface 11, and the cleaning jig 4 and a sample holding stand 1 are relatively moved to rub off the gel grinding particles.例文帳に追加

負圧によって試料Ｗを吸着保持する吸着保持面１１にアルカリ性溶液を供給してゲル状の研磨粒子を柔化させるとともに、吸着保持面１１に洗浄治具４を接触させ、これら洗浄治具４及び前記試料保持台１を相対移動させることによって前記ゲル状の研磨粒子を擦り落すようにした。 - 特許庁

When the boundary surface of the sample changes in the height direction by Δz, the reflecting light is regarded to appear from a position shifted by Δx to be provided by Δx=2Δz×tanθ in the horizontal direction in the boundary surface of the sample and larger variation of Δx is obtained even to variation of Δz by increasing an angle of incidence θ.例文帳に追加

試料境界面が高さ方向にΔｚ変化すると、反射光は試料境界面内で横方向にΔｘ＝ ２Δｚ×ｔａｎθで与えられるΔｘずれた位置から出てくると見なされ、入射角θを大きくすることにより、Δｚの変化量に対しても、より大きなΔｘの変化量を得ることができる。 - 特許庁

In this way, upper and lower edges of the insertion piece 10a are locked to broad portions 12b, 12b of the supports 12, 12, and the sales promotion object 10 can be mounted to the right front surface of the half-split sample 1 as seen from the front of the half-split sample while a display surface on which the sales promotion information related to the commodity is printed faces forward.例文帳に追加

これにより、差込み片１０ａの上下縁部が、支持部１２，１２の幅広部１２ｂ，１２ｂに係止されることになり、販売促進体１０を、商品に関連した販売促進情報が印刷された表示面が正面向きとなるようにして、半割り型見本１の正面から見て右側前面に取り付けることができる。 - 特許庁

A sample surface roughness and/or an attenuation depth are measured by changing a primary ion incident angle by using incidence energy as a parameter, and, in a range of a domain wherein an incidence energy is high, an incident angle range wherein the sample surface roughness and/or the attenuation depth have each minimal value is found out in the range, and SIMS measurement is performed under this condition.例文帳に追加

入射エネルギーをパラメータとして試料表面粗さ、および／または減衰深さを、一次イオン入射角度を変化させて測定し、入射エネルギー領域が高い領域の範囲において、かつその範囲で試料表面粗さ、および／または減衰深さが極小値をもつ入射角度範囲を見出し、その条件下でＳＩＭＳの測定を行う。 - 特許庁

This transmitter provided with scanning type probes for scanning relatively on a sample surface to detect a signal as physical information of the sample surface, to transmit the signal detected by the probe constitutes a means for converting the detected signal by the probe into a charge quantity, and a charge transmission means for transmitting the converted charge quantity.例文帳に追加

試料表面を相対的に走査し、該試料表面の物理情報としての信号を検出する走査型プローブを備え、該プローブによって検出された信号を伝送する検出信号の伝送装置であって、プローブによる検出信号を電荷量に変換する手段と、上記変換された電荷を転送するための電荷転送手段とを構成する。 - 特許庁

This method is characterized by using an ion etching device annexed to a device and a metallic material disposed next to the insulating specimen when a surface of the specimen is thinly filmed with a metallic component not contained in the insulating material within an XPS measurement chamber to prevent electrostatic charge on the surface of the sample, when analyzing the insulating sample by XPS.例文帳に追加

ＸＰＳにより絶縁性試料を分析するに際し、ＸＰＳ測定室内部で該絶縁性試料表面に該絶縁物に含まれていない金属成分を薄く成膜して、該絶縁性試料表面の帯電防止をはかる際に、装置付属のイオンエッチング装置と該絶縁試料に隣接配置した金属材料を用いることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a measuring probe capable of continuously an extremely fine region of a nanometer order while minimizing a contact state or a measuring position error without separating probes from a sample each time when measurement in a depth direction is performed with respect to the sample, a measuring instrument of surface characteristics and a measuring method of surface characteristics.例文帳に追加

試料に対して深さ方向の計測を行う際に、探針をその都度試料から離間させる必要がなく、接触状態や計測位置誤差を最小限に抑えてナノメートルオーダーの極微細領域を連続して計測することができる計測プローブ及び表面特性計測装置並びに表面特性計測方法を提供すること。 - 特許庁

In a constitution wherein the sample solution 6 and a labeling solution 9 are vibrated vertically to the upper surface of a working electrode 4, the detection target material 2 in the sample solution 6 and a detection target material capturing material 8 in the labeling solution 9 are brought into contact with the receptor 3 on the bottom surface and the detection object material 2, to be thereby bonded thereto.例文帳に追加

サンプル溶液６および標識溶液９を動作電極４上面に対して垂直に振動させる構成において、前記サンプル溶液６中の検知対象物質２および前記標識溶液９中の検知対象物質捕捉物質８を底面のレセプター３および前記検知対象物質２と接触し結合することができる。 - 特許庁

Accordingly, when the surface of the standard sample wafer 11 is coated with the standard particles 31 so as to be uniformly distributed, the standard particles 31 can be distributed and attached equally onto the surface of the standard sample wafer 11.例文帳に追加

この標準サンプルウエハ１１の製造方法は、ウエハ表面に標準粒子を含む溶液を塗布する前に、標準粒子が塗布されるウエハの負の電位に帯電している表面に還元性を有する液として例えば有機アミン系溶液を塗布してその表面の電位を正に変えた後、還元性を有する液を除去してから、標準粒子を塗布して製造される。 - 特許庁

This surface electrometer 1, at two distances between a vibrating electrode 12 and a surface 91 of the sample 9, changes the electrode potential in a vibrating state of the vibrating electrode 12, acquires the relation between the electrode potential and the displacement current from a sample holding section 11, and determines the gradient of the electrode potential-displacement current characteristic.例文帳に追加

表面電位計１では、振動電極１２と試料９の表面９１との間の２つの距離において、振動電極１２を振動させた状態で電極電位を変更して電極電位と試料保持部１１からの変位電流との関係が取得され、電極電位−変位電流特性の傾きが求められる。 - 特許庁

The surface of a sample (w) is scanned with a laser beam emitted by a light source 10 by condensing on the surface by an objective lens 17 by passing through a polarizing beam splitter 12, a horizontal deflecting device 14a and a perpendicular deflecting device 14b or the like.例文帳に追加

光源１０から出たレーザ光は、偏光ビームスプリッタ１２、水平偏向装置１４ａ、垂直偏向装置１４ｂ等を経て、対物レンズ１７によって試料ｗの表面に集光し、表面を走査する。 - 特許庁

This crack sample 1 is produced by sticking a band-like constraint body 3 formed of a carbon fiber collection plate to the back surface of a plate body 2 of a substantially rectangular top surface made of concrete so that it crosses the plate body 2 in a diagonal shape.例文帳に追加

本発明のひび割れ供試体１は、コンクリート等からなる上面略矩形の板体２の裏面に、炭素繊維集成板からなる帯状の拘束体３を、板体２の対角線状に交差させて貼着したものである。 - 特許庁

In addition, since abrasive powder/abrasive material which fall on the grinding sample preparation jig 1 during grinding are trapped in the groove 5 and they are not likely to stick to the surface of the holding base 2, a surface roughness of the holding base 2 is not likely to appear.例文帳に追加

また、研磨に伴い研磨試料作成治具１に降りかかる研磨粉・研磨材も溝５に取り込まれ、保持台２の表面に研磨粉・研磨材が付着しにくいので、保持台２の表面荒れが発生しにくくなる。 - 特許庁