「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

A scanning probe microscope is provided where the probe 2 is temporarily separated from the sample surface after sampling the observation data, and is moved to a next observation point.例文帳に追加

観測データを採取後は探針２を一旦試料表面から離し、次の観測点に移動させる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An image analysis can be performed with a novel algorithm for measuring cells on the surface reflecting the target cell concentration of the original sample.例文帳に追加

元のサンプルの標的細胞濃度を反映する、表面上の細胞を計測するための新規のアルゴリズムにより、画像分析を実行することができる。 - 特許庁

To detect a detection signal at an optimum position, when a sample surface is slanted with respect to the charged particle beams.例文帳に追加

本発明の目的は、荷電粒子ビームに対して試料面を傾斜させた場合において、最適な位置にて検出信号を検出することに関する。 - 特許庁

As the probe tip approaches a sidewall 153 on the surface of a sample 135, the oscillation of the probe tip in the Z-direction is modulated at the dithering frequency.例文帳に追加

プローブ先端がサンプル１３５表面上の側壁１５３に接近するにつれて、プローブ先端のＺ方向の振動はディザリング振動数で変調される。 - 特許庁

To provide a scanning confocal microscope by which three-dimensional images of good accuracy can be obtained and the color information of a sample surface can be reproduced.例文帳に追加

精度の良い三次元画像を得ることができ、さらに試料表面の色情報を再現することもできる走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The surface temperature is calculated from the detected black body radiation in an evaluation circuit with an emissivity stored for a different sample 3.例文帳に追加

表面温度は、検知された黒体放射から個別の試料３に対して格納されている放射率とともに、評価回路において計算される。 - 特許庁

This apparatus comprises (a) a device, preferably, an incision assembly for forming the unclosed opening in the skin surface from which the sample is extracted and (b) a vacuum pump.例文帳に追加

本装置は（ａ）サンプルを抜き取る皮膚面に非閉塞開口を形成するためのデバイス、好ましくは切開アセンブリ、及び（ｂ）真空ポンプを含む。 - 特許庁

To make an image of unevenness, etc., on a sample surface with good reproducibility and with high accuracy by performing control in a non- contact and stable manner.例文帳に追加

非接触で安定した状態で制御を行い、試料表面の凹凸等のイメージ作成を再現性良く高精度に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a chemiluminescence type nitrogen oxide concentration meter capable of preventing dew condensation of water in sample gas on a glass window surface interposed between a reaction vessel and a detecting part.例文帳に追加

反応槽と検出部の間に介在するガラス窓表面に試料ガス中の水分が結露しない化学発光式窒素酸化物濃度計を得る。 - 特許庁

This judging method is (1) a process for placing a sample piece of a fiber product on the surface of an epidermis of a skin model and (2) a process for culturing the skin model in this state.例文帳に追加

(1)皮膚モデルの表皮面上に繊維製品のサンプル片をおく工程、(2)この状態で皮膚モデルを培養する工程を有する皮膚刺激性判定法。 - 特許庁

The stage 15 is supported so as to be capable of tilting around two axes which passes by the center of an illustration of the surface of the sample block 10 and are orthogonal to each other.例文帳に追加

ステージ１５を、試料ブロック１０の表面の図心近傍を通り、互いに直交する２本の傾動軸の回りで傾動可能に支持する。 - 特許庁

The surface 1f of the sample includes the first and second faces, and a diameter of a beam spot is within a width between a width of the first face and a width of the second face.例文帳に追加

サンプルの表面１ｆは第１と第２の面を含み、ビームスポットの直径は第１の面の幅と第２の面の幅との間の幅である。 - 特許庁

To obtain an attenuated total reflection(ATR) apparatus by which an ATR measurement can be performed with high accuracy by a method wherein a sample on the surface of an ATR crystal is pressed by a pressure force from the vertical direction.例文帳に追加

ＡＴＲ結晶上面の試料を垂直な方向から適切な押圧力で押圧し、ＡＴＲ測定を高精度で行えるようにすること。 - 特許庁

To provide a water quality measuring instrument that can avoid the occurrence of errors in the measurement of water quality as much as possible and also has improved handling properties by securing the thickness of the sample vessel uniformly, always facilitates positioning accurately when storing the sample vessel at a sample vessel storage section, and prevents the surface of the body of the sample vessel from being contaminated or wetted.例文帳に追加

試料容器の厚みの均一性を確保するとともに、試料容器収容部に試料容器を収容する際に常に正確な位置決めが容易にできるようにし、併せて試料容器本体の表面が汚れたり濡れたりしないようにすることで、水質測定の誤差の発生を極力回避できて取り扱い性にも優れる水質測定器およびそれに用いられる試料容器を提供する。 - 特許庁

Scanning electron rays (incident rays) are intermittently applied to a sample 6, backscattering electrons generated when the electrons are applied to the sample 6 are detected by a backscattering electron detector 22, and the time difference between the electrons applied to the sample 6 and the backscattering electrons detected by the backscattering electron detector 22 is compared and measured, thus measuring the shape of a sample surface.例文帳に追加

試料６に対して走査する電子線（入射線）を断続的に照射し、該電子線が試料６に照射されたときに発生する後方散乱電子を後方散乱電子検出器２２で検出し、時間差検出部５３により、試料６に照射される電子線と後方散乱電子検出器２２で検出した後方散乱電子との時間差を比較計測し、試料表面の形状を測定する。 - 特許庁

The method for X-ray analysis of the sample includes directing of a beam of X-rays to impinge on an area of the periodic feature on the surface of the sample, and receiving the X-rays scattered from the surface in a reflection mode so as to detect a diffraction spectrum in the scattered X-rays as a function of the azimuth.例文帳に追加

試料をＸ線解析する方法は、試料の表面上の周期構造の領域に衝突するようにＸ線ビームを方向付け、方位角の関数として散乱Ｘ線の回折スペクトルを検出するように反射モードで表面から散乱したＸ線を受け取ることを含む。 - 特許庁

The reflected X-ray measuring means 6 is moved along the track obtained by setting an emitted X-ray vector in the same direction as the incident vector of incident X-rays to a reference point (zero point) to rotate the same centering around the normal line T from the center of the surface of the measuring sample to detect the diffracted light from the surface of the sample.例文帳に追加

入射Ｘ線の入射ベクトルと同方向の射出Ｘ線ベクトルを基準点（０点）として、前記測定試料表面の中心からの法線Ｔの周りに前記射出ベクトルを回転して得た軌跡に沿って、前記反射Ｘ線測定手段６を移動し、試料表面からの回折光を検出する。 - 特許庁

To provide a method for analyzing secondary ion masses, capable of specifying an analyzing position, even with respect to a sample, where the hole formed by the irradiation with ion beam is difficult to be discriminated, because the optical surface reflectivity is low, by irradiating the surface of the sample with a laser beam through the route of a secondary ion optical system.例文帳に追加

二次イオン光学系の経路を通して試料表面にレーザを照射することにより、表面の光学的な反射率が低いため、イオンビームを照射して形成された穴が判別しにくい試料であっても分析位置を特定することができる二次イオン質量分析方法を提供する。 - 特許庁

The charged particle beam apparatus is also provided with a measuring means 24 for measuring an electrification charge volume of the surface of the sample 19, and electrification charge removing means 6, 17 for reducing or extinguishing the electrification charge volume on the surface of the sample 19.例文帳に追加

この荷電粒子線装置は、試料１９の表面の帯電電荷量を計測する計測手段２４と、計測手段２４によって計測された帯電電荷量に基づいて、試料１９の表面における帯電電荷量を低減又は消滅させる帯電解消手段６、１７とを具備することを特徴とする。 - 特許庁

In a nucleic acid analysis device for analysis of nucleic acid in a sample through fluorometry, a localized surface plasmon is generated by light irradiation and a nucleic acid probe or a nucleic acid synthetic enzyme for the analysis of the nucleic acid in the sample is disposed in a region of generation of the surface plasmon.例文帳に追加

本発明は、蛍光測定により試料中の核酸を分析する核酸分析デバイスにおいて、光照射により局在型表面プラズモンが発生し、かつ、試料中の核酸を分析するための核酸プローブや核酸合成酵素が前記表面プラズモンの発生部位に配置されていることに関する。 - 特許庁

To provide an autofocus microscope capable of visualizing a focusing position on the sample surface with a simple constitution without adding a new light source for illuminating a mark indicating the focusing position on the sample surface and without changing the conventional optical system disposed in the microscope in the least.例文帳に追加

標本の表面上の合焦点位置を示す指標を照明するための新たな光源を追加することなく、また、顕微鏡が備える既存の光学系を何ら変更することなく、標本の表面上の合焦点位置を簡単な構成で視認することができる自動焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A sample in contact with the surface 1s of the first reflector 10 is irradiated with measurement light L1, and an analyte S for mass spectrometry included in the sample is desorbed by utilizing an electric field on the surface 1s of the first reflector 10 intensified by resonance generated in the optical resonator.例文帳に追加

第１の反射体１０の表面１ｓに接触された試料に対して測定光Ｌ１を照射することにより、光共振体内に生じる共振によって増強された第１の反射体１０の表面１ｓにおける電場を利用して、試料中に含まれる質量分析の被分析物質Ｓを脱離させる。 - 特許庁

To provide a surface measuring apparatus in which the parallelism of both surfaces of a sample and its relative surface shape are measured simultaneously and in which an optical system is constituted and aligned easily, by a method wherein both surfaces of the sample are irradiated with parallel light and reflected light is made to interfere by the irradiated parallel light.例文帳に追加

試料の両表面に平行光を照射し、照射された平行光によって反射された光が干渉を起こすようにし、試料の両面の平行度及び相対的な表面形状を同時に測定し、光学系の構成及び整列が容易な表面測定装置を提供する。 - 特許庁

In this micro-fluid chip having an introduction means storage part for storing a liquid sample introduction means, the introduction means storage part is equipped with an opening part for inserting the liquid sample introduction means, and the opening part is provided on the upper surface or on the lower surface of the micro-fluid chip.例文帳に追加

液体試料導入手段を収容するための導入手段収容部を有するマイクロ流体チップであって、該導入手段収容部は、該液体試料導入手段を挿入するための開口部を備えており、該開口部は、マイクロ流体チップの上面または下面に設けられているマイクロ流体チップである。 - 特許庁

The surface plasmon resonance angle detection device 1 applies light from a light source 19 to the sample solution of a sensor chip where a prism 5 is bonded to a surface in that no metal thin film is formed of a glass substrate 17 where the metal thin film is formed, detects a resonance angle according to reflection light intensity from the metal thin film, and specifies a sample.例文帳に追加

表面プラズモン共鳴角検出装置は金属薄膜が成膜されたガラス基板の金属薄膜の非成膜面にプリズムを密着させたセンサーチップの試料溶液に対し、光源からの光を照射して金属薄膜からの反射光強度により共鳴角を検出して試料を特定する。 - 特許庁

An elastically bendable plate-like cantilever fixed in its base end and provided with a probe in its free end is arranged perpendicularly to a sample surface, and is moved relatively while keeping a very small space between a tip of the probe and the sample surface to measure torque acting on the probe by detecting a bent amount of the cantilever.例文帳に追加

基端を固定し自由端にプローブを設けた弾性的に屈曲可能な板状のカンチレバーを試料表面に対して垂直に配置し、プローブの先端と試料表面との間隔を極微小に保ちながら相対移動させ、カンチレバーの屈曲量を検出することによりプローブに働くトルクを測定する。 - 特許庁

In the charged particle beam inspection method and device, a conductive plate having an opening along an optical path of a charged particle optical system, for covering a part of a lower part of a lens-barrel according to a view from an EB irradiation point on the sample surface is provided between the under surface of a charged particle beam optical lens-barrel and the sample.例文帳に追加

荷電粒子ビーム検査方法及び装置において、荷電粒子ビーム光学鏡筒の下面と試料との間に、導電性を有し、かつ、荷電粒子光学系の光路に沿って開口を有し、かつ、試料の表面上のＥＢ照射点から見て、鏡筒の下部の一部を覆う板を設ける。 - 特許庁

At that time, when calculating the intensity of the reflection light V heading for the viewpoint E from a sample point Q, a curvature of the object surface in the sample point Q is found, and calculation considering the curvature-dependent reflection characteristic corresponding to the curvature is performed.例文帳に追加

このとき、サンプル点Ｑから視点Ｅに向かう反射光Ｖの強度を演算する際に、サンプル点Ｑにおける物体表面の曲率を求め、当該曲率に対応した曲率依存反射特性を考慮に入れた演算を行う。 - 特許庁

A flow channel 4 is formed on the joining surface of glass substrates 2 and 10 and a sample liquid sump 8 for receiving the sample is formed at one end part of the flow channel 4 while an opening 6 becoming a part of a nebulizer part is formed to the other end of the flow channel 4.例文帳に追加

ガラス基板２，１０の接合面に流路４が形成され、流路４の一端部には試料導入を行うための試料用液溜め８が形成され、流路４の他端側にはネブライザー部となる開口６が形成されている。 - 特許庁

A sample 18 of organic matter is arranged in a vacuum tank 11 to be irradiated with X rays from an X-ray irradiation device 13 and the discharged photoelectron is detected by a photoelectron detector 14 to analyze the surface of the sample 18.例文帳に追加

真空槽１１内に有機物の試料１８を配置し、Ｘ線照射装置１３から試料１８にＸ線を照射し、放出された光電子を光電子検出装置１４によって検出し、試料１８表面の分析を行う。 - 特許庁

Changes in the spectral characteristics of a sample before and after attracting gas molecules are measured for obtaining the amount of attraction and attraction thickness of gas molecules, and further an occupied area and an occupation thickness per gas molecule are used for calculating the surface area of the sample.例文帳に追加

ガス分子吸着前後の試料の分光特性変化を測定してガス分子の吸着量および吸着厚さを求め、さらにガス分子一分子あたりの占有面積および占有厚さを用いて試料の表面積を算出する。 - 特許庁

To measure the surface physical properties of a sample without being influenced by the variation of contact areas by securing the contact area between a probe and the sample, preventing plastic deformation, and seizing the contact area in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、プローブと試料との接触面積を確保し塑性変形を防止し、かつ、接触面積を把握することで接触面積のバラツキによる影響を無くして試料の表面物性を測定することを課題とする。 - 特許庁

Voltage is applied across the sample S and the electrode while applying vibration to the placing part 31 from an ultrasonic oscillator (oscillator) 33 to generate glow discharge and the surface of the sample S is excavated by the ionic shock of argon ions accompanying glow discharge.例文帳に追加

超音波発振器（発振器）３３から振動を載置部３１に加えながら試料Ｓと電極との間に電圧を印加してグロー放電を発生させ、グロー放電に伴うアルゴンイオンのイオン衝撃により試料Ｓの表面を掘削する。 - 特許庁

The light from the sample in the sample cell 10 including fluorescent light is condensed by lenses 12a, 12b, enters into a diffraction grating 16 through a slit 14, is dispersed by each wavelength, and focuses on a light receiving surface of an array-like photodetector 18.例文帳に追加

蛍光を含む試料セル１０中の試料からの光はレンズ１２ａ，１２ｂによって集光され、スリット１４を介して回折格子１６に入射し、波長ごとに分光されてアレイ状の光検出器１８の受光面上に結像する。 - 特許庁

A sample 76 is scanned, while controlling so that the interval between a sample surface and the tip of the conductive fine probe is kept constant by a signal from a tuning fork 71, and the output from the electrometer 73 is made into an image and displayed on a display part 79.例文帳に追加

チューニングフォーク７１からの信号によって試料表面と導電性微細プローブの先端との間隔が一定になるように制御しながら試料７６を走査し、エレクトロメータ７３の出力を画像化し表示部７９に表示する。 - 特許庁

Then, the protective film 4 and the thin-film sample 2 located on a lower surface of the protective film 4 are set to be samples 5 to be sampled that are to be sampled for performing an analysis using the three-dimensional atom probe, thus making the sample for atom probe observation.例文帳に追加

そして、保護膜４および保護膜４の下面にある薄膜試料２は、三次元アトムプローブを用いた解析を行なうために採取される対象である採取対象試料５とされ、アトムプローブ観察用の試料が作製される。 - 特許庁

To provide a probe approach method for bringing a probe closer quickly, reliably avoiding the collision between the probe and the sample, and surely preventing the damage in the probe or the like when bringing the probe closer to the sample surface in a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で、試料表面に向かって探針を接近させるとき、探針を短時間で接近させ、かつ探針と試料の衝突を確実に避け、探針等の破損を確実に防止する探針接近方法を提供する。 - 特許庁

The preliminary heating is performed for removing oxygen and/or nitrogen which has adhered to the surface of the capsuled body 38, and for forming a titanium sample unit 39 in which a titanium sample 38A and nickel bath 38B have a partial fusing part 39a.例文帳に追加

予備加熱は、被包体３８の表面に付着した酸素及び／又は窒素を取り除くとともに、チタン試料３８Ａとニッケル浴３８Ｂとが部分的な融着部３９ａを有するチタン試料ユニット３９を形成するために行われる。 - 特許庁

While the probe 2 is oscillated at a constant oscillation amplitude by an exciting means 3 and an oscillation amplitude controlling means 5, a controlling means 8 makes the probe 2 approach or come into contact with the sample until an interaction force works between the probe 2 and the sample surface S.例文帳に追加

加振手段３及び振動振幅制御手段５により探針２を一定の振動振幅で振動させながら、制御手段８により探針２を試料表面Ｓとの間に相互作用力が働くまで接近又は接触させる。 - 特許庁

A water-pouring height H when measuring the mass is regulated to the height that is nearly the same as the position of an upper surface 4a of the sample container 4 and to the height where water can flow into the sample container 4 by a water drain port 8.例文帳に追加

このとき、質量測定時における上記注水高さＨを、水排水口８によって、上記試料容器４の上面４ａの位置と略同じ高さで、且つ当該試料容器４内に水が流入可能な高さに規制する。 - 特許庁

Then as it is possible to verify the state of separation of the sample in the middle of electrophoresis by reading the whole surface of the electrophoresis path, the electrophoresis is completed at the stage that the sample is sufficiently separated, and molecular weight is measured by the distance of electrophoresis.例文帳に追加

電気泳動路の全面を読み取ることにより試料の分離状態を電気泳動の途中で確認することができるため、充分に試料が分離した段階で電気泳動を終了し、分子量の測定を電気泳動距離で行う。 - 特許庁

The sample S is almost isotropically excavated by vibration while rotated at random, the analysis of a component in a radial direction due to glow discharge emission analysis become possible and surface of the cleanly formed sample S can be observed by SEM or the like.例文帳に追加

振動によって試料Ｓはランダムに回転しながらほぼ等方的に掘削され、グロー放電発光分析による半径方向の成分分析が可能となり、清浄に形成した試料Ｓの表面をＳＥＭ等で観察することも可能となる。 - 特許庁

To provide a sectional sample preparing method which has a means removing easily and effectively a work damaged layer remained on an observation surface of a sectional sample and can accurately perform various measurement for a section of a semiconductor device.例文帳に追加

断面試料の観察面に残存する加工ダメージ層を簡単かつ効果的に除去する手段を備え、半導体デバイスの断面に関する各種測定を精度よく実施することが可能な断面試料を作製する方法を提供すること。 - 特許庁

The refractory sample 10 is supported by the water cooling panel 310 of a cooling part 300 in a state that its axial direction is almost set in a vertical direction and the peripheral surface of the refractory sample 10 is covered with a heat insulating member 400 in a state thermally insulated through a gap.例文帳に追加

耐火物試料体１０を冷却部３００の水冷パネル３１０上に、軸方向が鉛直方向に略沿う状態に支持し、断熱部材４００にて耐火物試料体１０の周面を間隙を介して断熱する状態に覆う。 - 特許庁

A plurality of potentials to be applied to the back of the sample S are set, and the Vth distribution when some position on the sample S surface is put on a boundary between reflection and absorption of the electron beam is defined by expression: (Vacc-Vsub) from an acceleration voltage Vacc and an application voltage Vsub to the back.例文帳に追加

試料Ｓ裏面に加える電位を複数設定し、試料Ｓの表面のある位置が電子ビームが反射するか吸収される境界となった場合のＶｔｈ分布を加速電圧Vaccと、裏面の印加電圧Vsubから、Vacc-Vsub により定義する。 - 特許庁