「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a reflected light measuring instrument, and a reflected light measuring method capable of measuring precisely luminous energy of reflected light on a sample surface by measuring accurately luminous energy of reflected light on each reference surface.例文帳に追加

基準面の反射光量を正確に測定することにより試料面の反射光量を高精度に測定を行うことのできる反射光測定装置及び反射光測定方法を提供する。 - 特許庁

The X-ray beam 2' is incident on an XZ surface, and an X-axis is moved to determine the position in the surface of the sample 1 on the basis of X-coordinates X1 and X2 that has diffracted X rays 2a suddenly changed in the intensity.例文帳に追加

Ｘ線ビーム２’をＸＺ面に入射し、Ｘ軸を移動して回折Ｘ線２ａ強度が急変するＸ座標Ｘ１、Ｘ２を基準として試料１面内の位置を決定する。 - 特許庁

Sample is delivered by contacting the pin tool with the surface; the amount delivered is proportional to the velocity of the pin tool as it contacts the surface or the velocity of the liquid when movement of the pin is halted.例文帳に追加

ピンツールが表面と接触することで試料が供給され、供給される量は、表面と接触する時のピンツールの速度、又はピンの移動が停止された時の液体の速度に比例する。 - 特許庁

An air bearing guide or the like is used for the guide mechanism of the sample stage 16, and a stage position is held by attracting the stage 16 floating above a surface plate 18 to a surface plate 18 side by the permanent magnet 17.例文帳に追加

試料ステージ１６の案内機構にエアベアリングガイド等を用い、定盤１８上に浮上したステージ１６を永久磁石１７で定盤１８側に引き付けてステージ姿勢を保持する。 - 特許庁

To provide a nondestructively-measurable surface evaluation device capable of discriminating in a wide range, foreign matter or fine irregularities on the sample surface or the change of a structure or a composition, and measuring easily in a short time with high accuracy.例文帳に追加

試料表面上の異物や微細な凹凸、構造や組成の変化を、広い範囲で識別でき、短時間かつ容易に、高精度に測定できる、非破壊測定可能な表面評価装置を提供。 - 特許庁

Herein, the internal haze is a haze measured according to JIS K7105 (A method) on a sample obtained by sandwiching the film before the heat-shrinkage, of which upper surface and lower surface are coated with a cedar oil, between two glass plates.例文帳に追加

ここで、前記内部ヘーズは、熱収縮前のフィルムの上面および下面にツェーデル油を塗布し、２枚のガラス板に挟んだ試料について、ＪＩＳ Ｋ ７１０５（Ａ法）に従って測定されるヘーズである。 - 特許庁

When analysis is performed by a single- beam measurement device, a magnetic-layer side surface of a floppy disk as a sample S is brought into close contact with a bottom surface of the prism at a contact pressure of 10 kgf/cm2 or less.例文帳に追加

シングルビーム測定装置による分析に際しては、サンプルＳとしてのフロッピーディスクの磁性層形成側の表面をプリズム底面に接圧１０ｋｇｆ／ｃｍ^2以下で密着させる。 - 特許庁

A thin film plate 62 formed with thin films 62b so as to stepwise change their film thicknesses on one surface of a substrate 62a is placed on a sample surface and the thin films 62b are irradiated with light.例文帳に追加

基板６２ａの一方の表面上に膜厚が段階的に変化するよう薄膜６２ｂが形成された薄膜板６２を試料面上に載置し、光を薄膜６２ｂに照射する。 - 特許庁

In this case, the surface density of energy per pulse is controlled to be in a range of 1-1,000 J/cm^2, in the vicinity of the decontamination object sample 20 surface via the condensing optical system 12.例文帳に追加

この際、パルス当たりのエネルギーの面密度は、集光光学系１２を介して除染対象試料２０表面近傍で１Ｊ／ｃｍ^２〜１０００Ｊ／ｃｍ^２の範囲内で制御される。 - 特許庁

The measurement sample is adhered on the surface of a substrate to which metal nano fine particles having a self-organization monolayer film of organic particles on the surface is distributed or two-dimensional closest packing fixation is performed to the metal nano fine particles.例文帳に追加

有機分子の自己組織化単分子膜を表面に有する金属ナノ微粒子を分散あるいは２次元最密充填固着した基板の表面上に、測定試料を付着させる。 - 特許庁

Light quantity in a prescribed region on the light-receiving surface is determined from the light quantity distribution by the CCD camera 6, and image clarity value on the sample surface 1a, corresponding to the width of a single region, is calculated.例文帳に追加

ＣＣＤカメラ６による光量分布から、受光面における所定領域の光量を求めて、前記単一領域の幅に対応するサンプル面１ａの写像性の値を算出する。 - 特許庁

The surface state of the gas sensor of the sensor part 5 is reduced in the amt. of oxygen through the redox reaction with the sample gas, and by supplying the oxygen gas, the surface state of the gas sensor is recovered quickly.例文帳に追加

センサ部５のガスセンサの表面状態は、サンプルガスとの酸化還元反応によって酸素が少なくなっており、酸素ガスを供給することにより、ガスセンサの表面状態の回復が早まる。 - 特許庁

The confocal differential interference image shows unevenness change of approximately several nm of a sample surface in the form of a luminance distribution, so a crystal defect appearing on the SiC substrate surface or epitaxial layer surface is detected based upon the luminance distribution.例文帳に追加

共焦点微分干渉画像は、試料表面の数ｎｍ程度の凹凸変化を輝度分布として表すので、SiC基板表面又はエピタキシャル層表面に出現した結晶欠陥を、輝度分布に基づいて検出することができる。 - 特許庁

To provide a surface state analyzing device which can detect the light irregularly reflected or scattered on a sample surface with a simple configuration and can analyze the surface state based on such returning light as irregular reflection and scattering, etc.例文帳に追加

試料表面で乱反射あるいは散乱した光を簡易な構成で検出し、その乱反射光、散乱光等の戻り光から表面状態を分析することができる表面状態分析装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a technology for cleanly removing chips with the shaving of defects by a scanning probe microscope, without being restricted even by the surface tension of adsorption water existing on the surface or static charge with friction on a sample surface.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による欠陥部削り落としに伴う切り粉が、表面に存在する吸着水の表面張力や摩擦にともなう帯電によっても試料面に拘束されることなく綺麗に除去される技術を提示する。 - 特許庁

To provide an evaluation method of a surface state, capable of easily evaluating the surface free energy of a microregion and becoming a similar evaluation as the measurement evaluation of the surface free energy by a usual contact angle measuring method, if the energy is the same as the sample.例文帳に追加

微小領域の表面自由エネルギーを容易に評価でき、かつ表面自由エネルギーが同じ試料であれば通常接触角測定方法で測定した評価と同様の評価となる表面状態の評価方法を提供する。 - 特許庁

Thus, information on the surface electric potential can be acquired without unevenness even when the amount of charged particles through the sample varies dependent on the scanning position.例文帳に追加

これにより、試料を介した荷電粒子量が走査位置に依存して変化しても、表面電位に関する情報をムラなく取得することができる。 - 特許庁

Thereby, an initial focus of the primary electron beam can be well focused to a requested domain of in the sample surface, and pattern shift phenomenon generation can be reduced.例文帳に追加

これにより、試料表面での所望の領域に１次電子ビームの初期フォーカスを良好に合わせられ、パターンシフト現象発生を減らせる。 - 特許庁

To provide a method wherein the number of particles to be stuck to the surface of a sample, electrostatically attracted to an electrostatic chuck, is reduced easily and their adhesion can be suppressed.例文帳に追加

静電チャックに静電吸着された試料の表面に付着するパーティクルの数を容易に低減して、その付着を抑制できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of detecting accurately the displacement quantity of a probe, and thereby observing the accurate surface structure of a measuring sample.例文帳に追加

探針の変位量を正確に検出し、ひいては被測定試料の正確な表面構造を観測できる走査型プローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

The outer peripheral surface 31a of the sample holder 31 is constituted by connecting a plurality of circular arcs 31b having a diameter different from the radius (r) of the disc 31A.例文帳に追加

試料ホルダー３１の外周面３１ａが円板３１Ａの半径ｒと径が異なる複数の円弧３１ｂを連接して構成になっている。 - 特許庁

To provide a method capable of isolating a microorganism seed which is difficult to isolate by a surface plate culture method from a sample in which various kinds of microorganisms are mixed.例文帳に追加

種々の微生物種が混在する試料から、平板培養法では単離が困難な微生物種を単離することができる方法を提供する。 - 特許庁

A hard rubber plate 23 is stuck to a surface at the sample side of the lever holder 20 so that a hole 22 that is open at the central part overlaps with the hole 21.例文帳に追加

該レバーホルダーの試料側の面には、中央部に開けられた孔２２が前記孔２１と重なるように硬質ゴム板２３が固着されている。 - 特許庁

The liquid after sweeping is sucked by relatively moving the nozzle along the sample surface in the direction reverse to eccentric direction of the opening.例文帳に追加

掃引後の液体の吸引は、前記ノズルを前記開口の偏心方向とは反対方向に試料表面に沿って相対的に移動させながら行う。 - 特許庁

Because of foam on the surface of the fluid or a clot in the fluid, the sample volume assumes a value that is much smaller or greater than anticipated.例文帳に追加

流体の表面の気泡又は流体中の凝塊により試料体積が予期された値に較べはるかに小さくなるか又ははるかに大きくなる。 - 特許庁

The surface mobility of minority carriers in the semiconductor wafer or sample 10 is determined as a function of the applied electrical bias and the value of the measured current.例文帳に追加

半導体ウエハまたはサンプル１０中の少数キャリアの表面移動度が、印加された電気バイアスと測定電流値の関数として決定される。 - 特許庁

The calligraphy practicing paper sheet 1 is formed by printing its front surface with the character sample book 2 by using a vermillion color oily ink repelling Indian ink and by dots.例文帳に追加

練習用紙１の表面に、墨をはじく朱色の油性インクを用いて、かつ網点により文字手本２を印刷した習字練習用紙。 - 特許庁

To provide a calibration sample simplifying calibration work of a surface property measurement device and also shortening a time needed for the calibration.例文帳に追加

表面性状測定機の校正作業を単純化するとともに校正作業にかかる時間の短縮を可能とする校正標本を提供する。 - 特許庁

A conductive film is formed in the sample surface, and the conductive film is etched with the conductive film covered with a conductive sheet with a mesh-shaped opening part.例文帳に追加

試料表面に導電膜を形成し、その上にメッシュ状の開口部を有する導電性の薄板を被せたまま該導電膜をエッチングする。 - 特許庁

An excess amount of liquid sample spreads in longitudinal directions of the groove 3 and held in the space between the groove 3 and the lower surface of the presser plate 7 at the prescribed location.例文帳に追加

すると、余分の液体試料は溝３の長手方向に拡がり、所定位置においては溝３と押さえ板７の下面との間の空間に保持される。 - 特許庁

The orther aspect is the sample capturing alloy defined in claim 1 which is imparted with charge by modification of the surface.例文帳に追加

本発明の他の側面は、表面が修飾されることで電荷が付与されていることを特徴とする請求項1記載の試料捕捉合金にある。 - 特許庁

To provide a method and instrument for measuring the dielectric characteristics of the surface of a sample corresponding to a temperature change in an environment.例文帳に追加

本発明は、環境での温度変化に対応した試料表面の誘電特性を測定できる方法と装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a surface tension measuring device that facilitates usage with a simple structure, and achieves high accuracy while using a small amount of liquid sample, at low cost.例文帳に追加

簡単な構造で使いやすく、少量の液体試料を用いながら良好な精度が得られる表面張力測定装置を低コストで実現すること。 - 特許庁

The ions generated in the vicinity of the surface of the sample 2 have an initial speed which does not depend on the m/z, however the other ions have a speed corresponding to the m/z by the action of electric field.例文帳に追加

試料２表面付近で発生したイオンはm/zに依存しない初速を持つが、そのほか電場の作用によりm/zに応じた速度を持つ。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which obtains a high-resolution and high-contrast concavo-convex image of a sample surface.例文帳に追加

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。 - 特許庁

In this method, when operating autofocus, a scanning pattern of an electron beam optimum to operate the autofocus is selected in advance according to the surface structure of a sample 5.例文帳に追加

オートフォーカス動作の際には、あらかじめ試料５の表面構造に応じて、オートフォーカスを行うのに最適な電子ビームの走査パターンの選択が行われる。 - 特許庁

A measurement coil, used for this NMR equipment, is arranged on an axisymmetric rotating surface, having the center axis of longitudinal direction of the sample tube, as the axis of rotation.例文帳に追加

本NMR装置に用いる測定用コイルを試料管の長さ方向の中心軸を回転軸とした軸対称の回転曲面上に配置する。 - 特許庁

To prevent the leakage of fluorescent X-ray regardless of the size of a sample to ensure high safety in a lower surface irradiation method.例文帳に追加

下面照射方式の蛍光Ｘ線分析装置において、試料の大小に拘わらず蛍光Ｘ線の漏洩を防止して高い安全性を確保する。 - 特許庁

The sample holder for a charged particle beam device is formed to be asymmetric in the front-and-rear, right-and-left, and surface-and-rear-face directions by deforming its one corner.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置用試料ホルダであって、その一角を変形させ、前後／左右／表裏方向に非対称となるように構成される。 - 特許庁

An incident ray 16 is directed to a surface of a sample P by a mirror lens 15, and similarly an outgoing ray 17 is detected by the mirror lens 15.例文帳に追加

入射光線（１６）をミラーレンズ（１５）により試料（Ｐ）の表面へ指向させ、同様にミラーレンズ（１５）により射出光線（１７）を検出する。 - 特許庁

Further more the test device 1 is capable of testing the surface degradation promotion test while heating the sample W by heating with the heating means 5.例文帳に追加

さらに、試験装置１は、加熱手段５によって試料Ｗを加熱した状態で表面状態劣化促進試験を実施することができる。 - 特許庁

On a front surface part of the carrier vehicle 1, a docking port 6 communicated with the reentry capsule 5 and a pyramidal guide 7 leading the sample holder 4 to the docking port 6 are provided.例文帳に追加

キャリアビークル１の前面部に、リエントリーカプセル５と連通するドッキング口６と、ドッキング口６へサンプルホルダー４を導く錐状のガイド７を設ける。 - 特許庁

Measurements of shape and physical property of a surface of a sample on which the sharp probe point 8 of the protruding part 6 exists can be performed highly precisely.例文帳に追加

突出部６の先鋭な探針点８が存在するから試料表面の形状測定や物性測定を高精度に行うことができる。 - 特許庁

A plurality of reference members 19 are arranged in a matrix form, in a sample support domain of the living tissue 8 on the upper surface 91 of the resin plate 9.例文帳に追加

樹脂プレート９の上面９１において、生体組織８の試料支持領域内に、複数のリファレンス部材１９がマトリクス状に配置されている。 - 特許庁

The presence of labeled target nucleic acids on the array surface are detected at the location to determine the presence of one or more nucleic acid analytes in the sample.例文帳に追加

アレイ表面上の標識された標的核酸の存在をそこで検出し、試料中の一以上の核酸検体の存在の決定に用いる。 - 特許庁