「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

Otherwise, a device for guiding an electron beam generated from an electron beam source onto a sample surface may be disposed, and the sample surface may be irradiated with one or both of electromagnetic waves and electron beams by driving one or both of an electromagnetic wave irradiating device and an electron beam irradiating device.例文帳に追加

また、電子線源から生成された電子線を試料の表面上に導く装置を設け、電磁波照射装置及び電子線照射装置の一方又は両方を駆動して、電磁波又は電子線の一方又は両方を試料の表面に照射するようにしてもよい。 - 特許庁

It is also possible to prepare an apparatus which guides an electron beam generated from an electron beam source to the surface of the sample, drive any or both of the electromagnetic wave irradiation device and an electron irradiation device, and irradiate any or both of the electromagnetic waves or the electron beam to the surface of the sample.例文帳に追加

また、電子線源から生成された電子線を試料の表面上に導く装置を設け、電磁波照射装置及び電子線照射装置の一方又は両方を駆動して、電磁波又は電子線の一方又は両方を試料の表面に照射するようにしてもよい。 - 特許庁

This chip for electrophoresis is constituted of a transparent planer substrate 2 and a bonded plate 3 bonded in a watertight state on the upper surface of the substrate 2, and a separation passage 4 for electrophresing a sample and a sample introduction passage 5 perpendicular thereto are formed on the upper surface of the substrate 2.例文帳に追加

電気泳動用チップ１は、透明板状の基板２と、その基板２の上面に水密状態に接合された接合板３とによって構成され、その基板の２の上面には試料を電気泳動させる分離流路４及びこれと直交する試料導入流路５が形成される。 - 特許庁

Quantum lines such as light quanta, electrons or charged particles having prescribed electron transition energy characteristic with respect to the element are allowed to enter atoms on the sample surface, and thereby the change of an interaction force between the sample surface atoms entered by the quantum lines and a probe tip is detected.例文帳に追加

試料表面の原子に対して元素固有の所定の電子遷移エネルギーを有する光量子、電子、荷電粒子等の量子線を入射し、この量子線が入射された試料表面原子と探針先端との間の相互作用力の変化を検出する。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus constituted of a structure preventing a breakdown of an application end of an interference optical system due to a collision between a sample stage for holding a sample and an application end of the optical system when measuring an aspheric surface of a measured surface with high accuracy.例文帳に追加

被測定面の非球面形状を高精度に測定する際に、被測定物を保持するサンプルステージと干渉光学系の照射先端部との衝突による干渉光学系の照射先端部の破損を防止した構造を有する測定装置を提供する。 - 特許庁

The sampling method includes the steps of emitting the plasma to a surface of the analytical object housed in a closed space; producing a sample gas, by making a surface layer part thereof guide into a gas phase; and introducing the sample gas into the analyzer through an introduction means from the closed space by a gas flow.例文帳に追加

閉空間内に納められた分析対象物の表面にプラズマを放出し、その表層部を気相中に飛散させてサンプルガスとし、当該サンプルガスをガス流によって前記閉空間から導入手段を通して分析装置に導入することを特徴とする。 - 特許庁

A reference sample surface having a molybdenum film formed thereon is heated with a heating laser beam, a temperature measuring laser smaller in diameter than the heating laser is emitted to the heated position, and the amplitude of temperature change of the reference sample surface is measured based on a detected thermo-reflectance signal light.例文帳に追加

モリブデンを成膜した参照試料表面を加熱用レーザビームにより加熱し、この加熱位置に加熱用レーザ径より小さな測温用レーザを照射し、検出したサーモリフレクタンス信号光に基づいて参照試料表面の温度変化の振幅を測定する。 - 特許庁

A ring member 11 made of an electrical insulation material for preventing a discharge into a portion 14 adjacent to the opening on the back side of the sample supporting base at spark-discharging is provided, and the opening diameter of the surface opening located on the surface of the sample supporting base is 15 mm or less.例文帳に追加

スパーク放電の際に、試料支持台の裏面の前記開口に隣接する部分１４に放電するのを防止する電気絶縁材料からなるリング部材１１を配置し、試料支持台の表面上に位置する表面開口の開口径が１５ｍｍ以下であることを特徴とする。 - 特許庁

In the nucleic acid analysis device for analyzing a nucleic acid in a sample by fluorescence measurement, a localized surface plasmon generates by light irradiation and a probe for analyzing the nucleic acid in the sample is disposed at the site where the surface plasmon generates.例文帳に追加

本発明は、蛍光測定により試料中の核酸を分析する核酸分析デバイスにおいて、光照射により局在型表面プラズモンが発生し、かつ、試料中の核酸を分析するためのプローブが前記表面プラズモンの発生部位に配置されていることに関する。 - 特許庁

While a probe 1 is vibrated in the direction of the normal line to the surface of a sample 5 with a fixed amplitude at or near the resonance frequency of the probe 1 by impressing a signal upon a piezoelectric element 3 from a signal source 4, the relative position between the surface of the sample 5 and probe 1 is scanned and controlled.例文帳に追加

信号源４から圧電素子３に信号を印加することにより、探針１を試料５表面の法線方向に探針１の共振周波数もしくはそれに近い周波数で一定の振幅で振動させ、試料５表面と探針１との相対位置を走査及び制御する。 - 特許庁

A straight line drawn on the surface in the part to be observed for shape observation is formed by local CVD or etching using a focused ion beam, and the straight line drawing direction on the sample surface in the part to be observed for shape observation and the sample stage tilting direction cross each other at right angles.例文帳に追加

形状を観察したい個所の試料表面に引く直線は、局所ＣＶＤ若しくは集束イオンビームを用いたエッチングによって施し、形状を観察したい個所の試料表面に引く直線の方向と試料ステージの傾斜方向は、直交するようにとる。 - 特許庁

The heating means 2 is formed by burying a heater 23 into a metal block 20 having the upper surface formed flatly, and container loading holes 21 loadable with the steam generation container 6 and the sample containers 3 are provided as many as at least the corresponding number to the number of systems of the sample processing apparatuses on the upper surface of the heating means 2.例文帳に追加

加熱手段（２）は、上面が平坦な金属製ブロック（２０）にヒーター（２３）を埋設して成り、加熱手段（２）の上面には、水蒸気生成容器（６）及び試料容器（３）を装填可能な容器装填穴（２１）が少なくとも試料処理機器の系統数に相当する数設けられる。 - 特許庁

When a solid sample 1 having a rough on its surface is subjected to a lithography processing, the incident light 2 is inclined within the range of 10° to 60° relative to the normal direction of a substrate surface of the solid sample 1 for exposure, in an exposure process in which a resist is applied for patterning.例文帳に追加

表面に凹凸のある立体サンプル１にリソグラフィー加工を行う際に、レジストを塗布してパターニングを行う露光工程において、入射光２を立体サンプル１の基板面の法線方向に対して、１０°以上６０°以下の範囲で傾斜させて露光する。 - 特許庁

The cylinder 113 confines the scattering of a plasma stream delivered from the chamber 102 and passed through the region of the target 105 and confines the irradiation region of the plasma stream in the surface defined by the surface of a sample mount 104 within the region on the sample mount 104.例文帳に追加

プラズマ制限筒１１３は、プラズマ生成室１０２より引き出されてターゲット１０５の領域を通過したプラズマ流の発散を制限し、試料台１０４表面で規定される面におけるプラズマ流の照射領域を、試料台１０４上の領域内に納める。 - 特許庁

A shield plate 20 is arranged at the incident position of the electromagnetic waves on the surface of the sample 14 above the surface of the sample 14 so as to leave the gap L of the wavelength distance of the electromagnetic waves and a measuring error is suppressed by the shielding or the like of the path 24 directly arriving at the receiving antenna 16.例文帳に追加

サンプル１４の表面の電磁波の入射位置には、サンプル１４の表面の上方向に電磁波の波長の距離の間隙Ｌをおいて遮蔽板２０が配置され、受信アンテナ１６に直接到達するパス２４の遮断等により測定誤差を抑制する。 - 特許庁

The solid sample having the cylindrical structure is locally irradiated with optical beam, and its acoustic resonance is coupled with a photoacoustic effect, whereby the finish dimension of a tube part present in the solid sample is measured, or the minute surface detect present on the tube inner surface is detected.例文帳に追加

筒状構造を有する固体試料を光ビームで局所的に照射し、その音響的共鳴を光音響効果と結合させる事により、固体試料内部に存在する管部の仕上がり寸法を計測し、また管内面の表面に存在する微小な表面欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a metal structure image observing apparatus capable of simply observing a metal macrostructure as a low-magnification projected image, which is formed on the surface of a metal sample, and capable of easily observing the metal composition of the whole surface, even when the metal sample is large-sized.例文帳に追加

金属試料表面に形成された金属マクロ組織を簡便に低倍率の投影画像として観察することができ、しかも金属試料が大型である場合にも、表面全体の金属組織を容易に観察することができる金属組織画像観察装置を提供する。 - 特許庁

The signal light reflected at the surface of the sample 11 takes a reverse route, and only the signal light from the vicinity of the focal plane of the object lens 9 is transmitted through a second pinhole 12 arranged at a location conjugate to the surface of the sample 11 and made incident on a saturable absorber 13.例文帳に追加

試料１１の表面で反射された信号光は逆の経路を辿り、対物レンズ９の焦点面近傍からの信号光だけが試料１１の表面と共役な位置に配した第２のピンホール１２を通過して可飽和吸収体１３に入射する。 - 特許庁

To provide a projection aligner capable of exposing a side surface of a sample to be exposed with high productivity, applicable to mass production at low cost, and capable of forming a pattern on the side surface of the sample to be exposed with high angular accuracy.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、被露光試料の側表面を高い生産性にて露光でき、安価に量産に適用でき、かつ、被露光試料の側表面に高い角度精度でパターンを形成できる投影露光装置を提供できるようにすることである。 - 特許庁

To provide a device for measuring interfacial tension and surface tension of liquid sample capable of accurately and reproducibly measuring the surface tension and interfacial tension of a low concentration detergent, a highly volatile solvent, a corrosive sample, and the like.例文帳に追加

液体試料の表面張力、あるいは界面張力の測定装置に関し、低濃度の界面活性剤、高揮発性溶媒、腐食性試料等において、正確にかつ再現性良く測定できる界面張力および表面張力の測定装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

Before forming the metal thin film on the surface of the electrical insulating sample, in the state where hydrocarbon gas is introduced into a chamber, a voltage is applied between both electrodes to generate glow discharge, and to thereby ionize a hydrocarbon component, and a hydrocarbon film is formed on the surface of the electrical insulating sample.例文帳に追加

電気的絶縁試料の表面に金属薄膜を成膜するに先立って、チャンバー内に炭化水素ガスを導入した状態で両電極間に電圧を印加してグロー放電を発生させて炭化水素成分をイオン化して電気的絶縁試料の表面に炭化水素膜を成膜する。 - 特許庁

After depositing a metal onto the surface of a semiconductor crystal which is to become come a sample, an electron beam is irradiated on the crystal surface to precipitate the metal on the crystal defect surface, thereby making it clear, and then the crystal defect is detected.例文帳に追加

試料となる半導体結晶表面に金属を付着させた後、前記結晶表面に電子線を照射して、前記金属を結晶欠陥表面に析出顕在化させ、結晶欠陥の検出を行う。 - 特許庁

The sample resin and an oxidizer are heated under pressure in a closed container having a multi-layer structure comprising an outer wall surface comprising stainless steel, an intermediate wall surface comprising fluororesin, and an inner wall surface comprising glass or platinum.例文帳に追加

ステンレス鋼からなる外部壁面と、フッ素樹脂からなる中間壁面と、ガラスもしくは白金からなる内部壁面とからなる多層構造を有する密閉容器内において、試料樹脂及び酸化剤を加圧下で加熱する。 - 特許庁

The fixing tool for manufacturing a section observation sample by breaking a film-like or sheet-like sample using the freezing fracture method includes a base material brought into contact with one surface of the film-like or sheet-like sample and a fixing tool for fixing both the ends of the sample to the base material, where the base material is bent.例文帳に追加

フィルム状またはシート状の試料を凍結破断法によって破断し断面観察試料を作製するための固定用治具であって、前記フィルム状またはシート状の試料の一方の面と接触させるため基材と、前記試料の両端を基材と固定するための固定具を備え、且つ、前記基材が曲げ可能であることを特徴とする固定用治具とした。 - 特許庁

The amount of scanning and the amount of interval control are controlled in such a way that the relative velocity between the probe and the sample in the direction of the surface of the sample may be constant in the probe scanning control device, scanning probe microscope, working device, probe scanning control method, measuring method, and working method for detecting information on the sample by relatively scanning the sample with the probe.例文帳に追加

探針を試料に対し相対走査して該試料上の情報を検出するプローブの走査制御装置、走査型プローブ顕微鏡、加工装置、およびプローブの走査制御方法、測定方法、加工方法において、前記試料表面方向において探針と試料とのなす相対速度が一定となるように、走査量と間隔制御量を制御するように構成する。 - 特許庁

When the flowability of a fluid sample is measured by passing the fluid sample containing a material component through a microchannel formed corresponding to the array of fine grooves by bringing a transparent substrate into close contact with a base substrate having the array of the fine grooves provided on its surface, the fluid sample is passed through the microchannel after expected grinding stress is preliminarily applied to the fluid sample.例文帳に追加

表面に微細な溝のアレイを備えたベース基板に対して透明基板を密着させることにより該溝のアレイに対応して形成されたマイクロチャネルアレイに、有形成分を含む流体試料を通過させることにより、流体試料の流動性を測定する際に、予め流体試料に所期のずり応力を印加した後に、その流体試料を該マイクロチャネルアレイに通過させる。 - 特許庁

The chuck device 44 is composed by having a contact 65 which annularly comes in contact with the periphery of the sample and prevents the flatness of the surface of the sample from being affected by the interposition of the foreign matter, and tensile force applying means 70, 72 for adjusting the flatness of the sample attracted by the contact 65 by applying tensile force in the radial direction of the contact 65 attracting the sample.例文帳に追加

チャック装置４４を、試料の周辺部に環状に接触して異物の介在による試料の表面の平坦度に影響を防止する接触部６５と、試料に吸着する接触部６５にその径方向に張力を印加することにより接触部６５に吸着される試料の平坦度を調整する張力印加手段７０、７２と、を備えて構成する。 - 特許庁

To provide a liquid medium for sample observation by an electron microscope and a sample observation method using the liquid medium, capable of preventing charge of a sample observation surface by a simple means, suppressing deformation caused by contraction or the like even after being dried, in a biosample or the like, and restraining an original image of the sample from being obstructed by partial remaining of ion liquid on a contraction impression.例文帳に追加

試料観察面の帯電を簡易な手段で防止でき、生体試料等において、乾燥後も収縮等の変形を抑制でき、さらに収縮痕へのイオン液体の部分的な残留により試料本来の像が妨げられることを抑制できる電子顕微鏡による試料観察用の液状媒体とそれを用いた試料観察方法を提供する。 - 特許庁

A cantilever provided with a spherical member in a tip part of a probe is used in this scanning probe microscope for measuring the sample surface properties, comprising the cantilever having the fine probe in its tip part, a means for detecting a displacement of the cantilever, a means for oscillating the cantilever or the sample at a fixed cycle by a desirable amplitude quantity, and a sample moving means for moving the sample.例文帳に追加

先端に微小な探針を有するカンチレバーとカンチレバーの変位を検出する手段とカンチレバーまたは試料を一定周期で所望の振幅量で振動させる手段と試料を移動させる試料移動手段からなり、試料の表面物性を測定する走査型プローブ顕微鏡において、探針の端部に球状のものを設けたカンチレバーを使用することにした。 - 特許庁

By heating a solid sample or a liquid sample, an object to be measured contained in a solid sample or a liquid sample is gasified, and a neutral vapor molecule is obtained, and by adhering metal ions emitted from the emitter having an oxidized surface to the neutral gas phase molecule, the neutral gas phase molecule is ionized, and mass spectroscopy is carried out.例文帳に追加

本発明の一実施形態は、固体試料あるいは液体試料を加熱して、固体試料又は液体試料に含まれている測定対象物をガス化して中性気相分子とし、酸化表面を持つエミッタから放出された金属イオンを、前記中性気相分子に付着させることにより、前記中性気相分子をイオン化して、質量分析する。 - 特許庁

This scanning type probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 opposed to a sample 12, a measuring part (optical lever type optical microscope and feedback servo control loop) for measuring interatomic force or the like generated between the probe and the sample when the probe scans a surface of the sample, and a moving mechanism for varying relatively positions of the probe and the sample to conduct a scanning operation.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対向する探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（光てこ式光学顕微鏡やフィードバックサーボ制御ループ）、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構を備える。 - 特許庁

This defect inspecting device is provided with a laser beam source 1 for generating a light beam, a sample table 11 for observation, an objective lens 9 for converging the beam from the light source to irradiate a surface of a sample, a half-mirror 6a for separating a light beam reflected by the sample from the beam incident into the sample, and a wedge 17 for branching the separated light beam.例文帳に追加

本発明にかかる欠陥検査装置は光ビームを発生するレーザー光源１と、観察すべき試料台１１と、前記光源からの光ビームを集束して試料の表面に照射する対物レンズ９と、試料で反射した光ビームを試料に入射する光ビームから分離するハーフミラー６ａと、分離された光ビームを分岐するウェッジ１７を備えている。 - 特許庁

Accordingly, a biological sample can be surely washed away even if adhered to the circumferential surface of the pipette 13 in a relatively long longitudinal range.例文帳に追加

これにより、ピペット１３の外周面に長手方向の比較的長い範囲で生体試料が付着しても確実に洗浄できるようになる。 - 特許庁

The arrangement of the primary beams 110 on the sample surface is acquired as an image of a reference mark 116 on a stage 117 displayed on an image display part 136.例文帳に追加

試料表面における一次ビーム110の配置を、画像表示部136に表示した、ステージ117上の基準マーク116の画像として取得する。 - 特許庁

By removing the resonance frequency calculated from the shape data, the surface profile of the sample can be measured with high precision.例文帳に追加

この形状データから算出した共振周波数を除去することで、高精度な表面形状測定が可能となる走査型プローブ顕微鏡。 - 特許庁

Here, Fn and Fm are functions of the orthonormal function system, (i) and (N) are integers, and (xi, yi) is a sampling position for measurement on a sample surface.例文帳に追加

ここで、Ｆｎ，Ｆｍは正規直交関数系の関数、ｉ、Ｎは整数、（ｘｉ、ｙｉ）は試料表面上を測定するサンプリング位置である。 - 特許庁

The surface configuration or the crystallinity of the sample crystal 14 can be evaluated, based on the direction and the interval of interference fringes that appear in the detector 16.例文帳に追加

検出器１６に現れる干渉縞の向きや間隔から、試料結晶１４の表面形状や結晶性の評価が可能となる。 - 特許庁

To obtain an ultrasonic flaw detector hardly mis-recognizing adhesion bubbles in sample data at an ultrasonic probe unit as a surface reflection wave.例文帳に追加

超音波探触器における採取データの付着気泡を表面反射波と誤認識することが少ない超音波探傷装置を得ること。 - 特許庁

The surface of a metallic needle 7 for collecting a sample is covered with a coating material, having chemical activity lower than that of a metal of matrix B.例文帳に追加

試料を採取する金属製のニードル７の表面を母材Ｂの金属よりも化学的に活性の小さい被覆材で被覆した。 - 特許庁

To provide an apparatus for analyzing the surface reaction processes of a diffusing material capable of controlling the amount of hydrogen to be injected into a sample.例文帳に追加

試料へ注入される水素の量を制御することができる拡散材料の表面反応過程分析装置を提供すること。 - 特許庁

If the surface of the sample is set to a dark color such as a black color or the like, sensitivity is enhanced in a case using infrared rays in the detection of a temperature.例文帳に追加

そのサンプル表面を黒色などの暗色にすると、温度検出に赤外線を利用するものにあっては、感度が向上する。 - 特許庁

With this configuration, the sample capturing alloy for further easily introducing other substituents is obtained since the surface is modified by a thiol group.例文帳に追加

本構成によれば、チオール基で表面修飾されていることからさらに他の置換基の導入が容易な試料捕捉合金が得られる。 - 特許庁

Further the other aspect is the sample capturing alloy defined in claim 1 of which surface is modified by a thiol group.例文帳に追加

本発明のさらに他の側面は、チオール基で表面修飾されていることを特徴とする請求項1記載の試料捕捉合金にある。 - 特許庁

To obtain a charged particle beam device which can irradiate a desired region of a sample surface with a charged particle beam at an angle of wide range.例文帳に追加

荷電粒子線を試料表面に対して、所望の領域に広範囲の角度で照射可能な荷電粒子線装置を実現する。 - 特許庁

The sample X is inserted into the interval L so that a first face Xa and a second face Xb become vertical with respect to the top surface 10b.例文帳に追加

この間隙Ｌに第１の面Ｘａ及び第２の面Ｘｂが天面１０ｂに対して垂直になるように試料Ｘを挿入する。 - 特許庁