「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

A fixing means 11 can fix an end 1a of a strip of sample 1 which has been surface-modified by peening.例文帳に追加

固定手段１１が、ピーニング処理により表面改質された細長い試料１の一端１ａを固定可能になっている。 - 特許庁

To provide a hardness tester capable of efficiently and positively performing focusing of a sample surface.例文帳に追加

本発明は、試料表面の焦点合わせを効率よく、確実に実施できる硬さ試験機を提供することを目的とする。 - 特許庁

To prevent, by a simple structure, moisture in the atmosphere outside an electron microscope from being deposited on a sample surface as frost.例文帳に追加

電子顕微鏡の装置外の大気中の水分が霜となって試料表面に付着するのを簡単な構造により防ぐ。 - 特許庁

On the basis of the amount of CO, the amount X1 of oxygen adhering to the surface of the Si sample 38 is converted and displayed.例文帳に追加

そこで、そのＣＯの量に基づいてＳｉ試料３８の表面付着酸素量Ｘ１が換算され表示される。 - 特許庁

A reflection spectrum data sample is received corresponding to a plurality of spectra of a light reflected from the irradiation part of a wafer surface.例文帳に追加

反射スペクトルデータサンプルは、ウェハ表面の照射部分から反射される光の複数のスペクトルに対応して受信される。 - 特許庁

To measure electron energy relative to a chemical bond localized on each atom or molecule existing on the sample surface.例文帳に追加

試料表面に存在する１つ１つの原子または分子に局在する化学結合に関する電子のエネルギを測定する。 - 特許庁

The extracted anionic surfactant forms association 21 with Methylene Blue 5 for adhering to a wall surface of a sample vessel 2.例文帳に追加

抽出した陰イオン界面活性剤は、メチレンブルー５と会合体２１を形成させ、試料容器２の壁面に付着させる。 - 特許庁

When the output signal level of the detector remarkably changes, surface potential Vp of the sample is found from the acceleration voltage.例文帳に追加

そして、検出器の出力信号レベルが大きく変化したときの加速電圧から試料の表面電位Ｖpを求める。 - 特許庁

Electron beams deflected by the scan electrostatic deflector 6 are irradiated to the surface of a sample 8 through a second objective lens 7.例文帳に追加

走査用静電偏向器６で偏向された電子線は、第２対物レンズ７を通して試料８の表面に照射される。 - 特許庁

To provide a technology to accurately calculate intensity per unit area of light exposed on a measurement area of a sample surface.例文帳に追加

標本面の測定領域に照射される単位面積当たり光強度を正確に算出する技術を提供する。 - 特許庁

To perform the measurement and evaluation of a sample surface at high throughput and prevent upsizing, complexity, and a cost increase of a device.例文帳に追加

試料表面の測定及び評価を高スループットで行い、かつ装置の大型化、複雑化、及び高価格化を防止する - 特許庁

Plural photodetectors, which adjust an optical axis, are arranged near the optical axis of light irradiating the sample surface.例文帳に追加

また、試料表面を照射する光の光軸の近くに、光軸の調整を行う複数個の光検出器を備えている。 - 特許庁

To provide a plasma processing system capable of processing the surface of a sample uniformly.例文帳に追加

本発明は、試料の処理面に対して均一な処理を施すことができるプラズマ処理装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This micro-array 10 is manufactured by embedding micro-beads 12 in a surface of a tabular substrate 11, with the micro-beads 12 each having a sample previously joined thereto.例文帳に追加

予めサンプルを結合させたマイクロビーズ１２を平板基板１１の表面に埋め込んでマイクロアレイ１０を作製する。 - 特許庁

This optical measurement instrument includes a light source for irradiating a sample solution with light, a sample retainer 3A for encircling the sample solution at a location irradiated with light from the light source by a curved surface WA to retain, a light transmitter 4A for transmitting light that is emitted from the sample solution and entered in a light entering surface 40Aa, and a light detector for detecting the frequency component of light transmitted.例文帳に追加

この光学測定装置は、試料溶液に光を照射する光源部と、光源部からの光が照射される位置に試料溶液を曲面ＷＡで囲んで保持する試料保持部３Ａと、試料溶液から発せられて入光面４０Ａａに入射した光を伝送する光伝送部４Ａと、伝送された光の周波数成分を検出する光検出部と、を備える。 - 特許庁

The prism has a parabolically-shaped optical surface 2a having the sample arrangement part 2a_1, and an emission surface 2b from which light entering the optical surface 2a from a focal point P on the parabolically-shaped optical surface 2a and totally reflected by the optical surface 2a is emitted vertically to the outside of the prism 2.例文帳に追加

プリズムは、試料配置部２ａ_1を有する放物形状の光学面２ａと、放物形状の光学面２ａの焦点Ｐからこの光学面２ａに入射しこの光学面２ａで全反射した光をプリズム２の外部に垂直に出射させる出射面２ｂを有する。 - 特許庁

The device 1 performs measurement by filling or flowing down the sample S including the object substance that has electrophoresis or is previously adjusted so as to have electrophoresis, in the sample cell 10; and includes a voltage applying unit 50 for electrophoresing the object substance in the sample S to the sample contacting surface 20s of the device 20, via the sample cell 10.例文帳に追加

ラマン分光装置１は、試料セル１０内に、電気泳動性を有する、若しくは電気泳動性を有するようあらかじめ調整された被測定物質を含む試料Ｓが充填又は流下されて、測定が行われるものであり、試料セル１０に、試料Ｓ中の被測定物質をラマン散乱デバイス２０の試料接触面２０ｓ側に電気泳動させる電圧印加手段５０が備えられたものである。 - 特許庁

To provide a pressurized cell capable of acquiring an excellent infrared absorption spectrum even in the case of a fine sample, by imparting moderate irregularities to the sample intentionally without forming such a too smooth sample surface as to easily generate an interference fringe, concerning a pressurized cell for sample adjustment used for infrared spectroscopic analysis.例文帳に追加

赤外分光分析を行う際に使用する試料調整用加圧セルにおいて、干渉縞が発生しやすくなるような平滑すぎる試料面を作らずに、意図的に試料に適度な凸凹を与えることにより、微小試料であっても良好な赤外吸収スペクトルを得ることが出来る加圧セルを提供することを目的とする。 - 特許庁

Disclosed is a stabilizer 1 for somatoscopy which comes into contact with a biological sample A during an observation of the biological sample A to suppress its behavior, and is provided with a contact area increasing means 14 of increasing an area of contact with the biological sample A with pressing force due to contact on a contact surface 12a for the biological sample A.例文帳に追加

生体試料Ａの観察時に、生体試料に接触してその挙動を抑制する生体観察用スタビライザ１であって、生体試料Ａとの接触面１２ａに、接触の際の押圧力によって生体試料Ａとの接触面積を増大させる接触面積増大手段１４が設けられている生体観察用スタビライザ１を提供する。 - 特許庁

The peripheral surface of the cylindrical sample 9 comprising an elastic material held on a sample shaft 7 is pressed to a rotationally driven ice plate 1 by required force while the cylindrical sample 9 is rotationally driven and the friction force generated when the peripheral speed of the cylindrical sample 9 and the speed of the ice plate 1 are changed relatively is measured as generated torque.例文帳に追加

試料軸７に保持した、弾性材料の筒状サンプル９の周面を、回転駆動される氷盤１上に、所要の力で押圧するとともに、その筒状サンプル９を回転駆動し、筒状サンプル９の周速と氷盤１の速度とを相対的に変化させた場合の摩擦力を、発生トルクにより計測する。 - 特許庁

In this manufacturing method, the metal aluminium sample 10 has a shape along the inner surface 2a of the mold 2 and has an anode oxide film formed on the surface thereof, and the metal aluminium sample 10 is loaded on the mold 2, and heated into the molten state.例文帳に追加

本発明の製造方法は、金属アルミニウム試料(10)が、鋳型(2)の内面(2a)に沿った形状で、表面に陽極酸化皮膜が形成されてなるものであり、この金属アルミニウム試料(10)を鋳型(2)に装填し、加熱して溶融状態とすることを特徴とする。 - 特許庁

To facilitate a control of a structure of a diffraction grating and a control of properties of a surface contacted with a sample as an optical structure for inducting an evanescent wave in a method for manufacturing an analyzing element for analyzing the sample utilizing a surface plasmon resonance(SPR).例文帳に追加

表面プラズモン共鳴（ＳＰＲ）を利用した試料分析のための分析素子の製造方法に関し、エバネッセント波を誘起する光学構造として回折格子の構造制御及び試料と接触する表面の性状制御を容易にする。 - 特許庁

To make both the security of electrodes on the surface of a sample and photoirradiation upon the sample possible and, in addition, to eliminate the restriction imposed when the materials of the electrodes are selected by forming the surface electrode layer of a photoirradiation type thermoelectric measuring instrument in a specific pattern.例文帳に追加

光照射式の熱電気測定装置において、表面電極層を特定の電極パターンにすることにより、試料表面上の電極の確保と試料への光の照射とを両立可能にして、かつ、電極材質を選択する際の制約をなくす。 - 特許庁

This detector array is equipped with a 1st structure for detecting X-rays reflected from surface of the sample at a grazing angle, and the 2nd structure for detecting X-rays diffracted from the surface near the Bragg angle of the sample.例文帳に追加

この検出器アレイは、グレージング角で、サンプルの表面から反射したＸ線を検出器アレイが検知する第１の構造と、サンプルのＢｒａｇｇ角の近傍において、表面から回折したＸ線を検出器アレイが検知する第２の構造と、を具備している。 - 特許庁

In a hardness testing machine 100, the surface of a sample S is captured by a CCD camera 12, and a pattern formation program 63a is executed by a CPU 61, then, a user can form an optional pattern to be projected on the surface of the sample S.例文帳に追加

硬さ試験機１００において、ＣＣＤカメラ１２により試料Ｓの表面が撮像され、ＣＰＵ６１が、パターン作成プログラム６３ａを実行することによって、その試料Ｓの表面に投影する任意のパターンをユーザが作成することができる。 - 特許庁

To provide a biosensor device constituted so as not to exert the surface change of a sample, which is caused by the delicate vibration of a liquid surface or the evaporation of a very small amount of a liquid, on the vibration frequency of a vibrator even in a very small amount of the sample, and provide a measuring method using it.例文帳に追加

微量の試料であっても、液面の微妙な振動や液の微量の蒸発による試料の表面の変化が振動子の振動周波数に影響を与えることがないバイオセンサー装置及びバイオセンサー装置による測定方法を提供する。 - 特許庁

An upper face position Y of the blood serum 3 is detected from an opening upper face of a sample container 1, a boundary surface Z of a blood cell 4 is detected from a bottom face of the sample container 1, and a boundary surface X of the blood serum 3 is detected by calculating these values.例文帳に追加

試料容器１の開口上面から血清３の上面位置Ｙを検出するとともに、試料容器１の底面から血球４の境界面Ｚを検出し、これらの値を演算することで血清３の境界面Ｘを検出する。 - 特許庁

The core tube 2 for collecting the soil sample in the deep layer and the short core tube 1 for collecting the soil sample in a shallow part of the surface layer are concentrically arranged, and the soil samples at the two places in the surface layer and the deep layer can be simultaneously collected by a single sampling operation.例文帳に追加

深層の土壌を採取するコアチューブ２と表層の浅い部分を採取する長さの短いコアチューブ１を同心に配置し、表層と深層の２箇所の土壌を１回の採取作業によって同時に採取できるようにしたものである。 - 特許庁

At this time, the ratio of the heat capacity per the unit area of the membrane and the heat permeability of the substrate is calculated from the phase component in the temperature change of a frequency f_mod of the surface of the membrane sample when the surface of the membrane sample is cyclically heated at the frequency f_mod.例文帳に追加

その際、前記薄膜の単位面積あたりの熱容量と基板の熱浸透率の比は、薄膜試料表面を周波数ｆ_ｍｏｄで周期加熱し、試料表面の周波数ｆ_ｍｏｄの温度変化における位相成分から算出する。 - 特許庁

This device includes subtracters 12, 15 different in gain for subtracting a reflected light signal of laser light from the scanning position on the sample surface and a reflected light signal from the sample surface, and adders 13, 16 different in gain for adding two reflected light signals.例文帳に追加

レーザ光の試料面上の走査位置からの反射光信号と試料面からの反射光信号とを減算する、異なる増幅率の減算器１２，１５と、同二つの反射光信号とを加算する、異なる増幅率の加算器１３，１６とを有する。 - 特許庁

The displacement object of the autofocus mechanism is set to the surface (4) of the sample, displacement quantity from a reference point on the surface of the sample is measured, and a displaced point is set as the acting point of the control of the autofocus mechanism, thereby controlling the focus of the objective (6) of the optical device.例文帳に追加

そして、オートフォーカス機構の変位対象物を試料表面（４）に設定し、試料表面の基準点からの変位量を測定し、変位した点をオートフォーカス機構の制御の動作点として光学装置の対物レンズ（６）の焦点を制御する。 - 特許庁

To provide a flaw inspection device capable of suppressing the influence of scattered light from the roughness of a sample surface and a normal circuit pattern, and detecting a flaw or the like of the sample surface at high sensitivity by increasing the gain of the scattered light from the flaw or a foreign substance.例文帳に追加

試料表面の面粗さや正常な回路パターンからの散乱光の影響を抑制し、かつ、欠陥や異物からの散乱光の利得を高くして、高感度に試料表面の欠陥等を検出することが可能な欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

An SPR sensor device has a sample fixing portion 24 in which a measurement reference surface L is set at a lower surface side, and the protruding portions 16 of the microchip 10 are pressed to the measurement reference surface L, thereby holding and fixing the microchip 10.例文帳に追加

ＳＰＲセンサ装置は測定基準面Ｌが下面側に設定された試料固定部２４を有し、この測定基準面Ｌにマイクロチップ１０の突出部分１６を押付けてマイクロチップ１０を保持・固定する。 - 特許庁

The sample support 9 has a first surface 91 for supporting the living tissue 8 in close contact, and a second surface 92 located on the side opposite to the first surface 91 for allowing an ultrasonic transmission medium W1 to come into contact therewith.例文帳に追加

試料支持体９は、生体組織８を密着させて支持するための第１面９１を有し、その反対側に位置しかつ超音波伝達媒体Ｗ１を接触させるための第２面９２を有する。 - 特許庁

An inner wall 1A of a vacuum container 1, the surface of a sample stand 7', the surface of an electrode stand 18, and the surface of an electrode 13 are coated with, e.g. a TiO2 film (titanium dioxide film) as an optical catalytic film 14.例文帳に追加

真空容器１の内壁１Ａ、試料台７’の表面、電極台１８の表面および電極１３の表面に、光触媒膜１４として例えばＴｉＯ_2 膜（二酸化チタン膜）をコーティングする。 - 特許庁

The sample piece collecting method is a method for collecting the sample piece 20 from the surface 114a of a blade 10(11) and an ultrasonic cutter 200 equipped with a cylindrical blade 202 is sent to the surface 100a of a base material 100 from the surface 114a of the blade 10(11) and cut to form a cylindrical notch 121.例文帳に追加

試料片採取方法は、翼１０（１１）の表面１１４ａから試料片２０を採取する方法であり、、円筒状の刃２０２を備える超音波カッタ２００を翼１０（１１）の表面１１４ａから基材１００の表面１００ａまで送って切削することで、円筒状の切り込み１２１を形成する。 - 特許庁

A plate-shaped member 11 is set so that the single surface 11a thereof is made almost parallel to the sample segmenting surface 12a of a microtome knife 12 to be provided to the state opposed to the sample segmenting surface 12a and a predetermined interval (d) is provided between the leading end part 11b of the plate-shaped member 11 and the edge 12b of the microtome knife 12.例文帳に追加

板状部材１１を、その片面１１ａをミクロトーム刃１２の試料切出し面１２ａにほぼ平行にして、かつ試料切出し面１２ａに対向させた状態で設けるとともに、板状部材１１の先端部１１ｂとミクロトーム刃１２の刃先１２ｂとの間に所定の間隔ｄをあける。 - 特許庁

A sample stand (rotative stand) 1 is mounted on a precision rotation axis 32 continuously rotating the sample stand in high precision, and an optional rotation-symmetric three-dimensional fine structure is manufactured by applying an FIB deposition in an FIB chamber while making the sample stand 1 rotate continuously, or applying cutting work on upper surface or side surface like a general lathe through an FIB etching.例文帳に追加

試料台（回転台）１を高精度で連続回転する精密回転軸３２に取りつけ、ＦＩＢチャンバー内で、試料台１を連続回転させながらＦＩＢデポジションさせたり、あるいはＦＩＢエッチングで一般的な旋盤のように側面あるいは上面から切削加工を行ったりすることで任意の回転対称である構造物を作製する。 - 特許庁

An electric charge locally charged on the surface of the sample 5 is quickly moved by a converged electron beam by mounting electrodes 13-16 as an electric field application mechanism in which an electric field 6 having a component along the surface of the sample 5 in an arbitrary direction is applied to the sample 5 and by using the electric field application mechanism to apply the electric field.例文帳に追加

試料５にその表面に沿った成分を有する任意の方向の電場６を印加する電場印加機構部として電極１３〜１６を設置し、この電場印加機構部を用いて電場を印加することにより、収束電子線によって試料５表面上に局所的に帯電する電荷を速やかに移動させる。 - 特許庁

This control device of the optical probe for controlling the probe tip to the sample in the noncontact state and detecting evanescent light oozing out to the sample surface has a constitution having a means for detecting the resonance frequency of the probe by detecting the change in the scattered light intensity of the evanescent light generated on the probe tip or the sample surface.例文帳に追加

サンプルに対してプローブの先端を非接触に制御し、サンプル表面へ滲み出すエバネッセント光を検出する光プローブの制御装置において、前記プローブが有する共振周波数を、プローブ先端またはサンプル表面に発生したエバネッセント光の散乱光強度の変化を検出することによって検出する手段を有する構成とする。 - 特許庁

This surface rugged shape observation method with a charged particle beam device comprises a step for drawing a straight line on a sample surface in a part to be observed for shape observation, a step for tilting a sample stage, and a step for scanning a periphery area including the straight line part with a beam while the sample is tilted for obtaining a microscopic image.例文帳に追加

本発明の荷電粒子ビーム装置による表面凹凸形状の観察方法は、形状を観察したい個所の試料表面に直線を引くステップと、試料ステージを傾斜させるステップと、試料を傾斜させた状態で前記直線部分を含む近傍領域をビーム走査して顕微鏡画像を取得するステップとからなる。 - 特許庁

When a laser beam pulse 24 from a pulse laser oscillator 22 is adjusted in its shape and intensity by a beam formation optical circuit system 26 and then radiated on a silicon thin film as a sample 42, a microwave 31 within a microwave waveguide 30 is applied onto a surface of the sample 42 from an antenna 36 so that an electrical field axis becomes vertical to the surface of the sample 42.例文帳に追加

パルスレーザ発振器２２からのレーザ光パルス２４をビーム成形光学回路系２６で形状と強度を調節してシリコン薄膜の試料４２に照射する際に、マイクロ波導波管３０内のマイクロ波３１をアンテナ３６を用いて電場軸が試料４２の表面に対して垂直となるよう試料４２に作用させる。 - 特許庁

On a sample holder 20 for an electron microscope, the electron beam that transmits through a sample S supported by a grid 28 and passes through an aperture member 31 with a main body portion 21 attached to a sample stand of a scanning electron microscope is irradiated on a secondary electron generating surface 32, resulting in a secondary electron being generated from the secondary electron generating surface 32.例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダ２０においては、走査型電子顕微鏡の試料台に本体部２１が取り付けられた状態で、グリッド２８によって支持された試料Ｓを透過し且つ絞り部材３１を通過した電子線が２次電子発生面３２に照射され、それにより、２次電子発生面３２から２次電子が発生させられる。 - 特許庁

The device for analyzing the material concentration in solution for quantitatively determining the concentration of the material to be analyzed in a sample solution has a sample solution cell 3 that holds sample solution and has at least one fluorescence permeation surface for permeating fluorescence discharged from the material to be analyzed.例文帳に追加

試料溶液中の分析対象物質の濃度を定量する溶液中物質濃度分析装置は、試料溶液を保持し、分析対象物質から放出される蛍光を透過する少なくとも一つの蛍光透過面が形成された試料溶液セル３を有する。 - 特許庁

To separate and detect secondary signal particles generated from a sample surface, dark field transmission signal particles scattered and transmitted in the sample, and bright view field transmission signal particles transmitted without being scattered in the sample in a charged particle beam device, and to observe images having optimum contrast according to purposes.例文帳に追加

荷電粒子線装置において、試料表面から発生した二次信号粒子と、試料内で散乱して透過した暗視野透過信号粒子と、試料内を散乱しないで透過した明視野透過信号粒子を分離して検出し、目的に応じた最適なコントラストの像を観察する。 - 特許庁