「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

The inner wall surface of a passage 14 is negatively charged, and positive ions 30 contained in a sample solution 28 in the passage 14 are adsorbed on the inner wall surface of the passage 14.例文帳に追加

流路１４の内壁面はマイナスに帯電しており、流路１４内のサンプル溶液２８に含まれるプラスイオン３０が流路１４の内壁面に吸着されている。 - 特許庁

To enhance heat insulating performance of a slicer device repeating slicing of a surface layer portion of a sample and sequentially capturing and recording an image or the like of this cut surface.例文帳に追加

試料の表層部分の薄切りを繰り返しながら、その切断面の画像等を順次取り込んで記録するスライサ装置において、装置の断熱性能を高める。 - 特許庁

A projection part (pushing-up part) 713 is projected from the upper surface of the column part 712 to push up the cup end surface 111 to thereby deform the same toward the inside of the sample cup 11.例文帳に追加

円柱部７１２の上面には突起部（押し上げ部）７１３が突出しており、カップ端面１１１を押し上げて試料カップ１１の内側に向けて変形させる。 - 特許庁

Secondary ions emitted from the irradiation surface of an analysis sample 5 are extracted by an extraction electrode 15 while holding the two-dimensional information of the irradiation surface and enter a pulse gate electrode.例文帳に追加

分析試料５の照射面から放出される二次イオンは、照射面の二次元情報を保持したまま引出電極１５で引き出され、パルスゲート電極部に入射する。 - 特許庁

In the method, an electron beam is radiated to the surface of the insulating film through a metal thin film, and a sample current is measured when the electron beam is radiated to the surface of the insulating film.例文帳に追加

本方法では、電子線を、金属薄膜を介して絶縁膜表面に照射し、電子線を絶縁膜表面に照射したときの試料電流を測定する。 - 特許庁

To provide a condenser lens and AF microscope that enables an AF unit to be used, even when there is no reflecting surface to reflect the AF light near the sample surface.例文帳に追加

ＡＦ光を反射する反射面が標本面近傍に無い場合でもＡＦ装置を利用可能にするコンデンサレンズと、ＡＦ顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

Transmitted light or fluorescence from the sample surface is made to form an image on an image forming surface by an image forming lens 43 through the objective 42 and the dichroic mirror 41 so as to be observed.例文帳に追加

試料面からの透過光若しくは蛍光は対物レンズ４２、ダイクロイックミラー４１を通して結像レンズ４３により結像面に結像させて観察する。 - 特許庁

To provide a system which relates to a non-destructive technology for measuring a surface parameter of a sample for measuring the birefringence of a surface, a film thickness, etc. using a polarimetric spectrum.例文帳に追加

試料の表面特性を測定する非破壊技術に関し、偏光計スペクトルを用いて、表面の複屈折や膜厚などを測定するシステムを提供する。 - 特許庁

Scattered light from a sample surface 20a is collected by collectors 38, 52 that collects light substantially symmetrically about a line perpendicular to the surface 20a.例文帳に追加

サンプル表面２０ａからの散乱光は表面２０ａに対して垂直な線に対して略対称の光を集束する集束器３８，５２によって集束される。 - 特許庁

A mask 5 having the thickness of 2.2 μm is formed on a part of the upper surface of a sample layer 4 formed on the while surface of a comparatively large rectangular parallelepiped-shaped glass substrate 1.例文帳に追加

比較的大きな直方体形状のガラス基板１上の全面に形成された試料層４の上面の一部に厚さ２．２μｍのマスク５を形成する。 - 特許庁

To provide a means for measuring the finish dimension of a solid sample having a cylindrical structure or detecting a minute surface defect present on the inner surface of a tube.例文帳に追加

筒状構造を有する固体試料の仕上がり寸法の計測や、管内面の表面に存在する微小な表面欠陥の検出などの手段を提供する。 - 特許庁

To enable reliable measurement high in S/N in a scanning probe microscope measuring the surface state or surface vol. distribution of a sample.例文帳に追加

試料２５の表面状態や表面の容量分布を測定する走査型プロ−ブ顕微鏡において、Ｓ／Ｎが高く信頼性のある測定ができるようにする。 - 特許庁

The image forming light passing through the optical filter 11 forms the image of the sample surface 10 in a prescribed magnification on the imaging surface of an imaging device 13 by the operation of an image forming lens 12.例文帳に追加

光学フィルタ１１を透過した結像光は結像レンズ１２の作用により撮像素子１３の撮像面に、試料面１０の像を所定の倍率で結像する。 - 特許庁

To provide a surface analyzer capable of easily adjusting samples S at a desired angle and scanning an analysis position on the surface of one sample S at various angles.例文帳に追加

試料Ｓを容易に所望の角度に調整でき、かつ、一の試料Ｓ表面上において分析位置を様々な角度で走査できる表面分析装置の提供。 - 特許庁

To provide an etching apparatus used in sample preparation for more accurately carrying out a substrate surface analysis, and an apparatus and a method for evaluating a substrate surface using it.例文帳に追加

基板表面分析をより正確に行うための試料作製用エッチング装置、およびこれを用いた基板表面評価装置と基板表面評価方法を提供する。 - 特許庁

To sample and convey surface soil without letting surface soil adhere to the inner side of a conveyance hose and complicating a configuration.例文帳に追加

搬送ホース内への表土の付着等を伴うことなく、表土の採取・搬送を可能にするという目的を、構成の複雑化等を伴うことなく実現可能とする。 - 特許庁

To provide an air atmosphere measurement surface analyzer capable of analyzing only the surface layer of a sample under an air atmosphere and also measuring the molecular weight of structure materials.例文帳に追加

大気雰囲気下、試料の表層のみを分析でき、しかも構成物質の分子量まで測定することのできる大気雰囲気測定表面分析装置を提供する。 - 特許庁

In this case, the laser beams pass through the pinhole 8 only when being focused on the sample surface, then, the focal position on the surface by XYZ scanning can be recognized.例文帳に追加

このとき試料表面に焦点が一致したときにのみピンホール９を通過することになるので、XYZ走査した表面上のピントのあったところの位置を知ることができる。 - 特許庁

Next, a sample 11 is sliced by irradiation with an ion beam B1 to form a next measuring surface S2 inside by predetermined distance L from the measuring surface S1.例文帳に追加

次に、イオンビームＢ１の照射によって試料１１をスライス加工することにより、測定面Ｓ１から所定距離Ｌだけ内側に、次の測定面Ｓ２を作成する。 - 特許庁

To provide a surface analyzer which uses an electron beam filament, having a high resolution for precisely discriminating atoms on a sample surface to be analyzed.例文帳に追加

高い分解能を有する電子ビームフィラメントを用い、分析対象となる試料表面の原子を精度よく識別することができる表面分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a quantitative analytical method, for a surface-active agent, in which the surface-active agent of a trace amount in a sample to be measured can be quantitatively determined with high sensitivity and with reproducibility.例文帳に追加

測定試料中の微量の界面活性剤を高感度で再現性をもって定量することが可能な界面活性剤の定量分析方法を提供する。 - 特許庁

Guide grooves 11 are formed in the four corners of the lower surface of the sample holder 1, and a ball caster 9 is arranged in the upper surface of the moving table 8 according each guide groove 11.例文帳に追加

試料ホルダ１の下面の四隅には案内溝１１が形成され、移動テーブル８の上面には、各案内溝１１に対応してボールキャスタ９が配置されている。 - 特許庁

When unpolarized incident light enters a sample surface at a fixed incident angle, surface reflected light therefrom becomes S-polarized light, and internal scattered light becomes unpolarized light.例文帳に追加

非偏光の入射光が一定の入射角をもって試料面に入射したとき、その表面反射光はＳ偏光となり、内部散乱光は非偏光となる。 - 特許庁

The piezoelectric material 3 for use in driving in the Z-direction is fixed to the upper surface of the movable part 4 and the sample stand 9 is fixed to the upper surface of the piezoelectric material 3 by wax 10.例文帳に追加

Ｚ方向駆動用の圧電体３は可動部４の上面に固定されており、試料台９は圧電体３の上面にワックス１０で固定される。 - 特許庁

The film thickness measuring instrument equipped with an incidence optical system which irradiates the surface of the sample with polarized light and a detection optical system which outputs data regarding the sample surface according to the quantity of polarization variation of elliptic polarized light reflected by the sample surface is provided with a pinhole part for limiting a photodetection area between an analyzer and a spectroscope of the detection optical system.例文帳に追加

試料の表面に偏光光を照射する入射光学系と、試料表面で反射した楕円偏光の偏光変化量に基づいて試料表面に関するデータを出力する検出光学系とを備えた膜厚測定装置において、前記検出光学系における検光子と分光器との間に受光取込みエリアを制限するためのピンホール部を設けた。 - 特許庁

This device for measuring surface state for measuring the surface state of the sample comprises a light-projecting means for projecting light to the sample, a light receiving means for receiving the reflected light reflected on the sample surface, and an altering means capable of changing the cross-sectional area of the projected light flux by the light-projecting means.例文帳に追加

試料の表面状態を測定する表面状態測定装置であって、前記試料に対して投光する投光手段と、当該試料面で反射された反射光を受光する受光手段と、前記投光手段による投光光束の断面積を変更することが可能に構成された変更手段とを備える表面状態測定装置とする。 - 特許庁

As a construction of the above, an electrode for impressing a prescribed voltage is arranged on the inner part of a sample chamber, the outside surface of the objective lens, and a part inside the sample side end of the objective lens, while isolating the above from grounding potential.例文帳に追加

この構成として、試料チャンバー内部、対物レンズの外側側面、及び対物レンズの試料側端部内の一部にアース電位から浮かして所定電圧を印加する電極を設ける。 - 特許庁

The lapping method laps the surface of a machining sample 10 formed of ceramics by using a grinding wheel 6, and the grinding wheel 6a contains abrasive grains having higher hardness than that of the machining sample 10.例文帳に追加

ラッピング加工方法は、セラミックスよりなる加工サンプル１０の表面を砥石６によりラッピング加工するラッピング加工方法であって、砥石６は加工サンプル１０よりも高硬度の砥粒を含んでいる。 - 特許庁

To prevent the damage of a sample handling device caused by the peeling of the adhesion surface between first and second members in the sample handling device, where the first and second members are joined.例文帳に追加

第１部材と第２部材を接合してなる試料取扱装置において、第１部材と第２部材の接着面の剥がれに起因する試料取扱装置の破損の防止を目的とする。 - 特許庁

A conductive material such as metal is injected to a contact hole to be measured via the deposition mechanism 10, the influence due to the charge on the sample surface is eliminated, and current flowing in the sample is measured.例文帳に追加

このデポジション機構１０を介して金属等の導電性材料を測定対象のコンタクトホールに注入して、試料表面のチャージの影響を除去し、試料に流れる電流を測定する。 - 特許庁

The defect inspection method employs an inspection device having a beam source 1 for irradiating a sample 10 with a charged particle beam 2 and a detector 18 for detecting a charged particle from the sample surface.例文帳に追加

欠陥検査方法は、荷電粒子ビーム２を試料１０に照射するビーム源１と、試料表面からの荷電粒子を検出部する検出部１８とを備える検査装置を用いる。 - 特許庁

To detect true contact state of a sample from the vertical direction, especially exactly detect a true contact section of the sample having a rough surface with low reflectivity, by using an optical interference method.例文帳に追加

試料を垂直方向から真の接触状態を検出すること、特に低反射率粗面を有する試料の真実接触部を光干渉法を使用して正確に検出することである。 - 特許庁

To provide an analyzing apparatus capable of analyzing the stereoscopic structure of a sample such as a bio-molecule in a solvent such as water even when the sample is fixed on the surface of a light reflecting substrate.例文帳に追加

生体分子等の試料が光を反射する基板の表面に固定されている場合でも、水等の溶媒中における試料の立体構造を解析可能な分析装置を提供すること。 - 特許庁

Between the intermediate plate 65 and the sample table 69, an X- and Y-axis actuators 72XA, 72YA are installed to drive the sample table 69 in a direction parallel to the guide surface 38a.例文帳に追加

中板６５と試料台６９との間に、ガイド面３８ａに平行な方向に試料台６９を駆動するためのＸ軸アクチュエータ７２ＸＡと、Ｙ軸アクチュエータ７２ＹＡとが設置されている。 - 特許庁

To provide a container for dissolving a sample surface layer part and dipping an analysis sample into dissolving liquid, and efficiently recovering dissolving liquid containing analysis impurities, and to provide an analysis method which uses the container.例文帳に追加

分析試料を溶解液に浸漬して試料表層部を溶解し、分析不純物を含んだ溶解液を効率よく回収することのできる容器及びそれを用いた分析方法を提供する。 - 特許庁

If the indenter tip is not brought into contact with the sample surface while the indenter 1 is lowered by 100 μm as shown in Fig. (a), the indenter 1 is returned to the origin and the sample stage 5 is raised by 100 μm as shown in Fig. (b).例文帳に追加

（ａ）のように圧子１を１００μｍ下降する間に圧子先端が試料表面に触れなければ、（ｂ）のように圧子１を原点に戻し試料ステージ５を１００μｍ上昇させる。 - 特許庁

To provide a sample preparation device for a microscope capable of preventing a sample observation surface from being deformed or damaged, and preventing a load of an exhaust system for exhausting the vacuum chamber inside from being increased.例文帳に追加

試料の観察表面が変形したり、ダメージを受けたりせず、真空チャンバ内を排気する排気装置の負荷が増大しない顕微鏡用試料作成装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The sample display label 3 has a front 3a that forms the front face of the tobacco sample 1, and an extension E extending from the front 3a and bent to abut the inner surface of the circumferential wall W.例文帳に追加

前記見本表示ラベル３は、前記タバコ見本１の前面を形成する前部３ａと、その前部３ａから延設されるとともに、曲げられて周壁Ｗの内面に当接する延設部Ｅとを備える。 - 特許庁

The ratio anechoic chamber 10 reflects electromagnetic waves radiated from a sample under test 14 up from an installation area of the sample 14 toward measuring positions P1, P2,..., Pn on the floor surface 18, according to the radiating direction of the waves.例文帳に追加

電波暗室１０は、被試験体１４の設置領域の上方に、被試験体１４から放射された電磁波を、その放射方向に応じた床面１８側の測定位置(P1,P2,・・・,Pn)に向けて反射する。 - 特許庁

This TEM FIB sample of a solid material is made very thin by irradiation of a sample surface alternately on its both sides with an ion beam in a step of a post-treatment, without being contaminated and destructed.例文帳に追加

固体材料のＴＥＭ ＦＩＢ試料は、汚染および破壊されることなく、後続処理のステップのイオンビームを用いた試料表面の交互の側での打込みによって、非常に薄くされる。 - 特許庁

In this cross section polishing method suitable for cross section observation near the outermost layer of the sample, after forming a metal deposition layer on the sample surface, a metal plating layer is formed, and then cross section polishing is performed.例文帳に追加

試料の最表層近傍の断面観察に適した断面研磨方法であって、試料表面に金属蒸着層を形成した後金属めっき層を形成し、しかる後、断面研磨を行う。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of fetching precise images by solving negative effects which might occur when a sample stage is inclined or a surface of a sample is swollen.例文帳に追加

試料ステージが傾いている場合や試料表面にうねりを有するような場合に起こり得る弊害を解消し、正確な画像を取得することができる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

In the charged particle beam lithographic apparatus, the height sensor 4 measures the height of the surface of the sample 101 at a position differing from a position where the sample 101 is irradiated with the charged particle beam 1A.例文帳に追加

この荷電粒子ビーム描画装置は、試料１０１に対して荷電粒子ビーム１Ａを照射する位置とは異なる位置で、高さセンサ部４が試料１０１の表面の高さを測定する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam apparatus capable of observing and evaluating a surface of a sample in a state free from charge-up over the whole sample, and to provide a manufacturing method of a semiconductor device using the apparatus.例文帳に追加

試料全体にわたりチャージアップのない状態で試料表面の観察及び評価を可能にした荷電粒子線装置及び該装置を使用した半導体デバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁

The profile of a sample surface and fluorescent image are acquired by two-dimensionally scanning a positioning mechanism 3 in an XY direction, and fluorescent label on the sample can be detected by ≤0.5 μm revolving power.例文帳に追加

位置決め機構３をXY方向に２次元的に走査を行うことによって、試料表面の形状と蛍光像を取得し、試料上の蛍光標識を0.5μm以下の分解能で検出することができる。 - 特許庁