「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

DEVICE SENSITIVITY EVALUATION METHOD OF SURFACE PLASMON RESONANCE MEASURING DEVICE, AND PERFORMANCE EVALUATION METHOD OF FLOW CELL FOR SAMPLE ANALYSIS例文帳に追加

表面プラズモン共鳴測定装置の装置感度評価方法及びその試料分析用フローセルの性能評価方法 - 特許庁

To provide an ultraviolet microscope capable of supplying inert gas to a surface of a sample while securing excellent operability.例文帳に追加

良好な操作性を確保しつつ、標本表面に不活性ガスを供給できる紫外線顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The adhesive transportation surface is separated thereafter from the remainder of the tissue sample, while maintaining the adhesion with the desired cell.例文帳に追加

その後、接着性輸送表面は、所望の細胞との接着を維持しつつ、組織サンプルの残りから切り離される。 - 特許庁

An imaging apparatus 2 picks up the image of the sample surface-sequentially in synchronization with switching the wavelength region of the illuminating light.例文帳に追加

撮像装置２は、該標本の画像を、該照明光の波長域の切り替えに同期して面順次で撮像する。 - 特許庁

OBSERVATION/ANALYSIS METHOD FOR SAMPLE SURFACE BY OBLIQUE EMISSION PROTON BEAM INDUCED CHARACTERISTIC X- RAY ANALYSIS AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

斜出射プロトンビーム誘起特性Ｘ線分析による試料表面の観察・分析方法およびそのための装置 - 特許庁

The imaging part 30 forms an image of a secondary x-ray generated from the sample 90 on a light receiving surface of the detection part 40.例文帳に追加

結像部３０は、試料９０で発生した二次Ｘ線の像を検出部４０の受光面上に結像する。 - 特許庁

To easily perform a test for arbitrarily setting the distance from a light source to a sample surface in a weathering light property-testing apparatus.例文帳に追加

耐候光性試験装置において、光源から試料面までの距離を任意とする試験を容易に行うこと。 - 特許庁

The electron beam 11 may be made to scan on an imaging surface 30A of a solid imaging element by supposing the sample 30 as the solid imaging element.例文帳に追加

前記試料３０を固体撮像素子としてこの固体撮像素子の撮像面３０Ａ上を走査させてもよい。 - 特許庁

To provide a microscope device preventing splashes of an immersion liquid removed from an object lens from attaching to the surface of a sample container.例文帳に追加

対物レンズ上から除去したイマージョン液の飛沫が標本容器の表面に付着することを防止する。 - 特許庁

To transmit an achievable cooling rate to a surface of a sample without reducing the rate as much as possible.例文帳に追加

達成可能な冷却速度をできるだけ低減せずに試料の表面に伝達する高圧凍結装置用試料ホルダ。 - 特許庁

To provide a sample pre-treatment system for the fluorescent X-ray analysis including a sample pre-treatment device for drying a work present on a substrate surface after dissolution, and holding it on the substrate surface which can prevent corrosion and prolong the service life of a carrier or the like located outside the sample pre-treatment device.例文帳に追加

基板表面などに存在する被測定物を溶解後乾燥させて基板表面に保持する試料前処理装置を含む蛍光Ｘ線分析用試料前処理システムなどにおいて、試料前処理装置の外部にある搬送装置などの腐食防止および長寿命化を十分に図れるものを提供する。 - 特許庁

A sample retaining tray used in the tissue sample processing system comprises a reagent-holding portion that defines a reagent-retaining recess; a sample-holding portion that defines a platen that includes a reagent surface; and a fluid flow portion that is configured to place the reagent-retaining recess that is in fluid communication with the reagent surface.例文帳に追加

組織サンプル処理システムにおいて用いられるサンプル保持トレイであって：試薬保持凹部を規定する試薬保持部分；試薬表面を含むプラテンを規定するサンプル保持部分；および該試薬保持凹部を該試薬表面と流体連絡に置くような形態である流体流れ部分を備える、サンプル保持トレイ。 - 特許庁

The device includes a means which irradiates an electron beam and charges a photoconductor sample 30, an exposure optical system which forms the electrostatic latent image, and a scanning means which scans the surface of a sample by the electron beam and measures an electrostatic latent image distribution on the surface of the sample 30 by a detection signal obtained by the scanning.例文帳に追加

電子ビームを照射して感光体試料３０上に帯電電荷を生成させる手段と、静電潜像を形成させるための露光光学系と、試料面を電子ビームで走査する走査手段と、を有し、走査で得られる検出信号により試料３０面の静電潜像分布を測定する装置。 - 特許庁

The sample preparing method includes a rotation process for changing the direction of the sample 20 which keeps the first surface 10a directed upward and has a contact so that the first surface 10a may be directed laterally or downward and an irradiation process for irradiating the sample 20 with a converged ion beam from the short direction of the contact.例文帳に追加

試料作製方法は、第１面１０ａが上方を向き、コンタクトを有する試料２０を、第１面１０ａが側方ないし下方を向くように試料２０の向きを変える回転工程と、試料２０に対して、コンタクトの短手方向から集束イオンビームを照射する照射工程とを含む。 - 特許庁

The arrangement of the inside electrode 1 and the outside electrode 3 is decided so that the shortest distance (distance A+distance B) in the sample 6 from the surface of the sample 6 opposed to the electrode unit 11 to the inside electrode 1 becomes larger than the distance G which is the shortest distance from the surface of the sample 6 to the outside electrode 3.例文帳に追加

試料６において電極ユニット１１と対向する表面から内側電極１までの最短距離である（距離Ａ＋距離Ｇ）が、試料６の表面から外側電極３までの最短距離である距離Ｇより大きくなるように、内側電極１および外側電極３の配置は決定されている。 - 特許庁

An escape depth of the fluorescent X-ray is deeper than that of the photoelectron, the detected fluorescent X-ray has elementary information in a position of about several μm of depth from a sample surface, and the elementary information in a position deeper than that of the sample elctrode surface is provided based on an analyzed result of the second sample analyzing means 22.例文帳に追加

蛍光Ｘ線の脱出深さは光電子の脱出深さに比べて深く、検出された蛍光Ｘ線は試料表面から約数μｍのところの元素情報を有しており、第２の試料分析手段２２の分析結果から、試料極表面より深いところの元素情報を得ることができる。 - 特許庁

In the liquid level detector 10, a detection circuit 11 detects variations in capacitance in a probe 4 dispensing a liquid sample, containing a sample or a reagent caused by bringing the probe 4 into contact with the liquid surface of the liquid sample, and a determination circuit 18 determines whether this is liquid surface, on the basis of a detected signal.例文帳に追加

試料又は試薬を含む液体試料を分注するプローブ４が液体試料の液面に接触することによるプローブにおける静電容量の変化を検知回路１１によって検知し、検知した信号に基づいて判定回路１８が液面か否かを判定する液面検知装置１０。 - 特許庁

A sample 2 is cut from a semiconductor chip to be made thin by mechanical polishing and the thin sample is attached to a single-ported mesh 6 for transmission type electron microscope observation and a Pt film 7 is formed to the part with specific depth of an end surface and irradiated with gallium ion beam 8 parallel to the main surface of the sample to make the part other than a principal part thin by etching.例文帳に追加

半導体チップから試料２を切り出し、機械的研磨により薄くした後、透過型電子顕微鏡観察用の単孔メッシュ６に取付け、端面の特定深さの部分にＰｔ膜７を形成し、試料の主面に平行なガリウムイオンビーム８を照射して要部以外の部分をエッチングして薄膜化する。 - 特許庁

To extract a minute sample piece 3 of a semi-conductor wafer thin film processed by a focused ion beam 2, the distal end 9 of a supporting means provided on a transfer means 7 is brought into contact with the minute sample piece 3, and the sample connected to the end making use of the interatomicbonds caused by surface activation of the contact surface is extracted.例文帳に追加

集束イオンビーム２で薄膜加工した半導体ウェーハの微細試料片３を摘出するために、搬送手段７に設けられた保持手段先端部９を試料片３に接触させ、接触面の表面活性化による原子間結合を利用して両者を接合して、取り出す。 - 特許庁

In this microscopic stage where a slide glass sample 8 can slide along the upper surface of an upper stage 2, groove parts 9a and 9b in the sliding direction of the sample 8 are formed to cross a long hole 2a formed on the upper surface of the stage 2, and the sample 8 is placed along the groove part 9a.例文帳に追加

上ステージ２上面に沿ってスライドガラス標本８を摺動可能にした顕微鏡ステージで、上ステージ２上面に形成された長穴２ａを横切ってスライドガラス標本８の摺動方向に沿った溝部９ａ、９ｂを形成し、この溝部９ａに沿ってスライドガラス標本８を載置する。 - 特許庁

The sampler 90 may be located on a surface of the immersion system so as to collect sample particles by contact of the collector surface 96 with a liquid or with a surface of the immersion system.例文帳に追加

サンプラ９０は、コレクタ表面９６を液体と、又は液浸システムの表面と接触させることによってサンプル粒子を採取するように、液浸システムの表面に配置することができる。 - 特許庁

When the convex surface is activated, an adhesive transportation surface is provided on the selectively activated convex surface, to be adhered to a desired cell in the desired sample.例文帳に追加

凸状表面が活性化された場合、選択的に活性化された凸状表面上の接着性輸送表面が提供され、これは、所望のサンプルのフットプリントにおける所望の細胞に接着する。 - 特許庁

Each time the surface part of the sample block 10 is sliced repeatedly by a prescribed number times, the surface part of the dummy block 19 is sliced once and next, the cut surface is photographed by the CCD camera 30.例文帳に追加

試料ブロック１０の表層部の薄切りを所定の回数繰り返す毎に、ダミーブロック１９の表層部の薄切りを一回実施し、次いで、その切断面をＣＣＤカメラ３０で撮影する。 - 特許庁

The method includes a step to direct radiation towards the sample surface, and a step to detect the radiation reflected on the surface for generating reflectance signal as a function of elevation angle to the surface.例文帳に追加

本方法は、サンプル表面へ放射線を向けること、表面に対する仰角の関数として反射信号を生成するためにその表面で反射された放射線を検知することを含む。 - 特許庁

To provide a device and method for acquiring surface information that can acquire the surface information, even if a liquid or the like is flowing on sample surface.例文帳に追加

試料表面において液体等が流動している場合であっても表面情報を取得することが可能な表面情報取得装置及び表面情報取得方法を提供すること。 - 特許庁

This method includes directing radiation toward a surface of the sample and sensing the radiation reflected from the surface so as to generate a reflectance signal as a function of elevation angle relative to the surface.例文帳に追加

本方法は、サンプル表面へ放射線を向けること、表面に対する仰角の関数として反射信号を生成するためにその表面で反射された放射線を検知することを含む。 - 特許庁

To reduce accumulation of a contamination film by covering a sample surface with an atmosphere such as inert gas hardly causing contamination and eliminating residual gas causing hydrocarbon a factor of forming the contamination film on the sample surface.例文帳に追加

試料表面をコンタミネーションの要因となりにくい不活性ガス等の雰囲気で被覆し、コンタミネーション膜生成の要因となるハイドロカーボンの原因となる残留ガスを試料表面から排除することで、コンタミネーション膜の堆積を低減すること。 - 特許庁

To facilitate a control of a structure of a diffraction grating and a control of properties of a surface which is contacted with a sample as an optical structure for inducing an evanescent wave in an analyzing element for analyzing a sample utilizing a surface plasmon resonance(SPR).例文帳に追加

表面プラズモン共鳴（ＳＰＲ）を利用した試料分析のための分析素子に関し、エバネッセント波を誘起する光学構造として回折格子の構造制御及び試料と接触する表面の性状制御を容易にする。 - 特許庁

This electrostatic latent image evaluation device radiates a charged particle beam to the photoreceptor sample 25 having a surface charge distribution or a surface potential distribution, and measures the electrostatic latent image of the sample by a detected signal obtained by irradiation of the charged particle beam.例文帳に追加

表面電荷分布あるいは表面電位分布を有する感光体試料２５に対して荷電粒子ビームを照射し、荷電粒子ビームの照射で得られる検出信号により試料の静電潜像を計測する静電潜像評価装置。 - 特許庁

An energization control part 26 monitors a temperature of the sample holder 11 upper surface through a temperature sensor 24, and controls a current carrying amount into the transparent conductive film 11a through a power source device 22 so that the temperature of the sample holder 11 upper surface becomes a prescribed temperature.例文帳に追加

通電制御部２６は試料ホルダー１１上面の温度を温度センサ２４を介してモニタし、試料ホルダー１１上面の温度が所定の温度となるように電源装置２２を介して透明導電膜１１ａへの通電量を制御する。 - 特許庁

When the reflection light intensity of a sample point on the surface of an object is calculated, the curvature of the surface of the object at the sample point is calculated, and pattern data of each layer are compounded according to the visualization percentage corresponding to the curvature.例文帳に追加

物体表面上のサンプル点の反射光強度を求める際に、当該サンプル点における物体表面の曲率を求め、当該曲率に対応した可視割合に応じて、各レイヤーごとの絵柄データを合成して反射特性を決定する。 - 特許庁

After internationally charging electric charge at early stages on a sample surface such as a photograph mask, the scanning electron microscope image, is set as the base which obtains the image based on a signal of a secondary electron produced by scanning with a primary electronic beam on the charged sample surface.例文帳に追加

フォトマスクのような試料表面に初期に意図的に電荷を帯電させた後で、帯電された試料表面を１次電子ビームでスキャンして生じる２次電子の信号を基とする画像を得る走査電子顕微鏡画像による。 - 特許庁

Generated light is received by a light-receiving side optical fiber having the head arranged toward the sample surface on the separated position from the light source side optical fiber head, to thereby enable to observe light generation on the sample surface on the different position from the excited area.例文帳に追加

前記光源側光ファイバ先端から離間した位置の試料表面に向けて先端が配置される受光側光ファイバで発光を受光することによって、励起エリアとは異なる位置の試料表面の発光を観測することができる。 - 特許庁

To provide a magnetic field detecting method, a magnetic field detector, and an information memory capable of excluding an influence of a magnetic field from an external field other than a magnetic field from a sample surface, and capable of detecting a local magnetic field on the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面からの磁界以外の外界からの磁界の影響を排除することができ、試料の表面の局所的な磁界を検出することができる磁界検出方法、磁界検出装置、情報記憶器を提供する。 - 特許庁

Alternatively, the probe 10 or the atom 50 on the surface of the sample is rotated on a plane parallel to the surface of the sample, and the frequency variation amount of the probe 10 based on the interatomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected.例文帳に追加

または、探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な平面で回転させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

Regarding the thin film deposition system 1 where a target 8 (vapor deposition raw material) is made into plasma in a vacuum furnace body 2, and a film is deposited on the surface of each sample 4, a gas feeding apparatus 6 for feeding nitrogen (inert gas) to the surface of each sample 4 is provided.例文帳に追加

真空の炉体２内でターゲット８（蒸着原料）をプラズマ化させ、試料４の表面に膜を形成する薄膜の成膜装置１で、試料４の表面に窒素ガス（不活性ガス）を供給するガス供給装置６を備える。 - 特許庁

The heating temp. of a viscoelastic body 17 by a heating coil 16 at the time of retract coarse motion separating a probe 10 from the surface of a sample is made higher than that at a time of approach coarse motion allowing the probe 10 to approach the surface of the sample.例文帳に追加

加熱コイル１６による粘弾性体１７の加熱温度を、探針１０を試料１９表面から引き離すリトラクト粗動時の方が、該探針１０を該試料１９表面に近付けるアプローチ粗動時より高くなるようにした。 - 特許庁

The whole of the region to be measured of the surface of the titanium oxide sample is irradiated with monochromatic incident X-rays and the diffracted X rays from the respective regions of the region to be measured of the surface of the titanium oxide sample are discriminated and detected by a two-dimensional sensitive detector to form an intensity distribution image.例文帳に追加

単色の入射Ｘ線で酸化チタン試料表面の被測定領域全体を照らし、各部位からの回折Ｘ線を二次元位置敏感型検出器で区別して検出して強度分布画像を形成する。 - 特許庁

This mesh for the transmission electron microscope has a sample supporting surface, and includes a support having one or a plurality of opening parts, and a protecting member disposed on the sample supporting surface side of the support, and equipped with one or a plurality of opening parts.例文帳に追加

試料支持面を有し、１つまたは複数の開口部を有する支持体と；該支持体の試料支持面側に配置され、１つまたは複数の開口部を有する保護部材とを含むことを特徴とする透過電子顕微鏡用メッシュ。 - 特許庁

To provide a preparatory reducing furnace capable of certainly removing the oxidation film bonded and formed to the surface of a silicon sample at the time of analysis of a very small amount of oxygen contained in the silicon sample, and to provide a pretreatment method for the silicon sample using the same.例文帳に追加

シリコン試料中に含まれる微量酸素の分析に際して、前記シリコン試料の表面に付着形成されている酸化膜を確実に除去することができる予備還元炉およびこれを用いるシリコン試料の前処理方法を提供すること。 - 特許庁

An imaging optical system 31 of an imaging part 30 forms an image of a sample 8 arranged in the sample opening 14 on the light receiving surface of an area sensor 32 through an imaging opening 16, and forms the image of a range containing a part of the sample opening 14.例文帳に追加

撮像部３０の撮像用光学系３１は、撮像用開口１６を通して試料用開口１４に配置された試料８の像をエリアセンサ３２の受光面に結像するもので、試料用開口１４の部分を含む範囲の像を結像する。 - 特許庁

Then, for observing the fluorescence of the sample, a condensation optical element 26 for capturing fluorescence from the sample and a sensor part 11 are provided on the wall surface of the small channel 24c, thus appropriately observing the fluorescence of the sample in the small channel 24c.例文帳に追加

そして、試料の蛍光を観測するために、微小流路２４ｃの壁面に設けられ、試料からの蛍光を捕捉する集光光学素子２６とセンサ部１１とを設けることで微小流路内２４ｃ内の試料の蛍光を良好に観測できる。 - 特許庁

This scanning probe microscope is equipped with a cantilever 21 having a probe 20, measuring parts 24, 32, or the like, for measuring the interatomic force generated between the probe and a sample when scanning the sample 12 surface by the probe or the like, a sample stage 11 and an optical microscope 18.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料１２の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（２４，３２等）、試料ステージ１１、光学顕微鏡１８を備える。 - 特許庁

When the display sample 1 displayed on a display surface Ab of a sample display part Aa is horizontally rotated, the display of the display sample is changed so that a display label C or D with a radius of curvature corresponding to a commodity to be sold by the vending machine A is turned to the front.例文帳に追加

また、見本陳列部Ａａの陳列面Ａｂに陳列された展示見本１を水平回転して、自動販売機Ａが販売する商品と対応する曲率半径の表示ラベルＣ又はＤが正面向きとなるように表示変更する。 - 特許庁

Then, the evaporation material released from the evaporation system 13 passes through an evaporation material passing hole 12 of a base 3 and reaches the sample 11 on a sample stage arranged on the route of the evaporation material to deposit a thin film of gold on the surface of the sample.例文帳に追加

そして、蒸着装置１３から放出された蒸着物質は、基台３の蒸着物質通過孔１２を通過して、蒸着物質の進路上に配置された試料ステージ上の試料１１に到達し、試料の表面に金の薄膜が形成される。 - 特許庁