「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain a photographing device for measuring optical anisotropy capable of obtaining the actual image of a sample in each condition, while combining such conditions as normal vector of a reflection surface of the sample, orientation of the sample, phtographing angle of a camera, and illuminating direction of lighting.例文帳に追加

試料の反射表面の法線ベクトル、試料の向き、カメラの撮影角度、照明の照射方向の条件を組み合わせながら、各条件での試料の実画像を取得できる光学異方性測定用の撮影装置を得る。 - 特許庁

After an analytical sample is fixed to a support substrate, a uniform thin film having a thickness equal to an intended analysis depth is formed on the analytical sample and the support substrate surface, and the analytical sample is thinned up to a thickness where the thin film on the support substrate is ground.例文帳に追加

分析試料を支持基板に固定した後、分析試料と支持基板表面に目的の分析深さと同等の厚さの均一な薄膜を形成し、支持基板上の薄膜が研磨される厚さまで分析試料を薄片化する。 - 特許庁

To enable measurement of high sensitivity even in a case that surface oscillation is produced during rotation of a support in a bio-sample discrimination apparatus for irradiating the bio-sample with light while rotating the support for supporting a very small amount of the bio-sample to detect the same.例文帳に追加

微量な生体サンプルを支持する支持体を回転させながら、この生体サンプルに光を照射して検出をおこなう生体サンプル判別装置において、支持体の回転時に面ぶれが生じた場合でも、高感度に測定可能とする。 - 特許庁

The inorganic solid matter 12 is rejected in the lateral direction of sample holders 14a and 14b, and the embedded sample 30 is compressed until the minute foreign substance 10 directly comes into contact with the facing surface of each of upper and lower sample holders 14a and 14b.例文帳に追加

無機固体物１２が試料ホルダ１４ａ、１４ｂの左右方向に退けられ、微小異物１０が上下の試料ホルダ１４ａと１４ｂの対向面にそれぞれ直接接触するに至るまで埋包試料３０を圧縮する。 - 特許庁

In a method for centering a probe, an assistance sample 30 with a spherical shape is placed on a rotation means 10 in such a manner that the center of the assistance sample 30 is aligned with a rotation axis 10a of the rotation means 10, and coordinates on a surface of the assistance sample 30 is measured by the probe 20.例文帳に追加

球体から成る補助試料３０の中心が回転手段１０の回転軸１０ａ上に位置するよう、補助試料３０を回転手段１０に設置し、補助試料３０の表面の座標をプローブ２０で測定する。 - 特許庁

To perform measurements at high sensitivity, even in the case where surface deflection occurs at rotation of a support, in a physiological sample discriminating apparatus for irradiating a physiological sample with a light while rotating the support for supporting a trace amount of the physiological sample for detecting.例文帳に追加

微量な生体サンプルを支持する支持体を回転させながら、この生体サンプルに光を照射して検出をおこなう生体サンプル判別装置において、支持体の回転時に面ぶれが生じた場合でも、高感度に測定可能とする。 - 特許庁

The chip is constituted so as to be provided with a chip substrate 1 and a groove part 2 which is formed on the surface of the chip substrate 1, in which a first living body sample is circulated and in which a second living body sample complementarily reacted with the first living body sample is arranged.例文帳に追加

チップ基板１と、チップ基板１の表面に形成され第１の生体試料を流通させるとともに該第１の生体試料と相補的に反応する第２の生体試料を配置するための溝部２とをそなえて構成する。 - 特許庁

Thus, whichever sample on the sample plate 2 is analyzed, distance (d) between the upper surface of the sample and an ion extraction electrode 9 is maintained fixedly, thus dispensing with variations in flight distance and making the operation of an ion extraction electric field equal.例文帳に追加

これにより、サンプルプレート２上のどのサンプルを分析する場合にも、サンプル上面とイオン引き出し用電極９との間の距離ｄが一定に保たれ、飛行距離のばらつきがなくなるとともにイオン引き出し電場の作用も同じになる。 - 特許庁

Then, the sample is processed from a direction intersected with the cross section to be exposed to the surface by processing, by using the focused ion beam (S102), and it is determined whether the hole part appears on the surface being processed of the sample (S103); and when the hole part appears on the surface being processed, processing is stopped (S104).例文帳に追加

そして、集束イオンビームを用いて、加工によって表面に露出させる予定の上記断面と交わる方向から試料を加工し（Ｓ１０２）、試料の加工中の面に穴部が現れたかどうかを判定し（Ｓ１０３）、加工中の面に穴部が現れたときに加工を止める（Ｓ１０４）。 - 特許庁

In the biosensor device equipped with the vibrator constituted of a crystal plate held between electrodes and a cell for holding the sample on the vibrator, the surface of the sample on the vibrator is formed into a recessed surface with respect to the surface parallel to the vibrator.例文帳に追加

電極間に挟持された結晶板から構成される振動子と、前記振動子上に試料を保持するためのセルとを備えるバイオセンサー装置であって、前記振動子上の前記試料の表面を、前記振動子と平行な面に対して凹面を形成するようにしたことを特徴とする。 - 特許庁

A suction nozzle 2 is lowered in this state, and since the suction nozzle 2 is inserted not toward the bottom surface of the vial 4 but toward a corner between the bottom surface and the side surface, the liquid sample can be sucked without being remained, to thereby reduce the quantity of the liquid sample used for measurement.例文帳に追加

この状態で、吸引ノズル２が下降し、吸引ノズル２がバイアル瓶４の底面でなく、底面と側面の角に向かって挿入されるので、液体試料を残すことなく吸引することができ、測定に用いる試料の少量化を図ることができる。 - 特許庁

The hydrogen concentration of the surface atomic layer of a sample (a substrate 20) is measured in the surface treatment apparatus without extracting the sample in atmospheric air, by conducting in the vacuum chamber 2 of the surface treatment apparatus by using the elastic recoil-particle detecting method by the low-energy ion scattering spectral method.例文帳に追加

低エネルギーイオン散乱分光法による弾性反跳粒子検出法を用い、表面処理装置の真空室２内で行うことによって、試料（基板２０）を大気中に取り出すことなく表面処理装置内において、試料の表面原子層の水素濃度の測定を行う。 - 特許庁

In this surface analyzing method by means of the matrix assist laser deionization time-of-flight mass spectrometer, after vacuum deposition of a matrix on the sample surface, ionization is carried out by ultraviolet laser irradiation for providing a mass spectrum about a chemical substance on the sample surface.例文帳に追加

マトリックス支援レーザー脱離イオン化−飛行時間質量分析計による表面分析方法において、試料の表面にマトリックスを真空蒸着した後に紫外線レーザーを照射してイオン化を行って試料表面の化学物質に関連するマススペクトルを得る。 - 特許庁

Therefore, it becomes possible to measure the mutual reaction between the sample surface and the probe 12 by detecting the amount of flexion of the SPM probe by the piezo resistor 20, and it also becomes possible to measure the surface potential of the sample surface without using a detector which requires complicated location adjustments.例文帳に追加

よって、ピエゾ抵抗体によるSPMプローブの撓み量検出による試料表面と探針との間の相互作用の計測が可能になるとともに、試料表面の表面電位の計測を、煩雑な位置調整を必要とする検出器を使用せずに可能となる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of separately measuring frictional force deriving from surface force such as adsorptive force corresponding to the surface conditions of a sample and frictional force caused by the coefficient of friction of the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の摩擦力を測定する際に、試料の表面状態に対応した吸着力等の表面力に基づく摩擦力と、試料表面の摩擦係数に基づく摩擦力とを分離して測定することが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe fixing jig for a surface potential measuring apparatus which can surely position a distance between a probe and a sample within a specified measurement range, concerning the probe fixing jig of surface potential measuring apparatus for measuring a surface potential of the sample arranged so as to face the probe.例文帳に追加

プローブに対向して配置された試料の表面電位を測定する表面電位測定装置のプローブ固定治具に関し、プローブと試料との距離を指定の測定範囲内で確実に位置決めできる表面電位測定装置のプローブ固定治具を提供することを目的とする。 - 特許庁

The inclination of the surface of the sample is calculated on the basis of the relation between the angle ϕof rotation, the flapping angle ω and the inclination of the surface of the sample to a predetermined reference surface by using the angle ϕn of rotation set by this operation and the measured flapping angle ωn to be corrected.例文帳に追加

この操作で設定した回転角φｎおよび測定したあおり角ωｎを用いて、回転角φおよびあおり角ωと所定の基準面に対する試料面の傾きとの間の関係に基づき試料面の傾きを求め、その傾きを補正する。 - 特許庁

This device comprises a sample base 13 for mounting a sample 1, a primary X-ray irradiation part 2 for making primary X-rays incident on the surface of the sample at an incident angle causing total reflection, and a detector 11 for detecting fluorescent X-rays generated from the sample 1.例文帳に追加

試料１を載置する試料台１３と、１次Ｘ線を試料１の表面に対し全反射を起こす入射角で入射させる１次Ｘ線照射部２と、試料１の表面に対向して配置され、試料１から発生する蛍光Ｘ線を検出する検出器１１とを備えている。 - 特許庁

When a sample is pressed against the sample plate 1 and peeled therefrom, the object substance to be analyzed of the sample surface is taken into the matrix 8 in the recess 3, as it is, while its positional information is kept within a range where the sample is closely-attached, whereby the minute crystal particles containing the object substance to be analyzed are formed, after drying operation.例文帳に追加

このサンプルプレート１表面に試料を押し付けて剥がすと、試料が密着した範囲で試料表面の分析対象物質がその位置情報を保持したまま凹部３内のマトリックス８に取り込まれるから、これを乾燥させることで分析対象物質を含む微細な結晶粒が形成される。 - 特許庁

The visual inspection device 1 is equipped with a pre-inspection means 3 for performing the pre-inspection related to a sample 23 before the visual inspection of the sample is performed by a visual inspection means 2 in addition to the visual inspection means 2 for inspecting the appearance of the sample 23 from the photographed image obtained by photographing the surface of the sample 23.例文帳に追加

外観検査装置１は、試料２３の表面を撮像して得た撮像画像からその外観を検査する外観検査手段２に加えて、この外観検査手段２が試料２３の外観検査を行う前に試料２３について所定の前検査を行う前検査手段３を備えて構成される。 - 特許庁

To separately detect secondary signal particles generated from the surface of a sample, dark field transmitted signal particles scattered within and transmitted through the sample, bright field transmitted signal particles transmitted through the sample without being scattered within the sample to observe the image with an optimum contrast according to an objective, in a charged particle beam device.例文帳に追加

荷電粒子線装置において、試料表面から発生した二次信号粒子と、試料内で散乱して透過した暗視野透過信号粒子と、試料内を散乱しないで透過した明視野透過信号粒子を分離して検出し、目的に応じた最適なコントラストの像を観察する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of removing extraneous matter like dust or foreign substances obstructing observation of a sample surface or a processing position in a sample just before the observation and processing of the sample, by providing a sample exchanging device of the charged particle beam device with a removing function.例文帳に追加

荷電粒子線装置で試料において、試料表面の観察や加工部位に妨げとなる付着物等のゴミや異物を除去することを目的としており、荷電粒子線装置の試料交換装置に除去機能を有することで試料の観察，加工時直前に実施でき付着物を着実に除去できる。 - 特許庁

To enable relative comparison of the states of depletion layers of a diffused region, at each different sample structure for each observation of a semiconductor sample by making a voltage condition which is actually applied to a region of the surface of the sample constant, when observing the state of the depletion layer of the diffused region of the sample using an SCM.例文帳に追加

半導体試料の拡散領域の空乏層の状態をSCM により観察する際、試料表面部の拡散領域に実際に印加される電圧条件を一定化し、試料の観察毎、異なる試料構造毎の拡散領域の空乏層の状態を相対的に比較することを可能にする。 - 特許庁

When the sample 3 to be analyzed reaches a measurement position by the travel of the sample stand 1, a displacement sensor 12 measures the amount of displacement in the height of the upper surface of the sample 3, and an amount-of-displacement correction control section 17 drives a displacement drive section 16 based on the measurement value and finely moves the sample stand 1 in the direction of Z axis.例文帳に追加

試料台１の移動により分析対象のサンプル３が測定位置に来たとき、変位センサ１２はそのサンプル３上面の高さの変位量を計測し、変位量補正制御部１７は計測値に基づいて変位駆動部１６を駆動して試料台１をＺ軸方向に微小移動させる。 - 特許庁

To detect defects in a minute wiring pattern formed on a sample with high sensitivity, by improving the contrast of an optical image of the sample formed by the interference between the 0-th and higher-order diffracted lights of reflected light, arising from illuminating light reflected by the sample surface, in a defects detection optical system which detects defects in a pattern formed on the sample surface.例文帳に追加

試料表面に形成したパターンの欠陥を検出する欠陥検出光学系において、照明光により試料表面で反射した反射光の０次光と高次回折光の干渉により形成される試料の光学像のコントラストを向上させることにより、試料上に形成された微細な配線パターンの欠陥を感度良く検出する。 - 特許庁

To sample soil that is located at approximately several tens of cm from the ground surface without breaking the soil structure while saving power.例文帳に追加

地表から数十ｃｍ程度の土壌に省力的に、しかも、土壌構造を破壊することなく採取する。 - 特許庁

To provide a partial dilution apparatus which can prevent particulates from adhering to the inner surface of a sample introduction pipe.例文帳に追加

本発明は、サンプル導入管内面へのパティキュレートの付着を防ぐことができる部分希釈装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a device improving detection sensitivity by restraining temperature rise on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の温度上昇を抑えて検出感度を向上させる欠陥検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical fiber preventing the collision of the peripheral end of the clad of the fiber with the surface of a sample and high in detection efficiency.例文帳に追加

クラッドの周端部か試料表面に衝突することがなく、検出効率が高い光ファイバを提供する。 - 特許庁

To provide a sampler capable of sampling a sample from its inner wall surface without cutting a pipe.例文帳に追加

配管を切断することなしにその内壁面からの試料の採取を行うことを可能にする装置を提供すること。 - 特許庁

To accurately detect the presence and properties of the minute flaw on the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面の微小な欠陥の存在及びその性状を正確に検出できる欠陥検出装置を実現する。 - 特許庁

Molecules, a polymer, or the like on the surface of the sample 3 are thereby excited to carry out transition from a predetermined state to an excited state.例文帳に追加

これにより、試料３の表面の分子やポリマーなどが励起され、既定状態から励起状態に遷移する。 - 特許庁

Once a site for sample collecting has been decided, OSIRIS-REx will reach out its robotic arm and collect more than 50 grams of surface material in a capsule. 例文帳に追加

試料の採取場所が決まると，OSIRIS-RExはロボットアームを伸ばし，地表の物質を50グラム以上カプセルに採取する。 - 浜島書店 Catch a Wave

For example, this value can be selected at a sample point on a curve or a surface between the upper limit and the lower limit.例文帳に追加

例えば、上限と下限の間の曲線または表面のサンプルホ゜イントにおいて、この値を選択することができる。 - 特許庁

To provide a mechanism in which ions in the vicinity of a surface of a sample board are collected to the maximum in a desorption ionization method.例文帳に追加

デソープションイオン化方法において、試料台表面近傍のイオンを最大限に捕集する機構を提供する。 - 特許庁

To form a cross section with few vertical stripes by focused ion beams even for a sample with large rugged parts on the surface.例文帳に追加

表面に大きな凹凸部を有する試料であっても集束イオンビームで縦筋の少ない断面を形成すること。 - 特許庁

Heat conduction analysis is performed for the sample data with the skin surface temperature of the object person for measurement as a constraint condition (ST 120).例文帳に追加

サンプルデータに対し、測定対象者の皮膚表面温度を拘束条件として熱伝導解析を行う（ST120）。 - 特許庁

Here, the surface of the piezoelectric substrate is exposed to the outside of the system to make a sample liquid exposed to the conductive film for detection and quantitative estimation.例文帳に追加

ここで、圧電基板の表面が系外に露出され、導電性膜に試料液を晒して検知・定量を行う。 - 特許庁

CO generated in the first determining process S8 corresponds to oxygen contaminating the surface of the Si sample 38.例文帳に追加

第一定量工程Ｓ８において発生するＣＯは、Ｓｉ試料３８の表面の汚染酸素に対応している。 - 特許庁

Furthermore, a means for measuring the electrostatic latent image on the surface of the sample by scanning it with an electron beam is provided.例文帳に追加

さらには、試料面を電子ビームで走査することによって試料面の静電潜像を測定する手段を有する。 - 特許庁

The cantilever is vibrated by a vibrator 20 so as to bring the head end of the silver tip into indirect contact with the sample surface.例文帳に追加

カンチレバーは振動子２０によって加振され、これにより銀チップの先端が試料表面に間接接触する。 - 特許庁

Thereafter, the end 4a of the wafer receiver 4 descends (moves) to put the wafer 1 on the top surface of the sample table 3.例文帳に追加

その後に、ウエハ受け４の先端４ａが下降（移動）して、ウエハ１が試料台３の上面に載置される構成とした。 - 特許庁

To provide a sample surface treating method useful for observation of high performance intrinsic to a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡本来の高性能の観察を行うために有用な試料表面の処理方法を提供する。 - 特許庁

The ion gun 20 emits argon ions and irradiates argon ions to the back surface of the processing sample gripped by the holder 50.例文帳に追加

また、イオン銃２０は、アルゴンイオンを放出し、ホルダ５０に把持された加工試料の裏面に、アルゴンイオンを照射する。 - 特許庁

As a result, the sample surface is spirally scanned by a band-like optical beam of scan width, for fast canning.例文帳に追加

この結果、試料表面はスキャン幅の帯状の光ビームによりスパイラルスキャンされるので、高速走査可能になる。 - 特許庁