「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

In this case, laser beams 4 are applied to a surface 3 in the sample 1 from a light source 8, the temperature of the back of the sample 1 at that time is measured by a radiation thermometer 6 via a hole 10 in the heater 5 and a transparent sample holder 2, thus measuring the thermal physical properties of the sample by using the temperature response properties of a multilayer model.例文帳に追加

このとき光源８からレーザ４を試料１の表面３に照射し、その際の試料１の裏面の温度をヒータ５の穴１０、透明な試料ホルダ２を介して放射温度計６で測定し、多層モデルの温度応答性を用いて試料の熱物性を測定する。 - 特許庁

The data for cutting surface is taken in each time the surface-layer part of the sample 10 is sliced twice, according to this data take-in method.例文帳に追加

本発明のデータ取り込み方法によれば、試料１０の表層部のスライスを二回行う毎に、切断面のデータの取り込みを一回行う。 - 特許庁

If XY surface is deviated from the sample surface 1a, the position of an X-ray beam is deviated with respect to the X-axis by the rotation around the Z-axis.例文帳に追加

ＸＹ面と試料表面１ａがずれていると、Ｚ軸廻りの回転によりＸ線ビームの位置がＸ軸に対してずれる。 - 特許庁

A cut surface S including the constitutional member of a sample 122 formed by cutting the tire is irradiated with light reflected by the reflection surface.例文帳に追加

このタイヤを切断して形成されたサンプル１２２の、上記構成部材を含む切断面Ｓは、この反射面で反射した光で照らされる。 - 特許庁

A polishing object H provided in a state in which a dummy wafer D is laminated on a wafer mirror surface processing surface W2 of a sample wafer W is manufactured.例文帳に追加

試料ウェハＷのウェハ鏡面加工面Ｗ２に、ダミーウェハＤを積層する状態で設けた被研磨体Ｈを作製している。 - 特許庁

After the distance of the surface from the traveling level is adjusted, the cutter is traveled to slice the surface of the sample block 10.例文帳に追加

次いで、前記走行面に対する前記表面の距離を調整した後、前記カッタを走行させて試料ブロックの表層のスライスを行う。 - 特許庁

By measuring the surface irregularity, the sizes of the dispersed fine particles are measured, and the contact area with the sample surface is identified.例文帳に追加

また表面凹凸像を測定することで分散させた微粒子の大きさも測定し、試料面との接触面積を同定するようにした。 - 特許庁

The surface analyzer 1 includes an electron beam lens barrel 3 for irradiating a sample S surface with primary electron beams, and the spin detector 5.例文帳に追加

また、表面分析装置１は、試料Ｓ表面に１次電子線を照射する電子線鏡筒３と、上記スピン検出器５と、を有する。 - 特許庁

SILICON ELIMINATION METHOD FOR SILICON WAFER SURFACE, LIQUID SAMPLE EXTRACTION METHOD FOR REGION UNDER SURFACE LAYER OF SILICON WAFER, AND ANALYSIS METHOD FOR METAL IMPURITY IN THE REGION例文帳に追加

シリコンウェーハ表面の珪素脱離方法、シリコンウェーハ表層下領域の液体サンプル採取方法及びその金属不純物分析方法 - 特許庁

Therefore, accurate irregularity information on the sample surface can be obtained by detecting the displacement of the surface 286 of the lever part 140.例文帳に追加

従って、レバー部１４０の面２８６の変位を検出することにより、試料表面の正確な凹凸情報を得ることが可能になる。 - 特許庁

A photographing section 4 photographs the reaction surface 103 of a color sample plate 10 in a holding section 1 and generates the RGB bitmap image of the reaction surface.例文帳に追加

撮像部４は、保持部１内の色サンプル板１０の反応面１０３を撮像して、その反応面のＲＧＢビットマップ画像を生成する。 - 特許庁

A friction force is generated between the buff cloth B and surface of the sample 11 to be polished, and thus the surface to be polished is polished by the buff cloth B.例文帳に追加

バフ布Ｂ及び供試材１１の被研磨面間に摩擦力が生じ、これにより該被研磨面はバフ布Ｂによって研磨される。 - 特許庁

A method includes: a first washing step (step S32) for washing an outer surface of the dispensing nozzle after the sample has been sucked and before the sample is discharged; and a second washing step (step S34) for washing at least an inner surface of the dispensing nozzle after the sample has been discharged.例文帳に追加

検体を吸引した後であって該検体を吐出する前に分注ノズルの外壁面を洗浄する第一洗浄工程（ステップＳ３２）と、検体を吐出した後に分注ノズルの少なくとも内壁面を洗浄する第二洗浄工程（ステップＳ３４）とを含む。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of rapidly performing measurement of high precision by causing no fine change of potential in the surface fine region of a sample by properly holding the potential difference between the surface of the sample and a probe when the sample due to the probe is measured in an inspection process.例文帳に追加

検査工程での探針による試料測定時に試料の表面と探針との間の電位差を適切に保ち、試料表面の微細領域での微細な電位変化を生じさせず、迅速にかつ高い精度の測定を行うことができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To make the displacing amount of a finely moving element which minutely changes the height position of a probe with respect to a sample controllable to a desired amount when the probe is brought nearer to the surface of the sample and stopped in a measurable state at the time of measuring the surface of the sample under a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で試料の表面を測定する場合において試料表面に探針を接近させ測定可能状態で停止するとき、試料に対する探針の高さ位置を微小に変える微動要素の変位量を所望量に制御できるようにする - 特許庁

To obtain a liquid immersion microscope device which is used by filling space between a lens part in the objective lens barrel of a liquid immersion microscope and a sample with liquid, and which surely detects the existence of liquid supplied to a sample surface or liquid adhering to the sample surface.例文帳に追加

本発明は、液浸顕微鏡の対物レンズ鏡筒のレンズ部と試料との間を液体で満たして使用される液浸顕微鏡装置に関し、試料面に供給された液体あるいは試料面に付着した液体の有無を確実に検出することを目的とする。 - 特許庁

The sample retaining tray used in a tissue sample treatment system includes a reagent reservoir which defines a reagent retaining recess, a sample retaining part which defines a platen including a reagent surface, and a fluid flow part adapted to attain fluid connection of the reagent retaining recess with the reagent surface.例文帳に追加

組織サンプル処理システムにおいて用いられるサンプル保持トレイであって：試薬保持凹部を規定する試薬保持部分；試薬表面を含むプラテンを規定するサンプル保持部分；および該試薬保持凹部を該試薬表面と流体連絡に置くような形態である流体流れ部分を備える、サンプル保持トレイ。 - 特許庁

In this height gauge the sample 6 such as a wafer having a bump is scanned by laser light, reflected light from the sample surface is received, a height measurement signal is obtained from a signal, corresponding to the amount of reflected light from the image forming position of the reflected light to measure the height of the surface of the sample.例文帳に追加

バンプ５を有するウェハーの如き試料６上をレーザー光で走査し、試料表面からの反射光を受光し、この反射光の結像位置からの反射光量に応じた信号から高さ測定信号を求めて、試料６の面の高さ測定を行う高さ測定装置である。 - 特許庁

In the current method, transmission waves are not used as in the conventional method, but the sound wave physical properties of the sample are measured according to a change in the reflection waves from the boundary surface between a buffer rod and the sample surface, thus avoiding the problem of the attenuation of sound waves being transmitted in the sample.例文帳に追加

今回の方法は従来の方法のように透過波をつかうのではなく、バッファロッドと試料の境界面からの反射波の変化から試料の音波物性を測定する方法なので、試料透過中の音波減衰という問題を回避することができる。 - 特許庁

The surface of the sample is shaven off by ion milling and the scanning image by the scanning electron microscope is observed while the surface of the sample is removed by chemical etching and the scanning image by the scanning electron microscope is again observed to prepare the sample for the scanning electron microscope.例文帳に追加

イオンミリングによって試料の表面を削り取り、走査電子顕微鏡による走査像を観察し、ケミカルエッチングによって試料の表面を除去し、再度、走査電子顕微鏡による走査像を観察することによって、走査顕微鏡用の試料を作製する。 - 特許庁

The multi-angle colorimeter MS is provided with both a lighting system 10 as the optical system S1 for illuminating a sample surface 1, arranged at an opening 2a for measurement of a sample opening surface 2 and a light-receiving system 30 for measuring spectral characteristics of light reflected at a sample illuminated by the lighting system 10.例文帳に追加

マルチアングル測色計ＭＳは、光学系Ｓ１として、試料開口面２の測定用開口２ａに置かれた試料面１を照明する照明系１０と、該照明系１０により照明された試料反射光の分光特性を測定する受光系３０とを備える。 - 特許庁

A surface of the sample W before cut is imaged by an optical system having an objective lens 1, a ring illumination 2 and the like, and then the sample W is cut at a prescribed height by a cutter 25, to image the surface of the sample W including a cut cross section S after cut.例文帳に追加

対物レンズ１、リング照明２等を有する光学系によって、まず切断前の試料Ｗの表面を撮像し、次いで、切削装置２５によって試料Ｗを所定の高さで切断し、切断面Ｓを含む切断後の試料Ｗの表面を撮像する。 - 特許庁

In the dummy sunlight irradiation device for irradiating a sample 6 with light, a plurality of filters 4 for improving uniformity in light on the surface of the sample 6 are arranged on a surface nearly vertical to a light axis between a light emission section 2 and the sample 6.例文帳に追加

試料６に光を照射する擬似太陽光照射装置において、２光出射部と６試料との間に、試料６面における光の均一性を向上させるための複数のフィルタ４を光軸と略垂直な面に配置させたことを特徴とする擬似太陽光照射装置である。 - 特許庁

In the hardness tester 1, the image of a sample surface is photographed by a first imaging means (31) to obtain the image of the sample surface, the contour of the sample is extracted by a contour-extracting means (92) on the basis of the image, and a point of hardness measurement is set by a measurement point setting means (92).例文帳に追加

硬さ試験機１において、第１の撮像手段（３１）により試料表面を撮像して、試料表面の画像を取得し、この画像に基づいて、輪郭抽出手段（９２）が試料の輪郭を抽出し、測定点設定手段（９２）が硬さ測定点を設定する。 - 特許庁

Thereby, the irradiation region of the X-rays on the surface 3a of the sample can be expanded to all directions, and the X-ray topograph over the wide region on the surface of the sample can be recorded collectively.例文帳に追加

これにより、試料表面３ａ上のＸ線照射領域を四方に拡大することができ、試料表面３ａの広い領域にわたるＸ線トポグラフの記録を一括して行うことができる。 - 特許庁

Sequentially, the surface 121 of the sample piece 102 exposed by removing the coating material 103 is brought into contact with the polishing cloth fixed to a rotating polish plate, so as to polish the surface 121 of the sample piece 102.例文帳に追加

引き続いて、被覆材１０３が除去されて露出した試料片１０２の表面１２１を、回転する研磨板に固定された研磨布に当接させ、試料片１０２の表面１２１を研磨する。 - 特許庁

After positioning the sample end face near a corner part formed by the loading surface 10b and the side face 10a by the positioning metal fitting 20, the sample is fixed onto the loading surface 10b by a fixing metal fitting 30.例文帳に追加

位置決め治具２０によって、試料の端面を搭載面１０ｂと側面１０ａとで形成される角部の近傍に位置決めした後、試料が、固定金具３０によって搭載面１０ｂに固定される。 - 特許庁

A light source 2 illuminates a pinhole 4 arranged at a location conjugate to the surface of a sample 11, and illumination light transmitted through the pinhole 4 projects an image of the pinhole 4 to the surface of the sample 11 via an object lens 9.例文帳に追加

光源２により試料１１の表面と共役な位置に配したピンホール４を照明し、ピンホール４を透過した照明光は対物レンズ９を介して試料１１の表面にピンホール４の像を投影する。 - 特許庁

To enable the surface observation of a sample under the optimum condition by expanding the dynamic range of the vibration amplitude of a cantilever in the case where the surface of the sample is scanned while vibrating the cantilever in the vicinity of a resonance point.例文帳に追加

カンチレバーを共振点付近で振動させながら試料表面の走査を行う場合に、その振動振幅のダイナミックレンジを拡大することでより最適な条件での表面観察を可能とする。 - 特許庁

This method comprises (a) a step of forming an unclosed opening in a skin surface from which a blood sample is extracted and (b) a step of extracting the blood sample from the unclosed opening in the skin surface with the aid of evacuation and skin elongation.例文帳に追加

本方法は（ａ）血液サンプルを抜き取る皮膚面に非閉塞開口を形成するステップ、及び（ｂ）皮膚の非閉塞開口から血液サンプルを真空及び皮膚伸張の補助により抜き取るステップを含む。 - 特許庁

Even if the fluorescent X-ray emitted from the lower surface of the sample advances horizontally between the sample lower surface and the base plate 2, it is shielded by the side circumferential wall member 11 and not leaked to the outside, and the safety can be thus ensured.例文帳に追加

試料の下面から放出された蛍光Ｘ線が試料下面とベース板２との隙間を水平方向に進んでも側周壁部材１１により遮られて外部へは漏れず、安全性が確保できる。 - 特許庁

To provide an elemental distribution analytical method having excellent depth direction resolution intersecting an analytical object plane, when the analytical object plane is on the deep position from the sample surface or is inclined with respect to the sample surface.例文帳に追加

分析対象面が試料表面から深い位置にある場合、又は試料表面に対して傾斜している場合に、分析対象面に交差する深さ方向分解能の良い元素分布分析方法を提供する。 - 特許庁

At this time, since heat conduction becomes bad when food or the like adheres to the inner surface of the sample S, temperature irregularity is produced in the surface of the sample and appears corresponding to the adhesion degree of food to change with the elapse of time.例文帳に追加

このとき、サンプルＳ内面に食品などが付着していると熱伝導が悪くなるため、サンプル表面には温度ムラが生じ、そのムラは、食品の付着度合によって現われ、また、経時的に変化する。 - 特許庁

To perform the analysis with high precision at a plurality of places approaching the surface of a sample by preventing the adhesion of primary ions to the peripheral region of the analyzing region on the surface of the sample when secondary ion mass analysis is performed.例文帳に追加

二次イオン質量分析を行なう際に、試料面における分析領域の周辺部位への一次イオンの付着を防止し、試料面の近接する複数箇所における高精度の分析を行なう。 - 特許庁

To provide an ion milling device capable of easily manufacturing a sample without performing parallel processing in the case where the mask surface side and loading surface of the sample are non-parallel, and to provide an ion milling method.例文帳に追加

本発明の目的は、試料のマスク面側と搭載面とが非平行の場合に、平行に加工する必要が無く試料作製を容易に行うことができるイオンミリング装置及びその方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a dummy sunlight irradiation device for improving uniformity in light on a sample surface by arranging a plurality of filters on a surface nearly vertical to a light axis between a light emission section and a sample.例文帳に追加

光出射部と試料との間に、複数のフィルタを光軸と略垂直な面に配置さすることにより、試料面における光の均一性を向上させた擬似太陽光照射装置を提供すること。 - 特許庁

The side surface of the columnar sample S is axisymmetrically excavated and the analysis of a component due to glow discharge emission analysis becomes possible and the side surface of the cleanly formed sample S can be observed by SEM or the like.例文帳に追加

円柱状の試料Ｓの側面が軸対称に掘削され、グロー放電発光分析による成分分析が可能となり、清浄に形成した試料Ｓの側面をＳＥＭ等で観察することも可能となる。 - 特許庁

For a stationary table designed to fix a cut sample, an inclination angle adjusting means is formed to coordinate an inclination angle to the horizontal surface of the stationary table, and the orbit of a revolving grindstone for buffing the upper face of the cut sample is limited within the horizontal surface.例文帳に追加

カットサンプルを固定する固定テーブルの、その水平面に対する傾斜角を調整するテーブル傾斜角調整手段を設け、カットサンプルの上面をバフする回転砥石の軌道を水平面内に限定する。 - 特許庁

The scanning probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 directed to a sample 12 and a measuring part for measuring the physical quantity generated between the probe and the sample while the probe scans a surface of the sample, regularly maintains the physical quantity in the measuring part, scans and measures the surface of the sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対して探針２０が向くように設けられたカンチレバー２１と、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる物理量を測定する測定部を備え、測定部で物理量を一定に保ちながら探針で試料の表面を走査して試料の表面を測定する。 - 特許庁

The film thickness measuring instrument which measures the thickness of a thin film on the surface 8a of a sample according to measurement information on the quantity of polarization variation has a reloading stage 7 for the sample or the sample 21 for correction arranged nearby the stage 7 and is also equipped with a gas supply means 24 which purges the atmosphere around the sample surface with inert gas.例文帳に追加

偏光変化量の測定情報に基づいて試料表面８ａの薄膜の厚みを測定する膜厚測定装置において、試料８の乗載ステージ７またはステージ７の近傍に、校正用のサンプル２１を配置すると共に、このサンプル表面の雰囲気を不活性ガスでパージするためのガス供給手段２４を備えている。 - 特許庁

To separately measure a tunneling current derived from the uneven surface state of a sample and a tunneling current derived from a magnetized state at every magnetic domain of the sample in a spin polarization scanning tunneling microscope and to observe the surface uneven state of the sample and the magnetized state of each magnetic domain of the sample with high accuracy.例文帳に追加

スピン偏極走査型トンネル顕微鏡に関し、試料の各磁区ごとに試料表面の凹凸状態に起因するトンネル電流と磁化状態に起因するトンネル電流とを別々に測定できるようにし、試料表面の凹凸状態と試料の各磁区の磁化状態とを高精度に観測することができるようにする。 - 特許庁

To detect defects in a minute wiring pattern formed on a sample by improving the contrast of an optical image of the sample formed by the interference between the zeroth and higher-order diffracted light of reflected light arising from illuminating light reflected by the sample surface, in a defects detecting optical system which detects defects in a pattern formed on the sample surface.例文帳に追加

試料表面に形成したパターンの欠陥を検出する欠陥検出光学系において、照明光により試料表面で反射した反射光の０次光と高次回折光の干渉により形成される試料の光学像のコントラストを向上させることにより、試料上に形成された微細な配線パターンの欠陥を感度良く検出する。 - 特許庁

To provide a sample preparation method which includes: simultaneously arranging a mass-axis calibration material and a fragmentation-suppressing substance in a sample surface, while maintaining a sample surface structure; highly efficienciently detecting a sample having a molecular weight of 500 or larger in TOF-SIMS measurements; and accurately determining its precise mass.例文帳に追加

試料表面構造を保ったまま、質量軸校正物質及びフラグメンテーション抑制物質を試料表面に同時に配し、ＴＯＦ−ＳＩＭＳ測定において分子量が５００以上の試料を高効率に検出すると同時に、その精密質量を正確に求めることが可能となる試料の作成法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method applied to the scanning probe microscope comprises a probe section, having the probe 20 facing the sample 12; a detection section for detecting physical quantities between the sample and the probe; a measuring section for measuring surface information of the sample, based on the physical quantity, when the probe scans the surface of the sample; and a moving mechanism that has at least two degrees of freedom.例文帳に追加

この探針制御方法は、試料１２に対向する探針２０を有する探針部、試料と探針の間の物理量を検出する検出部、探針が試料の表面を走査するとき物理量に基づき試料の表面情報を測定する測定部、少なくとも２自由度を有する移動機構を備え走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

The potential distribution Vth to a charge distribution sample model is stored beforehand, and compared with a measurement result, and a difference between the Vth distribution of the charge distribution sample model and the Vth distribution of the measurement result is corrected based on a charge distribution of the charge distribution sample model, to thereby calculate a surface charge distribution or the surface potential distribution of the sample.例文帳に追加

予め電荷分布試料モデルに対する電位分布Ｖｔｈ分布を記憶しておき、測定結果と比較し、電荷分布試料モデルの電荷分布を基本として、電荷分布試料モデルのＶｔｈ分布と測定結果のＶｔｈ分布の差を補正することにより、試料の表面電荷分布あるいは表面電位分布を算出する。 - 特許庁