「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

A sample stage device 1 comprises the sample stage surface 31 where a sample is placed and a heating means for heating the sample stage surface 31.例文帳に追加

そのため、従来の顕微鏡用加温装置とは異なり、試料載置面に温度勾配が形成され、しかもその温度勾配を意図的に制御できる試料載置装置が求められている。 - 特許庁

A sample atomic arrangement creating means 211 of a control section 21 creates atomic arrangement data of a sample, and a sample surface height calculating means 212 calculates the sample surface height mesh by mesh.例文帳に追加

制御部２１の試料原子配置生成手段２１１は試料の原子配列データを生成し、試料表面高さ算出手段２１２がメッシュ毎に試料表面高さを算出する。 - 特許庁

The adsorption inclusions existing between a Z-scanner and the sample stand adsorption surface 12b of the sample stand 12 are inserted into the irregularities provided on the sample stand adsorption surface 12b of the sample stand 12.例文帳に追加

Ｚスキャナーと試料台１２の試料台吸着面１２ｂの間に存在する吸着介在物は試料台１２の試料台吸着面１２ｂに付けられた凹凸に入り込む。 - 特許庁

To provide a sample holder where electron beams can be vertically applied to the sample surface even when the surface and the bottom face of the sample are not parallel with each other.例文帳に追加

試料表面と底面とが平行でない場合にも試料表面に垂直に電子ビームを照射できる試料ホルダを提供すること。 - 特許庁

A sample pipetting nozzle 27 having a water-repellent surface is used, and the sample is pipetted from a sample cell 25 into a reaction cell 4 having a hydrophilic bottom surface.例文帳に追加

撥水性表面を有するサンプル分注ノズル２７を用い、サンプルセル２５から、親水性の底面を有する反応セル４にサンプルを分注する。 - 特許庁

A sample stand 10 has the bottom surface 10a and a top surface 10b parallel to the bottom surface 10a.例文帳に追加

試料台１０は、底面１０ａとこの底面１０ａに並行な天面１０ｂを有する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING FLAW ON CONCRETE SURFACE, AND FLAW DETECTION AGENT, SURFACE TREATING AGENT AND SAMPLE PIECE USED IN THE CONCRETE SURFACE例文帳に追加

コンクリートの表面探傷方法、それに用いる探傷剤、表面処理剤及び試験片 - 特許庁

The system includes a surface flattening mechanism flattening the surface of a sample, a resistance film coating mechanism forming a resistance film on the sample, and a surface inspecting mechanism evaluating the sample surface.例文帳に追加

試料の表面を平坦化する表面平坦化機構と、試料上に抵抗膜を形成する抵抗膜コーティング機構と、試料表面の評価を行う表面検査機構を備えている。 - 特許庁

Users can refer the sample surface 206 on the opposite side of the printing surface to see the seal impression sample 207 of the fixed printing surface 111 and the sample 222 seen via a sample window 206a as an image of a seal impression result.例文帳に追加

利用者は、印字面とは反対側の見本面２０６にて、固定印字面１１１の印影の見本２０７と、見本窓２０６ａを介して見た見本２２２とを、捺印結果のイメージとして見ることができる。 - 特許庁

To easily and exactly analyze the surface condition of a sample.例文帳に追加

試料の表面状態を簡便且つ的確に分析する。 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR SURFACE ANALYSIS AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

表面分析用標準試料及びその製造方法 - 特許庁

The surface orientation sensor is operable to sense an orientation of a surface of the sample held by the sample holder.例文帳に追加

表面配向センサは試料保持容器に保持された試料の表面の配向を感知するよう作動可能である。 - 特許庁

SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法 - 特許庁

The sample 12 is scanned along its surface with a laser interferometer 48 and a vibration speed of the surface of the sample 12 is derived.例文帳に追加

レーザ干渉計４８を試料１２の表面に沿って走査し、試料１２の表面の振動速度を求める。 - 特許庁

The sample surface is once charged in fixed potential, and electric charges (ions or electrons) is distributed uniformly over the sample surface.例文帳に追加

試料表面がいったん一定の電位に帯電されて電荷（イオンまたは電子）は試料表面に均一に分布する。 - 特許庁

SURFACE ANALYZING METHOD FOR HIGH RESISTANCE SAMPLE AND ANALYZER例文帳に追加

高抵抗試料の表面分析方法および分析装置 - 特許庁

The sample 50 is placed on a sample placing stand 4 so that the center-of-rotation point P is positioned on the reflecting surface 50a of the sample 50.例文帳に追加

試料５０は、その反射面５０ａ上に旋回中心点Ｐが位置するように試料載置台４に載置されている。 - 特許庁

SAMPLE-DRAWING HOLDER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF SURFACE STATE OF SAMPLE USING SAMPLE-DRAWING HOLDER例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用試料延伸ホルダーおよび該試料延伸ホルダーを用いた試料の表面状態の観察方法 - 特許庁

To qualitatively inspect thickness unevenness of a sample without flawing the sample reverse surface.例文帳に追加

試料裏面を傷付けることなく、試料の厚さむらを位相シフト法により定量的に検査する。 - 特許庁

A portion of the sample surface of the sample 4 located at an irradiation spot is excited, and generates scattering light.例文帳に追加

照射スポットに位置する試料４の試料面の一部が励起して散乱光を発する。 - 特許庁

A sample stage 6 is directly placed on the guide surface 1a of the base 1 and a sample 7 is placed thereon.例文帳に追加

ベース1の案内面1a上には試料台6が直接載置され、この上に試料7が載置される。 - 特許庁

When the sample is inserted into the hole through the opening, the sample is in contact with a bottom surface of the hole.例文帳に追加

試料を、この開口を介して孔に挿入すると、該試料は孔の底面に当接する。 - 特許庁

To obtain high sensitivity regardless of the kind of a sample and the surface state of the sample.例文帳に追加

試料の種類および試料の表面状態によらず高い感度を得ることを可能にする。 - 特許庁

To prevent failure of a test sample by accurately scanning a test head on the surface of the test sample.例文帳に追加

検査ヘッドを検査試料の表面に正確に走査させて、検査試料の破損を防止する。 - 特許庁

A distribution in the sample depth direction of the material adsorbed on the sample surface part is measure by a surface analytical method, and the adsorption state of the material adsorbed on the sample surface is determined.例文帳に追加

表面分析法により試料の表面部分に吸着した物質の試料深さ方向の分布を測定して試料表面に吸着した物質の吸着状態を判定する。 - 特許庁

A sample mounting device comprises: a sample stage 40 which is arranged in a sample chamber 17, and on which a sample to be an irradiation target of electron beams is placed; and a sample transfer device 80 which is attached to the sample chamber 17, and which transfers the sample from outside through a port 21 formed on a wall surface of the sample chamber toward the sample stage 40.例文帳に追加

試料設置装置は、試料室１７内に配置され、電子ビームの照射対象となる試料が載置される試料ステージ４０と、試料室１７に取り付けられ試料室の壁面に形成されたポート２１から試料ステージ４０に向け外部から試料を移送する試料移送装置８０と、を備えている。 - 特許庁

・Implementation of surface inspection for all the air freight and sample surface inspection for ocean freight.例文帳に追加

•航空貨物は全量表面検査、海上貨物はサンプル表面検査を実施。 - 経済産業省

To sample observation data on a sample surface without delaying the measuring time even if adsorptive power by a moisture layer on the sample surface is applied when a probe approaches or comes into contact with the sample.例文帳に追加

探針と試料が接近又は接触した際、試料表面の水分層による吸着力を受けても、測定時間が遅延せず、試料表面の観測データを採取できるようにする。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SURFACE MEASUREMENT BY SAMPLE CURRENT SPECTRUM例文帳に追加

試料電流分光式表面測定法及び測定装置 - 特許庁

The sample electrode 11 is exposed to the bottom surface of the recess 16.例文帳に追加

凹部１６底面には、試料電極１１が露出している。 - 特許庁

The sample 20 is moved with respect to the surface electrometer 40 in a horizontal direction to measure a surface potential distribution of the sample 20.例文帳に追加

試料２０を表面電位計４０に対して水平方向に移動させ、試料２０の表面電位分布が計測される。 - 特許庁

METHOD FOR MAKING IMAGE OF SAMPLE SURFACE IN PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プロ—ブ顕微鏡における試料表面のイメ—ジ作成方法 - 特許庁

A heat conductor 4 abuts on the back surface of the sample 7.例文帳に追加

試料７の裏側面には、熱伝導体４が接している。 - 特許庁

SAMPLE FOR ANALYZING POLE SURFACE LAYER PART IN ELECTRON BEAM MICROANALYSIS例文帳に追加

電子線マイクロアナリシスにおける極表層部分析用試料 - 特許庁

After the carrier tape 2 is stuck to the surface of the sample block 10, the surface part of the sample block 10 is thinly cut by a cutter 1.例文帳に追加

キャリアテープ２を、試料ブロック１０の表面に貼り付けた後、カッタ１で試料ブロック１０の表層部を薄切りする。 - 特許庁

Then, the indenter 1 is lowered again, and detection of the sample surface is defined at the point of time when the tip is brought into contact with the sample surface.例文帳に追加

その後圧子１を再び下降させ先端が試料表面に触れた時点で試料表面を検出したこととする。 - 特許庁

To move a droplet along a surface of a sample body and to recover contaminants on the surface of the sample body by a simple manner.例文帳に追加

簡易な手法で、液滴を試料体の表面に沿って移動、試料体表面の汚染物質を回収すること。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus utilizing total reflected light that prevents a liquid sample from adhering to an inner surface of a sample holder when the liquid sample is poured into the sample holder.例文帳に追加

全反射光を利用した測定装置において、試料保持部への液体試料分注時に、試料保持部の内側面に液体試料が付着するのを防ぐ。 - 特許庁

To provide a sample plate being a functional sample plate which has a sample fixed to its surface and ionizes the sample by applying energy to the sample, simplified in manufacturing process and flexibly altered in its constitution.例文帳に追加

表面に固着されるサンプルにエネルギーを与えることによりこれをイオン化させる機能性サンプルプレートであって、製作工程が簡略化され、構成を柔軟に変更可能なサンプルプレートを提供する。 - 特許庁

To provide an antistatic method that causes less contamination of a surface of a sample in an ion beam analysis method for analyzing a sample in its depth direction while removing the surface of the sample by radiating a primary ion beam onto the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面に一次イオンビームを照射して試料表面を除去しつつ、試料の深さ方向の分析を行うイオンビーム分析方法において、試料表面の汚染が少ない帯電防止方法を提供する。 - 特許庁

A measuring window 24 is opened on the center of the sample stand 23, and the sample 22 is set on the sample stand 23 so that the emission surface faces downward.例文帳に追加

試料台２３中央には測定窓２４が開口され、試料２２は試料台２３上に発光面を下に向けてセットされる。 - 特許庁

The surface charge distribution of a sample is measured by scanning with a charged particle beam by applying a known electrode potential to the back surface of the sample having the surface charge distribution.例文帳に追加

表面電荷分布を有する試料の裏面に既知である電極電位を与えて荷電粒子ビームを走査し、試料の表面電荷分布を測定する。 - 特許庁

To accurately measure an internal stress near the surface of a sample or a thin film state sample by excluding an effect of a refraction of an X-ray on the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面におけるＸ線の屈折の効果を排除し、試料の表面近傍もしくは薄膜形態試料における内部応力を正確に測定する。 - 特許庁

The part between the upper surface 13 of the minute sample stand base part 10 and the upper end surface 21 of the minute sample loading membrane 20 serves as the guard part of a minute sample 70.例文帳に追加

微小試料台基部１０の上面１３と微小試料搭載用薄膜２０の上端面２１との間の部分が微小試料７０のガード部となる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring the shape and the property of the sample surface by preventing growth of ice on the sample surface at the sample cooling time.例文帳に追加

試料冷却時に試料面の氷の成長を防止して試料面の形状、及び物性を測定することを可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁