「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To make an accurate sample surface temperature acquired in conformity with a color of a sample, and to control a test temperature by the sample surface temperature, in a weathering fading test method applied with light and heat onto a sample piece to examine a weathering fading resistance.例文帳に追加

試料片に光と熱を与えて耐候光性を調べる耐候光試験方法に関するものであって、試料の色に即した正確な試料面温度を知ることができる耐候光試験方法、また、かかる試料面温度によって試験温度を制御する耐候光試験方法を提供すること。 - 特許庁

This jig includes a pressing surface for equally pressing the whole upper part of the sample S by allowing the rammer 52 to fall on the central or periphery of the upper part of the sample S corresponding to the whole upper surface of the sample S by a block-like body independent of the rammer 52 to tamp the sample S.例文帳に追加

ランマー５２とは独立したブロック状体で試料Ｓの上面の全面に対応して、ランマー５２が試料Ｓの上部の中央部乃至周辺部に落下することにより試料Ｓの上部全体を均等に押圧して、試料Ｓを突固める押圧面を備えた。 - 特許庁

In the method for detecting the solidified structure of steel, a cross-section of a sample of a steel cast piece is polished, and the sample is heated at 40-90°C; then the polished surface of the sample is contacted to corrosive liquid, and the polished surface is corroded.例文帳に追加

鋼鋳片の試料の断面を研磨し、試料温度を４０〜９０℃に加熱し、その後試料の研磨面を腐食液に接触させて研磨面を腐食することを特徴とする鋼の凝固組織検出方法である。 - 特許庁

Electromagnetic waves with a predetermined frequency are emitted from a transmission antenna 10 to be thrown on the surface of the sample 14 placed on a sample stand 12 at an angle of 80° or above with respect to the normal line 18 erected on the surface of the sample 14.例文帳に追加

送信アンテナ１０から所定の周波数の電磁波を放射し、サンプル台１２の上に載置されたサンプル１４の表面に、該表面に立てた法線１８に対して８０度以上の角度で電磁波を入射させる。 - 特許庁

The sample (16) is arranged to come in contact with the target (15), each of the sample and the target has a free surface and the growth of the carbon nanotube is induced on the free surface of the sample by the plasma.例文帳に追加

前記試料（１６）は前記ターゲット（１５）に接触して配置されており、前記試料及びターゲットはいずれも自由表面を有しており、前記プラズマによって前記試料の自由表面にカーボンナノチューブの成長を引き起こす。 - 特許庁

Consequently, when the surface of the standard sample wafer 11 is coated with the standard particles 31 normally having negative potential, the standard particles 31 adhere without being attracted to the edge side of the standard sample wafer 11 from the surface of the standard sample wafer 11.例文帳に追加

表面検査装置の感度校正に用いられる標準サンプルウエハ１１は標準粒子が塗布されるもので、その表面（Ｐ−ＴＥＯＳ膜１３の表面）は正の電位を有する状態に帯電している。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device capable of inspecting color shading and irregularity of a sample surface with high accuracy.例文帳に追加

試料表面の色むらと凹凸とを精度よく検査を行うことのできる表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface flaw inspection device capable of easily inspecting the surface color irregularity and unevenness of a sample.例文帳に追加

試料表面の色むらと凹凸とを容易に検査を行うことのできる表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a laser confocal microscope capable of precisely detecting a sample surface, and a surface detection method.例文帳に追加

試料表面を正確に検出することができるレーザ共焦点顕微鏡及び表面検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection method capable of detecting quickly and precisely an unevenness on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の凹凸を高速かつ高精度に検出することを可能とする表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for preparing a thin piece sample which accurately position a desired observation region in a sample substrate, without finely separating the sample substrate, and easily prepare a planar sample with regard to a region, at an arbitrary depth from the surface of the sample substrate.例文帳に追加

試料基板内の所望観察領域を試料基板を細かく分離せずに正確に位置出しして試料基板表面から任意の深さの領域についての平面試料を容易に作製することのできる薄片状試料の作製方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

The depth-directional element of the sample is indirectly measured by measuring an element in powders of the sample scraped by placing a sheet on the sample and relatively moving the sample in parallel to the sheet surface while pressurizing between the sample and the sheet.例文帳に追加

試料にシートを当て、試料とシートとの間に押圧を加え、試料をシート面に平行に相対的に移動させることによって削り取られた試料粉中の元素を、その移動方向に沿って蛍光Ｘ線測定法により測定することにより、試料の深さ方向の元素を間接的に測定する。 - 特許庁

When injecting the sample liquid 2 by means of the sample liquid injector 9, the injection of the sample liquid 2 by means of the sample liquid injector 9 is stopped based on the relative size L1 from the display part 6 to the level surface 5 of the sample liquid 2 according to the image-pickup of the television camera 14.例文帳に追加

試料液注入機９による試料液２の注入に際し、テレビカメラ１４の撮像による表示部６から試料液２の液面５までの相対寸法Ｌ１に基づき、試料液注入機９による試料液２の注入を停止させるようにする。 - 特許庁

The X-ray reflectivity measuring apparatus has a sample loading stand 4 to load a measuring sample plate 3, a swivel mechanism 5 loading the sample loading stand 4 while tilting it, and a reflected X-ray measuring means 6 for measuring reflected X-rays from the surface of the measuring sample on the measuring sample plate 3.例文帳に追加

測定試料板３を搭載する試料搭載台４と、該試料搭載台４を搭載し該試料搭載台を傾動するスイベル機構５と、前記測定試料板３の測定試料の表面よりの反射Ｘ線を測定する反射Ｘ線測定手段６とを有する。 - 特許庁

The sample is irradiated with a metastable atomic beam, subjected to spin polarization in the magnetic field to generate a sample current and the surface magnetism of the sample, is measured by measuring the changes in the sample current, when the direction of the spin polarization of the metastable atomic beam, used for irradiating the sample, is changed.例文帳に追加

磁場中においてスピン偏極させた準安定原子ビームを試料に照射し、試料電流を発生させ、試料に照射する準安定原子ビームのスピン偏極の向きを変えたときの試料電流の変化を測定することで試料表面の磁性計測を行う。 - 特許庁

At this time, since the friction force varies from portion to portion in the polished surface of the sample 11, the sample 11 is rotated around a pressing portion.例文帳に追加

このとき、供試材１１の被研磨面における摩擦力が部位によって異なるため、供試材１１は、押圧部分を中心として自転する。 - 特許庁

The sample 12 is formed with the wiring pattern and is fixed onto the sample stage 11, and an electronic beam is made incident on a surface thereof from the irradiation part 1.例文帳に追加

試料１２は、配線パターンが形成され、試料ステージ１１に固定され、表面に照射部１から電子ビームが入射される。 - 特許庁

On the other hand, when the sample surface 45 is observed by SEM, a first installed part 31 of the sample holder is installed on the holder installation part 16.例文帳に追加

一方、試料表面４５をＳＥＭ観察する場合には、試料ホルダの第１の被取付部３１がホルダ取付部１６に取付けられる。 - 特許庁

A transparent conductive film 11a for heating a sample holder 11 is deposited on the under surface of the sample holder 11 comprising a transparent material.例文帳に追加

透明材質からなる試料ホルダー１１の下面に試料ホルダー１１を加熱するための透明導電膜１１ａが蒸着されている。 - 特許庁

To provide a low cost cantilever capable of accurately and rapidly measuring the surface data of a sample regardless of the kind of the sample.例文帳に追加

試料の種類を問わず、この試料の表面情報を正確に且つ迅速に測定することが可能な低コストなカンチレバーを提供する。 - 特許庁

This process contains (if necessary) a step to liquefy a sample and a step to distribute the liquefied sample on the surface of an analyzing apparatus.例文帳に追加

該方法は、（もし必要であれば）サンプルを液化する工程と、液化したサンプルを分析装置の表面上に配分する工程とを含む。 - 特許庁

To provide a sample creating device capable of creating a cross section with position-adjusting at a site necessary to observe the sample inside unobservable from surface.例文帳に追加

表面からは見ることのできない試料内部の要観察部位に位置を合わせて断面を作成できる試料作製装置を提供する。 - 特許庁

To achieve an imaging apparatus capable of capturing an image of a sample having a satisfactory contrast even if optical characteristics vary on the surface of the sample to be observed.例文帳に追加

観察すべき試料表面の光学特性が変化しても良好なコントラストの試料像を撮像できる撮像装置を実現する。 - 特許庁

In the tester for testing magnetic characteristics of veneer, the surface of a magnetic pole of a yoke is allowed to directly abut against, in a sample at a region having a sample width of 5-90%.例文帳に追加

単板磁気特性試験用試験器において、ヨークの磁極面を、試料幅の５〜90％の領域で試料と直接接触させる。 - 特許庁

To provide an extraction method of a sample piece for analysis capable of obtaining a clean peeling surface free from processing strain in the fine sample piece.例文帳に追加

微小な試料片において、加工歪のない清浄な剥離面を得ることができる分析用の試料片抽出方法を提供する。 - 特許庁

When preparing a sample, the sample block 10 is adhered on an surface of the carrier tape 12 and the pinch mechanism 35 pinches the carrier tape 12.例文帳に追加

試料作製の際、標本ブロック１０の表面を搬送テープ１２に貼り付けるとともに、ピンチ機構３５で搬送テープ１２をピンチする。 - 特許庁

An adjusting sample 18 is mounted on an exchanger 7 of a primary X-ray filter 6 and is located simply near the position of sample surface at analysis.例文帳に追加

調整試料１８を１次Ｘ線フィルター６の交換機７に取り付け、簡単に分析時の試料表面位置の近傍に位置させる。 - 特許庁

The sample is the thin film formed on the sample and the scattered X rays attenuated by the attenuation mechanism 7 are mirror surface reflected X rays.例文帳に追加

前記試料は、基板上に形成された薄膜であり、前記減衰機構７で減衰させる散乱Ｘ線は、鏡面反射Ｘ線である。 - 特許庁

The sample block 1 is moved toward the edge of a cutter 4 at a cutting feed speed (V1) to thinly cut the surface layer part of the sample block 1.例文帳に追加

試料ブロック１をカッタ４の刃先に向けて切断送り速度（Ｖ１）で移動させて、試料ブロック１の表層部を薄く切断する。 - 特許庁

The silicon substrate 13 may be the standard sample in which a metal contamination amount on the surface of the substrate 13 is known or may be the sample to be measured.例文帳に追加

シリコン基板１３は、基板１３表面の金属汚染量既知である標準試料でもよいし、又は被測定試料でもよい。 - 特許庁

To evaluate an accumulation of hydrocarbon-based molecules on a sample surface, in an electron beam observation device for observing a sample by use of electron beams.例文帳に追加

電子線を利用して試料を観察する電子線観察装置において、試料表面への炭化水素系分子の堆積量を評価する。 - 特許庁

This system for sample analysis contains a radiation source, matching for guiding a converged beam of X-rays toward the surface of the sample.例文帳に追加

サンプルの分析用の装置は、サンプルの表面に向かってＸ線の収束ビームを案内するべく適合された放射源を含んでいる。 - 特許庁

This is the method to measure contact angle (ϕ) from sample surface (3), gaseous environment, and the droplet (5) located on the sample surface (3) to have curved surface (7), symmetric axis (A_Sy-A_Sy) and regular volume (V_I).例文帳に追加

試料表面（３）と、気体環境と、試料表面（３）上に配置され、曲面（７）、対称軸（Ａ_Sy−Ａ_Sy）及び規定の体積（Ｖ_I）を有する液滴（５）とから接触角（φ）を求める方法を提供する。 - 特許庁

To quickly form an extremely thin conductive thin film on the surface of an insulator sample for a method of forming a conductive film onto a sample surface in an Auger analysis device.例文帳に追加

オージェ分析装置における試料表面への導電膜形成方法に関し、絶縁物試料表面に極薄い導電薄膜を短時間に形成させることを目的としている。 - 特許庁

By operating the probes so as to maintain the constant tunneling current and scanning the surface of the sample, it is possible to read the structure of the surface of the electrically nonconductive sample.例文帳に追加

このトンネル電流が一定になるように探針を操作し試料表面を走査していくことによって、非電気伝導性試料の表面構造を読みとることができる。 - 特許庁

To realize a focus detecting device and an autofocusing microscope by which the position of a sample surface is highly accurately and easily detected even though the sample has unevenness on its surface and which are easily assembled.例文帳に追加

表面に凹凸のある試料であっても、試料表面の位置を高精度且つ容易に検出可能で、組立も容易な焦点検出装置及び自動焦点顕微鏡の実現。 - 特許庁

To provide a probe for perpendicular scanning microscope which can supersensitively detect surface information of a sample by a nano-tube tip as a probe standing approximately perpendicular to the sample surface.例文帳に追加

探針となるナノチューブ先端が試料面に対し略垂直状に当接して試料の表面情報を高感度に検出できる垂直式走査型顕微鏡用プローブを実現する。 - 特許庁

Then, the ions 80 are widely applied on a surface of a sample 21 arranged in the downstream of the beam forming units 61, 62, and the surface of the sample 21 undergoes ion milling to be cleaned.例文帳に追加

するとイオン８０は、ビーム成形器６１、６２の下流に配置された試料２１の表面に幅広く照射され、試料２１の表面がイオンミリングされてクリーニングされる。 - 特許庁

The surface of the sample S is devised so as to be covered with a high purity gas to prevent the adsorbing pollution gas in the atmosphere from adhering to the surface of the sample S.例文帳に追加

試料Ｓの表面は高純度ガスで覆われるように工夫されており、試料Ｓの表面に大気中の吸着汚染ガスが付着することを阻止するようになっている。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope in which the information of chemical composition and chemical bonding state on the surface of a sample can be attained in addition to the information of irregular shape on the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の凹凸形状に加えて、試料表面の化学組成および化学結合状態についての情報を得ることができる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Then, the back surface side of the sample 20 is polished to provide a thickness through which X-rays is transmitted, then an X-ray absorption film 23 made of metal such as Au is formed on the back surface of the sample 20.例文帳に追加

次に、試料２０の裏面側を研磨してＸ線が透過する厚さにした後、試料２０の裏面にＡｕ等の金属からなるＸ線吸収膜２３を形成する。 - 特許庁

To facilitate setting of an inspection region to be inspected in an imaged image, in pattern inspection for inspecting a repeated pattern on the sample surface, by using the photographed image of the sample surface.例文帳に追加

試料の表面の撮像画像を用いて試料表面の反復パターンを検査するパターン検査において、撮像画像内で検査を行うべき検査領域の設定を容易化する。 - 特許庁

To detect the liquid surface contact of the probe actually brought into contact with a liquid sample without erroneously detecting the liquid surface contact of the probe when the liquid sample is dispensed using a plurality of probes.例文帳に追加

複数のプローブを用いて液体試料を分注する際に、プローブの液面接触を誤検知せずに、実際に液体試料に接触したプローブの液面接触を検知できること。 - 特許庁

To prevent exposure of the sample surface caused by scattering of a part of light emitted from a semiconductor laser for shape measurement, and by irradiation of the surface of a sample having photosensitivity.例文帳に追加

形状測定用の半導体レーザから出射した光の一部が散乱し、感光性を有する試料の表面に照射されて試料表面が感光されてしまうのを防止する。 - 特許庁

When the whole surface of a sample 6 is irradiated with an electron beam 8 injected from an electron gun 7 in a form of shower, secondary electrons 15 are emitted from the whole surface of the sample 6.例文帳に追加

電子銃７からシャワー状に射出された電子線８を試料６の表面全域に照射すると、試料６の表面全域から２次電子１５が放出される。 - 特許庁