「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

Parallel laser beams are made incident on the optical path of the microscope and formed into an image on a sample surface, and returning light from the sample surface is made incident on a photodiode.例文帳に追加

平行レーザー光線を顕微鏡光路に入射し、これを試料面に結像させ、該試料面からの戻り光をフォトダイオードに入射する。 - 特許庁

A solution including a sample is allowed to flow on the surface, and bonding between the probe and the sample is detected by an intensity change of reflected light.例文帳に追加

サンプルを含む溶液を表面に流し、プローブとサンプルの結合を、反射光の強度変化により検出する。 - 特許庁

To make an accurate surface temperature of a sample acquainted in conformity with a color of the sample.例文帳に追加

試料の色に即した正確な試料面温度を知ることができる耐候光試験装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

As for the sample stand 10, a sectional shape is an approximately square shape, and a sample is loaded on a loading surface 10b.例文帳に追加

試料台１０は、断面の形状が略正方形にされており、搭載面１０ｂに試料が搭載される。 - 特許庁

A CCD camera 19 for picking up the image of the cutting surface of the sample is installed at the front of the sample 10.例文帳に追加

試料１０の正面には、試料の切断面の画像を撮影するためのＣＣＤカメラ１９が配置されている。 - 特許庁

A laser displacement meter 18 for detecting the surface shape of the sample 2 is provided above the sample chamber 5.例文帳に追加

試料室５の上方には、試料２の表面形状を検出するためのレーザー変位計１８が設けられている。 - 特許庁

A guide 41a that is an index of the arranging position of a sample 60 is formed on an upper surface of the sample holder 41.例文帳に追加

試料ホルダ４１の上面には、試料６０の配置位置の指標となるガイド４１ａが形成されている。 - 特許庁

To provide a laser ablation apparatus capable of enhancing the analyzing precision of a sample regardless of a change in the surface state of the sample, and to provide a laser ablation method, a sample analyzer and a sample analyzing method.例文帳に追加

試料の表面状態の変化にかかわらず、試料の分析精度を向上させることを可能にするレーザーアブレーション装置及び方法、試料分析装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To correct surface inclination errors of an observation sample, in the installation of the sample on FIB processing sample stand, with high accuracy, in the manufacture of the sample for TEM for thinning a plate by the FIB processing.例文帳に追加

ＦＩＢ加工による薄板化を行うＴＥＭ用観察試料の作製において、ＦＩＢ加工試料台への試料設置における試料表面の傾斜誤差を精度高く補正する。 - 特許庁

The upper surface of the housing 1 is equipped with the sample suction position 7, a sample dispensing position 19, the sample dispensing mechanism 11 for moving the sample probe between the sample chucking position 7 and the sample dispensing position 19 and the protective cover 27 for covering the upper and lateral parts of the moving range of the sample-dispensing mechanism 11.例文帳に追加

筐体１の上面に、試料吸引位置７と、試料分注位置１９と、試料プローブを試料吸引位置７と試料分注位置１９の間で移動させるための試料分注機構１１と、試料分注機構１１の移動範囲の上方及び側方を覆う保護カバー２７を備えている。 - 特許庁

To prevent errors in mass numbers obtained as a result of mass spectrometry from being generated since the height of the upper surface of a sample to be analyzed is changed by the nonplanarity of the upper surface of a sample stand, the deformation, or the like of a sample plate.例文帳に追加

試料台上面の非平面性やサンプルプレートの変形などのために分析対象のサンプル上面の高さが変化し、それにより質量分析の結果求まる質量数誤差が生じる。 - 特許庁

To provide a chucking device controlling a flatness of surface of a sample to a desired flatness even when a foreign matter is interposed between the rear face of the sample and the surface of the chuck device for holding the sample.例文帳に追加

試料裏面とこれを保持するチャック装置の表面に異物が介在した場合でも、試料表面の平坦度を所望の平坦度にコントロールすることが可能なチャック装置を提供する。 - 特許庁

The force of mutual reaction between the probe 11b and the surface 2a of a sample 2 is measured at a plurality of relative locations of the force detector 11 to the sample 2 orthogonal to the sample surface 2a.例文帳に追加

試料表面２ａと垂直な方向の力検出器１１の試料２に対する複数の相対位置において、探針１１ｂと試料表面２ａとの間の相互作用力を計測する。 - 特許庁

The observing sample-surface 150 of the TEM sample is adhered to the fixing plate main surface 130 of the sample fixing plate 110 by tungsten 160 (tungsten deposition).例文帳に追加

試料固定板１１０の主面である固定板主面１３０上には、ＴＥＭ試料１４０の観察面である試料観察面１５０がタングステン１６０により接着（タングステンデポジション）される。 - 特許庁

After the etching of the surface of the sample at the P2, analysis on the surface of the sample is repeated at the P1, thereby achieving a three-dimensional analysis for obtaining the three-dimensional information distribution of the sample.例文帳に追加

Ｐ２で試料表面をエッチングした後にＰ１で面分析することを繰り返すことによって試料の立体的な情報分布を得るための３次元分析を行うことができる。 - 特許庁

To provide a concrete strength testing sample piece manufacturing mold and a concrete strength testing sample piece manufacturing method capable of improving smoothness of the upper surface of a sample piece, and collimating the hitting surface and the bottom surface each other.例文帳に追加

供試体の上面の平滑性を良好にすると共に、打設面と底面とが平行にすることができるコンクリート強度試験用供試体作製型及びコンクリート強度試験用供試体の作製方法を提供する。 - 特許庁

The stabilizer 5 brought into tight-contact with the sample A and restricting the movement of the sample A has a contact surface 5c brought into contact with the sample A and an outer circumferential surface 12b tapered toward the contact surface 5c.例文帳に追加

試料Ａに密着させられて試料Ａの動きを拘束するスタビライザ５であって、試料Ａに接触させられる接触面５ｃと、該接触面５ｃに向かって先細になる外周面１２ｂとを有するスタビライザ５を提供する。 - 特許庁

To measure the difference in the physical properties of a sample surface from the uneven shape of the sample surface and time delay (phase) when a cantilever leaves by attenuating the cantilever easily for following the uneven sample surface easily.例文帳に追加

カンチレバ−を減衰しやすくし 試料表面凹凸に追随しやすくし 試料表面凹凸形状 および カンチレバ−が離れるときの時間的遅れ（位相）から試料表面の物性の違い を測定することを課題とする。 - 特許庁

To perform accurate Auger spectroscopic analysis in the surface analysis of a sample with an insulating surface.例文帳に追加

絶縁性の表面を有する試料の表面分析において、正確なオージェ分光分析を可能とする。 - 特許庁

Here, the tubular, inner surface in the vicinity of an end part of the sample holder (10) is provided with a rough surface (10').例文帳に追加

ここで試料ホルダー（１０）の端部近傍の筒状内面に粗面（１０’）が与えられている。 - 特許庁

To provide a surface evaluation device capable of accurately evaluating a painted surface, and a painting sample.例文帳に追加

塗装表面を正確に評価することができる表面評価装置及び塗装標本を提供する。 - 特許庁

Polishing is performed by incorporating the electrolyte solution into the tip part, then lightly bringing the tip part into contact with the surface of a sample and rubbing the surface.例文帳に追加

先端部に電解液を含ませて試料面に軽く接し、擦ることにより研磨を行う。 - 特許庁

ANALYZER FOR SAMPLE USING SURFACE PLASMON RESONANCE AND SENSOR CHIP FOR SURFACE PLASMON RESONANCE ANALYSIS例文帳に追加

表面プラズモン共鳴を利用した試料の分析装置及び表面プラズモン共鳴分析用センサチップ - 特許庁

ELECTROSTATIC CHUCK TYPE SAMPLE FIXING TOOL, CUTTING DEVICE FOR OBSERVATION SURFACE EXPOSURE, AND SURFACE LAYER PHYSICAL PROPERTY ANALYZER例文帳に追加

静電チャック式試料固定治具、観察面露出用切削装置および表層物性解析装置 - 特許庁

In the transmission electron microscope provided with the sample holder having a side part holding member and a back surface holding member in a sample stand, the sample holder is provided with an abutment part, on which a surface of the sample abuts, between the side part holding member and the back surface holding member.例文帳に追加

試料台に側部保持部材と裏面保持部材とを有する試料ホルダーを備える透過電子顕微鏡において、試料ホルダーの側部保持部材と裏面保持部材との間に、前記試料の表面が当接する当接部を備えることを特徴とする試料ホルダーを提供する。 - 特許庁

The device has an optical plate 6 having one surface including a measuring part for a sample to be inspected on which a sample to be inspected 8 is abutted and the other surface opposite to the one surface.例文帳に追加

凹凸パターン検出装置は、被検体８を当接させる被検体測定部を含む一方の面と、この一方の面に対向する他方の面とを有する光学プレート６を備える。 - 特許庁

To obtain a surface analyzer by which the composition in the depth direction from the surface of a sample can be analyzed with high accuracy over the whole sputtering region on the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面のスパッタ領域全域にわたって試料表面からの深さ方向における高精度な組成分析を行うことができる表面分析装置を提供すること。 - 特許庁

The surface roughness of the analyzing surface of a measuring sample and that of a part, which comes into contact with the analysis surface of the measuring sample, of an emission stage 5 are respectively set to Rmax≤10 μm.例文帳に追加

測定試料の分析面の表面粗度及び、発光ステージ５がこの測定試料の分析面に接触する部分の表面粗度をいずれもRmax≦１０μｍの平滑面とする。 - 特許庁

To apply large offset to a focusing surface and to surely focus a desired sample surface on the focal surface of an objective.例文帳に追加

合焦面に大きなオフセットを加えることができ、所望の標本面を対物レンズの焦点面に確実に合焦できること。 - 特許庁

The container 1 for sample treatment includes fine projections 2, 3 on a container inner wall and a container bottom so that a solid sample does not adhere to the whole surface, namely, to the side surface in the container or to the bottom surface in the container and thereby allows uniform contact of the dissolving liquid with the sample surface.例文帳に追加

試料処理用容器１は、固体試料が容器内側面にも容器内底面にも一面全体で密着しないように、容器内壁および容器底に微小な突起部２、３を有し、溶解液が試料表面と均質に接することが可能となる。 - 特許庁

To detect a position of a ridge line in a surface shape of a sample by one scan, by a surface shape measuring machine for measuring the surface shape of the sample by detecting respectively each height from a prescribed reference face to each position on the surface shape of the sample.例文帳に追加

所定の基準面から試料の表面の各位置までの高さを各々検出することによって試料の表面形状を測定する表面形状測定機にて、１回の走査で試料の表面形状の稜線の位置を検出する。 - 特許庁

The sample stage 20 has a sample space 22 to receive the preliminary solution, and the bottom surface 23 of the sample space 22 irradiated with the infrared light is constructed from an infrared light-transmissive material.例文帳に追加

試料ステージ20は、予備溶液を受ける試料空間22を有し、赤外光が照射される試料空間22の底面23は、赤外光を透過する材料で構成される。 - 特許庁

In addition, the sample stage 15 is driven in the horizontal direction (the X-axis direction) with reference to the surface of the sample block 11 in order to feed the sample block 11 toward the cutter 21.例文帳に追加

更に、試料ステージ１５は、試料ブロック１１をカッタ２１に向けて送り出すため、試料ブロック１１の表面に対して平行方向（Ｘ軸方向）に駆動される。 - 特許庁

A metal film 5 for preventing charge-up is applied to the surface of a sample 10 and is subsequently introduced into an FIB device to cut a sample piece 11 from the sample 10.例文帳に追加

試料１０の表面にチャージアップ防止用の金属膜５のコートを施し、その後、ＦＩＢ装置に導入し、試料１０から試料片１１を切り出す。 - 特許庁

To provide a disk for liquid sample analysis which prevents adhesion on the disk surface of a liquid sample or leak thereof, and has excellent workability at the sample injection time.例文帳に追加

液体試料のディスク面への付着や漏洩を防止することができ、試料注入時の作業性も良好な液体試料分析用ディスクを提供する。 - 特許庁

By this sample analysis method, even if the observation surface of the sample is not coated with the conductive film, the occurrence of an abnormal analysis results associated with the charge of the sample can be avoided.例文帳に追加

この分析方法によれば、導電膜を試料の観察面にコーティングしなくても、試料の帯電に伴う異常な分析結果の発生を回避することができる。 - 特許庁

A well is provided on a surface opposite to a sample substrate of the prism, and the matching liquid is filled into the well, and the matching liquid is filled between the sample substrate and the prism, while involving the sample substrate.例文帳に追加

プリズムのサンプル基板と対向する面にウェルを設け，前記ウェル内にマッチング液を充填し，サンプル基板を内包させてプリズムとの間を前記マッチング液で満たす。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of observing a sample with accuracy by making constant a potential of a conductive layer on a surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の導体層の電位を一定にして精度よく試料を観察することのできる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供すること。 - 特許庁

When the hole to be machined is a hole through the sample, the surface machining area 5 of the through hole and the sample back side shape 4 are indicated on the sample image 3.例文帳に追加

加工穴が試料を貫通する穴である場合には、試料像３上にその貫通穴の表面加工領域５と試料裏面形状４を表示する。 - 特許庁

The sample stage 15 is driven in the vertical direction (the Z-axis direction) with reference to the surface of the sample block 11 in order to set the thickness of a thin sample which is cut off.例文帳に追加

試料ステージ１５は、切り取られる薄片試料の厚さを設定するため、試料ブロック１１の表面に対して垂直方向（Ｚ軸方向）に駆動される。 - 特許庁

To enhance the accuracy of surface temperature measurement for a sample for evaluation of deterioration with time depending on exposure of the sample when the sample is naturally or artificially exposed.例文帳に追加

試料が自然にもしくは人工的に曝露された場合に、試料の曝露に依存した経時変化を評価するにあたり、試料の表面温度測定の正確さを高める。 - 特許庁

To provide a sample table for an electron microscope causing no burying of a microstructure of a biological sample and damage of the sample, and having stable electric conductivity and surface roughness.例文帳に追加

生物試料の微細構造の埋没、試料損傷等の発生がなく、安定した導電性及び面精度を有する電子顕微鏡用試料台を提供する。 - 特許庁

With a principal surface of the sample at an angle not perpendicular to a probe shaft, the sample is adhered to the probe, and the probe shaft is rotated for reorienting the sample.例文帳に追加

サンプルが、サンプルの主表面がプローブ・シャフトに対して垂直ではない角度にある状態で、プローブに付着され、プローブ・シャフトは、サンプルを再配向させるために回転される。 - 特許庁

The vessel has a sample mounting part 15 for mounting an objective sample S on the upper surface thereof, and heaters 16 capable of being mounted the sample S thereon and stimulating the sample S are set at several positions of the sample mounting part 15.例文帳に追加

上面に観測対象となる試料Ｓを載置する試料載置部１５が設けられ、前記試料載置部１５の複数箇所に、上面に前記試料Ｓが載置されて該試料Ｓに対して刺激を与えることが可能なヒータ１６が設けられている。 - 特許庁

The holder 50 has a front surface and a back surface, substantially inparallel with each other, and grips the processing sample having a thickness defined as the distance of the front surface and back surface.例文帳に追加

ホルダ５０は、互いに略平行な表面および裏面を有すると共に、表面および裏面の距離として厚さが定義される加工試料を把持する。 - 特許庁