「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

Duteration solvent liquid is applied onto the surface of the sample substrate 4 or the inside surface (surface for partitioning and forming an insertion space 9a) of a coil substrate 9.例文帳に追加

試料基板４の表面またはコイル基板９の内側面（差し込み用スペース９ａを区画形成する面）に、重水化溶媒液を塗布している。 - 特許庁

In this analysis method, the liquid sample is dropped onto a clean base material surface, and surface analysis of the base material surface after being dried is performed.例文帳に追加

本発明よる分析方法は、液体試料を清浄な基材面に滴下して、乾燥させた後の基材面を表面分析することにより達成される。 - 特許庁

To provide a surface magnetism measuring method in a magnetic field capable of measuring the surface magnetism of a sample, even in a magnetic field, and a surface magnetism measuring instrument.例文帳に追加

磁場中においても試料表面の磁性計測が可能な、磁場中での表面磁性計測方法および表面磁性計測装置を提供する。 - 特許庁

Preferably, the conductive surface is the conductive layer formed on the surface of the sample using a converged ion beam or an electron beam by a converged ion beam device and the conductive layer is vapor-deposited on the region reaching the conductive sample fixing implement from the vicinity of measuring region on the surface of the sample.例文帳に追加

好ましくは、導電性物質は、集束イオンビーム装置により集束イオンビームまたは電子ビームを用いて試料表面に形成された導電層であり、導電層は、試料表面において測定領域近傍から導電性試料固定具に至る領域に蒸着される。 - 特許庁

To reduce the damaging possibility of the already cut surface of a sample block, and to arrange the already cut surface of the sample block so as to easily make the same parallel to the virtual cutting surface of a knife in a non-contact state, even when the sample block is to be set on an apparatus different from a previously set apparatus.例文帳に追加

試料ブロックの既切削面を傷つけるおそれが少なく、従前にセットした装置と異なる装置に試料ブロックをセットする場合であっても、試料ブロックの既切削面をナイフの仮想切削面に非接触状態でかつ容易に平行となるよう配置できる。 - 特許庁

To reduce the damaging possibility of the already cut surface of a sample block and to arrange the already cut surface of the sample block so as to easily make the same parallel to the virtual cutting surface of a knife in a non-contact state, even when the sample block is set to an apparatus different from a previously set apparatus.例文帳に追加

試料ブロックの既切削面を傷つけるおそれが少なく、従前にセットした装置と異なる装置に試料ブロックをセットする場合であっても、試料ブロックの既切削面をナイフの仮想切削面に非接触状態でかつ容易に平行となるよう配置できる。 - 特許庁

The central part of the bottom surface of the sample receiving tray 2 is formed into a protruded shape and an air blowing-in port for blowing air toward the space region surrounded by the inner peripheral surface of the sample receiving tray 2 and the outer peripheral surface of the sieve ring 4 from the sample blowoff port is provided.例文帳に追加

試料受け皿２内底面中央部の形状を上に凸の形状とし、且つ試料吹出し口から、試料受け皿２の内周面と篩いリング４の外周面とで囲まれた空間部分領域に向けて気体を吹き込むための気体吹込み口を設ける。 - 特許庁

In the measurement method for abrasion loss of a measurement sample surface having a substrate and a coating layer, a standard sample surface spectrum is formed by using a surface element analyzer analyzing element of a material surface from charged particle energy spectrum obtained by measuring charged particles generated out of the material surface when excited ionization radiation is irradiated to a sample identical to the measurement sample.例文帳に追加

基体と、被覆層とを有する測定試料の表面の摩耗量を測定する方法において、測定試料と同等な標準試料に、励起電離放射線を照射して物質表面から発生する荷電粒子を計測することによって得られる荷電粒子エネルギースペクトルから物質表面の元素を分析する表面元素分析装置を使用し、標準試料表面のスペクトルを作成する。 - 特許庁

A self-organizing thin film 2 having high hygrophobic properties is formed on a penetrator surface for an ultra-fine hardness tester comprising materials with a sample surface 1, or diamond, or diamond structure as a keynote, and surface energy on the sample surface or penetrator surface is reduced, thus performing ultra-fine hardness tests.例文帳に追加

試料表面１、又はダイヤモンド若しくはダイヤモンド構造を基調とした材料から成る超微小硬さ試験機用の圧子表面に、疎水性の高い自己組織化薄膜２を形成し、試料表面若しく圧子表面の表面エネルギを低下させて超微小硬さ試験を行う。 - 特許庁

The durability evaluation method for a thin film includes a sample making step of fixing a shearing stress granting means on the surface of a thin film to make a sample, and a sample expansion contraction step of expanding and contracting the sample made.例文帳に追加

薄膜の表面に剪断応力付与手段を固定し、テストピースを作製する、テストピース作製工程と、作製されたテストピースを伸縮させる、テストピース伸縮工程と、を備えることを特徴とする薄膜の耐久性評価方法とする。 - 特許庁

At least the upper portion of a sample stage 1 is formed out of a highly thermal conductive material, and a thermocouple 2 and the surface of a sample 4 are respectively brought into contact with the sample stage 1 to heat by thermal conduction and the difference in temperature from the sample stage 1 is removed.例文帳に追加

試料ステージ１の少なくとも上部を高熱伝導性材料で形成し、熱電対２および試料表面４をそれぞれ試料ステージ１に接触させることにより熱伝導で加熱し、試料ステージ１との温度差をなくす。 - 特許庁

The surface of a sample object 2 of a decoration sample 1 mounted on a sample display portion Aa of a vending machine A includes a sample portion 4 formed as a longitudinal half-split can shape which corresponds to half the front side of the merchandize vended by the vending machine A.例文帳に追加

自動販売機Ａの見本陳列部Ａａに設置される装飾見本１の見本体２の表面には、該自動販売機Ａが販売する商品の前側半分と対応する縦断半割り形状の缶型の見本部４が設けられている。 - 特許庁

A sample 5 is placed on the almost central part between two sheets of polymer films 16 each of which has an area larger than the surface area of the sample 5, and the polymer films 16 are laminated to be brought into close contact with the upper and under surfaces of the sample 5 to seal the sample 5.例文帳に追加

試料５の表面積より面積が大きい２枚の高分子フィルム１６の略中央部に試料を置いて高分子フィルム１６をラミネート加工して試料５の上面と下面に密着させて試料５を封入する。 - 特許庁

The surface electrode layer 20 of the sample 14 is formed in a fine electrode pattern and when light is projected upon the layer 20 from a spot above the sample 14, the light reaches the sample 14 through the void sections (through which the sample is exposed) of the electrode pattern.例文帳に追加

試料１４の表面電極層２０は微細な電極パターンからなり、試料１４の上方から光を照射すると、微細な電極パターンの隙間の部分（試料が露出している部分）から光が試料１４に到達する。 - 特許庁

The terahertz optical measuring apparatus 100 is provided with a housing apparatus 1, an optical surface plate 2, a transmission-side measured sample holding plate 11 for holding a transmission-side measured sample S1, and a reflection-side measured sample holding plate 21 for holding a reflection-side measured sample S2.例文帳に追加

テラヘルツ光測定装置１００は、筺体装置１と、光学定盤２と、透過測定試料Ｓ１を保持する透過測定試料保持板１１と、反射測定試料Ｓ２を保持する反射測定試料保持板２１とを備える。 - 特許庁

To realize a detecting unit improved in resolution and in check throughput, which irradiates a sample with a radiation beam, detects a secondary radiation emitted from the sample, and detects the image of the surface of the sample.例文帳に追加

試料に照射ビームを照射し、試料から生じる二次放射線を検出し、試料表面の画像を検出する検出装置において、分解能を向上させ、検査のスループットを向上させる。 - 特許庁

A sample is set to arrange so as that every concavity and convexity on a surface of the sample are positioned in a range of the focus depth according to the magnification ratio when observing the sample in this scanning charged corpuscular beam device.例文帳に追加

本発明の走査荷電粒子線装置によると、試料の観察時に、倍率の高低に応じて試料の表面の凹凸の全てが焦点深度領域内となるように試料が配置される。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of providing a high-resolution image even if a sample is tilted when a surface of the sample is observed by a retarding method for applying a negative voltage to the sample.例文帳に追加

試料に負電圧を印加するリターディング法により試料表面の観察を行う際に、試料を傾斜させても高分解能像を得ることを可能にする走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The colorimetric method of the color sample 1 is performed by illuminating a visible light to the front surface of the color sample 1, receiving a diffuse reflection light 3 reflected from the color sample 1 and measuring a spectral reflectivity.例文帳に追加

色見本１の表面に対して可視光を照射し、色見本１から反射された拡散反射光３を受光して分光反射率を測定することで色見本１の測色を行う。 - 特許庁

By condensing the pulse laser beam L to the sample 12 to irradiate the sample, the stable absorption of the pulse laser beam L and the formation of plasma on the surface of the sample 12 become possible by the laser beam absorbing layer.例文帳に追加

試料12にパルスレーザ光Ｌを集光照射することにより、レーザ光吸収層により試料12の表面での安定したパルスレーザ光Ｌの吸収およびプラズマの生成が可能となる。 - 特許庁

Therefore, the sample stage 6 can be moved freely on the guide surface 1a of the base 1 and any desired position of the sample 7 placed on the sample stage 6 can be adjusted to a position directly below an observation head 10.例文帳に追加

従って、試料台6はベース１の案内面1a上を自在に移動することができ、試料台6上に載置された試料7の所望の位置を観察ヘッド10の直下に合わせることできる。 - 特許庁

The processing of the fine place to be analyzed of the sample 1 is simple and the sample piece 1A preventing the occurrence of burr or a new peeling surface can be exacted without applying an excessive force to the sample 1.例文帳に追加

試料１の微小な分析対象箇所の加工が簡易であり、試料１に余分な力を加えずに、バリや新たな剥離面の発生を生じない試料片１Ａを抽出することができる。 - 特許庁

When an irregular image in a wide range of a sample 2 is observed, the distance between the head of a probe 1 and the surface of the sample 2 is such a distance that a field emission current flows between the probe 1 and the sample 2.例文帳に追加

試料２の広い範囲の凹凸像を観察する場合、探針１の先端と試料２の表面との距離は、探針１と試料２との間にフィールドエミッション電流が流れる距離となされる。 - 特許庁

The printing sample 11 is formed by arranging sample pieces 12 to 17 printed by one printer on a form or is formed by printing the surface of the form with the sample images 12 to 17 by one printer.例文帳に追加

印刷サンプル１１は、１台のプリンタによって印刷されたサンプル片１２〜１７を用紙上に配置したもの、又は、１台のプリンタによってサンプル画像１２〜１７を用紙上に印刷したものである。 - 特許庁

A final surface contour of the sample is obtained by combining the first and second surface contours.例文帳に追加

試料の最終的な表面輪郭が、第１の表面輪郭と第２の表面輪郭とを組み合わせることによって得られる。 - 特許庁

The TEM sample having a length l and a width b is cut out from a solid state material, a flowable type curable adhesive is applied onto a surface 7 of a sample surface side, and fibers 2 of a diameter d are thereby aligned along a longitudinal direction of the sample on the sample surface 7, so as to be fixed in the substantially center as to the width b.例文帳に追加

固相状態の材料から長さ（ｌ）および幅（ｂ）のＴＥＭ試料を切出し、この試料表側の表面（７）に対して流動タイプの硬化性接着剤を塗布することにより、直径（ｄ）の繊維（２）を、試料表面（７）上において、試料の長手方向で整列して、幅（ｂ）について実質的に中心に固定する。 - 特許庁

At this time, heat exchanging conditions such as the heating temperature of the sample pipe 12 (heat exchange temperature), the amount of adding chemicals, the kind thereof, the inside surface roughness (smoothness) of the sample pipe 12 are adjusted appropriately, and the fouling of the inside surface of the sample pipe 12 is measured under respective conditions.例文帳に追加

このとき、サンプル管１２の加熱温度（熱交換温度）、添加薬剤の量、種類、サンプル管１２内面の粗度（平滑度）等の熱交換条件を適宜に調整し、その各条件下におけるサンプル管１２内面の汚れを測定する。 - 特許庁

A secondary electron 18 emitted from a sample 14 surface by irradiation of a primary electron beam 2 is drifted from the sample surface toward an electric field supply electrode 11 by an electric field made by a plurality of electrodes arranged in the sample room.例文帳に追加

一次電子ビーム２の照射によって試料１４表面から放出された二次電子１８は、試料室内に配置された複数の電極の作る電界によって、試料表面から電界供給電極１１に向かってドリフトする。 - 特許庁

The surface of the sample 10 is coated with a resistance film 42 having a predetermined electric resistance value, the charged particle beam 2 is radiated to the sample 10, and a secondary charged particle or the like generated from the sample surface is detected by the detector 18.例文帳に追加

試料１０の表面が所定の電気抵抗値を有する抵抗膜４２により被覆され、荷電粒子ビーム２が試料１０に照射され、試料表面から発生される二次荷電粒子等が検出部１８により検出される。 - 特許庁

To provide a protector for an analytical sample, that is a protector of a sample for analyzing a minute specific place on a certain surface, and that allows the sample to be processed in a state that contamination or state change does not occur even on an outermost surface of an analytical target place.例文帳に追加

一定面の微小な特定箇所を分析する試料用の保護具において、分析対象箇所の最表面にも汚染や状態変化が生じない状態で試料を加工出来る分析用試料の保護具を提供する。 - 特許庁

A surface of a sample placed on a sample table 15 of an atomic force microscope and a probe provided on an end of a cantilever are brought close to each other and surface data of the sample are obtained based on an elastic deformation of the cantilever caused by interatomic force produced between the two.例文帳に追加

原子間力顕微鏡の試料台上に載置された試料表面とカンチレバー先端に設けられた探針とを近接させて両者間の原子間力によるカンチレバーの弾性変形に基づいて試料の表面情報を得る。 - 特許庁

The surface of the sample 10 is covered with a resistance film 42 having a prescribed electric resistance value, the sample 10 is irradiated with the charged particle beam 2, and secondary charged particles or the like generated from the surface of the sample are detected by the detection part 18.例文帳に追加

試料１０の表面が所定の電気抵抗値を有する抵抗膜４２により被覆され、荷電粒子ビーム２が試料１０に照射され、試料表面から発生される二次荷電粒子等が検出部１８により検出される。 - 特許庁

Further, a target sample-fixing part 20 and a measurement sample-fixing part 22 are formed in a nearly flat shape being slightly lower than a surface 18a of a stand for fixing a measurement and target sample so that a target sample and a measurement sample can be securely positioned and fixed on a measurement and target sample-fixing stand 18 without any gap.例文帳に追加

更に、測定及び対象試料固定台１８上に対象試料及び測定試料を隙間無く且つ確実に位置決め固定することができるように、対象試料固定部２０及び測定試料固定部２２を測定及び対象試料固定台の表面１８ａよりも若干低くなった略平坦状を成して構成する。 - 特許庁

To realize a confocal microscope capable of high-accurately detecting a sample surface at a high speed.例文帳に追加

試料表面を高速・高精度で検出することが可能な共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

Recesses and projections are formed on the surface in the substrate side of the plate type solid sample.例文帳に追加

また、板状固体試料の基板側表面に凹凸を形成したことを特徴とする。 - 特許庁

On the upper surface of the sample 14, a pair of electrode layers 20 and 22 is formed at an interval.例文帳に追加

試料１４の上面には１対の電極層２０、２２が間隔をあけて形成されている。 - 特許庁

EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF ADSORBATE OR INCLUSION ON SPECIFIC PART ON SAMPLE SURFACE例文帳に追加

試料表面の特定部における吸着物，含有物の評価方法および評価装置 - 特許庁

SURFACE PLASMON RESONANCE SENSOR CHIP AS WELL AS METHOD AND APPARATUS FOR ANALYSING SAMPLE BY USING THE SAME例文帳に追加

表面プラズモン共鳴センサチップ、並びにそれを用いた試料の分析方法及び分析装置 - 特許庁

The camera 4 captures a surface of a sample 8 irradiated with the excitation light X as a digital image.例文帳に追加

カメラ４は、励起光Ｘを照射した試料８の表面をデジタル画像として撮影する。 - 特許庁

METHOD OF REFORMING SURFACE OF SOLID SAMPLE, IMPURITY ACTIVATING METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

固体試料の表面改質方法、不純物活性化方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

WATER FILM FORMING METHOD TO SAMPLE SURFACE IN ENVIRONMENTAL TESTING APPARATUS AND ENVIRONMENTAL TESTING APPARATUS例文帳に追加

環境試験装置における試料表面への水膜形成方法及び環境試験装置 - 特許庁

LIQUID SAMPLE CELL, UPPER SURFACE IRRADIATION TYPE X-RAY ANALYSIS METHOD USING IT, AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

液体試料セルおよびこれを用いた上面照射型Ｘ線分析方法および装置 - 特許庁

Next, a tilt angle of a measuring surface of the measuring sample is detected by the scanning tunnel microscope.例文帳に追加

次に、走査型トンネル顕微鏡により測定試料の測定面の傾斜角度を検出する。 - 特許庁

A camera (imaging section) 13 images the surface of a sample 20 irradiated with illumination light 12 in color.例文帳に追加

カメラ（撮像部）１３は、照明光１２で照射された試料２０の表面をカラー撮像する。 - 特許庁

SAMPLE SURFACE SHAPE/INFRARED SPECTROSCOPE COMBINED EVALUATION APPARATUS, EVALUATION METHOD, AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

試料表面形状・赤外分光複合評価装置および評価方法並びに測定方法 - 特許庁