「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

In a first step, a sample 1 of PCB contained organic liquid is disposed on a flat surface of a sample base 2 by using a micropipet 3, and an oil solidifying agent 4 picked by a spatula 5 is added to and mixed with the sample 1.例文帳に追加

第一工程では、ＰＣＢ含有有機液体の試料１をマイクロピペット３を用いて試料台２の平坦な面に載置し、試料１にスパーテル５で採取した油固形化剤４を添加し混合する。 - 特許庁

To appropriately execute the corrosion test of a sample by accurately detecting the presence/absence of moisture generation on a surface of the sample and controlling the arrival time of the presence/absence of dew condensation to the sample.例文帳に追加

腐食試験機において、試料の表面上の水分発生の有無を正確に検知するとともに、試料への結露の有無の到達時間を制御可能として試料の腐食試験を適正に実施することにある。 - 特許庁

To provide an electron beam dimension measuring device and an electron beam dimension measuring method capable of measuring a sample accurately by fixing the electric potential of the sample surface without depending on a sample material.例文帳に追加

試料の材質に依存することなく試料表面の電位を一定にして精度よく試料を測定することのできる電子ビーム寸法測定装置及び電子ビーム寸法測定方法を提供すること。 - 特許庁

There are disclosed a method and an apparatus for forming a sample of an object, extracting the sample from the object and allowing the sample subjected to a microanalysis including a surface analysis and an electron transmittance analysis in a vacuum chamber.例文帳に追加

物体のサンプルを形成し、物体からサンプルを抽出し、真空チャンバーにおいて表面分析及び電子透過度分析を含むマイクロ分析をこのサンプルに受けさせるための方法及び装置が開示される。 - 特許庁

The apparatus is equipped with a focus controller 15 for focusing the light to the back surface of the sample 5 by changing the distance between the objective lens 4 and the sample stage 7 and a pinhole 9 arranged on the optical axis of the light reflected from the sample.例文帳に追加

対物レンズ４と試料ステージ７の距離を変え、試料５の裏面に光の焦点を合わせるフォーカスコントローラー１５と、試料から反射された光の光軸上に配置されたピンホール９を備えている。 - 特許庁

To provide a light detection device capable of stably measuring without being influenced by a curvature change of a sample liquid surface caused by evaporation with passage of time of the sample liquid, liquid quantity dispersion when injecting the sample liquid or the like.例文帳に追加

試料液の経時による蒸発や試料液注入時の液量バラつき等による試料液表面の曲率変化に影響されることなく安定した測定が可能な光検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample table driving device for an atomic force microscope capable of measuring surface force of a sample to be measured with high accuracy and high resolution by controlling the movement of the sample table with high reliability and repeatability.例文帳に追加

高い信頼性及び再現性にて試料台を移動制御して試料の表面力を高精度及び高分解能で測定することができる原子間力顕微鏡の試料台駆動装置の提供。 - 特許庁

A probe feeding electric current or voltage to the sample 7 when the heating and cooling device is brought into contact with the sample 7 surface for measuring an electrical characteristic of the sample 7 is arranged, and the probe is a coaxial type probe for vacuum.例文帳に追加

上記の加熱冷却装置と試料表面を接触させて、試料に電流又は電圧を供給し、試料の電気特性の測定を行うプローブを具備し、このプローブは真空用同軸型プローブである。 - 特許庁

To provide a total reflection X-ray photoelectron spectrometer capable of distinctively measuring the photoelectron signal caused by the surface of a sample and the photoelectron signal caused by the deep position of the sample in one sample measurement.例文帳に追加

一回の試料測定で試料表面に起因する光電子信号と試料の深い位置に起因する光電子信号とを区別して測定することの可能な全反射Ｘ線光電子分光装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mechanism for supplying gas from a nozzle to a deep machining part of a sample in which the interval between the nozzle and the sample can be adjusted readily with high accuracy without having any effect on the surface state of the sample.例文帳に追加

試料の表面状態に影響を受けることなくノズルと試料の間隔を容易かつ高精度に調整できると共に、ノズルからガスを試料の加工深部に供給させるガス供給機構を提供する。 - 特許庁

The surface to be measured is scanned by an atomic force microscope to efficiently and accurately know the correlation of the fine structure of surface plasmon with the surface structure of the sample.例文帳に追加

原子間力顕微鏡技術を用いて被測定面を走査し、能率よく正確に表面プラズモンの微細構造と試料の表面構造との相関を知る。 - 特許庁

The illumination means and the light receiving means are set to an terecentric optical system by arranging the lens 7 in the light path thereof, and the irradiation angle of the measuring light to the curved surface sample and the receiving angle of the reflected light from the curved surface sample can be made same in the plane of the curved surface sample.例文帳に追加

このように照明手段及び受光手段とも、レンズ７をその光路中に配置することで、テレセントリックな光学系とされ、これにより測定光の曲面試料への照射角度及び曲面試料からの反射光の受光角度を、前記曲面試料面内において同一にできる。 - 特許庁

In lithographic mode, an atomic force microscope is adapted to write information to a sample surface.例文帳に追加

リソグラフィ・モードでは、原子間力顕微鏡が、試料の表面に情報を書き込むように適合される。 - 特許庁

By using this method, the concentration of the sample substance can be calculated by means of the reaction through surface diffusion.例文帳に追加

このように、表面拡散を通じた反応によってサンプル物質の濃度を求めることができる。 - 特許庁

A camera 24 obtains at least one image on a surface manufactured by slicing a sample 16.例文帳に追加

カメラ２４が、サンプル１６の切片化によって作製された表面の少なくとも１の画像を獲得する。 - 特許庁

After cutting, the cut piece is immersed in a solvent to dissolve the adhesive to have the surface of the sample exposed.例文帳に追加

切断後、切片を溶剤に浸漬させ、接着剤を溶解して、試料の表面を露出させる(iv)。 - 特許庁

A processing apparatus 100 includes a sheet feed means for feeding a tissue-derived sample holding sheet 10 holding the tissue-derived sample on a surface thereof along a sheet feed path; and a surface treatment instrument 120 feeding a liquid reagent to the surface of the tissue-derived sample holding sheet 10 in the sheet feed path.例文帳に追加

生体由来サンプルを表面に保持している生体由来サンプル保持シート１０をシート送り経路に沿って送るシート送り手段と、該シート送り経路上において生体由来サンプル保持シート１０の表面に液体試薬を供給する表面処理器具１２０とを備えている処理装置１００を用いる。 - 特許庁

To provide a device capable of accurately measuring a dielectric property of a sample surface.例文帳に追加

本発明は、試料表面の誘電特性を的確に測定できる装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A camera (24) obtains at least one image on a surface prepared by slicing the sample (16).例文帳に追加

カメラ（２４）が、サンプル（１６）の切片化によって作製された表面の少なくとも１の画像を獲得する。 - 特許庁

From a gas gun 5 for a protection film, deposition-film forming gas is sprayed on the surface of the sample 4.例文帳に追加

保護膜用ガス銃５からは、デポジション膜形成用ガスが試料４の表面に吹き付けられる。 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING DISTANCE BETWEEN NEAR-FIELD PROBE AND SAMPLE SURFACE TO BE INSPECTED AND NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

近視野ゾンデと検査対象試料表面の間の距離を決定する方法および近視野顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE SUPPORT STAND, SURFACE MOUNTING TYPE OPTICAL ISOLATOR INSPECTION APPARATUS USING THE SAME, AND METHOD OF USING INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

試料支持台、これを用いた表面実装型光アイソレータ検査装置、および検査装置の使用方法 - 特許庁

A sample surface is scanned by using a confocal microscope for generating a line-like scanning beam.例文帳に追加

本発明では、ライン状走査ビームを発生する共焦点顕微鏡を用いて試料表面を走査する。 - 特許庁

The electron beam swung back at the second deflector 3 irradiates the surface of the sample 6 to produce the secondary electron.例文帳に追加

第２偏向器３で振り戻された電子線は、試料６面を照射し、２次電子を発生させる。 - 特許庁

The surface of the sample 18 is irradiated with a giant cluster from an ion source 20 to be etched.例文帳に追加

イオン源２０から試料１８表面に巨大クラスターを照射し、試料１８表面をエッチングする。 - 特許庁

A plurality of recesses 2a that function as a sample-retaining mechanism are provided on the upper surface of a dielectric plate 1a.例文帳に追加

誘電体プレート１ａの上面に、試料保持機構として機能する複数の凹部２ａを設ける。 - 特許庁

ADSORPTION STATE DETERMINATION METHOD OF MATERIAL ADSORBED ON SAMPLE SURFACE, AND CONTROL METHOD OF WATER TREATMENT SYSTEM例文帳に追加

試料表面に吸着した物質の吸着状態判定方法及び水処理システムの管理方法 - 特許庁

Thus a signal processor processes this output signal, in order to determine the characteristics in the surface layer of the sample.例文帳に追加

そして、信号プロセッサが、サンプルの表面層の特性を判定するべく、この出力信号を処理する。 - 特許庁

In the minute part analyzer using the focused ion beam, Ga whose ion kind is Ga is poured on a surface of a sample 4 by pre-radiating Ga focused ion beam 3 to make it a reference element for measuring a surface temperature of the sample 4, and the temperature of the minute part on the surface of the sample 4 during analysis is determined.例文帳に追加

集束イオンビームを用いる微細部位解析装置において、イオン種がGaのGa集束イオンビーム３の前照射によって試料４の表面に注入されたGaを、試料４の表面温度の測定のための参照元素とし、分析時の試料４の表面の微細部位の温度を決定する。 - 特許庁

To accurately sample an organic compound generated from a surface of a solid such as a clean room building member.例文帳に追加

クリーンルーム構築部材などの固体表面から発生する有機化合物を精度よくサンプリングすること。 - 特許庁

A servo motor 61 enables push-in force for forming indentation on the surface of a sample S to operate on a penetrator 3.例文帳に追加

サーボモータ６１は、試料Ｓの表面に圧痕を形成させる押込力を圧子３に作用させる。 - 特許庁

Since the surface of the sample 18 is not mixed by the etching with the giant cluster, it can be analyzed accurately.例文帳に追加

巨大クラスターによるエッチングは表面をミキシングしないので、正確な分析を行うことができる。 - 特許庁

To solve the problem that it has been difficult to determine a constituent profile in a thickness direction since it is difficult to scrape a sample from a sample surface in the case where the sample is a single-layer film of an organic compound and a molecular-binding compound in a solid surface by an analytical method of surface structures using conventional time-of-flight secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

従来の飛行時間型二次イオン質量分析を利用した表面構造の解析方法では、試料が固体表面の有機化合物や分子結合性化合物の単層膜の場合に、試料表面から削っていくことが困難なために、厚さ方向の組成プロファイルを求めることが困難である。 - 特許庁

A retention mechanism 13 for retaining the conductive shielding film 12 is provided on the inner surface of the sample chamber 10.例文帳に追加

試料室１０内壁面には、導電性遮蔽膜１２を保持する保持機構１３を設けた。 - 特許庁

The mechanism 2 for forming an indentation on the surface Q of a sample by pressing an indentation chip 2c disposed to elevate/lower freely comprises a light source 21 which forms an illumination pattern P, for recognizing the position where the forward end of the lowered indentation chip 2c touches the surface Q of the sample, on the surface Q of the sample.例文帳に追加

昇降自在に配設される圧子２ｃを押圧させて試料表面Ｑに圧痕を形成させる圧痕形成機構２を構成し、下降させた圧子２ｃの先端が試料表面Ｑに接触する位置を認識するための照光パターンＰを、試料表面Ｑに形成させる光源２１を備える。 - 特許庁

To provide a plasma treatment apparatus with a high treatment rate without damages of a sample surface by plasma.例文帳に追加

プラズマが試料表面を損傷することなく、処理レートの高いプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron spin analyzer for analysis of a spin state distribution of a sample surface with high accuracy.例文帳に追加

試料表面のスピン状態分布を高精度に分析するための電子スピン分析器を提供する。 - 特許庁

To analyze a surface of a solid sample, using a CP/MAS NMR (cross polarization/magic angle rotation nuclear magnetic resonance).例文帳に追加

CP/MAS NMR（交差分極／マジック角回転核磁気共鳴）を用いて固体試料の表面解析を行う。 - 特許庁

The adaptive sample distance field includes a surface cell which stores a distance value which has a corresponding gradient.例文帳に追加

適応的サンプル距離フィールドは、対応する勾配を有する距離値を格納するサーフェスセルを含む。 - 特許庁

The sample water flowing out from an oxidation reaction part 6 flows on the surface of the titanium oxide film 16a.例文帳に追加

酸化反応部６から出た試料水は酸化チタン膜１６ａの表面を流れるようになっている。 - 特許庁

CONTROL METHOD FOR DISTANCE BETWEEN PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE SURFACE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離制御方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DISTANCE BETWEEN PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE SURFACE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離測定方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To perform quick and high-accuracy mesurement of the potential, at a plurality of measuring points on the sample surface.例文帳に追加

試料の表面上の複数の測定点における電位測定を迅速かつ高精度に行う。 - 特許庁

The magnetic substance particles Mg dissolved in the sample solution, drop on the surface of the sensor chip 1 and react therewith.例文帳に追加

磁性体粒子Ｍｇが試料溶液に溶解して、センサチップ表面１に落ち、さらに反応を行う。 - 特許庁

To provide a probe for accurately measuring a potential in a minute region on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の微小領域の電位測定を正確に行うことができる探針を提供する。 - 特許庁