「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a detection system and method where influence of the heat loss by evaporation from a surface of a sample on enthalpy variation occurring in the sample is reduced when the volume of the sample is small like a small drop.例文帳に追加

小さな滴のようにサンプルの体積が小さい場合に、サンプル内で生じるエンタルピー変化に対して、サンプルの表面からの蒸発による熱損失の影響が小さくなるような検出システム及び方法を提供する。 - 特許庁

An XYZ stage 8 mounted with a sample 7 is moved vertically, the stage is stoped at a point of time when the indenter 1 contacts with a sample surface, and the piezoelectric element 6 is thereafter moved downwards to press the indenter 1 into the sample 7.例文帳に追加

試料７の載置されたＸＹＺステージ８を上方に移動させ、圧子１が試料表面に接触した時点でステージを止め、次に圧電素子６を下方に駆動することによって圧子１が試料７に押し込まれる。 - 特許庁

A sample cell comprises both a sample holding part 1 in which a groove 3 having a trapezoidal cross-sectional shape having a bottom side shorter than its upper side is formed in a base 2 in a flat-plate shape and a presser plate 7 having a flat-plate shape to be mounted to the upper surface of the sample holding part 1.例文帳に追加

試料セルは、平板状の基台２に底辺が上辺より短い断面台形形状の溝３が形成されてなる試料保持部１と、その上面に載せられる平板状の押さえ板７と、から成る。 - 特許庁

A sample arrangement part 15 in which the atmosphere of the sample surface 16a is held airtightly, constituted so that the sample 16 can be installed inside, and receiving laser light irradiation, is arranged on the laser light irradiation side of the laser light irradiation part.例文帳に追加

レーザ光照射部のレーザ光照射側には、内部に試料１６を設置可能に構成されてレーザ光照射を受ける試料表面１６ａの雰囲気が気密に保持された試料配置部１５が配置される。 - 特許庁

In this liquid expansion member, an expansion flat surface 52A is formed at the bottom of a cover plate 52 to cover the sample 42 held onto slide glass 40 and also to let the reagent 56 expanded to allow the sample 42 to be immersed in the reagent 56 supplied to the sample 42.例文帳に追加

スライドガラス４０上に担持されたサンプル４２を覆うと共に、サンプル４２に供給された試薬５６をサンプル４２が浸漬するように展開させる展開平坦面５２Ａをカバープレート５２の底面に形成する。 - 特許庁

More specifically, the analyzing sample is sampled from a molten metal to be cooled and solidified and the solidified analyzing sample is positioned so that its measuring target surface becomes the columnar crystal part in the metal structure of the analyzing sample.例文帳に追加

具体的には、前記分析試料を、溶融金属からサンプリングして冷却、凝固させたものにすると共に、前記分析試料の測定対象面が、該分析試料の金属組織のうちの柱状晶部となるように位置決めする。 - 特許庁

Next, a part with the graphite particles adhered of the photosensitive drum 13 is made rotated up to a position where it faces a sample 11, and a transfer mechanism 17 transfers the graphite particles to the sample 11 by giving reverse charge on the rear surface of the sample 11.例文帳に追加

続いて、感光ドラム１３のグラファイト粒子付着部分を試料１１と向き合う位置まで回転させ、転写機構１７が試料１１の裏面から逆電荷をかけてグラファイト粒子を試料１１に転写する。 - 特許庁

This perpendicular tension type adhesion strength test machine for perpendicularly fixing the stud to the surface of the sample and performing a perpendicular tensile test has a cylindrical collet that receives the stud 1 that is arranged perpendicularly to a sample fixing position of a sample fixing plate 11 and perpendicularly fixed to the surface of the sample 10, clamps it with a constant load, and applies stress perpendicular to the sample 10 to the stud 1.例文帳に追加

試料の表面に垂直にスタッドを固定して垂直引張試験を行う垂直引張型密着強度試験機に於いて、試料固定板１１の試料固定位置に垂直に配置されて試料１０の表面に垂直に固定したスタッド１を受容すると共に一定加重でクランプし且つスタッド１に対し試料１０と垂直な方向の応力を加える筒状のコレットを備える。 - 特許庁

The polishing jig for physical analysis 1 comprises at least an observing block 2 having a sample attaching surface 5a to which the sample 11 is attached and insertable to an in-lens type scanning electron microscope (SEM), a sample mount 3 having a stepped guide part 6 by which the observing block 2 is positioned, and a sample mount holder 4 to which the sample mount 3 is attached.例文帳に追加

試料１１が貼付される試料貼付面５ａを有し、インレンズ方式の走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）に挿入可能な観察用ブロック２と、観察用ブロック２が位置決めされる段差ガイド部６を有する試料マウント３と、試料マウント３が固定される試料マウントホルダ４とを少なくとも備える物理解析用研磨冶具１である。 - 特許庁

The ultra-violet rays, the wave length (160 to 250 nm) capable of increasing electric conductivity of the surface by irradiating the surface of the resist material of a sample 7, is made incident at a full reflection angle (less than approximately 10 degrees) from an ultraviolet ray source 30 to the sample surface, only the sample surface is made to constitute conductive.例文帳に追加

試料７のレジスト材料表面に照射することでその表面の電気伝導度を上げることのできる波長（１６０〜２５０ｎｍ）の紫外光を、紫外光源３０より試料表面に対して全反射する角度（試料水平方向に対して約１０度以下）以下で入射させることにより、試料表面のみを導電性にするよう構成する。 - 特許庁

Instead of above 2) and 3), the resin solid constituent may be formed by drying the liquid film adhering to the sample surface after the fine liquid film is formed by screen printing of the resin solid constituent containing liquid on the surface of the sample surface to be analyzed by Auger electron spectroscopy.例文帳に追加

上記2)3)に代えて、2)オージェ電子分光分析を行う試料表面に、樹脂固形分含有液をスクリーン印刷して微細な液膜を形成し、2)試料表面に付着した液膜を乾燥させることにより樹脂固形物を形成してもよい。 - 特許庁

After a groove 40 is formed in the vicinity of the analyzing region 30 of a sample 22, the cross section of the sample is exposed and the cut surface 50 thereof is set as an analyzing target surface, and the groove 40 appearing on the cut surface 50 is used as a mark to perform analysis to specify the analyzing region 30.例文帳に追加

試料２２の分析領域３０の近傍に溝４０を作成した後、試料断面を出してその切断面５０を分析対象面とし、切断面５０に表出した溝４０を目印として分析を行い、分析領域３０を特定する。 - 特許庁

The surface irregularity measuring device for measuring the irregularity of the surface using a scanning probe microscope is configured to measure the irregularity of the surface of the measured sample, calculate a gray-level histogram of the measured data and perform the calibration of the sample measurement.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料の表面の凹凸を測定する表面凹凸測定装置であって、測定した試料表面の凹凸を測定し、この測定したデータのグレイレベルヒストグラムを算出して試料測定のキャリブレーションを行なうように構成する。 - 特許庁

The method and device for scanning a sample with a scanning probe microscope includes a step for scanning the surface of the sample according to at least one scanning parameter to obtain data corresponding to the surface, and a step for substantially automatically identifying a transition part on the surface.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡でサンプルを走査する方法および装置は、少なくとも一つの走査パラメータに応じてサンプルの表面を走査して表面に対応するデータを取得するステップと、表面における変移部を略自動的に識別するステップとを有する。 - 特許庁

An elastomer pad 14 is provided to an adaptor 3 so as to come into contact with the back bottom surface of the microplate 4 having a sample injection hole part 5 for housing a sample or the back bottom surface of the microplate 4 is received by the elastomer surface of the adaptor itself.例文帳に追加

試料を内蔵するための試料注入穴部５を有するマイクロプレート４の裏底面と接触するようアダプタ３に弾性体のパッド１４を設けるか、又はアダプタ自体の弾性体面でマイクロプレート４の裏底面を受けるよう構成する。 - 特許庁

To provide an electron beam inspection device capable of preventing the attachment of a foreign substance on a sample surface.例文帳に追加

試料表面に異物が付着することを極力防止することができる電子線検査装置を提供する。 - 特許庁

Thus, focusing the lens 16 on the desired observation surface of the sample 13 is kept on.例文帳に追加

これにより、試料１３の所望の観察面に対物レンズ１６のピントを合わせ続けることが可能となる。 - 特許庁

A preview image showing a state in which the label is stuck on the sticking object surface is displayed on a sample display unit.例文帳に追加

このラベルを、貼付対象面に貼りつけた様子を示すプレビュー画像が、サンプル表示部に表示される。 - 特許庁

SAMPLE SURFACE OBSERVING DEVICE WITH X RAY AND METHOD OF EVALUATING CRYSTALLIZED STATE OF METAL WITH X RAY例文帳に追加

Ｘ線による試料表面観察装置ならびにＸ線による金属の結晶状態評価方法 - 特許庁

According to the spot position, a height arithmetic part 122 finds height Z of the surface of the sample 101.例文帳に追加

そして、このスポット位置に基づいて高さ演算部１２２で被検体１０１表面の高さＺを求める。 - 特許庁

Light reflected on the sample surface 4 is made incident on 1st and 2nd double-mode channel waveguides 6 and 7.例文帳に追加

試料表面４上で反射した光を第１および第２のダブルモードチャネル導波路４、７に入射させる。 - 特許庁

At least two vertical marks are provided on an upper end surface of a sample and an angle is given among them.例文帳に追加

標本の上端表面上に少なくとも２つの縦のマークを備え、それらの間に角度を持たせる。 - 特許庁

At this time, XeF_2 gas is introduced first and the surface of a sample is exposed to this XeF_2 gas for a specified time.例文帳に追加

このとき、先ずＸｅＦ_2ガスを導入し、このＸｅＦ_2ガスにサンプルの表面を所定時間さらしておく。 - 特許庁

An acceleration voltage Vacc of incident electrons is fixed, and an application voltage Vsub to the under surface of the sample S is changed.例文帳に追加

入射電子の加速電圧Ｖａｃｃを固定して試料Ｓの下面の印加電圧Ｖｓｕｂを変えていく。 - 特許庁

Additionally, the corrosive liquid is heated at 40-90°C, and then the polished surface of the sample is contacted to the corrosive liquid.例文帳に追加

さらに腐食液の温度を４０〜９０℃に加熱し、その後試料の研磨面を腐食液に接触させる。 - 特許庁

To provided a programmed-temperature desorption analyzing device where the temperature of a sample surface and a control temperature in a thermocouple are equal to each other.例文帳に追加

試料表面温度と熱電対での制御温度が等しい昇温脱離分析装置を提供する。 - 特許庁

An electrode mechanism includes the sample case and an electrode in contact with an outside surface of the cell arrangement part.例文帳に追加

本発明の電極機構は、試料ケースと細胞配置部の外側の面に接触する電極とを備える。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can prevent frost from adhering to the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面上への霜の付着を防止することができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

Next, the surface of the resonator formed by cleaving a sample is coated with a high-reflectance film 11 and a low-reflectance film 12.例文帳に追加

次に、試料を劈開して形成した共振器面に高反射率コート11、低反射率コート12を行う。 - 特許庁

A vibration probe 18 of a scanning force microscope is engaged with a sample surface 24 in an initial approach process.例文帳に追加

走査型力顕微鏡の振動プローブ１８を、初期接近プロセスで試料表面２４に係合させる。 - 特許庁

A piezoelectric element 16 is attached to one side surface as a side of the sample flow channel 14 of the cell body 12.例文帳に追加

セル本体１２には、試料流路１４の側方となる１つの側面に圧電素子１６が取り付けてある。 - 特許庁

A candidate value for the surface resistance value is determined, and a transmission coefficient when regarding the sample as a square waveguide is calculated.例文帳に追加

面抵抗値の候補値を定め、試料を方形導波管とみなしたときの透過係数を計算する。 - 特許庁

Further, in the case of lifting up at a low speed, the particle alignment or crystals can be formed on the surface of the sample 12.例文帳に追加

また、低速で引き上げる場合には、試料１２の表面に粒子配列や結晶が形成できる。 - 特許庁

The cantilever array is provided with many compliant cantilevers 3 which are slid on the surface 2 of the sample 1.例文帳に追加

カンチレバーアレイにおいて、試料１の表面２上を摺動する多数のコンプライアントなカンチレバー３を具備する。 - 特許庁

To provide a surface treating device for uniformizing a plasma treatment distribution when the plasma treatment is applied to a sample.例文帳に追加

試料に対してプラズマ処理を行う際、プラズマ処理分布を均一化できる表面処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface treatment apparatus capable of uniformizing plasma distribution when applying a plasma treatment to a sample.例文帳に追加

試料に対してプラズマ処理を行う際、プラズマ処理分布を均一化できる表面処理装置を提供する。 - 特許庁

Pulsing primary ion is irradiated from the primary ion irradiation device 12 toward the surface of the metal sample 17.例文帳に追加

一次イオン照射装置１２から金属試料１７の表面に向けてパルス状の一次イオンが照射される。 - 特許庁

Then, after the light-receiving surface of the light detector is arranged, luminescence measurement is performed for the sample with the light detector.例文帳に追加

そして、光検出器の受光面の配置後に、光検出器による試料についての発光計測を行う。 - 特許庁

To provide an electron beam device capable of capturing an image in which an effect of a surface electrical charge of a sample is reduced.例文帳に追加

試料の表面電荷の影響を軽減された像の取得が可能な電子線装置を提供すること。 - 特許庁

Separate thermoelectric conversion devices 126, 128 are connected to each, under surface of a sample chamber 104 and the pump chamber 110.例文帳に追加

サンプルチャンバ１０４とポンプチャンバ１１０の下面に、別の熱電変換デバイス１２６、１２８が結合される。 - 特許庁

A beam adjusting sample, having a flat plate-like surface and having two edges perpendicular to each other, is used.例文帳に追加

表面が平坦な板状であり、互いに直交する二つのエッジを有するビーム調整用試料を使用する。 - 特許庁

The beam reflected by the surface of the sample S is further throttled by a restriction slit 25 to be incident on a detector 27.例文帳に追加

試料表面で反射したビームは、さらに制限スリット２５により絞られ、検出器２７に入射する。 - 特許庁

To form a conductive carbon film of high quality free from unevenness on the surface of a nonconductive sample in a short time.例文帳に追加

非導電性試料の表面に、むらの無い良質な導電性のカーボン膜を短時間で形成する。 - 特許庁

The surface of the sample 11 is covered with a mask 21 such as a SUS except for electrode formation regions at four corners.例文帳に追加

試料１１の表面を、四隅の電極形成領域を除いて、ＳＵＳ等のマスク２１で被覆する。 - 特許庁

Consequently, the reaction state between the surface of a sample substrate W and ions impinging thereon can be varied.例文帳に追加

従って試料基板Ｗの表面と、これに入射するイオンとの反応状態を変化させることができる。 - 特許庁