「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

This sample tube heat-insulating tray 1a is equipped with at least one sample tube holding part 5a provided so as to hold and store one sample tube in the hollowed state from the upper surface to the inner side of a box-shaped heat-insulating container body 2a capable of enclosing a liquid heat-insulating agent.例文帳に追加

液状の保温剤を封入可能な箱状の保温容器本体２ａの上面から内部側へ凹んで一つの試料管を保持して収容するように設けられた少なくとも一つの試料管保持部５ａを備える試料管保温トレー１ａとする。 - 特許庁

This standard sample of the inclusion or the like in the metal sample for spark discharge emission analysis is prepared by distributing a sample of a prescribed non-metal inclusion and/or a deposit (hereafter referred to as 'inclusion or the like' simply in a lump) on the surface of a metal base material, and covering thereon with metal foils.例文帳に追加

金属基材の表面に所定の非金属介在物及び／又は析出物（以下、まとめて単に「介在物等」という。）のサンプルを分布させ、その上に金属箔を覆ってなるスパーク放電発光分析用金属試料中介在物等標準試料。 - 特許庁

In the projector provided with a sample base for placing the metal sample, a lens for projecting the light from a light source to the surface of the sample to enlarge the reflected light, and the screen for focusing the reflected light, the screen is formed in a three-layer structure of a ground glass, a transparent glass and a Fresnel lens.例文帳に追加

金属試料を載置する試料台と、光源からの光を該金属試料の表面に投射し、その反射光を拡大するレンズと、反射光を結像するスクリーンとを備えた投影器において、前記スクリーンを、擦りガラス、透明ガラス及びフレンネルレンズの３層構造とした。 - 特許庁

To provide a detecting method of a compensation value of changes of device requirements to be changed by potential measurement on the surface of a sample with the use of charged particle beams or sample charging, with potential changes restrained of the sample induced by irradiation of the charged particle beams, and a device.例文帳に追加

本発明の目的は、荷電粒子線の照射によって誘起される試料の電位変化を抑制しつつ、荷電粒子線を用いた試料表面の電位測定、或いは試料帯電によって変化する装置条件の変動の補償値を検出する方法、及び装置の提供にある。 - 特許庁

The optical axis of the poly-capillary X-ray half lens 13 is orthogonal to the sample placing surface 141, and the fine part of the sample S is surely irradiated with the X-ray regardless of the height of the sample S, and the fluorescent X-ray from the fine part is detected, to thereby perform stable fluorescent X-ray analysis.例文帳に追加

ポリキャピラリＸ線ハーフレンズ１３の光軸は試料載置面１４１に直交しており、試料Ｓの高さに拘わらずに、確実に試料Ｓの微小部分にはＸ線が照射され、微小部分からの蛍光Ｘ線は検出され、安定した蛍光Ｘ線分析が行われる。 - 特許庁

To provide a method and a device each detecting a compensation value of changes of device condition to be changed by potential measurement on a surface of a sample by using charged particle beams or sample charging, while suppressing potential changes of the sample induced by irradiation of the charged particle beams.例文帳に追加

本発明の目的は、荷電粒子線の照射によって誘起される試料の電位変化を抑制しつつ、荷電粒子線を用いた試料表面の電位測定、或いは試料帯電によって変化する装置条件の変動の補償値を検出する方法、及び装置の提供にある。 - 特許庁

Introduction of the sample into the capillary is performed, by forming a plug region which holds a liquid different from the migration liquid to one end of the capillary and applying the electric field to the capillary, in a state where the end surface of the plug region is brought into contact with a sample solution containing the sample.例文帳に追加

前記キャピラリー内への試料導入は、前記キャピラリーの一端に泳動液とは異なる液体を保持したプラグ領域を形成し、該プラグ領域端面を、前記試料を含む試料溶液と接触させた状態で該キャピラリーに電界を印加することにより行う。 - 特許庁

According to the present sample analysis method, because a membrane 20 consisting of materials with optical absorptivity of laser beam L higher than the sample 10 is formed on one surface of the sample 10, absorptivity of laser beam L can be enhanced by irradiating laser beam L to the membrane 20.例文帳に追加

この試料分析方法によれば、レーザ光Ｌについての光吸収率が試料１０より高い材料からなる膜２０を試料１０の一表面に形成するため、その膜２０にレーザ光Ｌを照射することで、レーザ光Ｌの吸収率を高くすることができる。 - 特許庁

To allow indirect observation under the condition where a desired voltage is impressed to a diffusion area of a sample surface part observed actually, without affected by sample structure, when a state of a local depletion layer in the diffusion area of a semiconductor sample is observed by an SCM.例文帳に追加

半導体試料の拡散領域の局所的な空乏層の状態をSCM により観察する際、試料構造の影響を受けることなく、実際に観察している試料表面部の拡散領域に所望の電圧を印加した状態で間接的に観察することを可能にする。 - 特許庁

This method for separating the nucleic acid from the sample is characterized by bringing the sample containing the nucleic acid into contact with a water-insoluble solid phase having unevennesses on the surface in the presence of a water-soluble organic solvent, adsorbing the nucleic acid on the solid phase and thereby separating the nucleic acid from the sample.例文帳に追加

水溶性有機溶媒の存在下、核酸を含む試料と表面に凹凸を有する水不溶性固体相を接触させ、核酸を前記固体相に吸着させることにより核酸を試料から分離することを特徴とする核酸の分離方法。 - 特許庁

The electron beam (e) scans the surface of the assessment sample S in any arbitrary direction such as in a diametric direction, for example, using a scan coil 4 as needed.例文帳に追加

電子線ｅは必要に応じ走査コイル４で評価試料Ｓの面上を任意の方向、例えば直径方向に走査される。 - 特許庁

The sample cell 200 is arranged so that the reference surface 202 is irradiated vertically with the light beams relative to the convergence optical element 108.例文帳に追加

試料セル２００は、収束光学素子１０８に対して、光ビームが参照面２０２に垂直に照射されるように配置される。 - 特許庁

After the sample and the reagent are sucked and the outer surface of a dispensing nozzle is washed in a washing mechanism, discharge operation is performed.例文帳に追加

試料または試薬を吸引した後、洗浄機構において分注ノズル外表面の洗浄を行ってから、吐出動作を行う。 - 特許庁

The sample image of the ready-to-win display is displayed at the display device 20 by operating an operation switch 34 on the front surface of this game machine 1.例文帳に追加

遊技機１前面の操作スイッチ３４を操作することにより、表示装置２０にリーチ表示のサンプル画面を表示可能とした。 - 特許庁

For the electron beam device irradiating an electron beam emitted from an electron gun on the surface of a sample, and estimating the surface of a sample by detecting a secondary electron emitted from the surface of the sample, the electron gun has a plurality of thermionic cathodes arranged in a single electrode, and the top end of the plurality of thermionic cathodes are adjusted so as to locate at an electron emission hole of the electrode.例文帳に追加

電子銃から放出された電子線を試料表面に照射し、該試料表面から放出された二次電子を検出することにより試料表面の評価を行う電子線装置において、上記電子銃は単一の電極の内部に複数の熱陰極を配置し、上記電極の電子放出穴位置に上記複数の熱陰極の陰極先端を合わせた構造からなる。 - 特許庁

The reference cell 3a and the sample cell 3b have the same triangle cross section and a surface vertical to the optical axis of the measuring beam.例文帳に追加

参照セル３ａと試料セル３ｂは同一三角形断面をもつとともに、測定光の光軸に対して垂直な面をもつ。 - 特許庁

Then, the distances between the vibrating electrode 12 and the surface 91 of the sample 9 are determined by operation, based on two gradients.例文帳に追加

そして、２つの傾きに基づいて振動電極１２と試料９の表面９１との間の距離が演算により求められる。 - 特許庁

It is expected that by removing a graphite sample on the surface of a graphite substrate, it is used as an ionization substrate having a very high performance.例文帳に追加

グラファイト基板表面のグラファイト試料を除去すれば、非常に高い性能をもつイオン化基板として用いることが期待される。 - 特許庁

To quickly analyze an agricultural chemical constituent remaining on the surface of field crops, such as vegetables, without damaging a sample.例文帳に追加

野菜などの農作物における農作物の表面に残留している農薬成分の分析を、試料を破壊せずに迅速に行う。 - 特許庁

A metal structure 110 has one end of a complementary substance fixed on a surface, is introduced with a sample containing the detection objective substance.例文帳に追加

金属構造体１１０は、表面に相補的な物質の一端が固定され、検出対象物質を含む試料を導入される。 - 特許庁

To provide an SPM probe constituted of an SPM probe provided with a piezo resistor and capable of measuring the surface potential of a sample.例文帳に追加

ピエゾ抵抗体を設けたSPMプローブから構成され且つ試料の表面電位を測定することのできるＳＰＭプローブを提供する。 - 特許庁

To simultaneously provide an unevenness image of a sample surface in the same visual field for an EPMA analysis image or an SEM observation image in an electron beam analyzer.例文帳に追加

電子線分析装置において、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時に得る。 - 特許庁

The surface potential Vs of the photoreceptor sample S is measured by discriminating a boundary (|Vacc|=|Vs|) between a secondary electron image and an inverted electron image.例文帳に追加

２次電子像と反転電子像の境界（｜Ｖａｃｃ｜＝｜Ｖｓ｜）を識別することにより感光体試料Ｓの表面電位Ｖｓを計測する。 - 特許庁

A sample point Q(x, y, z) on the surface of the three-dimensional structure M right above the reference point P(x, y, 0) is determined.例文帳に追加

この基準点Ｐ（ｘ，ｙ，０）の真上にある三次元構造体Ｍの表面上の標本点Ｑ（ｘ，ｙ，ｚ）を求める。 - 特許庁

Laser light (an optical beam) is made incident from a laser light source (an incident part) 2 to a hemispherical prism (a translucent member) 1 having a sample surface 11.例文帳に追加

試料面１１を有する半球状プリズム（透光部材）１へレーザ光源（入射部）２からレーザ光（光ビーム）を入射する。 - 特許庁

When the sample 1 reaches the front surface of the glass 3, the traveling of the tape 2 is stopped so as to grip the tape 2 by the roller 11.例文帳に追加

試料１がスライドガラス３の正面に到着したところでキャリアテープ２の走行を停止し、ピンチローラ１１でキャリアテープ２を掴む。 - 特許庁

One aspect is the sample capturing alloy which has a modified surface, contains Fe, Pt and Cu, and captures samples.例文帳に追加

本発明のあるの側面は、表面が修飾され、Fe、Pt及びCuを含有し、試料を捕捉することを特徴とする試料捕捉合金にある。 - 特許庁

To provide an ellipsometer with a self-calibrating capability regarding a system for measuring surface characteristics of a sample such as a semiconductor device.例文帳に追加

半導体のような試料の表面特性を測定するためのシステムに関し、自己較正機能を備えたエリプソメータを提供する。 - 特許庁

The flaw on the transparent thin film provided on the surface of the sample is detected on the basis of the outputs of the oblique detection system and the upper detection system.例文帳に追加

斜方検出系と上方検出系の出力によって、試料の表面の透明薄膜上の欠陥を検出する。 - 特許庁

A laser beam for heating alternate current-modulates is condensed on the sample surface to be heated, and a laser beam for temperature measurement is condensed a the same position.例文帳に追加

交流変調した加熱用レーザビームを試料表面に集光加熱し、それと同一位置に測温用レーザビームを集光する。 - 特許庁

To provide a device for measuring sound velocity that can accurately obtain the inclination of the surface of a placement plate for placing a sample and can reduce measurement errors.例文帳に追加

試料載置板の表面の傾きを的確に求め、測定誤差を低減することができる音速測定装置を提供すること。 - 特許庁

By adopting the method, it is possible to enlarge the surface area of the reaction layer, facilitate its dissolution in a sample liquid, and perform speedy measurements.例文帳に追加

この方法を採ることにより、反応層の表面積が大きく、試料液に溶解しやすくなり、迅速な測定が可能となる。 - 特許庁

To prevent the tip of a probe from colliding with a sample surface when the probe is rotated in an image observation visual field.例文帳に追加

探針（プローブ）の走査中に像観察視野の回転を行った場合に、プローブの先端と試料表面とが衝突するのを防止する。 - 特許庁

As the sweat, a sample formed by collecting sweat accumulated on the skin surface by using liquid such as ethanol aqueous solution can be used.例文帳に追加

汗としては皮膚表面に蓄積された汗をエタノール水溶液などの液体を用いて採取されたものを用いることができる。 - 特許庁

A sample W is sucked and retained to the lower surface of the chuck 4, and is pressed against a polishing pad 1 fixed on a platen 2 for polishing.例文帳に追加

チャック４の下面に試料Ｗを吸着保持し、該試料Ｗをプラテン２に固定された研磨パッド１に押し付けて研磨する。 - 特許庁

To obtain a plasma processing apparatus which processes the surface of a sample with a plasma, where a pattern of a high aspect ratio can be processed at a high speed.例文帳に追加

プラズマを利用し、試料の表面処理を行なうプラズマ処理装置において、高アスペクト比のパターンを高速度で処理する。 - 特許庁

The flaw on the transparent thin film provided on the surface of the sample is detected on the basis of the outputs of the oblique detection system and the upper detection system.例文帳に追加

斜方検出系と上方検出系の出力によって、試料の表面の透明薄膜上の欠陥を検出する。 - 特許庁

A cap contacting part 32 to face the outer circumferential surface of the cap 6 of each sample tube 4 is provided projectingly on an opening end of the housing hole 3.例文帳に追加

収納穴３の開口端には、試料管４のキャップ６の外周面に対向するキャップ対接部３２が突設されている。 - 特許庁

A first surface contour of the sample is determined from the response of the probe 301 and the tilt angle of the stage during the forward scan.例文帳に追加

試料の第１の表面輪郭が、順方向走査の間のプローブ３０１の応答及びステージの傾斜角度から決定される。 - 特許庁

The white X rays are applied from an X-ray tube 3 to a sample 2 to be measured in a goniometer 1 at an extremely low angle (close to the surface).例文帳に追加

Ｘ線管３からゴニオメータ１内の被測定試料２に極めて低角（表面すれすれ）で白色Ｘ線を入射する。 - 特許庁

By detecting the force in side direction, the throughput is improved, suppressing damage on needle tip and/or sample surface at the same time.例文帳に追加

側方向の力を検出することによって、針先及び／又は試料表面への損傷を抑えながらもスループットが改善される。 - 特許庁

To provide an automatic sample injection device equipped with a cleaning port which enables more efficient cleaning of the surface of a needle.例文帳に追加

ニードル表面の洗浄をより効率的に行なうことのできる洗浄ポートを備えた自動試料注入装置を提供する。 - 特許庁

To attain alignment without using electron beams in a detecting apparatus which detects the images of a sample surface using the electron beams.例文帳に追加

電子線を使用して試料表面の画像を検出する検出装置において、電子線を使用しないアライメントを可能にする。 - 特許庁

To achieve a miniaturization and an improvement of resolving power in a probe microscope, having a cantilever activated by the inter-atomic force with the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面との原子間力で動作するカンチレバーを有するプローブ顕微鏡にあって、小型化、解像度の改善を図る。 - 特許庁

To realize an image display method of a scanning electron microscope capable of quantitatively observing the state of unevenness of the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面の凹凸の状態を定量的に観察することができる走査電子顕微鏡の像表示方法を実現する。 - 特許庁