「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

When the sample S is put under etching process, an ion beam is irradiated, in a state of the shielding material M being intercalated near the processing surface SA.例文帳に追加

試料Ｓのエッチング加工時には、遮蔽材Ｍが加工面ＳＡの近傍に介在された状態でイオンビームが照射されて行われる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope of simple constitution capable of detecting exactly a sample surface, and an excitation method for exciting a cantilever array.例文帳に追加

構成が簡単で、的確な試料表面の検出が可能な走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法を提供する。 - 特許庁

The substrate 1 has the surface 1a on which a plurality of wells 8 are formed, which are fields for a hybridization reaction between a probe DNA and a sample DNA.例文帳に追加

基板１は、プローブＤＮＡとサンプルＤＮＡとのハイブリダイゼーション反応の場となるウェル８が表面１ａに複数個形成されている。 - 特許庁

Thus, a calcium titanate layer is formed on the surface of the sample 5 and immediate below the calcium titanate layer, a titanium dioxide layer is formed.例文帳に追加

これにより、試料５の表面にはチタン酸カルシウム層が形成され、このチタン酸カルシウム層の直下には二酸化チタン層が形成される。 - 特許庁

The difference between the surface potential of the sample being a measuring target and that of the probe is eliminated by the earth unit 16 to make the potentials of both of them same.例文帳に追加

接地ユニット１６によって測定対象である試料表面の電位と探針の電位との差をなくし、両者を同電位にする。 - 特許庁

Thus, the wax covers the surface of the PCR reaction solution uniformly and the liquid transfer to the sample quantifying part is securely performed.例文帳に追加

従って、ワックスがＰＣＲ反応液の表面を均一に覆うことが出来るため、サンプル定量部への送液を確実に行うことが出来る。 - 特許庁

To sample the behavior data of an apparatus with respect to a die coater, which applies coating to the surface of a substrate, to control the same in relation to each substrate.例文帳に追加

基板の表面に塗布するダイコータに対して、装置の挙動データをサンプリングし、基板毎に関連付けて管理することを可能とする。 - 特許庁

The processing part finds the interaction between the probe and a protrusion/a sample surface (S208), based on the displacement of the probe in the set time.例文帳に追加

処理部は、設定された時間での探針の変位に基づき、探針及び突起と試料表面間の相互作用力を求める（Ｓ２０８）。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of forming a three- dimensional image which makes it possible to observe an oblique surface part of a sample and is more accurate.例文帳に追加

試料の急峻な斜面部分をも観察でき、より正確な三次元画像が構築できる共焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To efficiently measure the absorption of an optical absorbing layer within a laminated sample having a light permeable film laminated on the surface with good optical-acoustic conversion efficiency.例文帳に追加

表面に光透過性膜が積層された積層試料内の光吸収層の吸光度を光音響変換効率よく測定する。 - 特許庁

Analysis while measuring directly the sample temperature is enabled without being influenced by the thermocouple by the surface contact in this way.例文帳に追加

このように面接触することによって、熱伝対の影響を与えることなく試料温度を直接測定しながらの分析が可能である。 - 特許庁

This commodity sample lighting system 10 is mounted in an optional position of the transparent panel 8 of a main door 3 on the front surface of the vending machine 1.例文帳に追加

この商品見本照明装置１０は、自動販売機１の前面の主扉３の透明パネル８の任意の位置に取り付けられる。 - 特許庁

Methods for dispensing tools that can be employed to generate multi-element arrays of sample material on a substrate surface are also provided.例文帳に追加

サブストレート表面上にサンプル材料のマルチエレメントアレーを作成するために使用することができるツールを分配する方法も提供される。 - 特許庁

Light beam is converted to two sub-beam mutually having coherency by an interference optical system 30 to be projected on the surface of a sample 11.例文帳に追加

光ビームを干渉光学系（３０）により互いに干渉性を有する２本のサブビームに変換し、試料表面（１１）に向けて投射する。 - 特許庁

To provide a sample conveying device which can convey samples held under a high vacuum to a surface analyzing device, etc., without exposing them to air.例文帳に追加

高真空に保持したまま複数の試料を空気に晒すことなく、表面分析装置等に搬送可能な試料搬送装置を提供する。 - 特許庁

To provide a reflection spectrum measuring method and apparatus capable of performing non-destrictive measurement without processing the surface of a sample.例文帳に追加

試料の表面の加工を行うことなく、非破壊測定を行うことができる反射スペクトル測定方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

Hereby, the distance in the Z-direction between the surface position of the sample 4 and the position of the probe 20a of the manipulator 18a is required to be measured.例文帳に追加

このため、試料４の表面位置とマニピュレータ１８ａの探針２０ａの位置との間のＺ方向の距離を測定する必要がある。 - 特許庁

The electron gun 10 emits electrons and is constituted so as to irradiate the electrons to the front surface of the processing sample gripped by the holder 50.例文帳に追加

そして、電子銃１０は、電子を放出し、ホルダ５０に把持された加工試料の表面に電子を照射するように構成される。 - 特許庁

The antireflection mechanism 40 has a plurality of holes 42 along the helical trajectory of the reflected electrons or the secondary electrons from the sample surface 20.例文帳に追加

反射防止機構４０は、試料面２０からの反射電子或いは二次電子の螺旋軌道に沿った複数の孔４２を有している。 - 特許庁

The gas ion beam from the unit 2 is emitted from a rear surface side of the sample 6 to the section at a predetermined incident angle.例文帳に追加

気体イオンビーム照射装置２からの気体イオンビームが、試料６の裏面側から上記断面に所定の入射角度で照射される。 - 特許庁

The angle resolving electron spectroscope makes the electrons emitted from the surface of a sample to be injected into a static electronic lens, via an introducing port.例文帳に追加

角度分解型電子分光器では、試料表面から放出される電子が取り込み口を介して静電型電子レンズに入射される。 - 特許庁

To solve problems of aberration generated in a primary electron beam that is difficult for offset when using a hemispheric mesh filter in measuring electric potential contrast on a sample surface.例文帳に追加

試料面の電位コントラストを測定するのに、半球状のメッシュフィルターを用いると、一次電子線に補正困難な収差を生じる。 - 特許庁

To accurately measure the length of a pattern or the like, formed on a surface of a semiconductor sample or the like regardless of suppression or reduction in the volume.例文帳に追加

半導体試料等の表面に形成されたパターン等の体積減少を抑制、或いは減少に関わらず正確な測長を行う。 - 特許庁

By this, the foreign substance such as a particle is attached to the dust collection electrode 122 and therefore the attachment of the foreign substance to the sample surface can be reduced.例文帳に追加

これにより、集塵電極１２２にパーティクル等の異物が付着するので、試料表面への異物付着を低減することができる。 - 特許庁

Further, the light application section 32 is provided so that a light axial direction is inclined by a specific angle to a sample placement surface 26A.例文帳に追加

さらに、光照射部３２は、その光軸方向が試料載置面２６Ａに対して所定の角度だけ傾斜するように配設されている。 - 特許庁

To provide a glow discharge emission spectroscopic analysis device and an analysis method which can easily and accurately analyze the inner surface of a cylindrical sample.例文帳に追加

円筒形試料の内面の分析を簡単かつ正確に行えるグロー放電発光分光分析装置および分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus of surface plasmon resonance capable of measuring surface plasmon resonance while specifying the accurate occurring position thereof, capable of knowing the correlation of the fine structure of localized surface plasmon with the surface structure of a sample and simple in its structure and low in cost, and a measuring method of the surface plasmon resonance.例文帳に追加

表面プラズモン共鳴をその正確な発生位置を特定しながら測定でき、従って局在化した表面プラズモンの微細構造と試料の表面構造との相関関係を知ることができ、しかも、簡易で低コストである、表面プラズモン共鳴の測定装置及び測定方法を提供すること。 - 特許庁

The sample supporter has a base having a plurality recessed portions formed on a principal surface, and nearly spherical holding bodies disposed at the recessed portions of the base, each holding body having a part bonded to the base with a bonding member provided inside the recessed part and a part arranged above the principal surface and coming into contact with a sample to support sample.例文帳に追加

主面上に複数の凹部が設けられた基体と、前記基体の前記凹部に配された略球形状の支持体と、を備え、前記支持体は、前記凹部の内側に設けられた接合部材によって前記基体と接合する部位と、前記主面より上方に配置され、試料と当接して前記試料を支持する部位と、を有することを特徴とする試料支持具を提供する。 - 特許庁

Following means are used, wherein this pattern for strain measurement is formed on a sample surface for visualizing strain of the sample by a strain-measuring method, and a plurality of patterns fit to each strain having each different scale level are formed in piles, on the same sample surface, and each pattern has each different regularity, shape or size mutually.例文帳に追加

上記課題を解決するために、歪み計測用パターンは、歪み計測方法にて試料の歪みを可視化する為に試料表面に形成され、異なるスケールレベルの歪みに適合した複数のパターンを同一試料面に重ねて形成してあること、また、前記各パターンは、相互にその規則性、形状又は大きさが異ならせてあることを特徴とする手段を用いた。 - 特許庁

This evaluating device is provided with electron beam generating means 1 to 9 for supplying plural electron beams to a surface of a sample 10 via the primary optical system, the secondary optical systems 14 and 15 for introducing a secondary electron beam emitted from the surface of the sample 10 to a detector 17, and moving means 12 and S for relatively moving the sample 10 to the plural electron beams.例文帳に追加

評価装置は、試料１０の表面に一次光学系を介して複数の電子線を供給する電子ビーム生成手段１〜９と、試料１０の表面から放出される二次電子線を検出器１７に導く二次光学系１４、１５と、試料１０を複数の電子線に対して相対的に移動させる移動手段１２、Ｓとを具備する。 - 特許庁

After the surface of the sample for microscope observation, cut out from a substrate sample, is processed by FIB, the vicinity of the surface of the sample is scanned with a probe 4 of a probe microscope and ground by a mechanical method, electrochemical reaction, or an optical technique, such as oxidization or annealing, to conduct processing of removing ionic elements implanted by ion irradiation.例文帳に追加

基板サンプルより切り出された顕微鏡観察用試料の表面をＦＩＢによって加工処理した後、試料の表面近傍をプローブ顕微鏡探針４を走査して機械的方法、電気化学的反応、あるいは酸化、アニーリングといった光学的手法によって研磨することによりイオン照射によって打ち込まれたイオン元素を除去する加工を行うものである。 - 特許庁

A deflection surface 25A of an optical deflecting element 25, on which a plurality of micromirrors are provided, of the confocal microscope 1 is disposed at a position conjugate to a prescribed observation surface of a sample S, and the optical deflecting element 25 controls the deflection directions of an observation light emitted from the sample S, focused with an objective lens 29 and made incident on the deflecting surface 25A by a micromirror.例文帳に追加

コンフォーカル顕微鏡１の光偏向素子２５は、複数の微小ミラーが設けられている偏向面２５Ａが試料Ｓの所定の観察面と共役な位置に配置され、対物レンズ２９により集光されて偏向面２５Ａに入射する試料Ｓからの観察光の偏光方向を微小ミラー毎に制御する。 - 特許庁

To approach unevenness of sample surface and measure surface state at high resolution by solving such problems as destruction, deformation of a base probe, destruction of a jointed part, caused by distortion and slipping of the CNT probe, which cause problems in observing the sample surface with a scanning probe microscope using a CNT cantilever.例文帳に追加

ＣＮＴカンチレバーを使用した走査型プローブ顕微鏡による試料表面の観察で問題となるＣＮＴの湾曲や滑りに起因するベース探針の破壊、変形および接合部の破壊の問題を解決し、試料表面の凹凸に確実にアプローチして高分解能で表面状態を測定することができるようにする。 - 特許庁

To provide an electrostatic chuck capable of improving temperature uniformity within a small region of a surface of a sheet sample and is equipped with a sufficient sucking force and a releasing property after suspending application of electric voltage, without reducing chemical and mechanical properties of a surface such as a projected upper surface to come into contact with the sheet sample and introducing excessive gas.例文帳に追加

突起上面等の板状試料と接触する面の化学的、機械的特性を低下させることなく、また過度のガスを導入することなく、板状試料の面内温度の微少領域における均一性を向上させることができ、しかも充分な吸着力と電圧印加中止後の脱離性とを備えた静電チャックを提供する。 - 特許庁

A platinum layer is coated on surface of a paper or a printed matter and a carbon layer is coated on the platinum layer to form a protective and charge-preventive layer comprising the platinum layer and the carbon protective layer to smooth uneven microstructure present on the surface of the sample, and then, the ion beam is focused on the surface of the paper of the printed matter to obtain the section sample.例文帳に追加

紙や印刷物の表面に白金層をコーティングし、この白金層の上にカーボン層をコーティングし、サンプル表面に存在するミクロな凹凸面を平滑にする白金層及びカーボン保護層から成る帯電防止兼用の保護層を形成してから、紙や印刷物の表面にイオンビームを集束して切断し断面試料を得る。 - 特許庁

Without measuring the depth of the surface defects, a graph and a correlation expression for indicating the correlation between the diameter and depth in the surface defects are first obtained by using the sample materials, only the diameter of the surface defects is measured, and the depth of the surface defects is estimated by the graph and the correlation expression.例文帳に追加

表面欠陥の深さは実測することなく、まずサンプル素材を用いて表面欠陥の径と深さの相関を表わすグラフや相関式を求めておき、表面欠陥の径のみを実測して前記グラフや相関式によって表面欠陥の深さを推測する。 - 特許庁

The solidification structure is revealed even in the grade in which the solidification structure is previously difficult to be revealed, especially in low carbon steel with carbon concentration of ≤0.01 mass%, by electrically insulating the surface other than the polished surface (corroded surface) of the sample, and advancing corrosion only on the polished surface.例文帳に追加

試料の研磨面（腐食面）以外の面を電気絶縁処理することにより、研磨面のみで腐食を進行させることにより、従来は凝固組織の顕出が困難であった品種、特に炭素濃度が０．０１質量％以下の低炭素鋼についても、凝固組織を顕出できる。 - 特許庁

Since the surface potential of the sample 2 is different at a reference position where there is no deposit on the surface of the inspection object 1 and at an inspection position where the deposit is present, the surface potential values measured at both positions are compared with each other to inspect whether there is the deposit on the surface of the inspection object 1.例文帳に追加

被検査物１の表面に付着物がない基準位置と、付着物がある検査位置では、試料２の表面電位が異なるため、両位置で測定した表面電位値を比較することによって、被検査物表面に付着物があるか否かを検査することができる。 - 特許庁

To provide a multicore optical fiber probe capable of widely employing the measuring region of a sample on a detection surface even if total reflection is not turned to one light for a plurality of times and capable of enhancing the detection precision of the sample by an absorption spectrum.例文帳に追加

１つの光に全反射を複数回させないでも、検出面での試料の測定領域を広く採ることがき、吸収スペクトルによる試料の検出精度を向上することを可能とした多芯光ファイバプローブ。 - 特許庁

The device for forming an electrostatic latent image having such a charge is provided with an optical system for creating a charge distribution in the sample by exposing the surface of the sample charged by means of the charger and forming an electrostatic latent image.例文帳に追加

このような帯電装置を有する静電潜像の形成装置であって、帯電装置で帯電された試料の面を露光して試料に電荷分布を生成させ静電潜像を形成するための光学系を有する。 - 特許庁

After the user picks up an image of the bar code 193, when a surface of the information processing terminal 1 whereon a projection part is provided is turned toward a fossil sample 192, at a position of the fossil sample 192, an image of dinosaur whose body and substance are given is projected.例文帳に追加

ユーザがバーコード１９３を撮像した後に、情報処理端末１の投影部が設けられている面を化石標本１９２に向けた場合、化石標本１９２の位置に、肉付けされた恐竜の画像が投影される。 - 特許庁

The electron gun 11 is located so as to form a prescribed angle between its optical axis and the normal 4 of the sample 3, and deflection means 16 and 17 deflect the electron beam so as to irradiate the surface of the sample 3 with the electron beam of a uniform irradiation dose.例文帳に追加

電子銃１１はその光軸と試料３の法線４とが所定の角度をなすように配置され、偏向手段１６、１７は、電子線を試料表面に一様な照射量で照射するよう偏向させる。 - 特許庁

Since the distance between the tip of the probe 23 and the sample surface is kept constant, an indentation depth of the probe 23 can be kept constant even to the sample 51 having irregularities only by bending the cantilever 22 as much as a fixed quantity.例文帳に追加

プローブ２３の先端と試料表面とは一定の距離に保たれているため、カンチレバー２２を一定量湾曲させるだけで、凹凸のある試料５１に対してもプローブ２３の押し込み深さを一定とすることができる。 - 特許庁

The electron beam system is equipped with a primary electron optical system for irradiating a sample with a primary electron beam, a detecting system and a detecting system for directing a secondary electron beam emitted from the surface of the sample by the irradiation of the primary electron beam to a detector.例文帳に追加

電子線装置は、一次電子線を試料に照射する一次電子光学系、検出系、及び一次電子線の照射によって試料面から放出される二次電子線を検出器へ指向させる検出系を備える。 - 特許庁

After a contrast agent precursor 51 is supplied on a specific location of a surface 56 of a sample 4 introduced into a sample chamber of a particle beam device, a particle beam 50 and/or a light beam 47 is supplied to the specific location.例文帳に追加

粒子ビーム装置の試料室に導入した試料４の表面５６の特定の位置上にコントラスト剤前駆体５１を供給した後、粒子ビーム５０および／または光ビーム４７を前記特定の位置に供給する。 - 特許庁