「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a mechanism for forming an indentation and a hardness test machine in which the position for forming an indentation can be determined surely on the surface of a sample by single trial.例文帳に追加

試料表面に圧痕を形成させる位置を一度で確実に決めることができる圧痕形成装置および硬さ試験機を提供する。 - 特許庁

In this case, the collision height specifying means 215 calculates the distance between the height of the sample surface and the height of the probe in the mesh range of the probe.例文帳に追加

この場合、衝突高さ特定手段２１５は、探針のメッシュ範囲において試料表面の高さと探針の高さとの距離を算出する。 - 特許庁

In a light source chamber 20, a metal halide lamp 3 and a reflector 4 for irradiating the surface of the sample P with a light containing ultraviolet rays are secured.例文帳に追加

光源室２０には、試料Ｐの表面に紫外線を含む光を照射するためのメタルハライドランプ３および反射器４が固設されている。 - 特許庁

An incident angle θ of infrared rays to the prism is scanned, and a spectrum of infrared rays totally reflected by the sample surface is analyzed by the FT-IR device.例文帳に追加

プリズムに対する赤外光の入射角度θをスキャンし、サンプル表面で全反射した赤外光のスペクトルをＦＴ−ＩＲ装置で解析する。 - 特許庁

The injection part 28 is formed on the upper surface of the disc 20 in an opening shape, so that a particle-containing sample is injected through an opening 26 and stored in this part.例文帳に追加

注入部２８は、ディスク２０の上面に開口状に形成され、粒子含有試料を開口２６を通して注入しその箇所に溜めておく。 - 特許庁

To provide a scanning charged particle beam device capable clearly performing image observation even when a charged region exists on the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面上に帯電領域が存在していても、像観察を明瞭に行うことができる走査型荷電粒子ビーム装置を実現する。 - 特許庁

The ion beam machining/observation device is provided with a measuring instrument measuring depth of the hole of the surface of the sample or the height of the deposition film formed in the hole.例文帳に追加

イオンビーム加工・観察装置には、試料表面の穴の深さ又は穴に形成されたデポジション膜の高さを計測する計測器が設けられている。 - 特許庁

At this point, the light from the sample S is focused near the light receiving surface of the light detector 14 by the focusing system 13 after passing the objective lens 3a.例文帳に追加

このときの標本Ｓからの光は、対物レンズ３ａを通った後に、結像光学系１３により受光素子１４の受光面付近で結像する。 - 特許庁

Besides, the flatness of the expansion flat surface 52A can easily discharge the bubble contained inside reagent 56 from the corresponding region 52B of sample.例文帳に追加

また、展開平坦面５２Ａの平坦性により試薬５６内部に含まれる気泡をサンプル対応領域５２Ｂから容易に排出することができる。 - 特許庁

In the dies for a rheometer, the surface in contact with a sample is treated with at least either of ion deposition treatment or ion implantation treatment.例文帳に追加

レオメータ用ダイスは、その、少なくともサンプルに接触する表面に、イオン成膜処理、およびイオン注入処理のうち少なくとも一方の処理を施した。 - 特許庁

The micro sample stand 10 has an integrated structure wherein two fixing parts 12 and three guard parts 13 are projected alternately on the upper surface 11A of the base part 11.例文帳に追加

微小試料台１０は、基部１１の上面１１Ａに２本の固定部１２と３本のガード部１３が交互に突設された一体化構造である。 - 特許庁

In the measuring process, using a glow discharge light emission analysis method, concentration distribution of a component element in the depth direction from the surface of the sample S is measured.例文帳に追加

測定工程では、グロー放電発光分析法を用いて、試料Ｓの表面からの深さ方向における成分元素の濃度分布を測定する。 - 特許庁

The nano tweezers 1 are inverted by an inversion driving mechanism by 180° so that the attitude with respect to the sample surface of the gripped CNT401 is suitable.例文帳に追加

そして、把持したＣＮＴ４０１の試料面に対する姿勢が適切となるように、ナノピンセット１を反転駆動機構により１８０度反転する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for plasma doping having the superior controllability of an impurity concentration introduced on the surface of a sample, and to provide a matching circuit suitable for the method and the apparatus.例文帳に追加

試料表面に導入される不純物濃度の制御性に優れたプラズマドーピング方法及び装置と、これに適した整合回路を提供する。 - 特許庁

To provide an electric conduction point evaluation device of a metal plate surface, capable of easily evaluating the state of electrical conduction parts of a replaceable metal sample plate.例文帳に追加

交換可能な金属製のサンプル板の通電部の状態を容易に評価し得る金属板表面の通電点評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a double-sided coating method and equipment for quickly coating the entire surface of a sample with coating materials, without wasting the coating materials, such as resist solution.例文帳に追加

レジスト液等コーティング材の無駄がなく、試料全面に速やかにコーティング材を行き渡らせることが可能な両面コーティング方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The micro sample piece S is fixed onto the fourth stage 14-54 to make a surface thereof, i.e. a plane for thinning preparation, in parallel to an XZ-plane.例文帳に追加

微小試料片Ｓは、その表面、すなわち薄片化調製が行われる平面がＸＺ面に平行となるように、第４段１４〜５４に固定される。 - 特許庁

The surface machining area 5 of the hole to be machined and the sample back side shape 4 or the bottom shape of the hole are preferably indicated in a lapped manner on the same screen.例文帳に追加

加工穴の表面加工領域５と加工穴の試料裏面形状４又は穴底形状は、同一画面上に重ねて表示するのが好ましい。 - 特許庁

A part of the measuring container 10 includes a transparent body, and a part of the inner surface of the measuring container 10 partitioning the channel 10a includes the solid sample.例文帳に追加

計測容器１０の一部が透明体よりなり、かつ流路１０ａを区画する計測容器１０の内面の一部が固体試料よりなる。 - 特許庁

To provide a method and device for measuring the distribution of specular reflection light, capable of measuring the distribution and evaluating unevenness in brightness on a sample surface.例文帳に追加

本発明の目的は、試料面上の光沢ムラ特性を評価できる鏡面反射光分布測定方法および装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an evaluation method of a semiconductor test sample capable of nondestructively evaluating the surface state of a semiconductor part, and to provide a manufacturing method of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体部分の表面状態を非破壊で評価できる半導体試料の評価方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The position of a probe is measured when a specific atomic force is detected at a gravitational force region by vibrating a probe 21 and at the same time bringing the probe 21 close to a sample surface (1).例文帳に追加

探針２１を振動させながら試料表面に近づけ引力領域で所定の原子間力を検出した時の探針の位置を測定する（ ）。 - 特許庁

The position of the sample surface and the position in the Z-direction of the probe are revealed based on a two-dimensional electronic signal detected by the two-dimensional scanning of the electron beam.例文帳に追加

電子ビームの２次元走査により検出された２次電子信号に基づき試料表面の位置と探針のＺ方向の位置とが判明する。 - 特許庁

As a result, the grains are scattered over the entire surface of the sample plate 76 nearly on the average, and there hardly occurs any roughness and fineness between adjacent grains.例文帳に追加

これにより、穀粒はほぼ平均的にサンプル板７６の全面に亘って散布され、隣接する穀粒との間の粗密もほとんどなくすことができる。 - 特許庁

A means for inclining the travel axis of the probe for bringing the probe closer to the sample surface is composed of an XY scanning body 22 and a Z scanning support 23.例文帳に追加

探針を試料表面へ接近させる探針の移動軸を傾斜させる手段を、ＸＹ走査体２２とＺ走査支持体２３とにより構成した。 - 特許庁

The sample 22 is heated/cooled from the emission surface side, and since the area of the measuring window 24 is small, the temperature at the measuring portion becomes nearly equal to a target temperature.例文帳に追加

試料２２は発光面側から加熱・冷却され、且つ測定窓２４の面積は小さいので、測定部位の温度は目標温度とほぼ等しくなる。 - 特許庁

The movable reflector 51 is disposed so as to bring the lower surface thereof into contact with the upper end portion of the piezoelectric sample 50 and reflects the radiation light from the fiber head 3.例文帳に追加

可動反射板５１は、下面が圧電体試料５０の上端部に接触するように配置され、ファイバーヘッド３の照射光を反射する。 - 特許庁

In addition, an excitation source 6 is caused to generate the excitation field which is amplitude-modulated at a prescribed carrier frequency and a modulated frequency on the surface of the sample 5.例文帳に追加

また、励起源６により、試料５表面に所定の搬送波周波数と変調周波数で振幅変調された励起場を発生させる。 - 特許庁

Light from the illuminating device 50 is made parallel beams by a field lens 40 and reflected by a dichroic mirror 41 to illuminate a sample surface through an objective 42.例文帳に追加

照明装置５０からの光を視野レンズ４０で平行光にしダイクロイックミラー４１に反射させて対物レンズ４２を通して試料面を照明する。 - 特許庁

Thus, a situation that the sample and a lens surface are damaged is avoided, and the observation of the fluorescent image with high contrast where the influence of disturbance light is restrained is realized.例文帳に追加

これによって、試料やレンズ面を破損する事態を回避し、外乱光の影響を抑えたコントラストの高い蛍光像観察が可能となる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an optical recording medium sample by which a surface state of a substrate of the optical recording medium can be analyzed sufficiently, exactly, and accurately.例文帳に追加

光記録媒体の基板の表面状態を十分に正確に且つ精度よく分析できる光記録媒体試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

The organism-related material in the sample solution is bonded with a specific affinity material bonded on the inner surface of the reaction part 21 by being left for a prescribed reaction time.例文帳に追加

所定の反応時間放置して試料溶液中の生体関連物質を反応部21内面に結合させた特異親和性物質に結合させる。 - 特許庁

A photographing means 30 photographs a liquid surface shape of the liquid sample flowing in the channel 10a from a part of the transparent body of the measuring container 10.例文帳に追加

撮影手段３０は、計測容器１０の透明体の部分から、流路１０ａ内を流れる液体試料の液面形状を撮影する。 - 特許庁

The reaction layer provided on an electrode surface is limited into the sample liquid supply path so that no regions are sandwiched between a cover member and the substrate.例文帳に追加

電極表面に設ける反応層は、カバー部材と基板の間に挟み込まれる領域がないように、試料液供給路内に限定する。 - 特許庁

Luminous flux from the first to fifth lighting systems 102-106 is reflected by the toroidal mirror 11 into parallel luminous flux, to be irradiated to the sample surface 1.例文帳に追加

第１〜第５の照明系１０２〜１０６からの光束は、トロイダル鏡１１で反射されて平行光束となり、試料面１へ照射される。 - 特許庁

The charging/discharging means 7 charges/discharges fluid into/from a piston device so as to freely drop blood onto a slide glass surface or so as to sample a fixed amount blood.例文帳に追加

給排手段７は、ピストン装置内への流体の給排によって血液の定量採取とスライドガラス表面への滴下とを自在とする。 - 特許庁

In analysis, laser light emitted from a laser light source 1 is reflected by a mirror 2 and introduced into a cell 4 to be applied on the upper surface of a solid sample 8.例文帳に追加

分析時にはレーザ光源１から発したレーザ光はミラー２で反射してセル４内に導入され、固体試料８上面に照射される。 - 特許庁

The inclusion 3 can be analyzed by manufacturing the sample 1 for analysis by the manufacturing method, cutting it, and observing the cut surface by a microscope.例文帳に追加

本発明の製造方法により分析用サンプル(1)を製造し、切断し、切断面を顕微鏡により観察することにより、介在物(3)を分析できる。 - 特許庁

To provide a polarization modulation type imaging ellipsometer capable of finding precisely and quickly a polarization analytical parameter in each point on a sample surface.例文帳に追加

試料表面各点の偏光解析パラメータを高精度且つ高速に求めることができる偏光変調型イメージング・エリプソメータを提供すること。 - 特許庁

Each tube receiving chamber 1 is equipped with a tube engaging cradle arranged, so as to be engaged with the surface part of a sample tube inserted into each tube receiving chamber 1.例文帳に追加

各管受入れ室は、各受入れ室内に挿入した試料管の表面部分に、係合するように配置した管係合クレードルを備える。 - 特許庁

To provide an inspection jig for simply and accurately measuring an electrical characteristic on a surface of a sample, and an electrostatic capacitance measuring method using it.例文帳に追加

試料表面の電気的特性を簡易に且つ高精度に測定する検査冶具及びこれを用いた静電容量測定方法を提供すること。 - 特許庁

Therefore, the PCR reaction liquid can uniformly cover the bottom surface of the reaction chamber, so that the liquid feeding to a sample quantitatively determining section can be performed certainly.例文帳に追加

従って、ＰＣＲ反応液が反応チャンバの底面を均一に覆うことが出来るため、サンプル定量部への送液を確実に行うことが出来る。 - 特許庁

To provide a method and a device capable of analyzing the oxidation degree and oxygen adsorbability of the sample surface simply, quickly and accurately, with high sensitivity and high reproducibility.例文帳に追加

簡単、迅速、正確、高感度且つ再現性よく試料表面の酸化度及び酸素吸着能を分析できる方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of obtaining a high-resolution and high-contrast concavoconvex image of a sample surface.例文帳に追加

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。 - 特許庁

The apparatus includes a device (a) for forming a non-blockading opening on the skin surface from which a blood sample is extracted, and preferably an incision assembly and (b) a vacuum pump.例文帳に追加

装置は（ａ）サンプルを抜き取る皮膚面に非閉塞開口を形成するためのデバイス、好ましくは切開アセンブリ及び（ｂ）真空ポンプを含む。 - 特許庁