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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > sample surfaceに関連した英語例文

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sample surfaceの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2601



例文

The automatic analyzer and the method for inhibiting the temperature rise of the liquid sample thereof analyzing a specimen based on optical characteristics of a reaction liquid of the specimen and a reagent, includes a cuvette wheel holding a plurality of reaction vessels into which the liquid sample containing the specimen and the reagent is dispensed, and surface acoustic wave elements agitating the liquid sample by the acoustic waves.例文帳に追加

検体と試薬を含む液体試料が分注される反応容器を複数保持するキュベットホイールと、音波によって液体試料を撹拌する表面弾性波素子とを備え、検体と試薬との反応液の光学的特性をもとに検体を分析する自動分析装置とその液体試料の温度上昇抑制方法。 - 特許庁

To provide a method capable of performing X-ray detection remarkably efficiently with little restriction of position relation between a detector and a sample in comparison with a conventional characteristic X-ray detection method wherein an X-ray detector is installed in front of the sample, namely, on the same side as a beam light source based on the sample surface entered by a primary beam.例文帳に追加

試料の前方、すなわち、一次ビームが入射する試料面を基準としてビーム光源と同じ側にX線検出器を設置する従来の特性X線検出法と比較して、検出器と試料の位置関係の制限が少なく、格段に効率よくX線検出を行うことができる方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

In the inspection, a top stage deflector 19 deflects a primary electron beam EB incident on a sample 18 which has a sample irradiation current quantity and a parallelism required for the inspection, so that the beam irradiates out of the center axis of an objective 17, is subjected to the focusing action of the objective 17 and deflected on the objective center axis on the sample 8 surface.例文帳に追加

検査に必要な試料照射電流量、平行度を有して試料18に入射した一次電子ビームEBは、検査時には、上段偏向器19により偏向され、対物レンズ17の中心軸外に入射し、対物レンズ17により収束作用を受けると共に、試料8面上の対物レンズ中心軸上に偏向される。 - 特許庁

To correctly obtain an electronic state of a portion which makes up the inward side of a sample, and to enable the inward side and the pole surface side of the sample to be analyzed individually, by directly comparing two X-ray absorption spectra obtained from fluorescent X rays and photoelectrons/Auger electrons emitted from the sample irradiated with X rays.例文帳に追加

X線を照射した試料から放出された光電子及びオージェ電子と蛍光X線とに基づいて得た2つのX線吸収スペクトルを直接比較できるようにすることで、試料の内部側を構成する部分の電子状態を正確に得て、試料の極表面側と内部側とを個別に分析できるようにする。 - 特許庁

例文

A slice part, containing a desired observation place 2 due to the transmission electron microscope, is formed by processing the sample 1, and after a thin film is formed on the surface of the sample containing the slice part, the slice part is processed by a converged ion beam and the thin film of a part of the slice part is removed, to obtain the observation sample of the transmission electron microscope.例文帳に追加

試料1を加工することによって、透過型電子顕微鏡による所望の観察箇所2を含む薄片部を形成し、記薄片部を含む試料表面に薄膜を成膜した後に、薄片部に対し集束イオンビームにより加工を施して、薄片部の一部の薄膜を除去し、透過型電子顕微鏡の観察試料とする。 - 特許庁


例文

The glow discharge analysis apparatus 1 analyzes components in a depth direction of the sample S by sputtering to a surface of the sample S using a glow discharge, and has a display 35 for displaying a depth component ratio graph 36 for indicating so as to correspond an average of the component ratio of each layer classified by the component ratio of each region of the sample to a location in the depth direction.例文帳に追加

グロー放電による試料S表面へのスパッタリングを用いて試料Sの深さ方向の成分分析を行なうグロー放電分析装置1であって、試料の各部の成分比によって層に分類した各層の成分比の平均を、深さ方向の位置に対応させて表わす深さ成分比グラフ36の表示部35を有する。 - 特許庁

The prism includes a first prism having an incident surface 2a, a second prism having a curved reflecting surface 2b and the sample arranging part 2c, and a third prism having an emitting surface 2d, wherein the first and second prisms are arranged on the side of the same surface as the second prism or arranged at the positions opposed to each other so as to hold the second prism.例文帳に追加

プリズムは、入射面2aを有する第1プリズムと、湾曲形状の反射面2bと試料配置部2cとを有する第2プリズムと、出射面2dを有する第3プリズムを備え、第1プリズムと第2プリズムが、第2プリズムの同じ面側に配置されるか、第2プリズムを挟んで対向する位置に配置されている。 - 特許庁

The optical path of the measurement light 1a emitted from the semiconductor laser 1 is divided by a beam splitter 3, in which one reflected by a reference reflective surface 4a reaches an observation surface 6a, and the other reflected by the sample surface 8a reaches the observation surface 6a, and an interference fringe is formed.例文帳に追加

半導体レーザ1から発せられた測定光1aは、ビームスプリッタ3によって光路を分割され、一方が基準反射面4aによって反射されて観測面6aに到達し、他方が試料表面8aによって反射されて観測面6aに到達して、干渉縞を形成する。 - 特許庁

To provide a method for separating and purifying a nucleic acid, comprising making a solid phase surface to adsorb a sample solution containing an RNA and a plasmid DNA and then making to desorb the sample solution through a washing process and the like, by which the highly pure plasmid DNA can quickly be obtained in a high yield.例文帳に追加

RNAとプラスミドDNAを含む試料溶液を固相表面に吸着させた後、洗浄等を経て脱着させて核酸を分離精製する方法において、迅速、高収量、高純度なプラスミドDNAを得る方法を提供すること。 - 特許庁

例文

The plate 1 for the microscope specimen is constituted, by providing a plurality of the liquid sample coating parts 4 surrounded by interruption parts 3 to the surface of a plate 2, made of a synthetic resin and where liquid sample coating parts 4 are respectively covered independently with cover films 5.例文帳に追加

合成樹脂製板2の表面に、堰止部3により囲まれた液体試料塗沫部4を複数個設けるとともに、該液体試料塗沫部4の各々を独立にカバーフィルム5で被覆したことを特徴とする顕微鏡標本用プレート1である。 - 特許庁

例文

To remove at least part of a volatile component from the liquid sample by flowing the liquid sample stream through a volatile component-removal device including a porous wall having a surface coating of a permeable polymer less than 10 μm in thickness in a liquid chromatographic system.例文帳に追加

液体クロマトグラフィーシステムにおいて、10 μm未満厚の透過性ポリマーの表面コーティングを持つ多孔性膜を含む揮発性成分除去装置の中に、液体サンプル流を流すことによって、揮発性成分の少なくとも一部を液体サンプルから除去すること。 - 特許庁

The overlapping state of these structures 23a-23d or the interval between the specific parts of the respective structure members is investigated by a microscopic image, and the sample holder of the microscope is controlled, on the basis of the investigated result to make the observation surface of the sample 22 vertical to an optical axis.例文帳に追加

顕微鏡像でこれらの構造体23a〜23dの重なり状態や各構造体の特定部分の間隔等を調べ、その結果に基づいて顕微鏡の試料ホルダーを制御して、試料22の観察面が光軸に対し垂直となるようにする。 - 特許庁

To provide a technique capable of fixing a surface area sufficient to measure one powder/particle, for example, even if a sample is a minute powder/particle and capable of adapting an analyzing method using a probe, for example, even to a sample with a mean particle size of 100 μm or less.例文帳に追加

試料が、例え微少な粉・粒体であっても、粉・粒体1個を測定するのに十分な表面積を固定することができ、例え平均粒径が100μm以下の試料であっても、プローブを用いた分析方法が適用できる技術を提供する。 - 特許庁

Gold colloid is mixed with a sample and dried, and then irradiated with laser light in the state, to thereby excite plasmon on the surface of gold particles, and the sample adhering to the gold is ionized by an electric field generated thereon, to thereby perform mass spectrometry.例文帳に追加

本願発明においては、試料に金のコロイドを混合し、乾燥させ、その状態において、レーザー光を照射し、金の粒子の表面にプラズモンを励起し、そこに生じた電場により、金に付着した試料をイオン化して、質量分析を行うものである。 - 特許庁

The mass analysis-use measurement sample is prepared from a matrix and a sample containing the measurement object molecule, and is characterized by having a wavelike structure whose average period is 1 to 300 nm on at least one portion of its surface.例文帳に追加

測定対象分子を含む試料とマトリックスから調製される質量分析法用測定試料であって、表面の少なくとも一部に平均周期1nm〜300nmの波状構造を有することを特徴とする質量分析法用測定試料。 - 特許庁

The control device may allow the electron beam irradiation means to irradiate the electron beam to the whole surface of the sample, or may allow the electron beam irradiation means to irradiate the electron beam to a prescribed range centered at a measuring portion of the sample.例文帳に追加

前記制御手段は、前記電子ビーム照射手段に、前記電子ビームを試料の表面全体に照射させてもよいし、前記電子ビーム照射手段に、前記電子ビームを試料の測定部位を中心とした所定の範囲に照射させてもよい。 - 特許庁

When the sample 210 is sandwiched by two support members 310, 320, the circumference surface 211 of the sample 210 correctly contacts with an inner wall of the waveguide 110 and planes 213, 214 are supported correctly perpendicularly to the axial direction of the waveguide 110.例文帳に追加

2つの支持部材310,320によって試料210を挟み込むと、試料210の外周面211は、導波管110の内壁と正しく接し、且つ、平面213,214は導波管110の軸方向に対して正しく垂直に保持される。 - 特許庁

The testing device includes a hydrophobic face 18 for keeping the contact face between the droplet 36 of the sample solution and the surface of the plate 12 in the specific sector 16, and a shaking device 34 for changing the shape of the droplet 36 of the sample solution which is dripped into the specific sector 16.例文帳に追加

検査装置には、サンプル液の液滴36とプレート12の表面との接触面を特定領域16内に保つ疎水面18と、特定領域16内に滴下されたサンプル液の液滴36を変形させるための加振装置34を備える。 - 特許庁

In the automatic focusing mechanism, a sample to be inspected 10 in which a pattern is formed is mounted to a mounting part 12, and a pattern-formed surface of the sample to be inspected 10 is irradiated with a light beam for observation which has passed through a slit 20 formed in a field stop 16.例文帳に追加

自動焦点調節機構においては、パターンが形成された検査対象試料10が載置部12に載置され、検査対象試料10のパターン形成面に視野絞り16に形成されたスリット20を通過した観察用光ビームが照射される。 - 特許庁

To provide a device and a method for carrying and decelerating folded samples via a group of belts for carrying the folded samples to be received from the surface of a sample feeding body, wherein the group of belts for guiding the folded samples are driven independently form a folding machine to ensure guide of the folded sample at both sides.例文帳に追加

折り見本を搬送するベルト群によって折り見本を見本送り胴の表面から受け取る搬送および減速装置において、折り見本を案内するベルト群を折り機から独立して駆動し、折り見本の両側の案内について保証する。 - 特許庁

An irradiation surface of the sample 5 and the detecting coil 9a are able to get closer to each other by a fine-turning support mechanism DC, to increase the strength of a magnetic signal generated in the sample 5, and to enable more accurate detection.例文帳に追加

このとき、微調節式支持機構DCによって試料5の電子ビーム照射面と薄膜状磁気検出コイル9aをより密接させることが可能となり、試料5内部に発生した磁気信号の強度が増し、より精度の良い検出ができる。 - 特許庁

X-rays 2a which the expanded to the longitudinal direction of a line focus are taken out by the monochromator 30, the X-ray scattering face of the monochromator 30 is crossed with the X-ray scattering face of the sample 3, and the surface 3a of the sample is irradiated with the X-rays 2a.例文帳に追加

そして、モノクロメータ30によりラインフォーカスの長手方向に拡大したX線2aを取り出するとともに、モノクロメータ30のX線散乱面と試料3のX線散乱面とを交差させてX線2aを試料表面3aに照射する。 - 特許庁

To suppress the dynamic behavior of a sample in an observation area by bringing a transparent plate member into contact therewith, prevent breakage by the contact between the transparent plate member and an objective lens, and highly accurately accord a focal position of the objective lens with the surface of the sample.例文帳に追加

透明板部材を接触させて試料の観察範囲における動的挙動を抑制するとともに、透明板部材と対物レンズとの接触による破損を防止することができ、対物レンズの焦点位置を試料の表面に精度よく一致させる。 - 特許庁

At the same time, a second guide roller 12 is moved along the scooping surface 3a of the cutter blade 3 in connection with the movement of the sample block 1 and held to a state present on the side of a third guide roller 13 from the end part of the thin sample adsorbed on the carrier tape 5.例文帳に追加

これと同時に、第二ガイドローラ12を、試料ブロック1の動きに連動させてカッタブレード3のすくい面3aに沿って移動し、第二ガイドローラ12が、キャリアテープ5に吸着された薄片試料の端部よりも第三ガイドローラ13側にある状態を保つ。 - 特許庁

The method for evaluating a water absorption deterioration degree of a resin composition includes: a preparation process for preparing a test sample from a resin composition containing an inorganic filler and a resin; and a measurement process for measuring a ratio of the inorganic filler in a rupture surface of the test sample.例文帳に追加

無機フィラーと樹脂とを含む樹脂組成物から試験サンプルを準備する準備工程と、試験サンプルの破断面における無機フィラーの割合を測定する測定工程とを含むことを特徴とする樹脂組成物の吸水劣化度評価方法。 - 特許庁

In the method for analyzing the inclusion or the precipitation, the matrix of the iron and steel sample is electrolyzed by the electrolytic solution composition for the iron and steel materials, and the inclusion or the precipitation which remains and adheres to the surface of the iron and steel sample is analyzed.例文帳に追加

また、介在物または析出物の分析方法は、この鉄鋼材料用電解液組成物により鉄鋼試料のマトリクスを電解し、鉄鋼試料表面に残存付着したままの介在物または析出物を対象とすることを特徴とする。 - 特許庁

To solve the problem, an upper side optical fiber end from above and a lower side optical fiber end from underneath are faced and a sample liquid LS on the upper surface of the lower side optical fiber is placed between them, allowing light to be transmitted through the sample liquid LS.例文帳に追加

本発明は、上記課題を解決するために、上方からの上側光ファイバ端と下からの下側光ファイバ端を対向させ、下側光ファイバ端の上面における試料液LSを挟み、光を試料液LSに透過させるようにしたものである。 - 特許庁

When spark discharge is repeatedly performed to a metal sample such as surface-polished iron steel, nonmetallic inclusions and/or deposits present in the metal sample (hereinafter referred simply to as "inclusions or the like") selectively discharge electricity in time series depending on the kinds thereof.例文帳に追加

表面研磨した鉄鋼などの金属試料にスパーク放電を繰返すと金属試料中に存在する非金属介在物及び/又は析出物(以下、まとめて単に「介在物等」という。)がその種類に依存して時系列的に選択的放電する。 - 特許庁

The wafer 1 is placed on a sample suction electrode 2 having an insulated surface, so that when a potential of the electrode 2 is connected to a grounding potential 4 of the apparatus, the potential applied to the sample generates a Coulomb force which can be used even for fixing of the wafer.例文帳に追加

試料ウエハ1は表面を絶縁された試料吸着電極2の上に置かれており、この試料吸着電極2の電位を装置接地電位4に接続することで、試料に印加した電位がクーロン力を発生し、試料ウエハの固定にも利用できる。 - 特許庁

In a step S103, an internal standard sample in which a known amount of a target element is included in a base material which absorbs a known amount of X-rays is placed on the structure, and then X-rays are radiated to the surface of the structure through the internal standard sample.例文帳に追加

次に、ステップS103、X線の吸収量が既知の基材に対象となる元素が既知の含有量で含まれている内標準試料を構造物に重ねた状態で、内標準試料を通して構造物の表面にX線を照射する。 - 特許庁

Ratio of each signal amount to be synthesized is varied according to the surface shape of a sample 6, and the electron image is formed, based on the signal amount varied.例文帳に追加

このとき、合成する各信号量の比率を試料6の表面形状に応じて変更し、この変更した信号量に基づいて電子画像を作成する。 - 特許庁

The pixel having the luminance equal to or above the set luminance just before saturation is colored in red or the like and displayed on the image of the surface of a sample displayed on the screen of a display device.例文帳に追加

表示装置の画面に表示される試料表面の画像において、飽和直前の設定輝度以上の画素が赤色等に着色表示される。 - 特許庁

The tape 21 adheres to the surface of the slicing start portion of the solid sample by the lowering of the tension of the tape to certainly receive the slicing start portion of a slice.例文帳に追加

この張力低下によりテープ21は、固形試料10の薄切開始部の表面に付着し、薄切片の薄切開始部をテープ21で確実に受け取る。 - 特許庁

To provide an exposure method capable of forming a repeated pattern, with high interval accuracy on the side surface of the sample to be exposed.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、被露光試料の側表面に高い間隔精度で繰り返しパターンを形成できる露光方法を提供できるようにすることである。 - 特許庁

To prevent sample liquid being supplied to a measurement unit from being evaporated and to improve measurement accuracy in a sensor utilizing total reflection attenuation due to surface plasmon resonance or the like.例文帳に追加

表面プラズモン共鳴等による全反射減衰を利用したセンサーにおいて、測定ユニットに供給された試料液の蒸発を防止し、測定精度を向上する。 - 特許庁

When there are defects, it sample-and-holds the low frequency components of the servo signals right before the defects are found, and adds eccentricity correction signals or surface wobble correction signals.例文帳に追加

これによりディフェクト検出時には、ディフェクト検出直前の各サーボ信号の低周波成分をホールドし、偏芯補正信号あるいは面振れ補正信号を加算する。 - 特許庁

To provide a mapping property measuring method, capable of measuring a high-reliability image clarity property, even when a light quantity distribution on the sample surface of a measuring object is large in width.例文帳に追加

被測定物のサンプル面の光量分布の幅が大きい場合でも信頼性の高い写像性の測定を行うことのできる写像性測定方法を提供する。 - 特許庁

Moreover, when the cantilever is arranged in measuring state, the non-sharpened tip part of the base probe is arranged closer to the sample surface than the tip of the joined part.例文帳に追加

また、カンチレバーを測定状態に配置したときに接合部先端よりもベース探針の非先鋭先端部が試料表面に近い位置に設けられるようにする。 - 特許庁

The coating part 1b is thereby charged with a positive charge, and a pH of the liquid sample gets alkaline to be optimum for the electrochemical luminescence, in the vicinity of the surface of the electrode 1.例文帳に追加

これにより、前記被覆部1bが正電荷に帯電し、前記電極1の表面近傍の液体試料のpHが電気化学発光に最適なアルカリ性に近くなる。 - 特許庁

Furthermore, line-like light which is formed by triply overlapping fiber grating elements used as the sidelight introducing means (4, 5) is introduced from the side surface of the transparent plate sample (2).例文帳に追加

また、側面光導入手段(4、5)として、ファイバーグレーティング素子を3重に重ねてライン状の光を形成し、これを透明板試料2の側面から導入する。 - 特許庁

When the three- dimensional image is synthesized from the image of the cut surface of the lamina sample 11, the alignment of each image is performed using the reference mark 12 applied to the carrier tape 2.例文帳に追加

各薄片試料10の切断面の画像から三次元イメージを合成する際、キャリアテープ2に付けられた基準マーク12を用いて各画像の位置合わせを行う。 - 特許庁

A spring 16 and a bellows 14 are then contracted to move the rupture shaft 10 in X-direction, and a gradient surface 11S collides to the tip P1 of the sample 11.例文帳に追加

すると、前記バネ16とベローズ14が縮まって破断軸10がX方向に移動し、前記勾配面11Sが試料1の先端部P1に衝突する。 - 特許庁

The surface of the solid sample is brought into contact with a contact liquid comprising water or an organic solvent containing ^1H, and is rotated around an axis inclined at a magic angle in a magnetostatic field.例文帳に追加

固体試料の表面に^1Hを含む水又は有機溶媒から成る接触液を接触させ、静磁場中でマジック角だけ傾けた軸の回りに高速回転させる。 - 特許庁

Accordingly, the polishing turning tool 3 performs two motions, rotation and revolution, so that movement to the surface of the sample 1 is equalized to reduce variation in polishing action.例文帳に追加

したがって、研磨バイト3は自転と公転の2つの運動が行えて試料1の表面に対する移動が平均化し、研磨作用のばらつきを低減できる。 - 特許庁

A sample liquid including the test substance, and the sensitizing dye are brought into contact with the surface of a working electrode to fix the sensitizing dye onto the working electrode through specific bonding.例文帳に追加

作用電極の表面に、被検物質を含む試料液および増感色素を接触させて、特異的結合を介して増感色素を作用電極に固定させる。 - 特許庁

A surface treatment apparatus 10 is an apparatus in which a disk-like sample-holding plate 14 is provided inside an enclosure 12 constituting a cylindrical circumferential wall.例文帳に追加

表面処理装置10は、円筒状の周囲壁を形成する筐体部12の内部に円板状の試料保持台14が設けられる構成を有する装置である。 - 特許庁

To provide a method of preventing non-specific adsorption of an organic matter to the surface of a material for constituting tools for use in experiments using a protein-containing biological sample.例文帳に追加

タンパク質含む生体試料を用いる実験に使用する器具類を構成する素材表面に対する、有機物の非特異的吸着防止方法を提供すること。 - 特許庁

To obtain a crystal orientation evaluation device, capable of rapidly and simply evaluating an in-plane distribution of the crystal particles having a specific crystal orientation on the surface of a sample.例文帳に追加

試料の表面における特定の結晶方位を有する結晶粒子の面内分布を迅速且つ簡便に評価できる結晶方位評価装置を得ること。 - 特許庁

To provide a confocal microscope for acquiring height information (e.g., ruggedness value) about a surface of a sample object to be observed, which is configured more easily and more inexpensively than in a conventional manner.例文帳に追加

観察する試料物体の表面の高さ情報(凹凸値など)を得るのに、従来に比べ、容易かつ安価に構成可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

例文

To manufacture an opening that can be brought extremely closer to a sample or a record medium surface at low costs in a manufacturing method of a minute-aperture-type near-field optical probe.例文帳に追加

微小開口型の近視野光プローブの作製方法において、サンプルあるいは記録媒体表面に極めて近接できる構造の開口を低コストで作製すること。 - 特許庁




  
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