「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an additive preparation containing an additive, an organic acid, a metal carbonate compound, and a surfactant which is capable of rendering the surface of a collection device to have properties that prevent the adsorption of components of a body fluid sample to the surface.例文帳に追加

添加剤、有機酸、炭酸金属化合物および採取装置の表面に体液サンプルの成分の吸着を防止する性質を持たせることが可能な界面活性剤を含む添加剤調製物を提供すること。 - 特許庁

According to this, the contact area of the outside surface of the tip part of the needle 10 with the inside surface of the insert port 90b is minimized, and the absolute quantity of the sample to be adhered to the contact portion can be thus reduced to reduce the cross contamination.例文帳に追加

それによって、ニードル１０の先端部外周面と挿入穴９０ｂの内周面との接触面積が小さくなり、その接触部分に付着する試料の絶対量が減ってクロスコンタミネーションを軽減することができる。 - 特許庁

When the atom (40) of the tip end of a probe is made access to the atom (50) of the surface of a sample, an interaction acting between the tip end atom and the surface atom becomes large and a physical quantity Q based on the interaction is gradually changed (area A).例文帳に追加

作用針の先端原子（４０）を試料の表面原子（５０）に近づけると、先端原子と表面原子との間に作用する相互作用が大きくなり、相互作用に基づく物理量Ｑが徐々に変化する（領域Ａ）。 - 特許庁

In the image of the surface shape obtained by measuring a standard sample having an acute projecting portion on the surface, the radius of a sectional portion is approximately calculated using a sectional view at the distance of arbitrary space from the maximum height of the projecting portion.例文帳に追加

表面に鋭角な凸部を有する標準試料を測定して得た表面形状像において、凸部最大高さから任意の間隔の距離における断面図を用いて断面部分半径を近似計算した。 - 特許庁

To provide a flaw inspection device capable of inspecting the flaw such as fine foreign matter, a crack, etc. on the upper surface of a transparent thin film at a high speed with high sensitivity in a sample such as a substrate or the like having the transparent thin film formed on its surface.例文帳に追加

表面に透明薄膜が形成された基板等の試料において、透明薄膜の上面の微小な異物、キズ等の欠陥を高感度且つ高速に検査することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

In the electrostatic chuck 4 consisting of a chuck electrode 41 and an insulation layer 42 provided on the surface of the relevant chuck electrode, a conductive layer 43 is formed on the entire part of the placing surface of insulation layer 42 to attract the sample.例文帳に追加

チャック電極４１と当該チャック電極の表面に設けた絶縁層４２とで構成される静電チャック４において、絶縁層４２における試料を吸着する載置面に全面に亘って導電層４３を形成する。 - 特許庁

When a process surface is inclined, even when the scanning plane and the mask surface are parallel to each other, inclination is determined from the processed figure and corrected to an opposite direction to the inclination by the biaxial tilt sample stage 4 to flatten the processed figure.例文帳に追加

またスキャン面とマスク面が平行になっていても加工面が斜めになる場合には、加工形状から傾きを求め傾きと反対方向に2軸チルト試料ステージ4で補正して加工形状が平らになるようにする。 - 特許庁

To provide a method for measuring the conductivity of the interface between the metal layer and a dielectric board of a sample having the metal layer formed in the board or the surface of the layer by suppressing the warp of the sample in the measurement of the conductivity of the layer.例文帳に追加

金属層界面の導電率測定において、試料の反りの発生を抑制し、同時に誘電体基板の内部に金属層が形成された試料における金属層の誘電体基板との界面や金属層の表面における導電率の測定方法を提供する。 - 特許庁

When the probe 12 is brought into contact with the surface of a sample, the leading end part of the probe 12 becomes a superconductive state by the pressure applied to the leading end part of the probe and the current-voltage characteristics between the probe 12 and the sample 13 are changed by Andreev reflection.例文帳に追加

探針１２を試料１３の表面に接触させると、それに伴って探針１２の先端部に加わる圧力によりこの先端部が超伝導状態となり、探針１２と試料１３との間の電流−電圧特性がアンドレーエフ反射により変化する。 - 特許庁

A heat ray radiation source, a sample piece disposed symmetrical with the center axis thereof, a transmission heat ray detector installed near the sample piece and a thermocamera to make the optical axis thereof match the center axis of the heat ray radiation source are arranged sequentially to measure the surface temperature of the transmission heat ray detector.例文帳に追加

熱線放射源、熱線放射源の中心軸に対称に配置した試料片、この試料片の近傍に設けた透過熱線受光体、および熱線放射源の中心軸に光軸を合致させたサーモカメラをこの順に配置し、透過熱線受光体の表面温度を測定する。 - 特許庁

The lapping method laps the surface of a machining sample 10 formed of ceramics by using a grinding wheel 6, and a working fluid 5 containing colloidal silica (a liquid in which silica particles are distributed like colloid) is supplied between the machining sample 10 and the grinding wheel 6 to perform lapping.例文帳に追加

ラッピング加工方法は、セラミックスよりなる加工サンプル１０の表面を砥石６によりラッピング加工するラッピング加工方法であって、コロイダルシリカ（シリカ粒子がコロイド状に分布している液体）を含む加工液５を加工サンプル１０と砥石６との間に供給してラッピング加工する。 - 特許庁

This device is made up of an interference light source part 10, a measuring part 20, and a signal processing part 30, and the measuring part 20 is provided with a hemispheric prism 21 made of Ge. an incident angle varying device 22, and a detector 23 for sensing totally reflected light from a surface of a sample, in a closed sample chamber.例文帳に追加

上記装置を干渉光源部１０、測定部２０及び信号処理部３０で構成し、測定部２０では、密閉した試料室内にＧｅからなる半球状プリズム２１と、入射角度可変装置２２と、サンプル表面からの全反射光を感知するディテクタ２３とを設ける。 - 特許庁

By this constitution, the angle of incidence of the ion beam with reference to the sample 4 becomes constant, a sputtering rate becomes constant over the whole sputtering region, and the composition in the depth direction from the surface of the sample can be analyzed with high accuracy over the whole sputtering region.例文帳に追加

この構成により、試料４に対するイオンビームの入射角は一定となるので、スパッタ領域全域にわたってスパッタレートが一定となり、もってスパッタ領域全域にわたって試料表面からの深さ方向における高精度な組成分析を行うことが可能となる。 - 特許庁

To provide a fine region analyzer using focused ion beams capable of simply and accurately reproducing the optimum positional relationship of a focused ion beam irradiation axis, an electronic beam irradiation axis, an axis of a secondary particle take-in port of the analyzer and a sample surface with each other when a sample is exchanged.例文帳に追加

試料交換を行った際に、集束イオンビーム照射軸と電子ビーム照射軸と分析装置の２次粒子取り込み口の軸および試料表面の最適な位置関係を、簡便に精度良く再現することのできる集束イオンビームを用いる微細部位解析装置を提供する。 - 特許庁

In analysis of an oil component adhering onto a solid sample surface or an oil component included in a liquid sample, when performing oil component extraction by supercritical fluid, the oil component is extracted selectively with high efficiency by using an extraction auxiliary agent wherein all hydrogens bonded to carbons are substituted by deuteriums.例文帳に追加

固体試料表面に付着した油分、あるいは液体試料に含有される油分の分析において、超臨界流体による油分抽出を行う際、炭素と結合した水素すべてが重水素で置換された抽出補助剤を用いて油分を選択的かつ高効率に抽出する。 - 特許庁

To provide a method capable of easily fabricating a sample for a transmission electron microscope in a short time without requiring troublesome pretreatments nor causing sample damage, for an organic material with a thin film of a metal or compound formed on at least one end surface thereof.例文帳に追加

有機材料表面の少なくとも片端面に金属薄膜あるいは化合物薄膜を成膜した材料について、面倒な前加工を施すことなく簡便、かつ短時間に、試料損傷を与えずに透過電子顕微鏡用試料を作製できる方法の提供。 - 特許庁

The sample container holder is equipped with a frame 10 for constituting the whole main frame, a lever 20 for grasping microplates along with the frame 10, a grip 30 for gripping the sample container holder 1 and the side surface guide 40 fixed to the frame 10 to prevent the shift of the side surfaces of a plurality of the microplates.例文帳に追加

全体の主枠を構成するフレーム１０と、フレーム１０と共にマイクロプレートを把持するレバー２０と、試料容器保持具１を把持するためのグリップ３０と、フレーム１０に固定され、複数のマイクロプレートの側面のずれを防止する側面ガイド４０とを備えている。 - 特許庁

To provide the simple life time measurement method of a semiconductor wafer for accurately measuring a life time value in a required sample substrate nearly without being affected by the life time value of a semiconductor sample surface, and at the same time for simultaneously treating and measuring a plurality of semiconductor wafers.例文帳に追加

半導体試料表面のライフタイム値の影響をほとんど受けることなく、必要とする試料基板中のライフタイム値を精度よく測定することが可能で、かつ簡便で同時に複数枚の処理及び測定が可能な半導体ウェーハのライフタイム測定方法。 - 特許庁

To provide an instrument and a method for measuring optical characteristics, reduced in limitation as to a measurable measuring object, capable of detecting quantitatively a double refraction distribution of the measuring object, in particular, suitable for analyzing a sample such as a biological sample in a surface state.例文帳に追加

計測可能な測定対象の制限が少なく、測定対象の複屈折分布を定量的に検出することが可能で、特に、生体などの試料を、面の状態で解析することに適した光学特性計測装置、及び、光学特性計測方法を提供する。 - 特許庁

To inspect an internal flaw at high sensitivity in a non-destructive state and in a non-contact state with a compact configuration without an operating part by performing ultrasonic excitation to a sample surface in non-contact state, and by observing a sample interior in non-contact state by means for optical interference measurement of a point exciting an ultrasonic wave.例文帳に追加

試料表面に非接触で超音波励起を行い、超音波を励起した点を光干渉計測する手段を用いた非接触で試料内部の観察を行うことにより、稼動部分が無く、コンパクトな構成で、高感度で非破壊・非接触に内部欠陥を検査する。 - 特許庁

A semisylindrical rear-open and front-open engaging projecting part 7 is integrally formed on the bottom surface of the merchandise sample 1 and engaging chips 13 having notches 19 are integrally connected with trailing ends 11 on both sides of a side part 9 of the merchandise sample 1.例文帳に追加

商品サンプル１の下端面５に半円柱形状の後面開放かつ上面開放の嵌め込み突部７を一体的に形成し、かつ、商品サンプル１の側面部９の両側の後端縁１１にそれぞれ、切り込み１９を有する係合片１３を一体的に接続しておく。 - 特許庁

Also, the space in the device contacting a second surface 32b is vacuumed and a primary line from a primary line (electron beam) irradiation equipment set up in the vacuumed space is irradiated to the liquid sample 20 via the film 32 so that the sample can be observed or inspected while holding it in the atmospheric pressure.例文帳に追加

また、第２の面３２ｂに接する装置内空間を減圧にし、該減圧空間に設置してある一次線（電子線）照射装置からの一次線を、膜３２を介して液体試料２０に照射することにより、試料を大気圧に保持したまま観察又は検査が可能となっている。 - 特許庁

<Microscope measurement> A surface of the self-adhesive layer is observed by a microscope, a bubble particle number existing within a sample circle that is picked up from an area of an A4 sheet size at random and has an area of 6 mm^2 is counted, and an average value of the numbers of bubble particles within five sample circles is computed.例文帳に追加

＜マイクロスコープ測定＞ 当該粘着剤層の表面をマイクロスコープ観察し、Ａ４シートサイズの面積の中からランダムに採取した面積６ｍｍ^２のサンプル円内に存在する気泡の粒の個数を数え、５個のサンプル円内の気泡の粒の個数の平均値を算出する。 - 特許庁

To reduce a beam drift deflecting an orbit of charged particles by a potential gradient generated by unevenness of the potential on the surface of a sample in a face of a charged particle beam irradiation area generated by electrification generated when an insulated sample is observed by the charged particle beams.例文帳に追加

絶縁物試料を荷電粒子線にて観察する際に発生する帯電によって、試料表面電位が荷電粒子線照射領域面内で不均一となることで生じる電位勾配により該荷電粒子線の軌道が偏向されるビームドリフトを低減する。 - 特許庁

This friction tester includes: a pedestal 2 placed on a sample 100; an opening part 4 formed on the pedestal 2; a slider 5 arranged on the opening part 4, and having a friction paper 9 mounted on the surface facing to the sample 100; and a sliding part 11 for reciprocating linearly the slider 5 in the opening part 4.例文帳に追加

試料１００上に載置される台座２と、台座２に形成された開口部４と、開口部４に配されて試料１００に対向する面に摩擦用紙９が取り付けられる摺動子５と、摺動子５を開口部４内で直線往復運動させる駆動部１１とを備えた。 - 特許庁

The control part 5 is equipped with a bubble moving means 6, and executes a process wherein gas dissolved into liquid in a sample container is generated as bubbles by driving the syringe in the sucking direction at high speed, and generated bubbles are raised to the vicinity of the liquid surface of the liquid in the sample container.例文帳に追加

制御部５は気泡移動手段６を備えており、シリンジを高速で吸引方向に駆動することによってサンプル容器内の液体に溶存する気体を気泡として発生させ、発生した気泡をサンプル容器内の液体の液面付近に上昇させる工程を実行する。 - 特許庁

To provide an NC-AFM capable of stably performing approach and the surface observation of a sample with proper resolving power even with respect to any sample in a non-contact atomic force microscope and the operation program thereof.例文帳に追加

本発明は非接触原子間力顕微鏡及び非接触原子間力顕微鏡の動作プログラム関し、どのような試料においても、適した分解能で安定にアプローチ及び試料表面観察をすることができるＮＣ−ＡＦＭを提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an X-ray photoelectron spectrometer and a total reflection X-ray photoelectron spectrometer capable of analyzing a sample with high accuracy by flattening the sample surface.例文帳に追加

本発明はＸ線光電子分光装置並びに全反射Ｘ線光電子分光装置に関し、試料表面を極めて平坦にすることにより、高精度の試料分析ができるようにしたＸ線光電子分光装置，全反射Ｘ線光電子分光装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

Hereby, the reflected and scattered light from the sample S can be detected without passage through the optical probe 10, and photodetection can be performed with a high S/N ratio regardless of the shape or optical characteristics of the sample surface Sa and the material or the thickness of a shielding coating film 13 of the optical probe 10, or the like.例文帳に追加

したがって、試料Ｓからの反射・散乱光を光プローブ１０を通すことなく検出することができ、試料表面Ｓａの形状、光学特性及び光プローブ１０の遮光性被覆膜１３の材質、膜厚等に関わらず、高Ｓ／Ｎ比で光検出を行うことができる。 - 特許庁

To provide an information detector having a scanning probe capable of measuring a wide range sample surface having a wider measuring range in the direction of height with high resolving power and at a high speed while minimizing breakage of a sample and the probe to detect information and an information detecting method.例文帳に追加

試料とプローブの破損を最小限に押さえながら、より広い高さ方向の測定レンジをもつ広範囲な試料面を、高分解能かつ高速に測定し、情報を検出することができる走査型プローブを有する情報検出装置及び方法を提供する。 - 特許庁

This method/instrument uses a metal ion having the convergency higher than Ar as a primary ion species, and an oxide 2 of an element reactive with a sample 1 is irradiated with a primary ion 3 under the condition where the oxide 2 is deposited on the surface of the sample 1, so as to generate a secondary ion 4.例文帳に追加

Ａｒより高い収束性を持つ金属元素のイオンを一次イオン種として用いるとともに、試料１と反応性に富む元素の酸化物２を試料１の表面に付着させた状態で一次イオン３を照射して二次イオン４を発生させる。 - 特許庁

A known standard defect 9 is provided in a sample 2, the defect appearing on a surface of the sample 2 is detected, and prescribed processing recipe evaluation information that varies in response to difference in a processing recipe used in the prescribed production process is acquired, based on a detection result of the standard defect 9.例文帳に追加

試料２に既知の標準欠陥９を設けて、試料２の表面に現れる欠陥を検出し、所定の製造プロセスで使用された処理レシピの相違に応じて変化する所定の処理レシピ評価情報を、標準欠陥９の検出結果に基づいて取得する。 - 特許庁

The analyzing method is characterized in that alkali metal (nitrite) nitrate set as a sample is heated to be brought to a molten state to carbonize the anticaking agent contained in the sample and the carbide precipitated on the liquid surface of the molten matter of the alkali metal (nitrite) nitrate is detected.例文帳に追加

本発明の分析方法は、試料とする(亜)硝酸アルカリ金属塩を溶融状態となるまで加熱することにより、前記試料に含まれる固結防止剤を炭化させて、前記(亜)硝酸アルカリ金属塩の溶融物の液面に析出する炭化物を検知することを特徴とする。 - 特許庁

To accurately align the position of a converging point of a propagating beam on a measurement surface of a sample on measuring a wide range with propagating light, and to always obtain the highest resolution by devising a method and a means to control the distance between a light probe and a sample.例文帳に追加

光プローブと試料間距離を制御する方法や手段について工夫することにより、伝搬光による広範囲測定において、伝搬光束の集光点を試料の被測定面に対して正確に位置調整して、常に最も高い分解能を実現すること。 - 特許庁

To provide a technique for obtaining accurate energy spectral for obtaining a sharp electron image by suppressing the charging or potential strain on the surface of an insulator sample, caused when the insulator sample is observed in the field of an photoemission electron microscopic technique, and to provide a photoemission electron microscope that applies this technique.例文帳に追加

放射電子顕微鏡技術の分野において、絶縁物試料を観察した際に生じる試料表面の帯電や電位歪みを抑制し、鮮明な電子像を得て正確なエネルギースペクトルを得るための手法と、それを応用した放射電子顕微鏡の提供。 - 特許庁

To prepare, in short time, a sample for total reflection fluorescent X-ray analysis, when the sample for the total reflection fluorescent X-ray analysis is prepared by concentrating, or evaporated to dryness in some cases, a HF solution drop used for collection and recovery of surface impurities on a semiconductor substrate such as an Si wafer.例文帳に追加

Ｓｉウエハ等の半導体基板の表面不純物を捕集回収したＨＦ液滴を濃縮し、場合により蒸発乾固させて全反射型蛍光Ｘ線分析試料を調製する際に、短時間で全反射型蛍光Ｘ線分析試料を調製できるようにする。 - 特許庁

A focal point of the optical microscope is converged on the sample surface under the condition where the probe is approached to the sample by the prove approaching mechanism, positional information of the driving mechanism is stored at this time, the focusing for the optical microscope in the automatic measurement is carried out using the positional information as a reference.例文帳に追加

探針接近機構により探針と試料を接近させた状態で試料表面に光学顕微鏡の焦点を合せ、このときの駆動機構部の位置情報を記憶し、位置情報を基準として自動測定時の光学顕微鏡の焦点合せを行う。 - 特許庁

The lapping method is a lapping method of a spherical body, in which a lapping is performed, by grinding stones 2a and 3a, for the surface of a spherical machining sample 7 made of silicon nitride ceramics and sialon ceramics and the grinding stones 2a and 3a include abrasive grains having hardness higher than that of the machining sample 7.例文帳に追加

ラッピング加工方法は、窒化ケイ素セラミックスやサイアロンセラミックスよりなる球状の加工サンプル７の表面を砥石２ａ、３ａによりラッピング加工する球体のラッピング加工方法であって、砥石２ａ、３ａは加工サンプル７よりも高硬度の砥粒を含んでいる。 - 特許庁

By using these devices, the structure of a molding mask is transferred to a sample upper surface highly precisely by casting parallel electron beam flux or parallel X-ray flux on an entire of a sample through a mold mask, and thereby various electronic elements having an ultra-fine structure can be manufactured.例文帳に追加

これらの装置を用い、型マスクを通して、試料全体に均一に平行電子線束、あるいは、平行Ｘ線束を照射して、型マスクの構造を試料上面に高精度に写しとることにより、超微細構造を持つ各種電子素子の製作が可能となった。 - 特許庁

To provide an eccentricity measuring device and an eccentricity measuring method capable of performing inexpensively various eccentricity measurement with high efficiency for a sample, and performing eccentricity measurement of a sample equipped with no guide means for record reproducing light of a group or the like on the disc surface.例文帳に追加

安価にして試料に対する多様な偏心測定を高能率に行うことができ、しかもディスク面にグルーブなどの記録再生用光の案内手段が備えられていない試料に対する偏心測定も可能な偏心測定装置及び偏心測定方法を提供する。 - 特許庁

At least two different images are read for the whole or one of a sample surface by an image reading means 17, such as a scanner 16, and the coordinates system of the read image is allowed to correspond to that of a sample stage 10 by a coordinates computing means 18.例文帳に追加

スキャナ16等の画像取込手段から、試料表面の全体又は一部について種類の異なる少なくとも二つの画像を画像読込手段17により読み込み、読み込まれた画像の座標系と試料ステージ10の座標系を座標演算手段18によって対応させる。 - 特許庁

The measurement chip 10 is composed by forming a dielectric block 11 having a surface 11a, where a metal film 12 is formed, and a light incident end face 11b and an emission end face 11c of a light beam and a sample retention section 13 for retaining a sample 15 on the metal film 12 in one piece.例文帳に追加

測定チップ10を、金属膜12が形成される面11ａ、光ビームの入射端面11ｂおよび出射端面11ｃを備えた誘電体ブロック11と、金属膜12上に試料15を保持する試料保持部13とが一体として構成され、さらにその底部に磁石10ａを備えたものとする。 - 特許庁

Further, light beams from a condenser lens system 11 is incident upon the back surface side of the element sample 3 (the side of the transparent substrate), in addition to the application of the electron beams, to obtain the applied voltage-current properties of the organic thin film to be measured when light is applied on the element sample 3.例文帳に追加

また、電子ビームの照射とともに、素子試料３の裏面側（透明基板側）に集光レンズ系１１からの光ビームを入射せしめることにより、素子試料３に光を照射したときの被測定有機薄膜の印加電圧−電流特性を得る。 - 特許庁

To provide a method for spark discharge atomic emission spectrometric analysis for maximizing a measurement region as an analysis point configured on a surface of a sample, implementing a component analysis of a sample according to a multiple-analysis logic, and improving the accuracy of the component analysis and a speed of an analysis process.例文帳に追加

本発明は、試料面上に設定される分析点である測定領域の最大化を図り、多回分析ロジックに従った試料の成分分析を行い、成分分析の高精度化、分析処理の高速化を実現したスパーク放電発光分光分析方法に関する。 - 特許庁

To efficiently treat surface of a sample for analyzing a component in metal under a vacuum condition by arc plasma, and to prevent contamination and the like in the sample to enhance analytical precision of analysis by a component-in-metal analyzer.例文帳に追加

金属中成分分析用の試料を、真空中でアークプラズマによる表面処理を能率よく行うと共に、試料のコンタミ等を防止し金属中成分分析装置による分析精度を向上させることができる金属中成分分析用試料の調整方法及び装置を提供する。 - 特許庁