「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(38ページ目) - Weblio英語例文検索

A charged potential voltage measuring method is presented for measuring a charged potential voltage on the surface of an insulating film of a sample, (for example, a semiconductor substrate) comprising at least one layer of an insulating film.例文帳に追加

少なくとも一層の絶縁膜を有する試料（たとえば、半導体基板）における絶縁膜表面の帯電電位を測定する帯電電位測定方法を提供する。 - 特許庁

To optimize the number of scanning times (integration times) in image integration process by grasping beforehand an extent of charging on the surface of a sample by irradiation of a primary electron beams.例文帳に追加

一次電子線の照射による試料表面における帯電の程度を予め把握することにより、画像積算処理における走査回数（積算回数）の最適化を図る。 - 特許庁

For example, a light receiving surface of a TV camera for photographing the electron beam diffraction image is directly and indirectly rotated by operating in linking with the crystal arrangement direction of the sample of the scanning transmission image.例文帳に追加

例えば、走査透過像の試料の結晶配列方向に連動して、電子線回折像を撮影するＴＶカメラの受光面を直接あるいは間接的に回転させる。 - 特許庁

A contrast agent layer 52 is pasted on the specific location of the surface 56 of the sample 4 by interaction of the particle beam 50 and/or the light beam 47 with the contrast agent precursor 51.例文帳に追加

粒子ビーム５０および／または光ビーム４７とコントラスト剤前駆体５１の相互作用によってコントラスト剤層５２を試料４の表面５６の特定の位置に貼付する。 - 特許庁

To suppress dynamic behavior while preventing drying of the surface of a sample by precisely spraying liquid in only the vicinity of an observation area without dispersing it to an objective lens and its periphery.例文帳に追加

液体を対物レンズや周辺に飛散させることなく観察範囲の近傍のみに正確に散布して試料の表面の乾燥を防止しつつ動的挙動を抑制する。 - 特許庁

To prevent the action of excessive force to a sample and to enhance measuring accuracy in the observation of a surface shape and the measurement of adsorbing power by a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による表面形状観察及び吸着力測定において、試料に対する過剰な力の作用を防止すると共に測定精度を高める。 - 特許庁

For example, the sample target 10 is constituted of a substrate 20 comprising a silica monolithic plate having a double pore structure and the Pt thin film 30 which covers the surface to be irradiated with the laser beam of the substrate 20.例文帳に追加

例えば、試料ターゲット１０を二重細孔構造を有するシリカモノリスプレートから成る基体２０と該基体のレーザー被照射面を被覆するPt薄膜３０とで構成する。 - 特許庁

Temperature rise of the sample 6 surface by irradiation of the focused charged particle beams 3 is measured by the scanning thermal microscope, and when it exceeds the prescribed temperature, processing is interrupted and is not performed until temperature drops.例文帳に追加

走査熱顕微鏡で集束荷電粒子ビーム3照射によるサンプル6表面の温度上昇測定し、所定温度を超える場合には加工を中断し、温度が下がるまで待つ。 - 特許庁

Once this relation is examined, the temperature at the minute part on the surface of the sample 4 can be determined by measuring the yield of the secondary Ga ion when analyzing the plurality of samples 4.例文帳に追加

この関係を一度調べれば、複数の試料４の分析時に、２次Gaイオンの収量を測定することで、試料４の表面の微細部位における温度を決定することができる。 - 特許庁

To optimize adjustment of a lens group for aberration correction and adjustment of thin laminar illumination light according to variation in optical path length (F×n) from a surface of a sample to a focal plane.例文帳に追加

標本の表面から焦点面までの光路長(Ｆ×ｎ)の変化に対応し、収差補正用のレンズ群の調整と薄層状の照明光の調整とを迅速に最適化する。 - 特許庁

A gas for protection membrane 18 is discharged from a gas gun for protection membrane on a surface of a tip cross-section of a capillary tube 5 having inner diameter 0.10 mm or less fixed on a sample table.例文帳に追加

試料台に固定された内径０．１０ｍｍ以下を有するキャピラリーチューブ５の先端断面の表面上に保護膜用ガス銃１３より保護膜用ガス１８を放出する。 - 特許庁

The sample liquid assay chip 10 includes an electrically insulative substrate 11, on the surface of which a plurality of electrode pairs are formed, and a cover glued to the substrate 11 through a spacer 12.例文帳に追加

試料液分析チップ１０は、表面に複数の電極対が形成された電気絶縁性の基板１１、スペーサ１２を介して基板１１と貼り合わされたカバーを備える。 - 特許庁

At a resonance mode calculation part 56, the resonance frequency is derived by using an assumed elastic constant, and the distribution of the vibration amplitude on the sample surface for the resonance frequency is calculated.例文帳に追加

共振モード演算部５６は、仮定した弾性定数を用いて共振周波数を求めるとともに、その共振周波数における試料表面の振動振幅の分布を演算する。 - 特許庁

The exciting light is reflected by the half mirror 12 to be incident on a Schwarz's mirror 14 and the incident light is condensed to the predetermined region of a sample surface 16 by the Schwarz's mirror 14 to be allowed to irradiate.例文帳に追加

励起光はハーフミラー１２で反射されてシュワルツ鏡１４に入射し、シュワルツ鏡１４によって試料面１６の所定の領域に集光されて照射される。 - 特許庁

An HNO_3 liquid is injected into a first treatment container, and a first etching liquid is prepared by adding an HF liquid, and then a metal impurity in a sample surface layer is contained in the etching liquid.例文帳に追加

第１処理容器にＨＮＯ_3液を注入し、ＨＦ液を添加して第１エッチング液を調製し、サンプル表層の金属不純物を第１エッチング液中に含ませる。 - 特許庁

Further a storage groove 53, which serves to store a portion of the reagent 56 therein and also to discharge it freely, whenever needed, is formed at an outer side than a corresponding region 52B of sample on the expansion flat surface 52A.例文帳に追加

また、展開平坦面５２Ａ上でサンプル対応領域５２Ｂより外側に試薬５６の一部を貯留すると共に、必要に応じて排出自在な貯留溝５３を形成する。 - 特許庁

Furthermore, the analyzing substrate 1 has an antireflection layer 4 provided on the surface on the detection side of emission produced, when the sample held to the flow channel-shaped cell 5 is irradiated with a light.例文帳に追加

さらに、分析用基板１は、流路状セル５に保持される試料に光を照射した際に生じる発光を検出する側の表面に反射防止層４を備えている。 - 特許庁

To execute the measurement by the suitable positional resolution, an analyzing radioactive ray is transmitted to the sample by an X-ray transmission capillary tube directed toward the s ample through the surface of a detector.例文帳に追加

適切な位置分解能で測定を実施するには、検出器面を通って試料に向けられたＸ線伝導毛細管により分析放射線が試料に伝導される。 - 特許庁

To speed up a probe microscope for detecting changes of resonance frequencies caused by a force generated when a vibrating probe is brought close to the surface of a sample and stabilize it by reducing noise.例文帳に追加

振動させたプローブを試料表面に近づけたときに生じる力による振動周波数の変化を検出するプローブ顕微鏡の高速化、ノイズ低減による安定化。 - 特許庁

The image of a sample surface la is directly picked up by an image pick-up means 14, and the image is monitored by a display means and at the same time an arbitrary fine site is specified and set by a control means.例文帳に追加

試料表面1aを直接撮像手段14により撮像し、その画像を表示手段15で見ながら任意の微小部位を指定して、制御手段16により設定する。 - 特許庁

The surface of the sample is rubbed with a copper wire before the analysis so that, in a figure, a peak is shown in the distribution of copper caused by segregation to the interface between a polycrystal silicon film and a silicon dioxide film.例文帳に追加

図には、分析前に試料表面を銅線で擦っておいたため、銅の分布に多結晶シリコン膜と二酸化シリコン膜界面への偏析に起因するピークが現れる。 - 特許庁

It is advantageous that the sample be a light permeable base material, and a reflecting plate 19 be provided to the rear surface of the base material and rubber springs be used as the cushioning members and a rubber suction cup used as the fixing means.例文帳に追加

試料が透光性基材で、該基材の裏面に反射板１９を設け、緩衝部材にゴムスプリングを使用し、固定手段にはゴム吸盤を使用すると有利である。 - 特許庁

To provide a droplet holder and an impurity recovery method having high droplet-holding ability on the surface of a substrate and capable of extending the range of a sample from which an impurity can be collected.例文帳に追加

基板表面上における液滴保持性が高く、不純物の回収が可能な試料の範囲を拡げることが可能な液滴保持具及び不純物回収方法を提供する。 - 特許庁

A silver thin film (thickness 50 nm) 2 and an SiO_2 film (thickness 10 nm) 7 are deposited in order on one side surface of a slide glass 1 by ion beam sputtering deposition, so that a supporting substrate for sample solution is formed.例文帳に追加

スライドガラス１の片面に、イオンビームスパッタ堆積法により銀薄膜（厚さ５０ｎｍ）２とＳｉＯ_２膜（厚さ１０ｎｍ）７を順に堆積したものを試料溶液の支持基板とする。 - 特許庁

To form uniform self organization film on a thin-film layer that is formed on the bottom surface of a container that retains the sample of a measurement chip used for a measuring apparatus that utilizes total reflection attenuation.例文帳に追加

全反射減衰を利用した測定装置に用いられる測定チップの試料を保する容器底面に形成された薄膜層上に均一な自己組織化膜を形成する。 - 特許庁

An optical element is processed by a sample tool manufactured in accordance with an optical element target shape of the lens, etc., and its spherical surface shape is precisely measured with a shape measuring instrument.例文帳に追加

レンズ等の光学素子目標形状に基づいて製作されたサンプル工具によって光学素子を加工し、その球面形状を形状測定器によって精密に測定する。 - 特許庁

To prevent chips caused at slicing from adhering again to a cutting plane in a slicing device repeating slicing of the surface of a sample and taking in data on the cutting plane in succession.例文帳に追加

試料の表層部分のスライスを繰り返しながら、順次、切断面のデータを取り込むスライサ装置において、スライスによって発生した切り屑が切断面に再付着することを防止する。 - 特許庁

The sample tray 550 has a female screw 564, extending to in between an outer peripheral surface and a flank of the center opening part 554 and a fixing screw 556 threadingly engaging the female screw 564.例文帳に追加

標本トレー５５０は、外周側面と中央の開口部５５４の側面との間に延びているメスネジ５６４と、メスネジ５６４に螺合している固定ネジ５６６とを有している。 - 特許庁

A plasma doping device is provided into such a structure that a plasma generating chamber 1 for generating a plasma and a doping chamber 2 for introducing impurities in the surface of a sample to be processed communicate with each other.例文帳に追加

プラズマを発生させるプラズマ発生室１と、被加工試料の表面に不純物を導入するためのドーピング室２とが、互いに連通するように設けられている。 - 特許庁

By setting the vibration frequency of a cantilever to both the outsides of the frequency band of the half-value width of a Q curve, the lever is allowed to attenuate easily, thus improving a following property for the sample surface.例文帳に追加

カンチレバ−の加振周波数をＱカ−ブの半値幅の周波数帯の両外側とすることで レバ−の減衰をしやすくし、試料表面に対する追随性を高めた。 - 特許庁

The chemical microdevice having a large number of the fine pattern holding parts, which hold the sample on the surface of the plate, formed thereto is obtained by injection molding using a plastic material.例文帳に追加

プラスチック材料を用いた射出成形によって、プレート１０の表面に試料１を保持させる微細パターンの保持部１１が多数形成されてなる化学マイクロデバイスを得るようにした。 - 特許庁

SIGNAL DETECTING DEVICE BY SCANNING PROBE, PROBE MICROSCOPE BY THE DEVICE, SIGNAL DETECTING METHOD BY SCANNING PROBE AND OBSERVING METHOD FOR OBSERVING SAMPLE SURFACE USING THE METHOD例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出装置、該装置によるプローブ顕微鏡、及び走査型プローブによる信号検出方法、該方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 - 特許庁

To shorten an approach time, concerning a control method for the distance between a probe of a scanning probe microscope and a sample surface, and to provide the scanning probe microscope.例文帳に追加

本発明は走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離制御方法及び走査型プローブ顕微鏡に関し、アプローチ時間を短縮することを目的としている。 - 特許庁

A scouring jet 13 discharges process fluid to remove solids and other contaminants from the surface of a sensor such as an infrared analyzer 9 contaminated in a main sample flow 8.例文帳に追加

メイン試料フロー８において汚染された赤外分析器９などのセンサの表面から、固体および他の汚染物質を除去するために、スカワリングジェット１３がプロセス流体を吐出する。 - 特許庁

The base 36 provides a flow path for a test sample having on its surface a counter electrode 42 and a working electrode 40 adapted to electrically communicate with a current detector.例文帳に追加

基部３６は、対向電極４２と、電流検出器と電気的に連通し得るようにされた作用電極４０とをその表面に有する、試験標本に対する流路を提供する。 - 特許庁

Three acoustic oscillation images of continuous times of the area of 90 μm×90 μm of the surface of a sample (a polycrystalline gold membrane on a crown glass substrate) are, for example, acquired.例文帳に追加

例えば、試料（クラウンガラス基板上に多結晶金薄膜）表面の９０μｍ×９０μｍの領域について、３つの連続する時刻における音響的揺動の画像を得た。 - 特許庁

The oblique incidence mirror for image formation 30 focuses the X-ray made incident on an incident area 35 out of the X-ray which irradiates the sample 60 to form an image at the position of a light receiving surface 41.例文帳に追加

結像用斜入射ミラー３０は試料６０に照射されたＸ線のうち入射領域３５に入射したＸ線を受光面４１の位置に結像させる。 - 特許庁

A sample vessel 20 is placed between a temperature regulation part 31 and a temperature regulation part 41 at both sides in the direction of plate thickness and come into surface contact with the temperature regulation part 31 and the temperature regulation part 41.例文帳に追加

サンプル容器２０は、板厚方向の両側から温度調節部３１および温度調節部４１に挟まれ、温度調節部３１および温度調節部４１と面接触する。 - 特許庁

To provide an absolute reflectivity measuring instrument which can allow a measuring light flux to be incident on the reflecting surface of a sample at an angle near to vertical incidence and can perform highly reliable measurement.例文帳に追加

測定用の光束を垂直入射に近い角度で試料反射面に入射でき、信頼性の高い測定を行うことのできる絶対反射率測定装置を提案すること。 - 特許庁

The first etching liquid treated is injected into a second treatment container, and a second etching liquid is prepared by adding the HF liquid, and then the metal impurity in the sample surface layer is included in the second etching liquid.例文帳に追加

処理後の第１エッチング液を第２処理容器に注入し、ＨＦ液を添加して第２エッチング液を調製し、サンプル表層の金属不純物を第２エッチング液中に含ませる。 - 特許庁

By forming sample pattern images in such a manner, a developing roller is rotated before the formation of the resist pattern images, thereby decreasing a nonuniform state of a toner layer held on the surface of the developing roller.例文帳に追加

このようにサンプルパターン像を形成することで、レジストパターン像の形成前に現像ローラを回転駆動し、該現像ローラ表面に担持されるトナー層の不均一性を緩和する。 - 特許庁

To perform sensing of high sensitivity by effectively capturing the substance to be measured in a sample cell on the surface of a plasmon active substrate or in the vicinity thereof in a sensing device.例文帳に追加

センシング装置において、試料セル中の被測定物質をプラズモン活性基体の表面又はその近傍に効果的に捕捉させて、高感度なセンシングを行うことを可能とする。 - 特許庁

The surface of a measuring sample including areas [V], [Pv], [Pi], [I] obtained by slicing a p type silicon monocrystal ingot in the axial direction is polluted with transition metals.例文帳に追加

ｐ型シリコン単結晶インゴットを軸方向にスライスして得られた領域［Ｖ］、領域［Ｐｖ］、領域［Ｐｉ］及び領域［Ｉ］を含む測定用サンプルの表面を遷移金属汚染させる。 - 特許庁

When the finish machining is completed, the focusing ion beam is applied to both side parts without any cutting machining from the upper part of the surface of the sample, and the cutting machining is executed.例文帳に追加

該仕上げ加工が終了したところで切り込み加工がなされていない両辺部に対し試料面上方より集束イオンビームを照射し、切り込み加工を実行する。 - 特許庁

An absolute distance measuring device based on a laser interferometer can combine measurement technologies of low, intermediate, and high resolution to determine an absolute distance to the surface of a sample.例文帳に追加

レーザ干渉計に基づく絶対的距離測定装置は、低、中、高解像度の測定技術を組み合わせて、サンプル表面までの絶対的距離を高解像度で求めることができる。 - 特許庁