「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(38ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a projector which enables even an image on the surface of a uncorroded metal sample focused on a screen to be clearly photographed with a digital camera.例文帳に追加

本発明は、スクリーンに結像させた非腐食の金属試料表面の像であっても、デジタルカメラによって鮮明に撮影可能な投影器を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an automatic inspection method and an automatic inspection apparatus of a non-metal inclusion for observing the sample surface of a metal material by a metal microscope having a camera and for inspecting the non-metal inclusion.例文帳に追加

金属材料の試料面を、カメラを付設した金属顕微鏡で観察し、非金属介在物の検査を行う非金属介在物の自動検査方法および装置に関する。 - 特許庁

The sample tray 550 has a female screw 564, extending to in between an outer peripheral surface and a flank of the center opening part 554 and a fixing screw 556 threadingly engaging the female screw 564.例文帳に追加

標本トレー５５０は、外周側面と中央の開口部５５４の側面との間に延びているメスネジ５６４と、メスネジ５６４に螺合している固定ネジ５６６とを有している。 - 特許庁

A plasma doping device is provided into such a structure that a plasma generating chamber 1 for generating a plasma and a doping chamber 2 for introducing impurities in the surface of a sample to be processed communicate with each other.例文帳に追加

プラズマを発生させるプラズマ発生室１と、被加工試料の表面に不純物を導入するためのドーピング室２とが、互いに連通するように設けられている。 - 特許庁

By setting the vibration frequency of a cantilever to both the outsides of the frequency band of the half-value width of a Q curve, the lever is allowed to attenuate easily, thus improving a following property for the sample surface.例文帳に追加

カンチレバ−の加振周波数をＱカ−ブの半値幅の周波数帯の両外側とすることで レバ−の減衰をしやすくし、試料表面に対する追随性を高めた。 - 特許庁

The base 36 provides a flow path for a test sample having on its surface a counter electrode 42 and a working electrode 40 adapted to electrically communicate with a current detector.例文帳に追加

基部３６は、対向電極４２と、電流検出器と電気的に連通し得るようにされた作用電極４０とをその表面に有する、試験標本に対する流路を提供する。 - 特許庁

At a resonance mode calculation part 56, the resonance frequency is derived by using an assumed elastic constant, and the distribution of the vibration amplitude on the sample surface for the resonance frequency is calculated.例文帳に追加

共振モード演算部５６は、仮定した弾性定数を用いて共振周波数を求めるとともに、その共振周波数における試料表面の振動振幅の分布を演算する。 - 特許庁

The chemical microdevice having a large number of the fine pattern holding parts, which hold the sample on the surface of the plate, formed thereto is obtained by injection molding using a plastic material.例文帳に追加

プラスチック材料を用いた射出成形によって、プレート１０の表面に試料１を保持させる微細パターンの保持部１１が多数形成されてなる化学マイクロデバイスを得るようにした。 - 特許庁

SIGNAL DETECTING DEVICE BY SCANNING PROBE, PROBE MICROSCOPE BY THE DEVICE, SIGNAL DETECTING METHOD BY SCANNING PROBE AND OBSERVING METHOD FOR OBSERVING SAMPLE SURFACE USING THE METHOD例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出装置、該装置によるプローブ顕微鏡、及び走査型プローブによる信号検出方法、該方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 - 特許庁

To shorten an approach time, concerning a control method for the distance between a probe of a scanning probe microscope and a sample surface, and to provide the scanning probe microscope.例文帳に追加

本発明は走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離制御方法及び走査型プローブ顕微鏡に関し、アプローチ時間を短縮することを目的としている。 - 特許庁

A scouring jet 13 discharges process fluid to remove solids and other contaminants from the surface of a sensor such as an infrared analyzer 9 contaminated in a main sample flow 8.例文帳に追加

メイン試料フロー８において汚染された赤外分析器９などのセンサの表面から、固体および他の汚染物質を除去するために、スカワリングジェット１３がプロセス流体を吐出する。 - 特許庁

The oblique incidence mirror for image formation 30 focuses the X-ray made incident on an incident area 35 out of the X-ray which irradiates the sample 60 to form an image at the position of a light receiving surface 41.例文帳に追加

結像用斜入射ミラー３０は試料６０に照射されたＸ線のうち入射領域３５に入射したＸ線を受光面４１の位置に結像させる。 - 特許庁

A sample vessel 20 is placed between a temperature regulation part 31 and a temperature regulation part 41 at both sides in the direction of plate thickness and come into surface contact with the temperature regulation part 31 and the temperature regulation part 41.例文帳に追加

サンプル容器２０は、板厚方向の両側から温度調節部３１および温度調節部４１に挟まれ、温度調節部３１および温度調節部４１と面接触する。 - 特許庁

To provide an absolute reflectivity measuring instrument which can allow a measuring light flux to be incident on the reflecting surface of a sample at an angle near to vertical incidence and can perform highly reliable measurement.例文帳に追加

測定用の光束を垂直入射に近い角度で試料反射面に入射でき、信頼性の高い測定を行うことのできる絶対反射率測定装置を提案すること。 - 特許庁

Three acoustic oscillation images of continuous times of the area of 90 μm×90 μm of the surface of a sample (a polycrystalline gold membrane on a crown glass substrate) are, for example, acquired.例文帳に追加

例えば、試料（クラウンガラス基板上に多結晶金薄膜）表面の９０μｍ×９０μｍの領域について、３つの連続する時刻における音響的揺動の画像を得た。 - 特許庁

To provide a method for simply producing an analyzing sample of the substance present on the surface of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板表面に存在する物質の分析用試料を簡単に生成することが可能な半導体基板表面に存在する物質の分析用試料生成方法を提供する。 - 特許庁

The base has the capillary channel 20 formed to the surface of the base to be adapted so as to move the liquid sample to the reaction region 21 formed in the base from an inlet 22.例文帳に追加

ベースは、液体試料を入口２２からベース中に形成された反応区域２１へと移動させるように適合されている、ベースの表面に形成された毛管路２０を有する。 - 特許庁

A base 100 of a shielding material support stage 23a, forming a shielding material support means, is equipped with a notch part 100a enabling a processing surface SA of the sample S to in the vertical directions.例文帳に追加

遮蔽材支持手段をなす遮蔽材支持ステージ２３ａの基台１００は、試料Ｓの加工面ＳＡが上下に通過可能とされた切り欠き部１００ａを備える。 - 特許庁

To make it possible to easily match a rate of enlargement of a secondary electron image and focusing conditions in the case where multi-beams are used in an electron beam system for detecting an image on the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面の画像を検出する電子線装置において、マルチビームを用いる場合の二次電子像の拡大率及び合焦条件を容易に合わせることを可能にする。 - 特許庁

To provide a proximity field optical probe which is high in efficiency of utilizing a light, capable of being used for an uneven surface of a sample and manufactured on a large scale.例文帳に追加

本発明は、光利用高率が高く、凹凸のある試料表面に対しても使用可能で、かつ大量製産可能な近接場光プローブを提供することを目的とする。 - 特許庁

A charged potential voltage measuring method is presented for measuring a charged potential voltage on the surface of an insulating film of a sample, (for example, a semiconductor substrate) comprising at least one layer of an insulating film.例文帳に追加

少なくとも一層の絶縁膜を有する試料（たとえば、半導体基板）における絶縁膜表面の帯電電位を測定する帯電電位測定方法を提供する。 - 特許庁

It is advantageous that the sample be a light permeable base material, and a reflecting plate 19 be provided to the rear surface of the base material and rubber springs be used as the cushioning members and a rubber suction cup used as the fixing means.例文帳に追加

試料が透光性基材で、該基材の裏面に反射板１９を設け、緩衝部材にゴムスプリングを使用し、固定手段にはゴム吸盤を使用すると有利である。 - 特許庁

To provide a droplet holder and an impurity recovery method having high droplet-holding ability on the surface of a substrate and capable of extending the range of a sample from which an impurity can be collected.例文帳に追加

基板表面上における液滴保持性が高く、不純物の回収が可能な試料の範囲を拡げることが可能な液滴保持具及び不純物回収方法を提供する。 - 特許庁

The first etching liquid treated is injected into a second treatment container, and a second etching liquid is prepared by adding the HF liquid, and then the metal impurity in the sample surface layer is included in the second etching liquid.例文帳に追加

処理後の第１エッチング液を第２処理容器に注入し、ＨＦ液を添加して第２エッチング液を調製し、サンプル表層の金属不純物を第２エッチング液中に含ませる。 - 特許庁

Further a storage groove 53, which serves to store a portion of the reagent 56 therein and also to discharge it freely, whenever needed, is formed at an outer side than a corresponding region 52B of sample on the expansion flat surface 52A.例文帳に追加

また、展開平坦面５２Ａ上でサンプル対応領域５２Ｂより外側に試薬５６の一部を貯留すると共に、必要に応じて排出自在な貯留溝５３を形成する。 - 特許庁

Furthermore, the analyzing substrate 1 has an antireflection layer 4 provided on the surface on the detection side of emission produced, when the sample held to the flow channel-shaped cell 5 is irradiated with a light.例文帳に追加

さらに、分析用基板１は、流路状セル５に保持される試料に光を照射した際に生じる発光を検出する側の表面に反射防止層４を備えている。 - 特許庁

The exciting light is reflected by the half mirror 12 to be incident on a Schwarz's mirror 14 and the incident light is condensed to the predetermined region of a sample surface 16 by the Schwarz's mirror 14 to be allowed to irradiate.例文帳に追加

励起光はハーフミラー１２で反射されてシュワルツ鏡１４に入射し、シュワルツ鏡１４によって試料面１６の所定の領域に集光されて照射される。 - 特許庁

An HNO_3 liquid is injected into a first treatment container, and a first etching liquid is prepared by adding an HF liquid, and then a metal impurity in a sample surface layer is contained in the etching liquid.例文帳に追加

第１処理容器にＨＮＯ_3液を注入し、ＨＦ液を添加して第１エッチング液を調製し、サンプル表層の金属不純物を第１エッチング液中に含ませる。 - 特許庁

To execute the measurement by the suitable positional resolution, an analyzing radioactive ray is transmitted to the sample by an X-ray transmission capillary tube directed toward the s ample through the surface of a detector.例文帳に追加

適切な位置分解能で測定を実施するには、検出器面を通って試料に向けられたＸ線伝導毛細管により分析放射線が試料に伝導される。 - 特許庁

To speed up a probe microscope for detecting changes of resonance frequencies caused by a force generated when a vibrating probe is brought close to the surface of a sample and stabilize it by reducing noise.例文帳に追加

振動させたプローブを試料表面に近づけたときに生じる力による振動周波数の変化を検出するプローブ顕微鏡の高速化、ノイズ低減による安定化。 - 特許庁

The image of a sample surface la is directly picked up by an image pick-up means 14, and the image is monitored by a display means and at the same time an arbitrary fine site is specified and set by a control means.例文帳に追加

試料表面1aを直接撮像手段14により撮像し、その画像を表示手段15で見ながら任意の微小部位を指定して、制御手段16により設定する。 - 特許庁

To provide a Raman spectrum detecting method which enables the quantitative detection of the amount of a specimen or the concentration of the specimen in a sample regardless of the intensification degree of the intensified electric field of a detection surface.例文帳に追加

検出面の増強電場の増強度によらず、被検体の量や試料中の濃度を定量的に検出することができるラマンスペクトル検出方法を提供することにある。 - 特許庁

When a driving voltage is applied by each driving electrode 51 formed on the bottom surface of each solution tank 21, 21, a cell C in a sample solution inputted into the channel 23 is moved.例文帳に追加

溶液槽２１，２１の底面に形成した駆動用電極５１によって駆動電圧を印加すると、流路２３に投入された試料溶液中の細胞Ｃが移動する。 - 特許庁

The surface of the sample is rubbed with a copper wire before the analysis so that, in a figure, a peak is shown in the distribution of copper caused by segregation to the interface between a polycrystal silicon film and a silicon dioxide film.例文帳に追加

図には、分析前に試料表面を銅線で擦っておいたため、銅の分布に多結晶シリコン膜と二酸化シリコン膜界面への偏析に起因するピークが現れる。 - 特許庁

The first reflecting mirror 102 is fixed to a driving shaft of a motor 106, which is arranged in the direction vertical to a paper surface and scans a measurement sample in the horizontal direction.例文帳に追加

第１反射鏡１０２はモータ１０６の駆動軸に取り付けられ、モータ１０６の駆動軸は紙面に垂直な方向に配設され、測定試料を水平方向に走査する。 - 特許庁

A sample container 101 has one wall surface or more formed from a material for transmitting the X rays.例文帳に追加

試料容器１０１は、Ｘ線が透過する材質でできた１つ以上の壁面を有し、壁面１０５に1次Ｘ線１０４が照射されるようにＸ線源１０３が配置されている。 - 特許庁

To monitor light that is as approximate as possible to the illumination light that is actually illuminating a sample surface, by constituting a reference system without using optical fibers or the like.例文帳に追加

参照系を、光学ファイバー等を用いることなく構成し、実際に試料面を照射している照明光になるべく近似した光をモニターすることができるようにする。 - 特許庁

The maximum dimensions Lx, Ly of a sample surface and a region where two visual fields on a photograph overlap on each other are input, and an SEM observation start point coordinate point at a magnification M is specified.例文帳に追加

試料表面の最大寸法Ｌ_x，Ｌ_y及び写真上における２視野の重なり合う範囲を入力し、倍率ＭにおけるＳＥＭ観察始点座標点を指定する。 - 特許庁

The heating means forms a desired temperature gradient in the sample stage surface 31.例文帳に追加

試料を載置する試料載置面３１と、試料載置面３１を加温する加温手段とを備えた試料載置装置１において、加温手段は試料載置面３１に所望の温度勾配を形成するものである。 - 特許庁

To realize the increase of sensitivity by catching a fluorescence emitted to a side having no light receiving system of the surface of a sample in order to increase the reading sensitivity as a reading instrument, to gather the same to the light receiving system.例文帳に追加

読み取り装置としての読み取り感度を上げるために、試料面の受光系のない側へ放射された蛍光を捕捉し受光系へ集め、感度増強を実現すること。 - 特許庁

By forming sample pattern images in such a manner, a developing roller is rotated before the formation of the resist pattern images, thereby decreasing a nonuniform state of a toner layer held on the surface of the developing roller.例文帳に追加

このようにサンプルパターン像を形成することで、レジストパターン像の形成前に現像ローラを回転駆動し、該現像ローラ表面に担持されるトナー層の不均一性を緩和する。 - 特許庁

When the finish machining is completed, the focusing ion beam is applied to both side parts without any cutting machining from the upper part of the surface of the sample, and the cutting machining is executed.例文帳に追加

該仕上げ加工が終了したところで切り込み加工がなされていない両辺部に対し試料面上方より集束イオンビームを照射し、切り込み加工を実行する。 - 特許庁

An absolute distance measuring device based on a laser interferometer can combine measurement technologies of low, intermediate, and high resolution to determine an absolute distance to the surface of a sample.例文帳に追加

レーザ干渉計に基づく絶対的距離測定装置は、低、中、高解像度の測定技術を組み合わせて、サンプル表面までの絶対的距離を高解像度で求めることができる。 - 特許庁

To perform sensing of high sensitivity by effectively capturing the substance to be measured in a sample cell on the surface of a plasmon active substrate or in the vicinity thereof in a sensing device.例文帳に追加

センシング装置において、試料セル中の被測定物質をプラズモン活性基体の表面又はその近傍に効果的に捕捉させて、高感度なセンシングを行うことを可能とする。 - 特許庁

The surface of a measuring sample including areas [V], [Pv], [Pi], [I] obtained by slicing a p type silicon monocrystal ingot in the axial direction is polluted with transition metals.例文帳に追加

ｐ型シリコン単結晶インゴットを軸方向にスライスして得られた領域［Ｖ］、領域［Ｐｖ］、領域［Ｐｉ］及び領域［Ｉ］を含む測定用サンプルの表面を遷移金属汚染させる。 - 特許庁