| 例文 |
sample surfaceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2601件
Intensity of light reaching a resist film on a solid sample has a value suitable even to an upper part and a bottom part of the solid by imparting a function of attenuating light to a liquid for immersion exposure, and a suitable exposure intensity distribution is then formed over the entire sample surface, thereby surely reducing formation of an abnormal pattern due to reflected light.例文帳に追加
液浸露光の液体に、光減衰の機能を加えることにより、立体サンプル上のレジスト膜に到達する光強度を、立体の上部にも底部にも適正な値にでき、サンプル表面上の全体に適正な露光強度分布を形成できるので、反射光による異常パターンの発生を確実に低減できる。 - 特許庁
A surface density of the neutron absorbing material is obtained by counting, by the neutron measuring element 17, thermal neutrons permeating the measurement sample S among the thermal neutrons, a part of the scattered and reflected neutrons R, and the content rate of the neutron absorbing material in the measurement sample S is measured.例文帳に追加
この散乱反射中性子Rの一部である熱中性子のうち測定試験体Sを透過する熱中性子を中性子測定素子17により計数することで中性子吸収物質の表面密度を求め、この測定試験体Sの中性子吸収物質の含有率を測定する。 - 特許庁
To provide a diffusion testing device, enabling casting surely even with 1 mm or less of sample diameter, reduced in the possibility of contamination in a sample by an impurity in a gas, not affected by Marangoni convection caused by a free surface, and precluded from the possibility that the gas infiltrates into a capillary even in a gravity-free or very low gravity environment.例文帳に追加
試料径が1mm程度以下でも確実に鋳込むことができ、ガス中の不純物による試料の汚染のおそれが少なく、自由表面によるマランゴニ対流の影響がなく、無重力又は微小重力環境下でも、ガスがキャピラリー内に入り込むおそれがない拡散試験装置を提供する。 - 特許庁
The measured region and the measurement period are determined from a change in the intensity of the fluorescence emitted from the plasma 7 at each wavelength generated, by irradiating the sample 6 with the pulse laser light 3 to the distance from the surface of the sample 6, and a change in the pulse laser light 3 with respect to the elapsed time, after it is irradiated.例文帳に追加
計測領域および計測期間は、パルスレーザー光3が試料6に照射されて発生するプラズマ7から放出される蛍光の波長ごとの強度の試料6の表面からの距離に対する変化およびパルスレーザー光3の照射後の経過時間に対する変化に基づいて決定する。 - 特許庁
In the reflected X-ray small angle scattering device for irradiating the sample 5 on a substrate with X rays at a fine angle and measuring X rays scattered from the sample using a two-dimensional detector 6, an attenuation mechanism 7 for attenuating a part of the intensity of X rays measured on the surface of the detector 6.例文帳に追加
基板上の試料5に対してX線を微小角度で照射し、前記試料から散乱されるX線を2次元型の検出器6を用いて測定する反射X線小角散乱装置において、前記検出器6面上で測定されるX線の強度の一部を減衰させる減衰機構7を設ける。 - 特許庁
The method for separating and collecting acid-fast bacteria consists of the process for bringing lectin to be combined with the surface of acid-fast bacteria into contact with the acid-fast bacteria in a sample and forming composite bodies of acid-fast bacteria and lectin and a process for combining the composite bodies with carriers and for separating and collecting the acid-fast bacteria from the sample.例文帳に追加
抗酸菌表面に結合するレクチンと、試料中の抗酸菌とを接触させ、抗酸菌とレクチンとの複合体を形成する工程、前記の複合体を担体と結合させて抗酸菌を試料から分離回収する工程、からなる抗酸菌の分離回収方法により前記課題を解決する。 - 特許庁
The device further includes a sink capable of supporting or controlling flow rate of a sample passing through the transportation or culture zone, the sink has an area having a projection which is substantially perpendicular to the surface of the sink, and is constituted so as to respond to an external influence restricting a capability of receiving the liquid crystal sample.例文帳に追加
また、輸送又は培養ゾーンを通るサンプルの流速を支持又は制御できるシンクを更に備えており、このシンクが、その表面に対して実質的に垂直な突起を有する領域を備えていて、液体サンプルを受け取る能力を規制する外的影響に対して応答するようになっている。 - 特許庁
Two points of the auxiliary sample 114 disposed in the periphery of the sample are measured by the displacement sensors 134, 136, and its surface shape is acquired, thereby enabling errors of a straightness error of the linear-movable slide 142, a rotational motion error of the rotatable spindle 112 and systematic errors caused by thermal expansion and the like to be all eliminated.例文帳に追加
試料外周部に設けた補助試料114を変位センサ134,136で2点測定して、表面形状を求めておくことにより、直動スライド142の真直度誤差、回転スピンドル112の回転運動誤差、熱膨張などによる系統誤差を全て除去できるようにしている。 - 特許庁
A solid bar-like light guide made of, for example, an elastomer resin for illuminating a transparent panel that is a display part of sheet-like film sample by releasing a light introduced from its end from the circumferential surface the transparent panel is arranged in a ring shape along the circumference of the film sample held on the transparent panel.例文帳に追加
シート状のフィルム見本の展示部をなす透明パネルに、その端部から導入された光を外周面から放出して前記透明パネルをイルミネーション照明する為の、例えばエストラマー樹脂製の中実棒状の導光体を、該透明パネルに保持したフィルム見本の外周に沿ってリング状に配設する。 - 特許庁
To provide a method capable of simply aggregating magnetic particles having a surface modified with a thermoresponsive polymer at a given temperature without heating or cooling an aqueous solution containing an adsorbent and a sample, and to provide a separation method and a detection method of a substance to be detected in the sample using the method.例文帳に追加
吸着剤と検体とを含む水溶液を加熱または冷却せず、一定温度で簡便に温度応答性高分子表面修飾磁性粒子を凝集させることができる方法、及びこの方法を適用した検体中の検出対象物質の分離方法、検出方法を提供すること。 - 特許庁
Before the tip of a probe 4 relatively scans a sample 33 and the surface shape is measured, the probe 4 and a displacement sensor 21 are positioned so as to dispose the tip of the probe 4 on a measurement axis L of the displacement sensor 21 for detecting a position of a stage for placing the sample 33 in the Z direction.例文帳に追加
試料33とプローブ4先端とを相対的に走査させて、表面形状を測定する前に、試料33が載置されているステージのZ方向の位置を検出する変位センサ21の測定軸L上に、プローブ4の先端が配置されるように、プローブ4と変位センサ21との位置決めを行う。 - 特許庁
A scribing device 10 is equipped with a table 11 for placing and holding a semiconductor wafer 1 and is further equipped with a wheel cutter 24 for forming a scribe groove 2, corresponding to the contour of each sample piece on the surface of the wafer 1 held on the table 11, and a scriber 34 for engraving an identification mark by each region of respective sample piece.例文帳に追加
スクライブ装置10は、半導体ウェーハ1を載置し保持するテーブル11を備え、このテーブル11上に保持されたウェーハ1の表面に対し、各サンプル片の輪郭に対応してスクライブ溝2を形成するホイールカッター24と、各サンプル片の領域ごとに識別記号を彫刻する罫書針34と、を備える。 - 特許庁
The sample preparation method for the time-of-flight secondary ion mass spectrometry includes processes of: forming a solution of the mass-axis calibration material; forming a solution of the fragmentation-suppressing substance; and spraying the two types of solutions to the sample surface through the use of nebulizer.例文帳に追加
飛行時間型二次イオン質量分析のための試料作成方法であって、質量軸校正物質を溶液化する工程と、フラグメンテーション抑制物質を溶液化する工程と、ネブライザーを用いて前記二種の溶液を試料表面に噴霧する工程とを含むことを特徴とする試料作成方法である。 - 特許庁
To suppress nonconformities caused mainly by deposits on the surface of an article in a vacuum analytical system with high efficiency, satisfactory operability, without being subjected to restriction by an article in an apparatus which analyzes charged particles or the energy generated by applying energy to a sample, in a sample chamber which is a part of the analytical system.例文帳に追加
真空分析系の一部である試料室内で、エネルギーを試料に与えることにより発生する荷電粒子またはエネルギーを分析する装置において、分析系内の物品表面上の付着物により主に発生する不都合を、高効率で、操作性良好に、物品による制限を受けること無く、抑制する。 - 特許庁
In the optical surface measurement apparatus that radiates polarized plane wave to a sample 1 and measures variation of the polarized state by reflection on the sample 1 with a sensor 11, a polarizing element 8 is disposed on the focal point of a lens 7 on the reflection side.例文帳に追加
ある偏光状態にある平面波を試料1に照射し試料1の反射による偏光状態の変化をセンサー11によって測定することを特徴とする光学式表面測定装置において、反射側のレンズ7の焦点に偏光素子8を置くことを特徴とする表面測定装置。 - 特許庁
Conventionally, processes for resist coating→exposure→the etching of the opening parts→anodizing treatment→the removal of a resist are required in order to form the spot like well for fixing the sample but, since one anodizing treatment process to the whole surface may be performed, this sample plate is advantageous from an aspect of a manufacturing process, a working time, and a process cost.例文帳に追加
従来はサンプルを固着させるスポット状のウェルを形成するために、レジスト塗布→露光→開口部エッチング→アノーダイジング処理→レジスト除去などの工程が必要であったが、本発明では全面へのアノーダイジング処理1工程だけで済むため、作製工程や作業時間、製造コストの面で有利である。 - 特許庁
SYSTEM FOR MEASURING SURFACE CHARACTERISTICS HAVING FORM BIREFRINGENCE, METHOD FOR MEASURING CHARACTERISTIC SIZE HAVING FORM BIREFRINGENCE, APPARATUS FOR MEASURING CRITICAL DIMENSION ON ANISOTROPIC SAMPLE WITH HIGH LATERAL RESOLUTION, AND METHOD FOR OBTAINING CRITICAL DIMENSION ON SAMPLE WITH HIGH LATERAL RESOLUTION例文帳に追加
形状複屈折を有する表面特徴を測定するためのシステムおよび形状複屈折を有する特徴サイズを測定するための方法および高い横方向分解能で異方性サンプル上でクリティカルディメンションを測定するための装置および高い横方向分解能でサンプルにおけるクリティカルディメンションを求めるための方法 - 特許庁
The scanning electromagnetic wave microscope is characterized by that it comprises an electromagnetic wave generating means, an electromagnetic wave emitting means or an electromagnetic wave inducing means of emitting or propagating an electromagnetic wave generated by the electromagnetic wave generating means to one or both of a probe and the sample, and the probe provided near the sample surface.例文帳に追加
本発明の走査型電磁波顕微鏡は、電磁波発生手段と、電磁波発生手段で発生させた電磁波をプローブやサンプルの一方、または双方に入射または伝播させる電磁波入射手段または電磁波誘導手段と、サンプル表面に近接して設けられたプローブとからなることを特徴とする。 - 特許庁
The power sample molding jig for surface analysis has a holder having a hole for filling powder, a lower plate for sealing the lower end of the power filling hole, and a holder having a punch section for sealing and pressing the powder from the other end of the power filing hole, and the power sample pressure forming method uses the jig.例文帳に追加
本発明は、粉末充填穴付きホルダー、粉末充填穴の下端を封止する下部板、およびその粉末を粉末充填穴の他端から封止、プレスするパンチ部付きホルダーを有する表面分析用の粉末試料成形治具およびそれを用いた粉末試料加圧成形方法である。 - 特許庁
The method has characteristics, wherein the surface where the adhesive layer 12 of the sample film 1 is not provided is fixed to the fixing part 2, and the elastic member 3 is pressed with a prescribed pushing pressure, controlled by the pressure control part 5 onto the adhesive layer 12 of the fixed sample film 1 and slid in the prescribed number of times from a fixed direction.例文帳に追加
そして、固定部2に、供試フィルム1の粘着層12が設けられていない側の面を固定し、固定された供試フィルム1の粘着層12上に弾性部材3を、圧力制御部5によって制御された所定の押圧力で押圧するとともに、一定の方向から所定回数摺動させることを特徴とする。 - 特許庁
In the method for analyzing the sample, the sample including a ligand is brought to bond to a receptor which can specifically bond to the ligand, and while applying the receptor with an external vibration, a change caused by the bonding of the receptor and the ligand is analyzed, by measuring the frequency characteristic of a surface plasmon resonance angle.例文帳に追加
サンプルの分析方法において、リガンドを含むサンプルをそのリガンド特異的に結合しうるレセプターとを結合させ、前記レセプターに外部振動を与えながら、前記レセプターと前記リガンドとの結合により生じた変化を、表面プラズモン共鳴角の周波数特性を測定することにより、分析する。 - 特許庁
An apparatus (10) of simulating mastication by crushing and triturating a sample (S) includes at least a container (20A) in which the sample (S) is contained and a pair of mastication simulating teeth (31, 32) disposed facing each other so that one of the simulating teeth slides toward the other along the inner wall surface (22) of the container (20A).例文帳に追加
試料(S)を破砕及び摩砕することにより、咀嚼を模擬するための装置(10)であって、前記試料(S)を収容するための容体(20A)と、該容体(20A)の内壁面(22)に沿って一方が他方に向かって摺動するように、対向して配設された一対の咀嚼擬似歯(31,32)と、を少なくとも備えてなる。 - 特許庁
Furthermore, since the space between the objective lens and the sample is immersed in the liquid which has a refractive index approximate to that of a transparent film, even in the case a transparent interlayer insulating film is formed on the surface of a sample, fracturing of amplitude at an interface between the liquid and the insulating film is suppressed, and unevenness of brightness caused by thin film interferences is reduced.例文帳に追加
さらに、対物レンズと試料の間を透明膜に近い屈折率の液体で浸すことにより、試料表面に透明な層間絶縁膜が形成されている場合においても液と絶縁膜界面での振幅分割を抑制し、薄膜干渉による明るさむらを低減する。 - 特許庁
It is a high surface area multiple capillary sample preparation device useful particularly for handling of biosamples, which is equipped with a plurality of a uniform capillary tube covered with a stationary phase and arranged in an integral element.例文帳に追加
固定相で被覆され、一体要素内に配置された複数の均一なキャピラリー管を備える、生体試料の取扱いに特に有用な高表面積マルチキャピラリー試料調製装置である。 - 特許庁
A controller 111 controls a scanning confocal microscope 100, and sequentially acquires a slice image for an observation surface for each height of a sample 101 over an acquired range in the height direction.例文帳に追加
コントローラ111は、走査型共焦点顕微鏡100を制御して、試料101の高さ毎の観察面に対するスライス画像を、高さ方向の取得範囲に亘り順次取得させる。 - 特許庁
A detecting means 6 detects the approach or contact of the probe 2 with the sample surface S by detecting the variation of the oscillation frequency of the probe 2 by the interaction force, and samples the observation data.例文帳に追加
検出手段6により、相互作用力による探針2の振動周波数の変化を検出することで、探針2と試料表面Sとの接近又は接触を検出し、観測データを採取する。 - 特許庁
To provide an automatic slicing apparatus and an automatic slicing method capable of continuously collecting slices of a prescribed thickness from a surface to be cut even if a sample block is temporarily removed from a carriage.例文帳に追加
試料ブロックを一旦切削台から取り外しても、所定の厚さの薄切片を切削面から連続して採取することができる自動薄切装置及び自動薄切方法を提供すること。 - 特許庁
External light, which has entered from the illumination aperture 105h of the stage 105, is reflected by the surface S1 of the field stop 210, so that the back of the sample 116 can be made brighter than heretofore.例文帳に追加
ステージ105の照明用開口105hから入り込んだ外光が視野絞り210の面S1で反射することで、標本116のバックを従来よりも明るくすることができる。 - 特許庁
The reference image includes an image of a sample surface acquired by an image acquiring section 4; an image from a cell reference image producing section 301; and an image from a CAD data reference image producing section 302.例文帳に追加
参照画像には、画像取得部4によって得られた試料表面の画像、セル参照画像生成部301からの画像、CADデータ参照画像生成部302からの画像が含まれる。 - 特許庁
In staining the specimen, the total amount of the liquid after sample preparation is filtered through a microorganisms-retrieving filter 7 and residues other than the microorganisms on the surface of the filter are washed with filtered and sterilized water.例文帳に追加
検体染色において、微生物採取用フィルタ7でサンプル調製後の液体を全量ろ過しフィルタ表面の微生物以外の残留成分をろ過滅菌水にて洗浄を行う。 - 特許庁
An adhesive is applied to the surface to be observed of a material (a), which is a cross section sample for microscopic observation, and this coated material (a) is bonded to a material (dummy material) (b) same to the material (a) or having hardness which is about the same as that of the material (a) (i).例文帳に追加
顕微鏡観察用断面試料である材料(a)の、観察される表面に接着剤を塗布し、材料(a)と同じか、硬度が同程度である材料(ダミー材料)(b)と貼り合わせる(i)。 - 特許庁
This micro hardness meter 1 provided with an indenter 3 pressed into a surface of the sample is provided with a micro irregular face 3a having a prescribed value or more of area and formed with micro irregular parts, in a tip part of the indenter 3.例文帳に追加
試料の表面に押し込む圧子3を備えた微小硬度計1の圧子3の先端部に、所定値以上の面積を有し、且つ微小な凹凸が形成された微小凹凸面3aを設ける。 - 特許庁
An optical flow cell for executing scattered light measurement to a sample carried by a liquid is often affected by fine particle material adhering to an optical surface inside the flow cell.例文帳に追加
たとえば液体によって運ばれる試料に対して散乱光測定を行なうために使用される光学フローセルは、しばしば内部の光学表面に付着する微粒子材料によって影響される。 - 特許庁
A measuring point is determined as a plurality of discrete sampling positions at a fixed interval, and the probe travels while being separated from the sample surface being retracted when traveling between the sampling positions.例文帳に追加
測定箇所が一定間隔で離散的な複数のサンプリング位置として定められ、サンプリング位置の間の移動の際には探針は退避させられ試料表面から離れた状態で移動する。 - 特許庁
The sample manufacturing substrate is constituted by providing a plurality of mutually parallel first recesses and a plurality of the mutually parallel second recesses crossing them to the surface of a substrate.例文帳に追加
基板の表面に複数の互いに平行な第一の凹条部とそれらに交差する複数の互いに平行な第二の凹条部とが設けられていることを特徴とする試料作製用基板。 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope, capable of observing a sample of which the surface is extremely soft by enhancing the accuracy (S/N ratio) of a detection signal and the reliability of feedback control.例文帳に追加
表面が極めて柔らかい試料等を、検出信号の精度(S/N比)が高く、かつフィードバック制御を信頼性高くして観察することのできる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
The analyte in the sample is detected using a thin film device through variation of the spectrum of light impinging on the surface of the analyte before and after the analyte is bound to a binding layer on the substrate thereof.例文帳に追加
薄膜デバイスを使用し、その基質上の結合層に対する分析対象物の結合前後の表面に当る光のスペクトル変化を通して試料中の分析対象物を検出する。 - 特許庁
To remove adsorbed water in a charged droplet etching gun mounting chamber, concerning a sample surface contaminant removal method and a device using charged droplet etching.例文帳に追加
本発明は帯電液滴エッチングを用いた試料表面汚染物除去方法及び装置に関し、帯電液滴エッチング銃装着チャンバ内の吸着水を除去することを目的としている。 - 特許庁
Then, on the upper surface of the thin-film sample 2 positioned near the mark 3 where ultrahigh-voltage electron rays are applied with an area near the mark 3 as an irradiation part, there is formed a protective film 4.例文帳に追加
そして、マーク3近傍を照射部位として、超高圧電子線の照射が行なわれ、マーク3の近傍に位置する薄膜試料2の上面にて、保護膜4の形成が行なわれる。 - 特許庁
To provide a cantilever of which probe can vertically approach a sample surface and which is especially suitable for observations and measurements of a structure having large irregularities and a deep groove structure and to provide a method for manufacturing the same.例文帳に追加
試料表面に対してプローブが垂直にアプローチすることができ、特に凹凸の大きな構造や深溝構造の観察及び測定に適したカンチレバーとその製造方法を提供すること。 - 特許庁
The inclusion in the metal is analyzed by attaching substance particles to the surface of a sample, then by measuring emission pulses by performing spark discharge, and by selecting/analyzing the emission pulses with the information on the inclusion.例文帳に追加
試料表面に物質粒子を付着させた後、スパ−ク放電を行って発光パルスを計測し、介在物の情報を持つ発光パルスを選別・解析して、金属中の介在物を分析する。 - 特許庁
In staining the specimen, the total amount of the liquid after the sample preparation is filtered through a microorganism-retrieving filter 7 and residue components other than the microorganisms on the surface of the filter are washed with filter-sterilized water.例文帳に追加
検体染色において、微生物採取用フィルタ7でサンプル調製後の液体を全量ろ過しフィルタ表面の微生物以外の残留成分をろ過滅菌水にて洗浄を行う。 - 特許庁
A small-sized drill is connected to a small-sized soil sampler and drilling is carried out by a waterless digging, so that a small soil sample of 25 mm to 40 mm in diameter is taken within a range of 2 to 3 m in depth from the ground surface.例文帳に追加
小型の土壌サンプラーへ小型ドリルを連結し、これを無水掘りで削孔し、地表面より深さ2〜3m程度の範囲内で直径25mm〜40mm程度の小さい土壌サンプルを採取する。 - 特許庁
Many hydrophobic regions 705 are arranged at a channel where a sample passes at an nearly equal interval, and a region other than the hydrophobic regions 705 is in structure where the surface of a hydrophilic substrate 701 is exposed.例文帳に追加
試料の通る流路に、多数の疎水性領域705を略等間隔で配設し、疎水性領域705以外の領域は親水性基板701の表面が露出した構造とする。 - 特許庁
This sample bottle is provided with a filter layer having light transmissivity of a selected and prescribed value, or a filter layer having light reflectivity of a selected and prescribed value, and a reflection layer provided on its rear surface.例文帳に追加
所定値に選択された透過光率を有するフィルター層、又は所定値に選択された反射光率を有する、フィルター層及びその裏面に設けられた反射層をサンプル壜に設ける。 - 特許庁
To provide an exposure apparatus for adjusting the landing angle in higher accuracy so as to form multiple beams perpendicular to the front surface of a sample, and to provide a method for manufacturing a device that uses the exposure apparatus.例文帳に追加
マルチビームが試料面に対して垂直になるようにランディング角を高精度に調整することができる露光装置、及びその露光装置を用いたデバイス製造方法を提供する。 - 特許庁
Since conventionally required operation for transferring a support containing the sample after the unidimensional electrophoresis to the surface of the two-dimensional electrophoresis is dispensed with, the automation of a two-dimensional electrophoretic apparatus becomes easy.例文帳に追加
従来必要であった1次元目の電気泳動後試料を含む支持体を2次元目の電気泳動用支持体上へ移し替える操作が不要であるので、電気泳動装置の自動化が容易になる。 - 特許庁
To provide a spectrochemical analysis device for analyzing the state of the surface of a sample under presence of an atmosphere medium, and to provide a spectrochemical analysis device for analyzing the state of the interface between materials receiving friction.例文帳に追加
雰囲気媒体の存在下での試料表面の状態を分析する分光分析装置、及び摩擦を受けている材料の間の界面の状態を分析する分光分析装置を提供する。 - 特許庁
Two compressive fixing means 15 such as a jack or the like for fixing detachably the lower face plate 5b of the sample piece 1 are installed on the internal surface of the guide frame 13 opposite to the clamp means 14.例文帳に追加
クランプ手段14と相対向するガイドフレーム13の内壁面には、供試体1の下面板5bを着脱可能に固定するためのジャッキ等の圧縮固定手段15が二基設けてある。 - 特許庁
Detection of the failure part is facilitated by applying a potential to an arbitrary part on the surface of the sample 2 using a probe 6 movable in three axial directions thereby enhancing the potential contrast of the image of secondary electrons.例文帳に追加
その際、3軸方向に移動できるプローブ6を用いて、試料2表面上の任意部分に電位を与えて二次電子像の電位コントラストを高め、不良部の検出を容易とする。 - 特許庁
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