「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

In the charged particle beam device having a nozzle-shaped structure 12 in the sample exchange device 9 thereof, a high pressure gas 15 of nitrogen or the like is injected into the nozzle-shaped structure 12 and blown out from a gas jetting port 14 disposed at its tip part toward the surface of a sample 8, and the dust and foreign substances are blow off and removed.例文帳に追加

荷電粒子線装置の試料交換装置９内にノズル状構造物１２を設けた荷電粒子線装置で、前記ノズル状構造物１２内部に窒素等の高圧ガス１５を注入し、その先端にあるガス噴出口１４から試料８表面上に向けて噴出し、ゴミや異物等を弾き飛ばして除去する方法。 - 特許庁

In the confocal microscopic system, respective apparatuses constituting the confocal microscopic system are integrally housed in a protective cabinet and further a Nipkow scanner section is arranged at a backside of an objective lens when a side of an opening, where a sample arranged to face the objective lens is moved to an outside surface of the protective cabinet and the sample is taken in and out, is a front.例文帳に追加

共焦点顕微鏡システムにおいて、 共焦点顕微鏡システムを構成する各装置を一体的に保護筐体に収めると共に、 対物レンズに対向して配置された試料を保護筐体の外側面に移動させ試料の出し入れを行う開口部側を前面としたときに、ニポウ式スキャナ部が対物レンズの奥側に配置されている。 - 特許庁

By determining the number of shots for assigning sample shots from shots S1 to S32, an array of the sample shots, degree of regression analysis used for calculation of a displacement model about a substrate alignment mark PAM based on a temperature distribution on upper surface of a first holding section 26, and by executing EGA processing, the array of the shots S1 to S32 is estimated.例文帳に追加

ＥＧＡの処理条件として、ショットＳ１〜Ｓ３２からサンプルショットに指定するショットの数と、サンプルショットの配置と、基板アライメントマークＰＡＭの変位モデルの算出に用いる回帰分析の次数とを、第１保持部２６上面の温度分布に基づいて決定し、ＥＧＡ処理を実行してショットＳ１〜Ｓ３２の配列を推定する。 - 特許庁

In this radioactive element detection method, after a sample is dripped on a radioactive element detecting instrument 10 comprising a metal substrate 11 having a holding part 12 to which a radioactive element detecting compound represented by a general formula (1) is bonded by the reaction of the radioactive element detecting compound with the surface of the holding part 12, the sample is irradiated with infrared rays to measure the reflected infrared rays to thereby detect U or Pu.例文帳に追加

下記の一般式（１）で表される放射性元素検出用化合物を表面に反応させて結合させた保持部１２を有する金属の基板１１からなる放射性元素検出用器具１０に試料を滴下した後、赤外光を照射して反射した赤外光を計測することにより、ＵやＰｕを検出する。 - 特許庁

In the analyzing instrument X equipped with a reaction space 4 for making a specific component in a sample react with reagents and used at the time of analysis of the specific component, two reagent parts 51 and 52, which contain reagents and dissolve them when the sample is supplied to the reaction space 4, are formed to the prescribing surface for prescribing the reaction space 4 in a mutually facing state.例文帳に追加

試料中の特定成分と試薬を反応させるための反応空間４を備え、特定成分を分析する際に利用される分析用具Ｘにおいて、反応空間４を規定する規定面に、試薬を含み、かつ反応空間４に試料が供給されたときに溶解する２つの試薬部５１，５２を、互いに対面するように形成した。 - 特許庁

Data of an image and a message which constitute the label to be stuck on the surface of the commodity are received and a label sample is generated on the basis of the received data and sent to the orderer to let the orderer to confirm the label sample so that the label unique to the orderer is made.例文帳に追加

商品の表面に貼付されるラベルを構成するための画像やメッセージのデータを受信し、受信されたこれらのデータを元にラベル見本を作成し、作成されたラベル見本を発注者に送信してこのラベル見本に対する発注者の確認を得た後、発注者独自のラベルを作成するラベル作成システムを提供する。 - 特許庁

The scanning probe microscope comprises: the cantilever 14 provided with prove 13; the moving mechanisms 11 and 17 for relatively moving the position of the probe to the sample 10; the detection means for detecting the specific physical amount; the measurement means for measuring the surface of the sample; and the measurement control means 60 for controlling the operation of the moving mechanisms and the measurement means.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針１３を有するカンチレバー１４と、試料１０に対する探針の位置を相対的に変化させる移動機構１１，１７と、所定物理量を検出する検出手段と、試料表面を測定する測定手段と、移動機構と測定手段の動作を制御する測定制御手段６０を備える。 - 特許庁

To determine a mass spectrum of high mass resolution by eliminating its influence, even if there is a difference in a flight distance with every measuring point by a recess-projection of a sample surface, when determining the mass spectrum in a measuring area by using data gathered by performing mass spectrometry on a plurality of different measuring points in the narrow measuring area on a sample.例文帳に追加

試料上の狭い測定領域内の異なる複数の測定点についての質量分析を行って収集されたデータを用い該測定領域におけるマススペクトルを求める場合に、試料表面の凹凸により測定点毎の飛行距離に差異があっても、その影響をなくして高い質量分解能のマススペクトルを求める。 - 特許庁

To provide a sample atomization lead-in device capable of lowering a memory effect by quickly removing liquid drops adhered on the surface of the inner space of the device to a drain, capable of improving repeatability of atomization efficiency by equalizing thickness of a sample on an ultrasonic diaphragm of an ultrasonic nebulizer.例文帳に追加

試料霧化導入装置の内側空間の表面に付着した液滴を速やかにドレインに排除することによりメモリー効果の低減を可能とし、また、超音波ネブライザーの超音波振動板上の試料の厚さを均一化することにより試料の霧化効率の再現性向上を可能とする試料霧化導入装置を実現する。 - 特許庁

Primary X rays consisting of either non-dispersed white X rays or dispersed monochromatic X rays are collimated or condensed by an X-ray mirror 2 and enter the surface of a sample 3 at an incident angle near a total reflection critical angle, and fluorescence X rays 4 from the sample 3 are measured by a wavelength dispersion system.例文帳に追加

分光していない白色Ｘ線或いは分光した単色Ｘ線のいずれかからなる一次Ｘ線１をＸ線ミラー２によって平行化或いは集光したのち、試料３の表面に全反射臨界角近傍の入射角で入射させ、試料３からの蛍光Ｘ線４を波長分散方式で測定する。 - 特許庁

In an electron beam projection aligner for irradiating a substrate 6 retained on a stage 9 in the sample chamber 10 with electron beams 3 discharged from an electron gun 2 via lenses 4, 5, a conductive shielding film 12, having a through hole through which the electron beams 3 pass, is removably provided on the inner surface of the sample chamber 10 opposite to the substrate 6.例文帳に追加

電子銃２から放出された電子ビーム３をレンズ４，５を介して、試料室１０内のステージ９上に保持された基板６に照射する電子線露光装置であって、基板６と対向する試料室１０の内壁面に、電子ビーム３が通過する貫通穴を有する導電性遮蔽膜１２を着脱可能に設けた。 - 特許庁

This glow discharge excavation device 1 is provided with an infrared sensor 31 of a radiation temperature measuring instrument 30 in parallel to a glow discharge tube 2, and receives an infrared ray radiated from a sample surface drilled by spattering accompanied to the glow discharge, by the infrared sensor 31, when light emission is not generated accompanied to the spattering, to measure the temperature of the excavated portion in the sample S.例文帳に追加

グロー放電掘削装置１は、グロー放電管２に放射温度測定器３０の赤外線センサ３１を併設し、グロー放電に伴うスパッタリングで掘削される試料表面から放射される赤外線をスパッタリングに伴う発光が生じていないときに赤外線センサ３１で受光して、試料Ｓの掘削箇所の温度を測定する。 - 特許庁

A cell, which is used in a particulate measuring instrument for measuring the number of particulates in the sample solution by dielectric migration, comprises a reservoir equipped with at least an open end and the side surface continued to the base and the ion-exchange carriers in the reservoir, so that the dielectric migration can be performed by desalting the sample solution having a high solution conductivity.例文帳に追加

誘電泳動を用いて試料液中の微粒子数を測定する微粒子測定装置に用いるセルであって、前記セルは少なくとも開放端と底面と連続する側面とを備えるリザーバと、前記リザーバ中のイオン交換担体とを有し、高溶液導電率を有する試料液を脱塩することにより誘電泳動ができる装置を提供する。 - 特許庁

Holes can be displayed as X-ray transmission images by creating a sample for a radioparency apparatus where at least the inner surface of the holes is coated with a substance that has a lower X-ray transmittance than a package resin at least from the outside in the holes that do not exist in any design in the package resin of the sample for the radioparency apparatus causing inconveniences.例文帳に追加

不具合の発生したＸ線透過装置用試料のパッケージ樹脂中の設計に無い空孔に外部から少なくともパッケージ樹脂よりもＸ線透過率の低い物質を該空孔の少なくとも内面に塗布したＸ線透過装置用試料を作製することで該空孔をＸ線透過画像として表示可能とする。 - 特許庁

The method for measuring the element distribution in a depth direction has a process for adding an alkali metal to the surface of the sample, a process for irradiating the measuring region of the surface of the sample with primary ions comprising alkali metal ions and a process for performing the mass separation of secondary ions discharged from the measuring region by irradiation with primary ions and measuring the discharged quantity of specific secondary ions to analyze the element distribution.例文帳に追加

試料の表面にアルカリ金属を含有させる工程と、前記アルカリ金属のイオンよりなる一次イオンを前記試料の表面の測定領域に照射する工程と、前記一次イオンの照射により前記測定領域から放出された二次イオンを質量分離し、特定の二次イオンの放出量を測定して元素分布を分析する工程とを有する深さ方向元素分布測定方法によって解決する。 - 特許庁

In this vitrinite reflectance measuring method, the coal-including rock sample is polished to form an observation surface, and a square part carrying particle having a square shape partitioned by two projecting sides on the inside, exposed on the observation surface observed with a magnification of 200-1,000 times is discriminated as the vitrinite particle, and the reflectance on the surface domain is measured.例文帳に追加

ビトリニット反射率測定方法は、石炭含有岩石試料を研磨処理して被観察面を形成し、２００〜１０００倍の倍率で観察された被観察面において露出する、内側に凸の２つの辺により区画された角状形状を有する角部保有粒子をビトリニット粒子として判別し、その表面領域における反射率を測定する。 - 特許庁

The electrochemical measuring device comprises means for supplying the potential for electrodeposition of copper on the working electrode surface in a state where the working electrode is brought into contact with the sample solution to which an acid is added and potential varying means for supplying the potential for eluting copper electrodeposited on the working electrode surface in a state where the working electrode on the surface of which copper is electrodeposited is brought into contact with the acidic buffer.例文帳に追加

酸が添加された前記試料溶液に作用電極を接触させた状態で、作用電極表面に銅を電着させる電位を供給する手段と、表面に銅が電着した作用電極を酸性緩衝液に接触させた状態で、作用電極表面に電着した銅を溶出させる電位を供給する電位変動手段とを備える。 - 特許庁

To provide a method for detecting a metal defect and a defect detection device, which allow clear detection of a defect portion by improving the uniformity, and increasing the brightness, of a non-defect portion of an imaged image of an inspecting surface when etching the inspecting surface of a metal sample to cause the defect to appear and imaging an image of the inspecting surface using an imaging device to detect the defect.例文帳に追加

金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technique capable of measuring accurately a topograph relative to even the sample surface whose accurate surface topograph measurement is difficult by a conventional method, by overcoming a defect that the accurate surface topograph can not be measured because an attraction detected by a cantilever tip includes both an interatomic force and an electrostatic force when executing the surface topograph measurement by a conventional noncontact type atomic force microscope.例文帳に追加

本発明は、従来の非接触型原子間力顕微鏡による表面トポグラフ計測の際に、カンチレバー先端で検出される引力には原子間力と静電気力の両方が含まれるために正確な表面トポグラフを計測できないという欠点を克服し、従来法では正確な表面トポグラフ計測が困難であった試料表面に対しても、そのトポグラフを正確に計測する技術を提供するものである。 - 特許庁

The laser beam reflected by the surface of the sample (w) reversely follows an optical path, and passes the polarizing beam splitter 12, and is condensed by an image formation lens 18, so that the laser beam passing through a pinhole is detected by a photodetector 19.例文帳に追加

試料ｗの表面で反射したレーザ光は、上記の光路を逆に辿り、偏光ビームスプリッタ１２を通過し、結像レンズ１８によって集光され、ピンホールを通過したレーザ光が受光素子１９に検出される。 - 特許庁

A normal vector N is determined at the position of the sample point Q, an intersection angle ξ between a projection vector N^* obtained by projecting the normal vector N onto the projection surface Syz and the reference axis R is determined and an azimuth θ is defined as θ=ξ/2.例文帳に追加

標本点Ｑの位置において法線ベクトルＮを求め、これを投影面Ｓｙｚに投影して得られる投影ベクトルＮ^＊と基準軸Ｒとの交差角ξを求め、θ＝ξ／２なる方位角θを定義する。 - 特許庁

A shielding material M of a long shape (wire-like), supplied from the supply wheel 101, is bridged and supported in between the pair of support wheels 102, and the shielding material M of that part is arranged above the processing surface SA of the sample S.例文帳に追加

供給ホイール１０１から供給された長尺状（ワイヤ状）の遮蔽材Ｍは、一対の支持ホイール１０２の間で架橋されて支持され、この部分の遮蔽材Ｍが試料Ｓの加工面ＳＡの上方に配置される。 - 特許庁

To provide a method for automatically fitting a probe fitted to a lower part of a sub-lance with which a cycle time of the probe fitting for performing one or more of the temperature measurement of molten metal, the molten metal surface level measurement and pickup of a sample, can be shortened.例文帳に追加

サブランスの下端部に装着され、溶融金属の温度測定、湯面測定、材料採取のうち１以上を行うプローブ装着のサイクルタイムを短くすることができるプローブ自動装着方法を提供する。 - 特許庁

The terahertz light L5 that is generated from the terahertz light generator is allowed to enter the specific region on the lower surface of the sample 100a from the lower side, and the terahertz light L5 that is reflected from the specific region is guided to the terahertz light detector.例文帳に追加

テラヘルツ光発生器から発生したテラヘルツ光Ｌ５を試料１００ａの下面の前記所定領域に下側から入射させ、前記所定領域で反射されたテラヘルツ光Ｌ５をテラヘルツ光検出器に導く。 - 特許庁

The operating state of the inspection target 100 is discriminated on the basis of the output signal of the detection unit 5 emitted, when the inner peripheral surface of the sample piece 37 is scanned by the inspection light, by moving the inspection head 16 in the axial line direction, while rotating the same around the axial direction.例文帳に追加

検査ヘッド１６を軸線の回りに回転させつつ軸線方向に移動させてサンプルピース３７の内周面を検査光で走査したときの検出ユニット５の出力信号に基づいて動作状態を判別する。 - 特許庁

To obtain a polishing rate with high precision for a sample, which has unevenness on its surface, differs in size of the unevenness with the density of a wiring pattern and filming conditions, and varies in polishing rate, without conditioning a wafer.例文帳に追加

ＣＭＰ加工前、試料表面に凹凸があり、凹凸の大きさが配線パターンの密度、成膜条件によって異なり、研磨レートが変動する試料に対し、ウェハでの条件出しすることなく、高精度に研磨レートを得る。 - 特許庁

The method for refining the nucleic acid comprises a step for binding the nucleic acid to the solid support by bringing a nucleic acid-containing sample into contact with a solution containing a kosmotropic salt on the solid support having a hydrophilic functional group on the surface.例文帳に追加

表面に親水性官能基を有する固体支持体の上で、核酸含有試料とコスモトロピック塩を含む溶液とを接触させて、核酸を前記固体支持体に結合させる段階を含む、核酸の精製方法である。 - 特許庁

To protect the mechanism in the electronic balance, for example, when the electronic balance is conveyed, the slider 23 is moved up to abut against the reverse surface of the sample mount pan 20 and the slider is fixed to the guide shaft 22 at the position.例文帳に追加

電子天びんを運搬するときなどのように天びん内部の機構を保護したい場合には、滑子２３を上方に移動させ、試料載置皿２０の下面に当接するようにしてその位置で滑子をガイド軸２２に対して固定する。 - 特許庁

To provide a pretreatment method for a surface analysis sample capable of easily eliminating electric charge from an analysis point for performing accurate analysis by forming a conductive film in the vicinity of the analysis point without requiring any complicated operation.例文帳に追加

煩雑な操作を必要とせず、分析点に近接させて導電膜を形成することにより、分析点からの電荷除去が容易に行え、正しい分析を行うことができる表面分析試料の前処理方法を提供する。 - 特許庁

Also, the microscope device 1 modulates the phase of a laser beam with the phase modulation type SLM5 arranged at the pupil conjugate position of an object lens 13 and irradiates a sample surface SP through the object lens 13 with the laser beam.例文帳に追加

さらに、顕微鏡装置１は、対物レンズ１３の瞳共役位置に配置された位相変調型ＳＬＭ５でレーザ光の位相を変調して、対物レンズ１３を介して標本面ＳＰ上にレーザ光を照射する。 - 特許庁

To provide a positioning device capable of accurately disposing a sample base along the optical axis of a projection optical system without being influenced by surface shapes of reflecting elements arranged on the optical path of a beam from an interferometer.例文帳に追加

干渉計からのビームの光路上に配される反射素子の面形状の影響を受けることなく、試料台の投影光学系の光軸に沿う方向の位置決めを正確に行うことが可能な位置決め装置を提供する。 - 特許庁

A method for separating and analyzing retinoids by liquid chromatography is provided, in which a plurality of kinds of the retinoids present in a sample are fractionated with the use of a column filled with a silica gel having a surface area of 400-460 m^2/g.例文帳に追加

表面積が４００〜４６０ｍ^２／ｇのシリカゲルが充填されているカラムを用いて、サンプル中に存在する複数の種類のレチノイドを分画することを特徴とする、液体クロマトグラフィーによるレチノイドの分離分析方法。 - 特許庁

Along the center axis C orthogonal to a sample plate 3 surface, an ion transportation optical system such as ion lenses 5, 6, an ion trap 7, and a mass separation/detection part such as a detection part 9 are arranged, and an ion optical axis matches the center axis C.例文帳に追加

サンプルプレート３表面に直交する中心軸Ｃに沿って、イオンレンズ５、６などのイオン輸送光学系、イオントラップ７、検出部９などの質量分離・検出部を配置し、イオン光軸と中心軸Ｃとを一致させる。 - 特許庁

To obtain the analyzing method capable of easily analyzing the polar surface layer of a solid sample in the depth direction thereof by a simple method without improving a glow discharge tube or device.例文帳に追加

グロー放電管や装置等の改良を必要とすることなく、簡便な方法で固体試料の極表面層における深さ方向分析を容易に行うことができるグロー放電を利用した深さ方向分析法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of introducing a crack into an inner peripheral surface of piping that avoids enlargement of the piping or a device even when the thickness is smaller than the diameter and obtains a sufficient sample without breaking the other parts.例文帳に追加

径に対して肉厚が薄い配管であっても配管や装置の大形化を避け、かつ、他の部分を損傷させないで、良好な試料を得ることができる配管の内周面に亀裂を導入する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting method using a scanning charged particle beam system, capable of precisely inspecting a defect over a short period of time, which exists on a surface of a sample to be inspected such as a semiconductor LSI or the like, by using a pattern matching technique.例文帳に追加

半導体ＬＳＩなどの被検査試料の表面に生じた欠陥の検査を、パターンマッチング技術を用いて高い精度で短時間に行なうことができる走査型荷電粒子ビーム装置を用いた欠陥検査方法 - 特許庁

An InAs layer is grown on the surface of the sample, on which this strained distribution exists, an InAs layer is selectively grown on the exposed part of the layer 3 and microstructures, such as InAs quantum fine wires and InAs quantum dots, are formed.例文帳に追加

この歪分布が存在する試料表面にＩｎＡｓを成長させ、露出したＩｎＧａＡｓ層３上にＩｎＡｓを選択的に成長させ、ＩｎＡｓ量子細線やＩｎＡｓ量子ドットなどの微細構造を形成する。 - 特許庁

To provide a method for simply obtaining a mass spectrum of high precision in a short time by automatically correcting the shift of spectrum peaks produced by the difference of altitude at respective points within a sample measuring surface in measurement using time-of-flight mass spectrometry.例文帳に追加

飛行時間型質量分析を用いた計測において、試料測定面内各点の高低差によって生じるスペクトルピークのズレを自動補正し、精度の高い質量スペクトルを簡易かつ短時間に得る方法を提供する。 - 特許庁

The polishing liquid flows to enter mixing state, so that magnetic clusters generated by a magnetic field of the permanent magnet 31 press abrasives, the abrasives grind the surface of the sample 1 by relative motion to thereby suitably form a fine groove pattern.例文帳に追加

研磨液が流動して攪拌状態となり、永久磁石３１の磁場により生成した磁気クラスタが砥粒を押さえつけ、相対運動により砥粒が試料１の表面を研削し、微細な溝パターンを適宜に形成できる。 - 特許庁

To provide a method and a substrate for solidifying a protein or a peptide on a surface with an activity and a function thereof maintained, and for evaluating an interaction kinetic with a biomolecule or a biomolecule aggregate contained in a sample.例文帳に追加

蛋白質もしくはペプチドを活性・機能を保ったまま表面に固定化し、サンプルに含まれる生体分子もしくは生物分子集合体との相互作用Ｋｉｎｅｔｉｃｓを評価する方法、評価するための基板を提供する。 - 特許庁

The smoothing distance (effective width of population of smoothing) of smoothing processing at such a time is set to nearly agree with phase displacement made in the photoelectric conversion signal caused by the layer interval or step interval of the surface of the sample to be inspected.例文帳に追加

このときの平滑化処理の平滑化距離（平滑化の母集団の実効幅）は、検査試料の表面の層間隔または段差間隔によって光電変換信号に生じる位相変位と略一致するように設定される。 - 特許庁

The illuminator 100 includes an illuminating lens 12 for condensing the illuminating light emitted from a light source 11 and forming a light source image on the pupil surface 3a of an objective lens 3, and the sample 1 is Koehler-illuminated through the objective lens 3.例文帳に追加

照明装置１００は、光源１１が発した照明光を集光して対物レンズ３の瞳面３ａ上に光源像を結像する照明レンズ１２を備え、対物レンズ３を介して標本１をケーラー照明する。 - 特許庁

A part of the metal atoms ground from a sample during the plasma etching and scattered therearound is adhered to the surface of the mask member 50 to deposit the metal film, while no metal film is deposited on positions of the slits 503, and a blank area is formed.例文帳に追加

プラズマエッチング中にサンプルから削り取られて飛散する金属原子の一部はマスク部材５０の表面に付着して金属膜を形成するが、スリット５０３の部分は金属膜が形成されず空白領域となる。 - 特許庁

To obtain a near-field optical probe capable of also properly performing spectroscopic analysis in a desired wavelength region in order not only to grasp the surface properties of a sample but also to analyze the component or the like thereof.例文帳に追加

本発明は、試料の表面形状の把握と共に、その成分等の解析も行うために、所望の波長域における分光分析も適正に行うことのできる近接場光学用プローブを提供することを目的とする。 - 特許庁

To effectively remove a BN thin piece attaching to a rear face of a semiconductor substrate when the semiconductor substrate is subjected to process treatment while holding the semiconductor substrate in a sample base whose outermost surface layer is pyrolytic boron nitride (PBN).例文帳に追加

熱分解窒化ホウ素（ＰＢＮ）を最表面層とする試料台に半導体基板を保持して該半導体基板にプロセス処理を行ったときに、該半導体基板の裏面に付着したＢＮ薄片を効果的に除去する。 - 特許庁