「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(45ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a compact and lightweight skin effect observation device which can be formed easily in a short time, and is capable of measuring an amplitude of a current and a change of a phase thereof in real time, on a surface of a conductor sample and in an inside thereof.例文帳に追加

小型、軽量で、短時間で簡単に作成することができ、かつ、導体試料の表面と内部において、電流の振幅と位相の変化を実時間で測定することが可能な、表皮効果観測装置を提供する。 - 特許庁

Scattered light from the sample 3 surface enters a CCD 5 through an image formation lens 4, to be converted into an electric signal, and image processing thereof is executed by a personal computer 11, and a CCD image corresponding to a scattered light intensity distribution is displayed on a monitor 12.例文帳に追加

試料３表面からの散乱光は、結像レンズ４を経て、ＣＣＤ５に入り、電気信号に変換され、パソコン１１により、画像処理され、モニター１２に、散乱光強度分布に応じたＣＣＤ画像を表示する。 - 特許庁

Light irradiated to a sample surface 10 is reflected, is again condensed by an objective lens 9, is reflected by an observation light/AF light branch mirror 8, is reflected by an illumination light/image forming light branch mirror 7 and is guided to an image forming optical system.例文帳に追加

試料面１０に照射された光は反射され、再び対物レンズ９で集光され、観察光／ＡＦ光分岐ミラー８で反射され、照明光／結像光分岐ミラー７で反射されて結像光学系に導かれる。 - 特許庁

To provide an atmospheric pressure ionization method and sample-holding device that adheres strongly to the surface of a solid object and suppress thermal decomposition, even with respect to components whose heat desorption is difficult, and can obtain high detection sensitivity in mass spectrometry.例文帳に追加

固体表面に強く吸着し、熱脱着が困難な成分に対しても、熱分解を抑制しつつ、質量分析において高い検出感度を得ることのできる大気圧イオン化法および試料保持装置を提供する。 - 特許庁

When the micro-lens array 6 and the Nipkow disk 7 are synchronously rotated at 1800 rpm, and about 1,000 focal points on a sample observation surface 24a are scanned to obtain the two-photon excitation fluorescent image at the frame rate of 1/360 second.例文帳に追加

マイクロレンズアレイ６およびニポウディスク７を１８００ｒｐｍで同期回転駆動して試料観察面２４ａ上の約１０００点の焦点を走査すると、１／３６０秒のフレームレートで２光子励起蛍光画像が得られる。 - 特許庁

This photothermal conversion measuring instrument includes a substrate 20, a metal thin film 30 and capturing film 32 formed on its surface, an exciting system, and a measuring system, so as to measure a heating amount by the photothermal effect of a measuring object material contained in a sample.例文帳に追加

試料中に含まれる測定対象物質の光熱効果による発熱量を測定するため、基材２０と、その表面に形成される金属薄膜３０及び捕捉膜３２と、励起系及び測定系とを備える。 - 特許庁

To provide a fluorometric apparatus which can obtain a uniform by illuminated state, even in a virtual plane (a plane parallel to the rear surface of a well plate) crossing a plurality of wells at an arbitray depth and which can prevent a color fading phenomenon of a sample.例文帳に追加

複数のウエルを任意の深さで横切る仮想面（ウエルプレートの下面に平行な面）においても均一な照明状態が得られ、また、サンプルの退色現象を回避することもできる蛍光測定装置を提供すること。 - 特許庁

A plurality of extraction algorithms A-D different in the number of analysis parts set on an analysis surface of a sample, an initial position, an avoiding method when a defective part is present, and the like are previously stored in an extraction information storage part 22.例文帳に追加

試料の分析面上に設定する分析個所の数、初期的な位置、欠陥部が存在した場合の回避方法などが相違する複数の抽出アルゴリズムＡ〜Ｄを抽出情報記憶部２２に記憶させておく。 - 特許庁

A relationship between the moving distance of a Z stage 11 measured by a laser holoscale 12 and a displacement of a cantilever 5 measured by a displacement detecting section 6 is obtained by moving the Z stage 11 toward a surface of a sample.例文帳に追加

Ｚステージ１１を試料表面に向けて移動させて、レーザホロスケール１２により測定した前記Ｚステージ１１の移動量と、変位検出部６により測定した前記カンチレバー５の変位量との関係を求める。 - 特許庁

To provide a method for automatically fitting a probe fitted to a lower part of a sub-lance with which a cycle time of the probe fitting for performing one or more of the temperature measurement of molten metal, the molten metal surface level measurement and pickup of a sample, can be shortened.例文帳に追加

サブランスの下端部に装着され、溶融金属の温度測定、湯面測定、材料採取のうち１以上を行うプローブ装着のサイクルタイムを短くすることができるプローブ自動装着方法を提供する。 - 特許庁

The terahertz light L5 that is generated from the terahertz light generator is allowed to enter the specific region on the lower surface of the sample 100a from the lower side, and the terahertz light L5 that is reflected from the specific region is guided to the terahertz light detector.例文帳に追加

テラヘルツ光発生器から発生したテラヘルツ光Ｌ５を試料１００ａの下面の前記所定領域に下側から入射させ、前記所定領域で反射されたテラヘルツ光Ｌ５をテラヘルツ光検出器に導く。 - 特許庁

The operating state of the inspection target 100 is discriminated on the basis of the output signal of the detection unit 5 emitted, when the inner peripheral surface of the sample piece 37 is scanned by the inspection light, by moving the inspection head 16 in the axial line direction, while rotating the same around the axial direction.例文帳に追加

検査ヘッド１６を軸線の回りに回転させつつ軸線方向に移動させてサンプルピース３７の内周面を検査光で走査したときの検出ユニット５の出力信号に基づいて動作状態を判別する。 - 特許庁

The smoothing distance (effective width of population of smoothing) of smoothing processing at such a time is set to nearly agree with phase displacement made in the photoelectric conversion signal caused by the layer interval or step interval of the surface of the sample to be inspected.例文帳に追加

このときの平滑化処理の平滑化距離（平滑化の母集団の実効幅）は、検査試料の表面の層間隔または段差間隔によって光電変換信号に生じる位相変位と略一致するように設定される。 - 特許庁

The illuminator 100 includes an illuminating lens 12 for condensing the illuminating light emitted from a light source 11 and forming a light source image on the pupil surface 3a of an objective lens 3, and the sample 1 is Koehler-illuminated through the objective lens 3.例文帳に追加

照明装置１００は、光源１１が発した照明光を集光して対物レンズ３の瞳面３ａ上に光源像を結像する照明レンズ１２を備え、対物レンズ３を介して標本１をケーラー照明する。 - 特許庁

A part of the metal atoms ground from a sample during the plasma etching and scattered therearound is adhered to the surface of the mask member 50 to deposit the metal film, while no metal film is deposited on positions of the slits 503, and a blank area is formed.例文帳に追加

プラズマエッチング中にサンプルから削り取られて飛散する金属原子の一部はマスク部材５０の表面に付着して金属膜を形成するが、スリット５０３の部分は金属膜が形成されず空白領域となる。 - 特許庁

To provide a pretreating method for metal analysis and its device capable of preventing recontamination such as re-oxidation of the surface of a sample in a sputtering process, and thus providing a correct analyzed value always even when the sputtering is repeated.例文帳に追加

スパッタリングの過程で生ずる再酸化などの試料表面の再汚染を防止し、それによりスパッタリングを繰り返しても常に正しい分析値を与えることのできる金属分析の予備処理方法および装置を提供する。 - 特許庁

These electron beams are deflected by the Wien filter 13 and two electron beams emitted from the Wien filter 13 are decelerated by a retarding voltage through a cathode lens 14 to vertically enter and illuminate a predetermined range of a sample surface 15.例文帳に追加

これらの電子ビームは、ウィーンフィルター１３によって偏向され、ウィーンフィルター１３を出た２つの電子ビームは、その後カソードレンズ１４を介して、リターディング電圧により減速され、試料面１５の所定範囲を垂直に落射照明する。 - 特許庁

A projection channel storage part 35p is provided as a recessed part on the bottom part of the sample vessel 35, and the bottom surface of the projection channel storage part 35p is closed by a penetrable member 35q penetrable by a projection channel 35d.例文帳に追加

サンプル容器３５の底部に突起流路収容部３５ｐが凹部として設けられており、突起流路収容部３５ｐの底面は突起流路３５ｄによって貫通可能な貫通可能部材３５ｑで閉じられている。 - 特許庁

To acquire an image forming device having high image quality by measuring a potential distribution with high resolution in the micron order relative to a sample having a surface potential distribution such as a latent image carrier (photosensor) used for the image forming device such as a copying machine.例文帳に追加

複写機等の画像形成装置に用いる潜像担持体（感光体）などの表面電位分布を有する試料に対して、電位分布測定をミクロンオーダーの高分解能で測定し、高画質の画像形成装置を得る。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus that prevents a sample such as pathological tissue to be photographed with a microscope from being damaged by heating from a surface light source using many light emitting diodes, and that can obtain a clear and precise photographing image.例文帳に追加

顕微鏡撮影を行う病理組織等の標本が、多数の発光ダイオードを用いた面光源の発熱によって損傷されるおそれがなく、明瞭且つ高精度な撮影画像が得られる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

An excimer laser light 6 generated horizontally from an ArF excimer laser oscillator 5 is reflected downward by a mirror 8 after passing a condenser lens 7, and shed onto the surface of the sample 1 through a lens 9, a shutter 10 and the window 3.例文帳に追加

ＡrＦエキシマレーザー発振機５から水平方向に発生されたエキシマレーザー光６は、集光レンズ７を通過した後、ミラー８により下方に反射され、レンズ９、シャッター１０、窓３を介して試料１の表面に照射される。 - 特許庁

This invention provides an electroless plating method comprising electrolessly plating the surface of a metal base sample 22 using a supercritical fluid or a subcritical fluid in such a state that a metal powder is dispersed in an electroless plating liquid 19.例文帳に追加

金属基体試料２２の表面に無電解めっきする際に、無電解めっき液１９中に金属粉末を分散させた状態で超臨界流体ないしは亜臨界流体を使用して無電解めっきを行う。 - 特許庁

To provide a probe polishing method that reliably performs electric property inspection of a sample to be inspected after polishing, by reliably removing a contamination from a polishing object, after detecting the contamination on the upper surface of a polishing wafer (the polishing object), when polishing of the probe is performed.例文帳に追加

プローブの研磨時に研磨ウエハ（研磨体）の上面の異物を検出し、研磨体から異物を確実に除去し、研磨後に被検査体の電気的特性検査を支障なく行うことができるプローブの研磨方法を提供する。 - 特許庁

The wood chip oil absorbent comprises wood chips for absorbing an oily substance floating on the surface of a sea, wherein the wood chips have a specific gravity of 0.35 to 0.70 as measured on an air-dried sample.例文帳に追加

水面に浮遊する油状物質を吸収するための木材チップからなる油吸収材であって、前記木材チップの気乾比重が０．３５以上０．７０以下であることを特徴とする木材チップ油吸収材である。 - 特許庁

The reflected sub-beams from the surface of the sample are synthesized to form synthesized beam containing the phase difference corresponding to the height of the flaw and the size of the flaw can be discriminated by detecting this phase difference.例文帳に追加

よって、試料表面からの反射サブビームを合成することにより、この合成ビームには欠陥の高さに相当する位相差が含まれ、この位相差を検出することにより欠陥の大きさを判別することができる。 - 特許庁

To sample quickly a slice specimen processed for analyzing by observation, instrumental analysis or the like by means of TEM or STEM, a foreign matter or a defect existing on the surface of a semiconductor wafer or the like or inside thereof.例文帳に追加

本発明の目的は、半導体ウェハ等の表面や内部にある異物や欠陥などをＴＥＭもしくはＳＴＥＭで観察や分析など解析するために加工された薄片試料を迅速に採取することに関する。 - 特許庁

To provide a plasma processing apparatus provided with a gas feed means which feeds gas in pulses into a reaction chamber, where the processing speed and shape of a sample can be set uniform through all its surface, even if an ultrasonic free flow is not established.例文帳に追加

反応室にパルス的にガスを供給する手段を備えたプラズマ処理装置において、超音速自由流が成立しない場合においても試料の処理速度および形状の試料面内での均一化を図る。 - 特許庁

To enable the subject sensor to arrange at a narrow place to be adapted to a sample having an arbitrary shape including a curved shape and to permit the construction of the sensor on the inner surface of a tubular body such as a glass pipe.例文帳に追加

狭隘な場所に配置することを可能とし、また、曲面形状を含む任意の形状の試料に対して用いることを可能とし、また、ガラス管などの管状体の内面において構築することを可能とする。 - 特許庁

The enhancement of detection sensitivity due to an increase in the number of labels is enhanced by suppressing the steric hindrance between the labelling substances by applying uneven processing to the surface of the substrate for performing the detection of the bio-sample using the hybridization reaction.例文帳に追加

ハイブリダイゼーション反応を用いて生体試料検出を行う基板表面上に凹凸加工を施すことにより、標識物質間の立体障害を抑制し、標識数の増加による検出感度の向上を実現する。 - 特許庁

Through the use of a sample container 1 for biochemical analysis in which a plurality of recessed parts 2 are formed at pitch intervals W of 500 μm or less on the surface of a plate-shaped body made of glass and/or ceramic, biochemical analysis such as DNA analysis is performed.例文帳に追加

ガラスおよび／またはセラミックスからなる板状体表面に複数の凹部２を５００μｍ以下のピッチ間隔Ｗにて形成した生化学分析用試料容器１を用いてＤＮＡ分析等の生化学分析を行う。 - 特許庁

By using a scanning thermal microscope cantilever 1 of a structure with a hole opening or a scanning thermal microscope probe of a structure in which a probe tip projects from the cantilever, the surface temperature of a sample 6 in the vicinity of the beam irradiation position can be measured.例文帳に追加

穴開き構造の走査熱顕微鏡カンチレバー1またはカンチレバーから探針先端が突き出した構造の走査熱顕微鏡探針を使用して、ビーム照射位置近傍のサンプル6の表面温度を測定できるようにする。 - 特許庁

To provide a multilayer thin-film analysis and a measuring apparatus for applying white X rays to a sample surface at an extremely low angle and for determining a multilayer film structure useful for specification of a thin film, a multilayer film, or the like by selecting a depth.例文帳に追加

試料表面に極く低角に白色Ｘ線を入射し、薄膜や多層膜等の特定化に有用な多層膜構造を深さを選択しながら決定できる多層薄膜分析方法および測定装置を提供する。 - 特許庁

In a scanning probe microscope, such as a scanning tunnel microscope, one part of the layer 4 is selectively etched away by scanning the surface of the layer 4 with a probe 5 to make the layer 3 partially exposed, and a strain distribution to respond to the shape of the pattern of the layer 4 is formed on the surface of a sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、例えば走査型トンネル顕微鏡において、プローブ５でＧａＡｓ層４の表面を走査することによりＧａＡｓ層４を選択的にエッチング除去してＩｎＧａＡｓ層３を部分的に露出させ、試料表面にＧａＡｓ層４のパターン形状に応じた歪分布を形成する。 - 特許庁

The sampling device of the stratum sample is constituted of a body having an open surface on one side and an opening section on the lower end, an edge mounted to the lower part of the open surface of the body and a member having the edge for cutting the bottom stratum of the body and capable of closing the opening section of the lower end of the body.例文帳に追加

一側面に開放面をまた下端部に開口部を有する本体と、この本体の開放面下部に取り付けた刃と、本体の底部地層を切断するための刃を備えるとともに本体下端部の開口部を閉じることができる部材とから構成されていることを特徴とする地層試料の採取装置。 - 特許庁

This microfluid chip is a microfluid chip used in the latex flocculation turbidimetry, to perform microanalysis of a liquefied sample by a latex reagent, comprises a latex reagent maintaining chamber and has an absolute surface zeta potential value of 20 mV or larger, in at least one wall surface of the maintaining chamber.例文帳に追加

本発明のマイクロ流体チップは、ラテックス試薬により液状検体の微量分析を行なうラテックス凝集比濁法において使用するマイクロ流体チップであって、ラテックス試薬の保持室を備え、保持室の少なくとも１つの内壁面における表面ゼータ電位の絶対値が２０ｍＶ以上であることを特徴とする。 - 特許庁

The control part 12 performs not only control for successively switching the application of AC voltage to the respective probes in a time sharing manner with respect to the switching part 8 but also control for detecting the liquid surface contact of the probe to which AC voltage is applied and the liquid sample in synchronous relation to the control with respect to the liquid surface detection parts 9a-9d.例文帳に追加

制御部１２は、各プローブに対する交流電圧の印加を時分割で順次切り替える制御を切替部８に対して行うとともに、この制御に同期して、かかる交流電圧を印加したプローブと液体試料との液面接触を検知する制御を液面検知部９ａ〜９ｄに対して行う。 - 特許庁

This resonant tunnel sensor device 100 comprises a flat substrate, a first electrode 103 on the surface thereof, a second electrode 105 disposed on the surface of the flat substrate at a distance from the first electrode, and a moving means 107 and the like for moving the sample relatively to the first electrode and second electrode.例文帳に追加

共鳴トンネル・センサ装置（１００）は、平面基板と、その表面上にある第１の電極（１０３）と、該第１の電極から間隔をあけて平面基板の表面上にある第２の電極（１０５）と、第１の電極及び第２の電極に対して相対的に試料を移動させる移動手段（１０７他）とを備える。 - 特許庁

A sampling container 100 used for collecting a sample of a volatile oil upon identification activity includes: a bottle 1 with an open top surface; a cap 2 which seals the open top and has a hole sealed by a partition member on the upper surface; and adsorbent 3 which adsorbs the volatile oil and can be taken in and out from the bottle 1.例文帳に追加

鑑識活動時の揮発性油類の採取に用いられる採取容器１００は、上面が開口した瓶１と、開口を封止するとともに上面に穴部を有し該穴部が隔壁部材でシールされたキャップ２と、揮発性油類を吸着し瓶１へ出し入れ可能な吸着体３とを備える。 - 特許庁

The particle complex is characterized in that the first particle fixed with the reaction substance capable of reacting with the target substance to the surface and the second particle labeled by the labeling substance are fixed to a surface of a solid support dispersible into the liquid sample containing the target substance.例文帳に追加

標的物質と反応し得る反応物質が表面に固定された第一の粒子と、標識物質で標識された第二の粒子とが、前記標的物質を含む液体試料中に分散可能な固体支持体の表面に固定されていることを特徴とする粒子複合体を提供する。 - 特許庁

T(sample); surface temperature of the fabric having the above resin layer in absolute dry condition preserved at 32°C and then putting in an environment of 32°C and 70% relative humidity for ten seconds, T(blank); surface temperature of a fabric having the same resin layer but without containing the organic fine particles having high moisture absorbing and heat generating property, treated in the same process.例文帳に追加

Ｔ（ブランク）：上記サンプルと同一材質、目付の基布で高吸放湿吸湿発熱性有機微粒子を含有しない樹脂層を有する布帛を絶乾し、絶乾状態のまま３２℃に調温した後、３２℃、相対湿度７０％の環境に置いた際の１０秒後の樹脂層面の表面温度。 - 特許庁

To quickly provide a sufficiently small dried subject, in a sample pretreatment device for recovering a deposit after dissolved in a solution to prepare the dried subject of the recovery solution on a substrate surface by heating the solution to be dried, in fluorescent X-ray analysis of the deposit on the substrate surface.例文帳に追加

基板表面の付着物を蛍光Ｘ線分析するために、付着物を溶液に溶解させて回収し、その回収溶液を加熱により乾燥させて基板表面に回収溶液の乾燥物を作製する試料前処理装置において、迅速にしかも十分小さい乾燥物が得られるもの等を提供する。 - 特許庁

The sample surface 1a of a test piece 1 is irradiated with a measuring light from a light source 2 through a slit 3 and the first lens 4, and reflected light thereof is condensed onto the light-receiving surface of a CCD camera 6 by the second lens 5, and a light quantity distribution on a spot 6a which is a slit image is measured by the CCD camera 6.例文帳に追加

光源２からスリット３および第１のレンズ４を経て試験片１のサンプル面１ａに測定光を照射し、その反射光を第２のレンズ５によってＣＣＤカメラ６の受光面に集光し、スリット像であるスポット６ａの光量分布をＣＣＤカメラ６によって計測する。 - 特許庁

Removal of the thin film 2 in this manner allows elimination of a rising section (a salient) 3, and the wet etching allows an end of the recessed pattern for inspection 11 to be rounded off, thus making it possible to improve accuracy in inspecting the surface of the wafer surface using such pattern as a standard sample.例文帳に追加

このように、薄膜２を除去することにより検査用凹部パターン１１端部に形成された盛り上がり部（凸部）３を除去することができ、また、ウエットエッチングにより検査用凹部パターン１１端部に丸みをもたせることができ、かかるパターンを標準試料として用いた、ウエハ表面検査の精度を向上させることがでる。 - 特許庁

To provide a surface analyzing method by means of a matrix assist laser deionization time-of-flight mass spectrometer(MALDI-TOF-MS) capable of simplifying a sample pretreatment process and accurately providing a molecular weight and chemical structure information about various kinds of bleeding substances or pollutant sticking on the surface.例文帳に追加

試料の前処理工程が簡略化され、しかも、各種の表面に付着したブリード物質や汚染物質の分子量および化学構造情報を正確に得ることが出来る、マトリックス支援レーザー脱離イオン化−飛行時間質量分析計（ＭＡＬＤＩ−ＴＯＦ−ＭＳ）による表面分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface measurement apparatus that improves the accuracy of measurement and enables two-dimensional measurement in a sample surface of the refractive index and thickness of a transparent thin film formed on a substrate, deflection of the substrate, step of the film, or the like, by enabling an optical interference method and polarization analysis method in one apparatus.例文帳に追加

光干渉法と偏光解析法を1台の装置において可能にすることによって、基板上に形成した透明な薄膜の屈折率と膜厚や、基板のたわみや膜の段差などを試料面内で２次元的に測定できるようにするとともに、測定精度を向上させた表面測定装置を提供する。 - 特許庁