「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a reaction cell having superior reliability, to which few bubbles attach and which can prevent mutual contamination of the sample-reagent between the juxtaposing reaction cells, a method for surface finishing of the reaction cell and an autoanalyzer equipped with the reaction cell.例文帳に追加

本発明は、気泡付着が少なく、かつ隣接する反応セル間でサンプル・試薬の相互汚染を防ぐことができる信頼性に優れた反応セル、反応セルの表面処理法、および該反応セルを搭載した自動分析装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An in-plane distribution display result of a defect or foreign matter on a sample surface and haze distribution display are comparatively displayed on the same screen, and those of inaccurate size and depth are colored and displayed in the distribution in a defect screen, so that the accurately measured defects are clearly displayed.例文帳に追加

欠陥または試料表面の異物の面内分布表示結果と、ヘイズ分布表示を同一画面で比較表示させ、さらに、欠陥面内分布内でサイズと深さの不正確なものを色をつけて表示し、正確に計測された欠陥を明示する。 - 特許庁

To enhance the measuring performance of the quantitative detection of an object, to be analyzed, in a liquid sample by a method wherein a reaction state in a plurality of places is measured, computed and processed in a reaction region on the surface of the carrier of a reaction layer for immunochromatography.例文帳に追加

免疫クロマトグラフィーの反応層担体表面上の反応領域において、複数箇所の反応状況を計測及び演算処理することにより、液体試料中の分析対象物の定量検出の測定性能を向上させること。 - 特許庁

Corroded surface area of the reinforcing bar (coverage 20 mm, 40 mm, 70 mm) of the above sample ALS is smaller than that of tap water-formulated type ordinary Portland cement concrete PCW or tap water-formulated type alumina cement concrete ALS showing higher preventing effect on corrosion of reinforcing bar.例文帳に追加

この供試体ＡＬＳの鉄筋（かぶり２０ｍｍ、４０ｍｍ、７０ｍｍ）の表面の腐食面積は、水道水配合型普通ポルトランドセメントコンクリートＰＣＷや水道水配合型アルミナセメントコンクリートＡＬＳに比べて少なく、鉄筋の腐食防止効果が高い。 - 特許庁

In a sample holder 10, a layer 16 working as a diffraction plane positioned on the bottom of a recessed part 13a of a base plate 13 with which a filter 14 mounting the samples on its upper surface is treated or processed so that the direction of metallic crystal is not intentionally aligned.例文帳に追加

試料ホルダ１０において、上面に試料を装荷するフィルタ１４を嵌め込む基底板１３の凹部１３ａの底部に位置する回折面となる層１６を、金属結晶の方向が意図的に揃わないような処理又は加工が施されたものとする。 - 特許庁

To provide a stage device provided with a mark stand capable of adjusting a focus of an electron beam or deflection sensitivity by using a mark at the height actually same as the height of a sample surface such as a mask, and an electron beam drawing device using the stage device.例文帳に追加

マスクなどの試料面の高さと実質的に等しい高さのマークを用いて、電子ビームの焦点や偏向感度を調整することが可能なマーク台が設けられたステージ装置と、このステージ装置を用いた電子ビーム描画装置とを提供する。 - 特許庁

To provide a method which enables the acquisition of Raman spectra of not only a specific chemical but also a whole sample and successful in achieving both incompatibility of the dispersion stability of an additive and the intensification of Raman dispersion light, provide noble metal particles superior in dispersion stability and capable of effectively demonstrating surface plasmon resonance effects and intensifying dispersion light, and provide their manufacturing method.例文帳に追加

特定の化合物のみならず試料全体のラマンスペクトルを得ることができる方法であって、添加剤の分散安定性とラマン分散光の増強という相反する特性を両立することに成功した方法を提供する。 - 特許庁

Sliding down speed: Under an environment of 20±5°C temperature and 50±10% relative humidity, a water droplet is formed by dripping 50 μl distilled water on a sample loaded as inclined by 15° based on a horizontal surface, and the speed is calculated by measuring the time that the water droplet moves by 90 mm.例文帳に追加

滑落速度：温度２０±５℃及び相対湿度５０±１０％の環境下に、水平面に対して１５度傾斜して載置された試料に蒸留水を５０μｌ滴下して水滴を形成し、水滴が９０ｍｍ移動する時間を測定して算出した。 - 特許庁

To provide equipment capable of automatically adjusting its conditions which change owing to the potential measurement of a sample's surface using a charged particle beam or an electrically charged sample, while controlling a change of the sample's electric potential induced by irradiating the charged particle beam.例文帳に追加

本発明の目的は、荷電粒子線の照射によって誘起される試料の電位変化を抑制しつつ、荷電粒子線を用いた試料表面の電位測定、或いは試料帯電によって変化する装置条件を自動的に調整する装置の提供にある。 - 特許庁

In such a state that the plate part 1 is embedded until the top plate 4 reaches the surface of sand, sand is excavated from the inside and, in a state that each of the window plates 5 is exposed, a soil cup is arranged under the window plate 5 and the window plate 5 is rapidly slid downward to sample flowing-out sand.例文帳に追加

天板４が砂面に達する状態にまで埋設した状態で、内側から砂を掘り、窓用プレート５を露出させた状態でその下側に土壌カップを配置し、窓用プレート５を素早く下向きにスライドさせて、流れ出す砂を採取する。 - 特許庁

The method for inspection includes a step of irradiating an observation object of a rear surface of a sample 7 with an infrared laser beam 12 emitted from a laser beam source 1 and incident upon a diffraction lens 4 as a Bessel beam 13, detecting its reflected light 14 by a photodetector 11, and performing analysis.例文帳に追加

レーザ光源１から発せられた赤外レーザ光１２は、回折レンズ４に入射してベッセルビーム１３となり試料７の裏面の観察対象に照射され、その反射光１４は光検出器１１により検出されて、解析が行われる。 - 特許庁

Since the heat insulating material 22 is buried into the center part of the contact face between the cooling plate 10 provided on the Peltier element 16 through the cooling plate 18 and the bottom surface 24 of the sample rack as a heat insulating layer, supercooling at a part close to the Peltier element 16 is prevented.例文帳に追加

ペルチェ素子１６に冷却板１８を介して設けられた冷却板１０とサンプルラックの底面２４との接触面の中央部に断熱層として断熱材２２が埋め込まれているため、ペルチェ素子１６直近部分の過冷却を防止する。 - 特許庁

In this method for producing a biological specimen sample, a transparent conductive sheet having a transparent conductive layer on a flexible transparent base is used as a support body, and the biological specimen including a cell or tissue is prepared on a conductive layer surface of the support body.例文帳に追加

可撓性透明基材上に透明導電層が設けられた透明導電シートを支持体として用い、前記支持体の導電層面上に、細胞又は組織を含む生体標本を用意することによって、生体標本サンプルを作製する方法。 - 特許庁

The complex device including the FIB lens barrel and the SEM lens barrel has a slit formed into a shape to be worked at an aperture for the FIB, whereby ion beam work is performed by transferring a pattern to a sample surface instead of running a converged ion beam thereon.例文帳に追加

本発明はＦＩＢ鏡筒と、ＳＥＭ鏡筒を備えた複合装置において、ＦＩＢ用のアパーチャに加工形状のスリットを備えることにより、集束したイオンビームの走査ではなく試料面にパターンを転写することによりイオンビーム加工するようにした。 - 特許庁

A large diameter single crystal can be grown by arranging the reflecting mirrors 2 of the rotary elliptic face so that a straight line from one focus to another focus inclines downward and by irradiating the sample with infrared light reflected at a reflection surface from diagonally upward.例文帳に追加

また、回転楕円面反射鏡２を、一方の焦点から他方の焦点への直線が下方へ傾斜するように配置し、反射面で反射された赤外線を斜め上方から試料へ照射することにより、大口径の単結晶を育成可能とした。 - 特許庁

The cellular jig 100 of the autoanalyzer for analyzing a solution prepared by dispensing a sample and a reagent in a cellular reaction container by a dispensing probe which is equipped with a liquid surface detecting means and an obstacle detecting means and sucks and discharges the sample or the reagent, and a dispensing probe moving means which moves the dispensing probe in horizontal and vertical directions to analyze the resulting mixed solution is constituted as follows.例文帳に追加

液面検知手段及び障害物検知手段を備え且つサンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、前記分注プローブ及び前記分注プローブ移動手段により、前記サンプルと前記試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置のセル型治具100を次のように構成する。 - 特許庁

In the signal detection apparatus detecting an atomic force acting between a probe and a sample and measuring the unevenness or electric characteristic of the sample surface from changes in signals, the probe is driven by an electrostatic force working between a plate electrode on the support base of the probe and another plate electrode provided oppositely to the former electrode on the probe and the displacement of the probe is detected from changes in electrostatic capacitance between the electrodes.例文帳に追加

プローブと試料との間に働く原子間力を検出し、それらの信号の変化から該試料表面の凹凸あるいは電気特性を測定する信号検出装置において、前記プローブを、該プローブの支持基板上の平板電極と、それに対向して設けられた該プローブ上の平板電極との間に働く静電力によって駆動し、該電極間の静電容量の変化から、前記プローブの変位を検出するように構成する。 - 特許庁

A microscopic observation method for observing an observation object by an optical microscope is provided for performing the steps including: a thin film-forming step of forming a thin film at least absorbing or scattering light on a surface of the observation object containing a plurality of types of constituent materials to thereby prepare an observation sample; and an observing step of observing the observation sample by the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡によって観察対象物を観察するための顕微観察方法であって、複数種の構成材料を含む観察対象物の表面に少なくとも光を吸収又は散乱する薄膜を形成する薄膜形成工程を実施することにより観察用試料を作製し、さらに、該観察用試料を光学顕微鏡によって観察する観察工程を実施する顕微観察方法を提供する。 - 特許庁

In the method of quantifying measured molecules in a sample, an enzyme labeled antibody produced by coupling an antibody against the measured molecules to cholinesterase is mixed with the sample to cause an antigen-antibody reaction, and then cholinesterase activity of an enzyme labeled antibody coupled to the measured molecules or an enzyme labeled antibody that is not coupled to them is measured using a surface plasmon resonance method.例文帳に追加

本発明は、試料中の測定対象分子を定量する方法であって、測定対象分子に対する抗体とコリンエステラーゼとが結合した酵素標識抗体を試料と混合して抗原抗体反応を生じさせた後、測定対象分子と結合した酵素標識抗体又は結合していない酵素標識抗体のコリンエステラーゼ活性を表面プラズモン共鳴法を用いて測定することを含む前記方法に関する。 - 特許庁

The specimen coupled to the sample probe is detected based on a surface plasmon resonance angle detected by the first photoreceiving member, and the fluorescence from the fluorescent substance excited by an evanescent wave generated when the light is brought into total reflection in a boundary of the metal thin film in the substrate.例文帳に追加

第１受光部材により検出される表面プラズモン共鳴角と基板における金属薄膜の境界にて光が全反射する際に生じるエバネッセント波により励起される蛍光物質からの蛍光とに基づいて試料プローブに結合した被検体を検出する。 - 特許庁

The secondary electron detector 20 is equipped with a scintillator 22 for absorbing the secondary electrons discharged from a sample surface, onto which primary charged particles are irradiated and to convert it into light, and a photoelectric conversion device 26 for converting and amplifying the light, guided through a light guide 24 into electrons.例文帳に追加

一次荷電粒子が照射された試料表面から放出される二次電子を吸収して光に変換するシンチレータ２２と、ライトガイド２４を通して導かれた光を電子に変換して増幅する光電変換装置２６を備える二次電子検出器２０である。 - 特許庁

The sensor of a multiprobe type is provided with a plurality of probes formed by crystal growth with a semiconductor substrate 1 as a base, and is provided with a function, with the biological sample as an object, of detecting the physical phenomenon or the chemical phenomenon on the surface or in the inside.例文帳に追加

半導体基板１を下地として結晶成長させた突起（プローブ）２を複数有するマルチプローブタイプのセンサであって、生体試料を対象とし、その表面あるいは内部の物理現象または化学現象を検出する機能を有することを特徴とする。 - 特許庁

A CP selective deflector 32 deflects the electron beam surely from the sample surface during the beam blanking period in order to adjust the synchronization error during the beam blank period, so that the synchronization error of a plurality of electrodes of the deflector 32 is below an allowable value, thus surely preventing the patterning failure due to the beam leakage.例文帳に追加

CP選択偏向器３２の複数の電極部の同期誤差が許容値以下となるように、ビームブランク期間内に同期誤差の調整を行うため、ビームブランク期間に確実に電子ビームを試料面からそらすことができ、ビーム漏れによるパターニング不良を確実に防止できる。 - 特許庁

By fixing a nucleic acid through a glycidyl group on the surface of a polymer and in the inside of the polymer and crosslinking an excess of glycidyl group with a polyvalent amine, the nucleic acid can be efficiently and firmly fixed to a polymer gel and further the nucleic acid in a sample can be stably detected with high sensitivity.例文帳に追加

高分子表面及びその内部にグリシジル基を介して核酸を固定化し、過剰のグリシジル基を多価アミンで架橋することによって、核酸を効率的に強固に高分子ゲルに固定化でき、さらにこのゲルを用いて検体中の核酸を安定に、しかも高感度で検出できる。 - 特許庁

To provide a method for immediately finding out a focal position from one obtained image without searching an optimum position by obtaining an image while slightly mechanically moving a sample or an optical member when a focal surface is obtained by using an optical microscope.例文帳に追加

本発明の課題は、光学顕微鏡を用いて焦点面を求める際にわずかずつ試料若しくは光学部材の機械的移動を行いながら画像を取得して最適な位置を探索することなく、得られた１画像から即座に合焦位置を割り出すことが出来る手法を提示することにある。 - 特許庁

Pressure is reduced for the injection port in the sealed space 9 to get lower than a pressure value provided by head pressure generated between a liquid face of the ink tank 13 and the opening end of the nozzle from the maximum leak-tight pressure by surface tension of the nozzle, and the liquid sample is injected under the condition provided therein.例文帳に追加

密閉空間９は、ノズルの表面張力による最大耐漏圧から、インクタンク１３の液面とノズルの開口端との間に生じる水頭圧を減じた値よりも小さい圧力が注入口に対して減圧され、その状態で液体試料が注入される。 - 特許庁

The present invention discloses a solid support formed with a carbon layer on its surface, and the method of separating the substances in the sample by gel electrophoresis, of transferring thereafter the substances separated into the gel onto the solid support, and of eliminating/ionizing the substances on the solid support to analyze the plurality of substances mass-spectrometrically.例文帳に追加

表面にカーボン層が形成された固体支持体、及び試料中の物質をゲル電気泳動で分離後、ゲル中に分離された物質を該固体支持体上に転写し、該固体支持体上の物質を脱離／イオン化することにより複数の物質を質量分析する方法。 - 特許庁

A first side surface is provided to the observation device which keeps a liquid crystal modulation element controlled so that right-handed circular polarized light and a left-handed circular polarized light are selectively formed by the liquid crystal modulation element thereby observing a sample by the light penetrating through a polarizer.例文帳に追加

本発明の第１の側面は、液晶変調素子によって、右回り円偏光及び左回り円偏光が選択的に作り出されるように前記液晶変調素子が制御され、偏光子を通過する光によって試料を観測することを特徴とする観測装置にある。 - 特許庁

The front surface of the practicing paper sheet 1 is printed, in addition to the character sample book 2, with figures 3-1 to 3-4, 4-1 to 4-3, a circular frame 5, a cross-shaped line 5, a circular auxiliary frame 7, and a frame 8 indicating a position where where a name is written.例文帳に追加

練習用紙１の表面には、文字手本２のほか、文字手本２の筆順を示す数字３−１〜３−４，４−１〜４−３、円形の枠５、枠５の中心を示す十文字状の線６、円形の補助枠７、名前を書く位置を示す枠８を印刷する。 - 特許庁

When a change of the image observation magnifying power is instructed during the scanning of the probe, the changing action of the image observation magnifying power is made at the middle point of the image observation visual field, and the tip of the probe can be prevented from colliding with the sample surface.例文帳に追加

同様にして、プローブの走査中に像観察倍率の変更が指示された場合にも、像観察倍率の変更の動作を像観察視野の中点の位置で行うようにすることによって、プローブの先端と試料表面とが衝突することを防止することができる。 - 特許庁

A defect inspection method for inspecting the defect of the surface of a sample, includes the step of detecting the defect by addition processing of a detecting signal in which the amount of the misalignment of a pixel of detection signals calculated by comparing the distribution of Haze signal and predetermined light quantity distribution is corrected.例文帳に追加

試料の表面の欠陥を検査する欠陥検査方法であって、Ｈａｚｅ信号の分布と予め定めた光量分布とを比較して算出した検出信号の画素ずれ量を補正した検出信号を加算処理して欠陥を検出する工程を有する欠陥検査方法。 - 特許庁

To provide a device for attaining a new scanning method which is always not associated with the contact of a probe with a sample surface, such as that in a non-contact mode or a point contact mode, and a scanning method thereof, while maintaining the versatility of a contact mode, in physical property measurement of a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の物性測定において、コンタクトモードの汎用性を維持しつつ、非接触モードやポイントコンタクトモードのように、常時探針と試料表面の接触を伴わない新たな走査方法を実現する装置及びその走査方法を提供する。 - 特許庁

To solve a problem that accuracy is deteriorated by fluctuation in a measurement value caused by fluctuation in an ablation laser spot position and a spot area on a sample surface when measuring the laser-induced fluorescence of an element generated by irradiating plasma generated at irradiation with ablation laser light with a laser having a resonance wavelength.例文帳に追加

アブレーションレーザ光を照射して生成したプラズマに共鳴波長のレーザを照射して発生させた元素のレーザ誘起蛍光を測定する際に、試料面上のアブレーションレーザスポット位置やスポット面積の変動によって測定値が変動し、精度が劣化する問題を解決する。 - 特許庁

This paper ejecting device carries paper wastes and trial prints along a carrying passage 28 over a regularly formed pile 14 in order to sample them as necessary, and delivers them to an abutting surface 27.4 constituted of a carrying wheel part 27.1 of a suction belt conveyor 26.例文帳に追加

排紙装置は、損紙や試し刷りを必要に応じて抜き取るために、これらを搬送軌道２８に沿って、普通であれば形成されるパイル１４を超えてさらに搬送し、吸引ベルトコンベヤ２６の搬送ホイール間部２７．１によって構成された当接面２７．４に渡す。 - 特許庁

To provide a usage of a microchip capable of preventing the adhesion of a sample, the occurrence of air bubbles, etc. by performing a proper treatment such as hydrophilic treatment or the like over the whole surface of a microflow channel, the microflow channel and the microchip.例文帳に追加

マイクロ流路の全表面にわたって、親水化などの適切な処理を行うことにより、試料の付着及び気泡の発生等を防止することができ、微量の試料で正確な分析を行うことができるマイクロチップの使用方法、マイクロ流路及びマイクロチップを提供することを目的とする。 - 特許庁

The derivation processing part derives the growing degree relative to a plurality of drops of dew on the sample surface, and derives the adhesive size by performing statistical processing by removing the dew having a growing degree over a prescribed threshold to a growing degree of the dew having the smallest growing degree.例文帳に追加

導出処理部は、試料表面上の複数の露について成長度合いを導出するとともに、成長度合いの最も小さい露についての成長度合いに対して所定の閾値以上の成長度合いを有する露については除外して統計処理して付着物の大きさを導出する。 - 特許庁

The solar cell evaluating apparatus for evaluating the generation performance of a solar cell by irradiation thereof with a quasi-sunshine comprises a mirror box 12 at least the side wall surface of which is composed of a reflector, and a plurality of light sources 18 disposed in an extent corresponding to the size of a test sample in the mirror box.例文帳に追加

疑似太陽光を照射して太陽電池の発電性能を評価する太陽電池評価装置において、少なくとも側壁面が反射体からなるミラーボックス12と、このミラーボックス内にて被検体の大きさに相当する広さに配置された複数の光源18と、を具備する。 - 特許庁

On the upper surface corresponding to a just overhead part of a pat range of the separation passage 4 on the bonded plate 3, a cylindrical leas 11 for incidence of light for allowing light emitted from a light source 12 to enter and converging light to the sample part on the separation passage 4 is formed integrally with the bonded plate 3.例文帳に追加

また、前記接合板３において、前記分離流路４の一部範囲の真上に対応する上面には、光源１２から発光した光を入射して前記分離流路４の試料部分に集光させる入射用シリンドリカルレンズ１１が接合板３と一体に形成される。 - 特許庁

To solve the large fluctuations in the intensity of the fluorescent X rays from an element to be measured and to perform the evaluation of the injection amount of ions, the evaluation of the concentration of an element in a thin film and the evaluation of the contamination quantity on the surface of a sample in-line with high precision.例文帳に追加

測定目的元素からの蛍光X線強度の大きな変動を解決するとともに、これまで困難であった、高精度な、イオン注入量評価、薄膜中の元素濃度評価、試料表面の汚染量評価をインラインで行なうことを可能とする。 - 特許庁

In an active matrix type image display apparatus 10 which displays an output image through a liquid crystal display surface, a sample hold voltage of each pixel is rewritten with a high gradation voltage different from an input signal in one frame period of an input video signal through a data driver (source driver) 14.例文帳に追加

液晶表示面を介して出力画像を表示するアクティブマトリクス型画像表示装置１０において、データドライバ（ソースドライバ）１４を通して、入力映像信号の１フレーム期間内で入力信号とは異なる高い階調の電圧で各画素のサンプルホールド電圧を書き換える。 - 特許庁

Sample oil 11 is heated for a predetermined time, the cooling oil 16 is circulated, liquid of it is fed, fouling is adhered to the outer surface of the test tube 2, then a fouling amount is determined based on difference from the pre-measured weight of the test tube 2 before the test, and the effect of the fouling inhibitor is evaluated.例文帳に追加

所定時間試料油１１の加熱と、冷却油１６の循環通液を行い、テストチューブ２外表面にファウリングを付着させた後、予め測定しておいた試験前のテストチューブ２の重量との差からファウリング量を求め、ファウリング防止剤の効果を評価する。 - 特許庁

To achieve a radioactive contamination inspecting apparatus for appropriately implementing both of a measurement of a radioactive contamination on a surface of a structure to be inspected and a measurement of the radioactive contamination of a sampled measurement sample from an interior of the structure to be inspected, and determining the quality of a clearance.例文帳に追加

被検査構造物の表面の放射能汚染の計測、被検査構造物の内部からサンプル測定試料の放射能汚染の計測の双方を的確に行え、しかもクリアランス合否判別も行える具体的な構成の放射能汚染検査装置を実現する。 - 特許庁

In Fig. an objective lens 11 is operated as a semi in-lens type objective lens, and when the exciting current is made to flow to an exciting coil 13, the objective lens 11 is excited strongly, and the peak of a distribution M of the magnetic field is formed on the axis near a surface of a sample 15 as shown by a dotted line.例文帳に追加

図３の状態は対物レンズ１１がセミインレンズタイプの対物レンズとして動作する状態であり、励磁コイル１４に励磁電流を流すと、対物レンズ１１は強く励磁され、試料１５表面近傍に点線で示すごとく軸上磁場分布Ｍのピークが形成される。 - 特許庁

To realize a method for measuring film thickness and optical constant which requires neither a reflection preventing process for a sample having a thin film formed on a transparent substrate nor a special optical element for removing reverse-surface reflected light and its adjustment for a measurement optical system.例文帳に追加

透明基板５ａ上に薄膜が形成された試料６に対して反射防止処理を必要とせず、測定光学系に裏面反射光を除去するための特別な光学要素もその調整も必要としない膜厚及び光学定数の測定方法を実現する。 - 特許庁

Since the embedded trench 1c can be formed into a thin piece from a side surface direction by this alteration of an FIB processing direction, a processing depth is set to about trench width (5 μm) and the conversion of an observation region to an amorphous state or the like is not caused and the observation sample of good quality for TEM can be manufactured.例文帳に追加

ＦＩＢ加工方向をこのように変更することで、埋め込みトレンチ１ｃを側面方向から薄片化できるため、加工深さはトレンチ幅（５μｍ）程度で済み、観察部位の非結晶化等は発生せず、良質なＴＥＭ用観察試料を作製可能である。 - 特許庁