「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

When light is entered upon the interface between the silver thin film 2 and the SiO_2 film 7 at an incident angle of 59-60°, surface plasmon resonance is excited at the interface and thus an evanescent field is reinforced, so that fluorescence is generated efficiently from the fluorescence molecules 5 contained in the sample solution 3.例文帳に追加

銀薄膜２とＳｉＯ_２膜７の界面に５９〜６０°の入射角で光を入射させると、その界面で表面プラズモン共鳴が励起されてエバネセント場が増強され、試料溶液３中の蛍光分子５からの効率よく蛍光が発生する。 - 特許庁

To provide a probe control method of a scanning probe microscope capable of measuring an irregular shape or the like of the sample surface by a step-in method relative to a measuring point determined beforehand, heightening throughput of measurement, and reducing breakage or damage caused by collision of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸形状等を予め決められた測定点についてステップイン方式で測定し、測定のスループプットを高め、探針の衝突による破損・ダメージを減少できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

In the measurement of moisture content in the rubber using the the infrared moisture meter, sample rubber is pressed against the smooth surface of an infrared transmission transparent plate where at least an emission section is smooth, and at the same time is irradiated with infrared rays via the transparent plate.例文帳に追加

赤外線水分計を用いてゴムの水分含有率を測定するに際し、少なくとも出射部が平滑である赤外線透過透明板の、該平滑面に対して試料ゴムを押圧しながら、前記透明板を介して試料ゴムに赤外線を照射する。 - 特許庁

A measurement area 0201 including a minute analysis point 0200 in an insulative film 0203 on a sample surface and a reference area 0202 positioned in the vicinity of the measurement area 0201 and composed and constructed equally to the measurement area 0201 excepting exclusion of the minute analysis point 0200 are irradiated by X-rays alternately.例文帳に追加

試料表面の絶縁膜0203中にある、微小分析点0200を含む測定領域0201と、測定領域0201の近傍にあって微小分析点0200を含まないこと以外は組成、構造が測定領域0201に等しい参照領域0202にX線を交互に照射する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope suitably adapted to the study of the observation of the lattice of lines of magnetic induction or an electron state in a magnetic flux inlusive of the study of a nanoscale non-uniform superconductive state and the observation of the uneven image on the surface of a sample, and its using method.例文帳に追加

ナノ・スケール不均一超伝導状態の研究を始めとして、磁束線格子の観測や磁束内電子状態の研究、さらには試料表面の凹凸像の観測に適用して好適な走査プローブ顕微鏡およびその使用方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an imitated sample in which a film is stuck to a surface of a molding, wherein wrinkles are prevented from still existing on the stuck film, and peeling strength between the film and the molding is enhanced to prevent the film from peeling.例文帳に追加

成形体の表面にフィルムを貼着する擬似サンプルの製造方法にあって、貼着後のフィルムにシワが残るのを防止し、かつ、フィルムと成形体との剥離強度を高めて該フィルムの剥離を防ぐことができる擬似サンプルの製造方法を提供する。 - 特許庁

An in-plane distribution display result of a defect or foreign matter on a sample surface and haze distribution display are comparatively displayed on the same screen, and those of inaccurate size and depth are colored and displayed in the distribution in a defect screen, so that the accurately measured defects are clearly displayed.例文帳に追加

欠陥または試料表面の異物の面内分布表示結果と、ヘイズ分布表示を同一画面で比較表示させ、さらに、欠陥面内分布内でサイズと深さの不正確なものを色をつけて表示し、正確に計測された欠陥を明示する。 - 特許庁

To enhance the measuring performance of the quantitative detection of an object, to be analyzed, in a liquid sample by a method wherein a reaction state in a plurality of places is measured, computed and processed in a reaction region on the surface of the carrier of a reaction layer for immunochromatography.例文帳に追加

免疫クロマトグラフィーの反応層担体表面上の反応領域において、複数箇所の反応状況を計測及び演算処理することにより、液体試料中の分析対象物の定量検出の測定性能を向上させること。 - 特許庁

The etching liquid is injected from an opening 25 into a storage space defined by the ring 10 and the upper-side sheet material 20, and a surface layer portion of the plate-like body sample 40 is dissolved to collect dissolved liquid, and the metal or ion in the collected dissolved liquid is analyzed quantitatively.例文帳に追加

開口２５からエッチング液をリング１０と上側シート材２０で画定された貯留空間に注入し、板状体試料４０の表層部分を溶解させ、溶解液を採取し、採取した溶解液中の金属またはイオンを分析定量する。 - 特許庁

The internal structure of the chamber is composed so that the clearance between the thin film substrate and the internal surface of the chamber is the smallest, and thereby almost all of the space in the chamber is occupied with the thin film sample material and inert substrate material.例文帳に追加

チャンバの内部構造形状は、薄膜基板とチャンバの内部表面との間のクリアランスが最小になるように構成されており、それにより、チャンバ内空間の略全てが薄膜サンプル材料及び不活性基板材料によって占められている。 - 特許庁

To provide a reaction cell having superior reliability, to which few bubbles attach and which can prevent mutual contamination of the sample-reagent between the juxtaposing reaction cells, a method for surface finishing of the reaction cell and an autoanalyzer equipped with the reaction cell.例文帳に追加

本発明は、気泡付着が少なく、かつ隣接する反応セル間でサンプル・試薬の相互汚染を防ぐことができる信頼性に優れた反応セル、反応セルの表面処理法、および該反応セルを搭載した自動分析装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Since the heat insulating material 22 is buried into the center part of the contact face between the cooling plate 10 provided on the Peltier element 16 through the cooling plate 18 and the bottom surface 24 of the sample rack as a heat insulating layer, supercooling at a part close to the Peltier element 16 is prevented.例文帳に追加

ペルチェ素子１６に冷却板１８を介して設けられた冷却板１０とサンプルラックの底面２４との接触面の中央部に断熱層として断熱材２２が埋め込まれているため、ペルチェ素子１６直近部分の過冷却を防止する。 - 特許庁

In this method for producing a biological specimen sample, a transparent conductive sheet having a transparent conductive layer on a flexible transparent base is used as a support body, and the biological specimen including a cell or tissue is prepared on a conductive layer surface of the support body.例文帳に追加

可撓性透明基材上に透明導電層が設けられた透明導電シートを支持体として用い、前記支持体の導電層面上に、細胞又は組織を含む生体標本を用意することによって、生体標本サンプルを作製する方法。 - 特許庁

The complex device including the FIB lens barrel and the SEM lens barrel has a slit formed into a shape to be worked at an aperture for the FIB, whereby ion beam work is performed by transferring a pattern to a sample surface instead of running a converged ion beam thereon.例文帳に追加

本発明はＦＩＢ鏡筒と、ＳＥＭ鏡筒を備えた複合装置において、ＦＩＢ用のアパーチャに加工形状のスリットを備えることにより、集束したイオンビームの走査ではなく試料面にパターンを転写することによりイオンビーム加工するようにした。 - 特許庁

A large diameter single crystal can be grown by arranging the reflecting mirrors 2 of the rotary elliptic face so that a straight line from one focus to another focus inclines downward and by irradiating the sample with infrared light reflected at a reflection surface from diagonally upward.例文帳に追加

また、回転楕円面反射鏡２を、一方の焦点から他方の焦点への直線が下方へ傾斜するように配置し、反射面で反射された赤外線を斜め上方から試料へ照射することにより、大口径の単結晶を育成可能とした。 - 特許庁

The cellular jig 100 of the autoanalyzer for analyzing a solution prepared by dispensing a sample and a reagent in a cellular reaction container by a dispensing probe which is equipped with a liquid surface detecting means and an obstacle detecting means and sucks and discharges the sample or the reagent, and a dispensing probe moving means which moves the dispensing probe in horizontal and vertical directions to analyze the resulting mixed solution is constituted as follows.例文帳に追加

液面検知手段及び障害物検知手段を備え且つサンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、前記分注プローブ及び前記分注プローブ移動手段により、前記サンプルと前記試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置のセル型治具100を次のように構成する。 - 特許庁

A microscopic observation method for observing an observation object by an optical microscope is provided for performing the steps including: a thin film-forming step of forming a thin film at least absorbing or scattering light on a surface of the observation object containing a plurality of types of constituent materials to thereby prepare an observation sample; and an observing step of observing the observation sample by the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡によって観察対象物を観察するための顕微観察方法であって、複数種の構成材料を含む観察対象物の表面に少なくとも光を吸収又は散乱する薄膜を形成する薄膜形成工程を実施することにより観察用試料を作製し、さらに、該観察用試料を光学顕微鏡によって観察する観察工程を実施する顕微観察方法を提供する。 - 特許庁

In the signal detection apparatus detecting an atomic force acting between a probe and a sample and measuring the unevenness or electric characteristic of the sample surface from changes in signals, the probe is driven by an electrostatic force working between a plate electrode on the support base of the probe and another plate electrode provided oppositely to the former electrode on the probe and the displacement of the probe is detected from changes in electrostatic capacitance between the electrodes.例文帳に追加

プローブと試料との間に働く原子間力を検出し、それらの信号の変化から該試料表面の凹凸あるいは電気特性を測定する信号検出装置において、前記プローブを、該プローブの支持基板上の平板電極と、それに対向して設けられた該プローブ上の平板電極との間に働く静電力によって駆動し、該電極間の静電容量の変化から、前記プローブの変位を検出するように構成する。 - 特許庁

In the method of quantifying measured molecules in a sample, an enzyme labeled antibody produced by coupling an antibody against the measured molecules to cholinesterase is mixed with the sample to cause an antigen-antibody reaction, and then cholinesterase activity of an enzyme labeled antibody coupled to the measured molecules or an enzyme labeled antibody that is not coupled to them is measured using a surface plasmon resonance method.例文帳に追加

本発明は、試料中の測定対象分子を定量する方法であって、測定対象分子に対する抗体とコリンエステラーゼとが結合した酵素標識抗体を試料と混合して抗原抗体反応を生じさせた後、測定対象分子と結合した酵素標識抗体又は結合していない酵素標識抗体のコリンエステラーゼ活性を表面プラズモン共鳴法を用いて測定することを含む前記方法に関する。 - 特許庁

The present invention discloses a solid support formed with a carbon layer on its surface, and the method of separating the substances in the sample by gel electrophoresis, of transferring thereafter the substances separated into the gel onto the solid support, and of eliminating/ionizing the substances on the solid support to analyze the plurality of substances mass-spectrometrically.例文帳に追加

表面にカーボン層が形成された固体支持体、及び試料中の物質をゲル電気泳動で分離後、ゲル中に分離された物質を該固体支持体上に転写し、該固体支持体上の物質を脱離／イオン化することにより複数の物質を質量分析する方法。 - 特許庁

A first side surface is provided to the observation device which keeps a liquid crystal modulation element controlled so that right-handed circular polarized light and a left-handed circular polarized light are selectively formed by the liquid crystal modulation element thereby observing a sample by the light penetrating through a polarizer.例文帳に追加

本発明の第１の側面は、液晶変調素子によって、右回り円偏光及び左回り円偏光が選択的に作り出されるように前記液晶変調素子が制御され、偏光子を通過する光によって試料を観測することを特徴とする観測装置にある。 - 特許庁

The front surface of the practicing paper sheet 1 is printed, in addition to the character sample book 2, with figures 3-1 to 3-4, 4-1 to 4-3, a circular frame 5, a cross-shaped line 5, a circular auxiliary frame 7, and a frame 8 indicating a position where where a name is written.例文帳に追加

練習用紙１の表面には、文字手本２のほか、文字手本２の筆順を示す数字３−１〜３−４，４−１〜４−３、円形の枠５、枠５の中心を示す十文字状の線６、円形の補助枠７、名前を書く位置を示す枠８を印刷する。 - 特許庁

A measuring method for glossiness includes the following procedure: measuring light is applied to a sample surface at an incidence angle φ; an angle distribution function of scattered light intensity is measured; and glossiness Gφ is determined based on a differential value with respect to a scattering angle of the angle distribution function of the scattered light intensity.例文帳に追加

サンプル表面に対して入射角φで測定光を照射し、散乱光強度の角度分布関数を測定し、前記散乱光強度の角度分布関数の散乱角に関する微分値に基づいて光沢度Ｇφを決定することを特徴とする光沢度の測定方法。 - 特許庁

An electric field for opening a punch hole on the cell surface is impressed on the reaction field into which a sample solution including cells and magnetized fine particles are introduced and a magnetic field is applied to the reaction field in order to introduce the magnetic fine particles through the punch hole.例文帳に追加

本発明は、細胞を含む試料溶液と磁性を有する微粒子が導入されている反応場に細胞表面に穿孔を開けるための電界を印可し、その穿孔より磁性を有する微粒子を細胞内へ導入するため反応場に磁界を印可することにより達成する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for inspecting patterns, capable of preventing incorrect detection of defects while shortening the inspection time by controlling the focal deviation of an electron beam or the deviation of irradiation position, which is caused by the charging phenomenon on the surface of a sample incident to irradiation with an electron beam in the inspection of fine patterns.例文帳に追加

微細なパターンの検査において、電子ビームの照射によって生じる試料表面の帯電現象による電子ビームの焦点ずれや照射位置のずれを抑制し、欠陥の誤検出を防止するとともに、検査時間を短縮できる検査装置，検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a chemical amplification type resist composition which exhibits sufficient transmissivity when an exposure light source for F_2 excimer laser light (157 nm) is used, has a fast etching speed, and improves roughness of a sample surface after dry etching, and to provide a pattern forming method using the same.例文帳に追加

１６０ｎｍ以下、具体的にはＦ_2エキシマレーザー光（１５７ｎｍ）の露光光源使用時に十分な透過性を示し、エッチング速度が速く、かつドライエッチングを実施した後のサンプル表面の荒れが改善された化学増幅型レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

In addition to a spectral ellipsometer, there are a probe 9; a second light source 10 that becomes an excitation light emission means for emitting excitation light for generating near-field light; and a 3D actuator 11 that becomes a movement means for allowing the probe to approach a sample emission surface of the measurement light.例文帳に追加

分光エリプソメータに加えて、プローブ９と、近接場光を発生させる励起光を照射する励起光照射手段となる第２の光源１０と、上記プローブを測定光の試料照射面に近付ける移動手段となる３Ｄアクチュエータ１１とを備えている。 - 特許庁

A height measurement function using a laser beam is provided by using a part of components of an optical microscope equipped in the electron beam analyzer, and consequently, the unevenness image of the sample surface can be simultaneously measured in the same visual field as the EPMA analysis image and the SEM observation image.例文帳に追加

レーザーを用いた高さ測定機能を、電子線分析装置が備える光学顕微鏡の構成要素の一部を兼用することによって設け、これによって、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時測定を可能とする。 - 特許庁

The derivation processing part derives the growing degree relative to a plurality of drops of dew on the sample surface, and derives the adhesive size by performing statistical processing by removing the dew having a growing degree over a prescribed threshold to a growing degree of the dew having the smallest growing degree.例文帳に追加

導出処理部は、試料表面上の複数の露について成長度合いを導出するとともに、成長度合いの最も小さい露についての成長度合いに対して所定の閾値以上の成長度合いを有する露については除外して統計処理して付着物の大きさを導出する。 - 特許庁

To provide a usage of a microchip capable of preventing the adhesion of a sample, the occurrence of air bubbles, etc. by performing a proper treatment such as hydrophilic treatment or the like over the whole surface of a microflow channel, the microflow channel and the microchip.例文帳に追加

マイクロ流路の全表面にわたって、親水化などの適切な処理を行うことにより、試料の付着及び気泡の発生等を防止することができ、微量の試料で正確な分析を行うことができるマイクロチップの使用方法、マイクロ流路及びマイクロチップを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection method that can appropriately control a charge amount of a surface of a sample even when the irradiation current value for enlarging the throughput or the like is increased, obtains clear image data with small distortion, and can perform an inspection with high reliability.例文帳に追加

スループットを大きくする等のため照射電流値を増加する場合にも試料表面の帯電量を適切に制御することができ、歪の小さい鮮明な画像データが取得され、信頼性の高い検査を行うことができる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device, capable of correcting an output value of an optical detector without needing a standard sample by inspecting a correction value, by driving the optical detector, using metered correction applied voltage calculated based on photoelectron multiplication factor.例文帳に追加

計測した光学検出器の光電子増倍係数を基に計算した補正印加電圧を用いて光学検出器を駆動して補正値を検査することにより、基準となる試料を必要とすること無く、光学検出器の出力値を補正することが可能な表面検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for certainly sticking a sample to a substrate, more concretely, without using a metal ion source as a solution, and without requiring an expensive coat on the rear surface of a cantilever.例文帳に追加

本発明は走査型プローブ顕微鏡に関し、更に詳しくは溶液として金属イオン源を用いることなく、またカンチレバー背面に高価なコートをする必要がなく、かつ試料を確実に基板に付着させることができる走査型プローブ顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

Pressure is reduced for the injection port in the sealed space 9 to get lower than a pressure value provided by head pressure generated between a liquid face of the ink tank 13 and the opening end of the nozzle from the maximum leak-tight pressure by surface tension of the nozzle, and the liquid sample is injected under the condition provided therein.例文帳に追加

密閉空間９は、ノズルの表面張力による最大耐漏圧から、インクタンク１３の液面とノズルの開口端との間に生じる水頭圧を減じた値よりも小さい圧力が注入口に対して減圧され、その状態で液体試料が注入される。 - 特許庁

To facilitate a focusing operation for an optical microscope or the like onto a sample surface or a backface of a cantilever, to allow automatic focusing by a simple method, and to make a focusing method suitable for automatic measurement, in a scanning type probe microscope compounded with the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡等が複合された走査型プローブ顕微鏡で、試料表面やカンチレバーの背面への光学顕微鏡等の焦点合せ操作を容易に行え、簡易な方法で自動的な焦点合せを可能とし、測定の自動化に適した焦点合せ方法を提供する。 - 特許庁

To perform the measurement of mm-class wide scanning with high reproducibility and measuring accuracy without causing such problems as probe wear excluding undesirable force to the sample surface being applied to the probe with a scanning probe microscope for observing a μm-class fine target.例文帳に追加

μｍ級の微小対象物の観察を行える走査型プローブ顕微鏡で、探針に加わる好ましくない試料表面に平行な力を除き、ｍｍ級の広域走査の測定を探針摩耗等の問題を起こすことなく高い再現性、測定精度で行えるようにする。 - 特許庁

To solve a problem that accuracy is deteriorated by fluctuation in a measurement value caused by fluctuation in an ablation laser spot position and a spot area on a sample surface when measuring the laser-induced fluorescence of an element generated by irradiating plasma generated at irradiation with ablation laser light with a laser having a resonance wavelength.例文帳に追加

アブレーションレーザ光を照射して生成したプラズマに共鳴波長のレーザを照射して発生させた元素のレーザ誘起蛍光を測定する際に、試料面上のアブレーションレーザスポット位置やスポット面積の変動によって測定値が変動し、精度が劣化する問題を解決する。 - 特許庁

A defect inspection method for inspecting the defect of the surface of a sample, includes the step of detecting the defect by addition processing of a detecting signal in which the amount of the misalignment of a pixel of detection signals calculated by comparing the distribution of Haze signal and predetermined light quantity distribution is corrected.例文帳に追加

試料の表面の欠陥を検査する欠陥検査方法であって、Ｈａｚｅ信号の分布と予め定めた光量分布とを比較して算出した検出信号の画素ずれ量を補正した検出信号を加算処理して欠陥を検出する工程を有する欠陥検査方法。 - 特許庁

To provide a device for attaining a new scanning method which is always not associated with the contact of a probe with a sample surface, such as that in a non-contact mode or a point contact mode, and a scanning method thereof, while maintaining the versatility of a contact mode, in physical property measurement of a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の物性測定において、コンタクトモードの汎用性を維持しつつ、非接触モードやポイントコンタクトモードのように、常時探針と試料表面の接触を伴わない新たな走査方法を実現する装置及びその走査方法を提供する。 - 特許庁

This paper ejecting device carries paper wastes and trial prints along a carrying passage 28 over a regularly formed pile 14 in order to sample them as necessary, and delivers them to an abutting surface 27.4 constituted of a carrying wheel part 27.1 of a suction belt conveyor 26.例文帳に追加

排紙装置は、損紙や試し刷りを必要に応じて抜き取るために、これらを搬送軌道２８に沿って、普通であれば形成されるパイル１４を超えてさらに搬送し、吸引ベルトコンベヤ２６の搬送ホイール間部２７．１によって構成された当接面２７．４に渡す。 - 特許庁

When a change of the image observation magnifying power is instructed during the scanning of the probe, the changing action of the image observation magnifying power is made at the middle point of the image observation visual field, and the tip of the probe can be prevented from colliding with the sample surface.例文帳に追加

同様にして、プローブの走査中に像観察倍率の変更が指示された場合にも、像観察倍率の変更の動作を像観察視野の中点の位置で行うようにすることによって、プローブの先端と試料表面とが衝突することを防止することができる。 - 特許庁

Upon finding the critical angle θc, the control means 14 elongates the body 12 of a piezoelectric element in the direction A and, at the same time, contracts the body 13 of another piezoelectric element 13 in the direction -A so that the angle between the center axis of a multi-capillary 15 and the surface of the sample may become θc.例文帳に追加

そして、圧電素子制御手段１４は全反射臨界角θｃを求めると、マルチキャピラリ１５の中心軸Ｏと試料面との成す角度がθｃとなるように、前記圧電素子体１２をＡ方向に伸ばすと共に前記圧電素子体１３を−Ａ方向に縮める。 - 特許庁

This method for separating dioxins comprises subjecting a sample containing lipid and dioxins to a supercritical fluid chromatography using a porous zeolite particle or porous surface decorative particle as adsorption medium, thereby separating the lipid from the dioxins.例文帳に追加

脂質及びダイオキシン類を含む試料を、吸着媒体として多孔性ゼオライト粒子又は多孔性表面修飾粒子を用いた超臨界流体クロマトグラフィーにかけることにより前記脂質とダイオキシン類とを分離することを含む、ダイオキシン類の分離方法を提供した。 - 特許庁

An observation area of the surface of a sample is scanned by irradiating an electronic beam, an image (SEM image) is acquired based on a detection signal of a secondary electron by a detector 99a arranged at a diagonal upper part of the observation area, and length L of a shadow of a pattern 82 which appears on the image is detected.例文帳に追加

試料表面の観察領域を電子ビームを照射で走査し、観察領域の斜め上方に配置された検出器９９ａによる二次電子の検出信号に基づいて画像（ＳＥＭ画像）を取得し、その画像に現れるパターン８２の影の長さＬを検出する。 - 特許庁

The prism 20 includes a groove part 25 used for the flow passage 24 for sending sample solution to the linker film 23, an injection part 26 and a discharge part 27, and the sealing plate 21 abuts on the prism 20 from the bottom surface side and blocks the groove part 25, to thereby form the flow passage 24.例文帳に追加

プリズム２０には、リンカー膜２３に試料溶液を送液するための流路２４となる溝部２５と注入部２６と排出部２７とが設けられており、封止板２１が底面側からプリズム２０に当接して溝部２５を塞ぐことにより、流路２４が形成される。 - 特許庁