「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(43ページ目) - Weblio英語例文検索

A sample including the biosubstance is analyzed using a biosubstance fixing carrier having a substrate and the ITO layer provided on the substrate and further having the functional group specifically bonded to the biosubstance on the surface thereof.例文帳に追加

基板と、基板上に設けたＩＴＯ層とを有し、表面に生体物質と特異的に結合する官能基をさらに有する、生体物質固定化用担体を用いて生体物質を含む試料を分析する。 - 特許庁

The guide cover 31 is only moved along the top surface of the sample medium M and then color patches are arranged opposite the head 11 in order as the guide cover is moved, so that the head 11 automatically measures the colors of the color patches in order.例文帳に追加

サンプルメディアＭの表面に沿ってガイドカバー３１を移動させるだけで、その移動に伴って複数のカラーパッチが順次ヘッド１１に対向配置され、ヘッド１１はそのカラーパッチを順次自動的に測色する。 - 特許庁

If the structure of the sample 12, such as film thickness, density, the roughness of a surface or interface, and crystal orientation, is nonuniform, the distribution of the scattering intensities detected becomes a speckle that reflects the nonuniformity.例文帳に追加

この時検出される散乱強度の分布は、試料１２の膜厚、密度および表面・界面のラフネスや結晶方位といった構造が不均一である場合、その不均一性を反映したスペックルとなる。 - 特許庁

For an initial stage of measurement, short initial pump pulses 4 of optical radiation are condensed by a lens 5 to a local region 13 on a sample 6, having a free surface at perpendicular or almost perpendicular angle of incidence.例文帳に追加

測定の初期段階のために、光放射の短い初期ポンプパルス４が垂直またはほとんど垂直の入射角で、自由表面を有する試料６上の局所領域１３にレンズ５によって集束される。 - 特許庁

The wall surface of a sample flow channel 3 is also made of an elastically deformable film 2 on the same substrate, and the working fluid from the pressurization tank 7 flows into a driving tank 4 disposed on the opposite side with respect to the film 2.例文帳に追加

一方、同じ基板には試料流路３の壁面も弾性変形可能な膜２で作製し、この膜２をはさんで反対側に設けた駆動槽４に加圧槽７からの作動流体が流れ込める構造とする。 - 特許庁

To provide a technique that allows a sample surface with an insulation region and a conduction region formed thereon to be observed under high contrast, and that facilitates detection of a deletion defect and an open defect and classification of the defect types.例文帳に追加

絶縁領域と導電領域が形成されている試料面の観察を高コントラストで行い、且つ、欠落欠陥や開放欠陥の検出と欠陥種類の分類を容易なものとする技術を提供すること。 - 特許庁

To provide a means capable of judging the mounting posture of the sensor mountable on either one of the surface and rear of a detector body and capable of accurately detecting the substance to be detected in a biological sample.例文帳に追加

表裏のいずれでも装置本体に装着可能なセンサが、いずれの姿勢により装着されたかを判断することができ、かつ生体試料中の被検出物質を正確に検出できる手段を提供する。 - 特許庁

To provide a self-sensing type SPM probe represented as a self-sensing SPM probe which is constituted of a cantilever having a piezo resistor and which does not generate a leakage current in the case of measuring a surface potential of a sample.例文帳に追加

ピエゾ抵抗体を設けたカンチレバーから構成され且つ試料の表面電位を測定する際に、リーク電流の生じない自己検知型ＳＰＭプローブに代表される自己検知型ＳＰＭプローブを提供する。 - 特許庁

Provided is the optical microscope where an infrared-visible conversion part is arranged at a conjugate position to a sample surface in a microscope equipped with an objective, an eyepiece and an infrared light source.例文帳に追加

本発明の上記課題は対物レンズと接眼レンズと赤外光源を備えた顕微鏡において、標本面と共役位置に赤外可視変換部が配置されることを特徴とする光学顕微鏡によって解決される。 - 特許庁

A metal test piece 2 is cut out of a sample 1 in a cutting process P1, and a complementary layer formed of a plating layer 3 is formed on the most surface layer of the metal test piece 2 in a plating layer preparing process P2.例文帳に追加

図２に示すように、金属試験片２を試料１から切断工程Ｐ１により切り取り、メッキ層作製工程Ｐ２により金属試験片２の最表層にメッキ層３からなる補完層を形成する。 - 特許庁

Since the reflected beam from the sample surface is detected by each light receiving element (19) separated by a light shielding member, a con-focal optical system is established, resulting in higher resolution for defect detection.例文帳に追加

さらに、試料表面からの反射ビームは、遮光部材により分離された各受光素子（１９）により受光されるので、コンフォーカル光学系が構成され、この結果、欠陥検出の分解能が一層高くなる。 - 特許庁

Further, the near-field light produced on the measuring surface of the sample S is measured with in-plane space resolution of an order of the wavelength or below of light by condensing the near-field light using the polarizing probe 2.例文帳に追加

また、偏光プローブ２を用いて近接場光を集光することで、試料Ｓの測定面に生じる近接場光を光の波長以下のオーダーの面内空間分解で測定することができる。 - 特許庁

In the device for monitoring the accumulation of noble metal in the intergranular stress corrosion crack (IGSCC) inside the core shroud wall 20, a metal sample 200 is located in a vicinity of the inner surface of a metal shroud wall in a reactor.例文帳に追加

炉心シュラウド２０壁内の粒間応力腐食割れ（ＩＧＳＣＣ）内への貴金属の堆積を監視する装置において、金属試料２００は、原子炉金属シュラウド壁の内部表面付近に配置する。 - 特許庁

To provide a protective device for preventing damage by corrosion of an expensive X-ray tube even if a highly corrosive sample drops on the X-ray tube in an under surface irradiating fluorescent X-ray analyzer.例文帳に追加

下面照射型蛍光Ｘ線分析装置において、腐食性の強い試料がＸ線管球上に落下しても、高価なＸ線管球の腐食などによる損傷を防ぐことができる保護装置を提供する。 - 特許庁

To prevent a gate electrode exposed to a surface from making continuity with a reference electrode via a sample solution in electrolyte due to the nonuniformity of the combination density of a probe DNA that is combined on the gate electrode.例文帳に追加

ゲート電極上に結合するプローブＤＮＡの結合密度が不均一になることによって、表面に露出したゲート電極が電界質のサンプル溶液を介して参照電極と導通することを防ぐ。 - 特許庁

A light-receiving diode 14 is provided in the lens-barrel 11 of an optical microscope 3 of the Vickers hardness tester 1 to detect the quantity of light, which is reflected at the surface of a sample and passes through an object lens 5 and through the lens-barrel 11.例文帳に追加

ビッカース硬さ試験機１の光学顕微鏡３の鏡筒１１内に受光ダイオード１４を設け、試料表面にて反射し、対物レンズ５を通過して鏡筒１１を通る光の光量を検出する。 - 特許庁

The vessel for distributing the aqueous liquid sample into the minute wells is characterized by having a plurality of the minute wells having ≤10 mm^2 cross-sectional area and ≤60° contact angle of the inner surface of the minute wells with water.例文帳に追加

断面積１０mm^2以下の微小ウェルを複数個有し、当該微小ウェルの内表面の水との接触角が６０°以下であることを特徴とする、水性液体試料を微小ウェル内に分配するための容器。 - 特許庁

The object to be worked is worked while forcedly and relatively vibrating the probe 6a in a direction perpendicular to a working surface of the sample or in a parallel direction at a low frequency of 100-1,000 Hz.例文帳に追加

探針６ａを１００〜１０００Ｈｚの低周波数で試料の加工面に直交する方向、またはあるいは平行な方向に強制的に相対加振しながら、被加工物を加工するものである。 - 特許庁

The adhesion generated between the surface of sample and a probe is measured in a measuring part, and the value measured in the measuring part is processed in an arithmetic part to calculate the standard deviation of the adhesion.例文帳に追加

測定部において試料表面と探針との間に生じる付着力を測定し、演算部において上記測定部において測定した測定値を処理して付着力の標準偏差を算出する。 - 特許庁

By use of this phenomenon, the surface of a metal sample is observed and evaluated in the state where selective discharge is caused according to the kind of inclusions or the like, whereby information of a specified kind of inclusions or the like can be obtained.例文帳に追加

この現象を利用し、介在物等の種類に応じて選択放電を起こした段階において金属試料の表面を観察評価して、特定の種類の介在物等の情報を得ることができる。 - 特許庁

This SEM 1 is equipped with a CAD image storage part 17 for storing data of a CAD image generated based on CAD data of a sample 105, for showing its surface shape, in addition to an SEM image acquisition part 11.例文帳に追加

ＳＥＭ１は、ＳＥＭ画像取得部１１のほかに、試料１０５のＣＡＤデータに基づき生成され、その表面形状を表わしたＣＡＤ画像のデータを記憶するＣＡＤ画像記憶部１７を備える。 - 特許庁

The single light-receiving element 16 is provided for measuring internal diffuse light 15 emitted from the sample 18 and comprises a mask 17 for discriminating the internal diffuse light 15 from surface-reflected light 13.例文帳に追加

この単一受光素子１６は、試料１８から出てくる内部拡散光１５を測定するために設けられており、内部拡散光１５と表面反射光１３の弁別を行うためのマスク１７を有している。 - 特許庁

At this time, the X-ray lens 10 is arranged, in such a way that a front focus O1 of the X-ray lens 10 is located at the surface of the sample 2 and that its rear focus O2 is located between the X-ray lens 10 and the flat analyzing crystal 4A'.例文帳に追加

この際、Ｘ線レンズ１０は、その前焦点Ｏ_1が試料２の表面に位置し、その後焦点Ｏ_2がＸ線レンズ１０と平板分光結晶４Ａ′の間に位置するように配置する。 - 特許庁

And the vessel has a bottom 11 and a peripheral wall 12 set upward from the periphery of the bottom 11 almost perpendicularly, wherein the sample mounting part 15 is formed monolithically on the surface of the bottom 11.例文帳に追加

また、底部１１と該底部１１の周縁部からほぼ垂直上方に向かって設けられた周壁部１２とを備え、前記底部１１の上面に前記試料載置部１５が一体的に形成されている。 - 特許庁

To provide a microprobe capable of simplifying the constitution, improving measuring accuracy on the sample surface, and not requiring alignment adjustment in each measurement, and a scanning probe device using the microprobe.例文帳に追加

構成を簡易にすることができるとともに、試料面の測定精度を向上させることができ、しかも測定毎のアライメント調整を不要にすることができるマイクロプローブおよびそれを用いた走査型プローブ装置を得ること。 - 特許庁

Thereafter, a data quantity (correction quantity) determined from the approximate expression at each scanning position (x) is subtracted from the measured data in the whole scanning range by a data correction part 33, and the extracted data are used as corrected sample surface data.例文帳に追加

続いて、データ補正部３３で、全走査範囲の前記実測データから、各走査位置（ｘ）にて前記近似式により求めたデータ量（補正量）を差し引き、差し引いたデータを、補正された試料表面データとする。 - 特許庁

Negative charge is applied to the surface of a solid sample by an electrode 14 and a tape 21 is positively charged by an electrode 13 and a cutter 31 is moved by a cutter feeding motor 34 to perform slicing.例文帳に追加

固形試料１０の表面を電極１４により負電荷で帯電させると共に、テープ２１を電極１３により正電荷で帯電させ、カッタ送り用モータ３４によりカッタ３１を移動させて薄切を行う。 - 特許庁

The resonance angle of the sample solution being dispensed into each cell that is selected based on the intensity of each reflection light from the metal thin-film boundary surface of the glass substrate 7 corresponding to each cell 5a can be simultaneously detected.例文帳に追加

各セルに対応するガラス基板の金属薄膜境界面からの各反射光の強度に基づいて選択された各セル内に分注された試料溶液の共鳴角を同時に検出可能にする。 - 特許庁

To provide a structure of a grain tank, making it possible to directly watch a sorting state through a sight glass positioned on the outside surface of the grain tank, by arranging a device for collecting sample grains inside the grain tank so that the sorting state can be directly watched arbitrarily while threshing operation is continuously conducted.例文帳に追加

連続作業中の選別状態が任意に直視できるようにしたサンプル穀粒の採取装置をグレンタンク内に設け、外面に添設する透視窓から直視できるグレンタンク構造にしたものである。 - 特許庁

The object to be analyzed contained in the sample is detected through the spectral change of the light which comes into collision with the surface of the object before and after the object is bonded to a bonding layer on the substrate of a thin film device by using the thin film device.例文帳に追加

薄膜デバイスを使用し、その基質上の結合層に対する分析対象物の結合前後の表面に当る光のスペクトル変化を通して試料中の分析対象物を検出する。 - 特許庁

An outlet/inlet part 5 such as a door is formed on a wall surface 2b on the north side, and in the case of internal inspection and water quality inspection, an inspector can pass through an entrance section, observe the interior of the water storage tank 1 and sample water.例文帳に追加

北側の壁面２ｂには、ドア等の出入口部５が設けられており、内部点検や水質検査の際に出入りして、貯水槽１の中を観察したり、水を採取することができるようになっている。 - 特許庁

The method for manufacturing the sample to observe the defect in the silicon crystal by the transmission electron microscope comprises the steps of releasing only a shallow region on the surface of the crystal, and thinning the region to the thin piece samples.例文帳に追加

シリコン結晶中の欠陥を透過型電子顕微鏡で観察するための試料作製方法であって、結晶表面の浅い領域のみを剥離させて薄片化し薄片試料とするようにした。 - 特許庁

(c) A damaged region 105 is then recrystallized by heat-treating a sample and a doped hard silicon layer 106 is formed on the surface of the silicon thin film 103 where the opening 104 is formed.例文帳に追加

（ｃ）次に試料を加熱処理することにより損傷領域１０５が再結晶化され、開口１０４が形成されたシリコン薄膜１０３の表面には不純物が導入された硬シリコン層１０６が形成される。 - 特許庁

Then, the resin 3 is hardened, and prescribed polishing, such as mechanical polishing or ion polishing, is applied to the observation surface of the observation object 2, to thereby form a sliced sample for observation having the thickness of 100 nm or less.例文帳に追加

そして、この後、樹脂３を硬化させ、観察対象物２の観察面に、機械研磨やイオン研磨等、所定の研磨を施すことで、厚さ１００ｎｍ以下の薄片状の観察用試料を形成する。 - 特許庁

When the equipment is used, the pattern is positioned to an accurate position, and high-accuracy electron beam lithography can be performed even when the height of a sample in the image forming surface of the beam changes by preventing unnecessary deflection of electrons caused by the focal point correction.例文帳に追加

本発明によれば、焦点補正による不要な電子偏向防止されてビーム結像面である試料面の高さ変化があっても正確な位置にパターン露光され高精度の電子ビーム描画が可能となる。 - 特許庁

A metal thin film 23 for causing surface plasmon resonance, and a biochemical reaction detecting portion 24 provided on the metal thin film 23 to contact with a DNA sample 25, are provided in the light-reflecting face 21a.例文帳に追加

光反射面２１ａには、表面プラズモン共鳴を起こす金属薄膜２３と、この金属薄膜２３上に設けられ且つＤＮＡ試料２５に接触する生化学的反応検出部位２４とが設けられている。 - 特許庁

Frequency of the AC voltage/current source 30 is set to satisfy the LC resonance conditions of the inductance 20(L) and the capacitance C of an insulation film 11 provided on the surface of the semiconductor sample 10.例文帳に追加

交流電圧電流源３０の周波数は、インダクタンス２０（Ｌ）と半導体試料１０の表面に設けられる絶縁膜１１のキャパシタンスＣとのＬＣ共振条件を満足させるように設定される。 - 特許庁

A transmission electron microscope 5 photographs a three-dimensional shape of the surface 12a of the static bio cells and that of a static organic sample 11, after photographing by the reflection electron microscope 4.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡５は、反射型電子顕微鏡５による撮影終了後に、静止したバイオセル１２の表面１２ａの三次元形状と、静止した生体試料１１の三次元形状を撮影する。 - 特許庁

To enhance convergency of a primary ion, and to reduce a work function on a sample surface to enhance a secondary ionization rate further, as to a method and an instrument for measuring a depth-directional element distribution.例文帳に追加

深さ方向元素分布測定方法及び深さ方向元素分布測定装置に関し、一次イオンの収束性を高めるともに、試料表面の仕事関数を低下させて負の二次イオン化率をさらに高める。 - 特許庁

The angle resolving electron spectroscope of the diffraction plane aperture transmission energy control type allows electrons emitted from the surface of a sample 10 to be injected into a front-stage electrostatic lens 18 via an introducing port 16.例文帳に追加

回折面アパチャー透過エネルギー制御方式の角度分解型電子分光器では、試料表面１０から放出される電子が取り込み口１６を介して静電型前段の電子レンズ１８に入射される。 - 特許庁

To provide a probe for surface enhanced vibration spectroscopic analysis having excellent detection sensitivity even to laser light having the intensity to the degree of not damaging a sample, and having a long lifetime, and its manufacturing method.例文帳に追加

試料に損傷を与えない程度の強さのレーザー光に対しても優れた検出感度を有し、かつ長寿命である表面増強振動分光分析用プローブおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To use a compact and inexpensive Penning type inert element ion beam device as one for removing a remnant layer, a crushed layer formed on the surface of a sample by irradiation of focused ion beam device.例文帳に追加

集束イオンビーム照射により試料表面に形成される残存層、破砕層を除去するために用いる不活性元素イオンビーム装置として、小型で安価なペニング型不活性元素イオンビーム装置を用いる。 - 特許庁

A high-speed response is accomplished by detecting ions 27 which move horizontally along the surface of the secondary electron detector 17 and suppressing detection of ions 24 which move vertically back to a sample stage 23.例文帳に追加

また、二次電子検出器１７の面に対して水平に移動するイオン２７を検出し、試料台２３に帰る垂直方向に移動するイオン２４を検出しないようにすることで、高速応答を実現する。 - 特許庁

The system includes a platen 10, having two substantially parallel planar surfaces and a plurality of through-holes 12 dimensioned so as to maintain a liquid sample 18 in each through-hole by surface tension.例文帳に追加

システムは、２つの平行な平坦及び複数の貫通孔１２を有するプラテン１０を有し、表面張力によって各貫通孔内に液状サンプル１８を維持するように貫通孔の寸法が定められる。 - 特許庁

To provide a method with which a fracture generated on the surface of a sample is detected and specified with the maximum accuracy without errors by detecting and analyzing the fracture, so as to obtain information on the structure and depth of the fracture.例文帳に追加

欠損の構造および深さ寸法に関する情報を得るため、試料表面に生じた欠損を検出及び分析し、誤り無く最大限の精度で欠損を検出特定する方法を提供する。 - 特許庁