「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(46ページ目) - Weblio英語例文検索

The inside surface is constructed so that a curvature radius of an arc may decrease from a sample 1 to a detector 14 along the reference line and an angle formed by a line segment and a reference line from a reference intersection to the sample 1 side may decrease, which connects an arc intersection at which an arc and a reference plane intersect and a reference intersection at which the reference line and a plane including an arc intersect.例文帳に追加

内側面は、基準直線に沿って試料１から検出器１４に向かって、円弧の曲率半径が小さくなるとともに、円弧と基準平面とが交わる円弧交点と、基準直線と円弧含有平面とが交わる基準交点とを結ぶ線分と、基準交点から試料１側の基準直線との成す角が小さくなるよう構成されている。 - 特許庁

To realize a method for laser ionization mass spectrometry that performs operations such as classification of spectra according to pulses and computation with use of a signal of ions (index ions) generated through interaction between pulse laser light and either the surface of a substrate or the interface between a sample and the substrate and thereby attempts to extract a desired signal and filter out undesirable background noise, and to realize a substrate for the sample.例文帳に追加

パルスレーザー光と基板の表面または試料と基板の界面との相互作用により発生するイオン（指標イオン）の信号を利用してパルス毎のスペクトルに分類または演算などの操作を施し、望ましい信号の抽出や望ましくないバックグラウンドノイズの除去を行うようにしたレーザーイオン化質量分析法及びその試料用の基板を実現する。 - 特許庁

A defect inspection device is provided with a first irradiating means S for irradiating a sample 9 by emitting primary electron beams, mapping optical mechanisms 11 to 13 or imaging secondary electrons emitted from the surface of the sample 9 irradiated with the secondary electron beams, a detector D for detecting the secondary electrons, and an image treatment mechanism 18 for treating signals from the detector D.例文帳に追加

欠陥検査装置は、一次電子線を放出して試料９を照射するための第１の照射手段Ｓと、一次電子線で照射された試料９の表面から放出された二次電子を結像させるための写像光学機構１１〜１３と、二次電子を検出するための検出器Ｄと、検出器Ｄからの信号を処理する画像処理機構１８とを具備する。 - 特許庁

The work function measuring instrument 100A is constituted so as to calculate the work function of the probe 2A of a conductive cantilever 1A from the known work function value of each region of a standard sample 3A calculated by photoelectron spectroscopy and the surface potential value of each region of the standard sample 3A measured by a scanning Kelvin force microscope having the conductive cantilever 1A.例文帳に追加

仕事関数測定装置１００Ａは、光電子分光法により求められた標準試料３Ａの各領域の既知の仕事関数値と、導電性カンチレバー１Ａを有する走査型ケルビンフォース顕微鏡により計測された標準試料３Ａの各領域の表面電位値とから、導電性カンチレバー１Ａの深針２Ａの仕事関数を算出する。 - 特許庁

The chemical separator includes a substrate for forming a channel, a plurality of columnar bodies worked of the substrate and extended from the channel, an electric insulation layer provided on a surface of the substrate, and an immobilization phase joined to the columnar bodies reacting with an analyzed sample introduced into the channel for the separation, and the analyzed sample is electrically insulated from the substrate.例文帳に追加

化学的分離装置は、チャネルを画定する基板、該基板から加工され、かつ該チャネルより延びる複数の柱状体、基板の表面に設けられた電気的絶縁層、および柱状体に接合した固定相で、該柱状体が、分離を行うために該チャネルに導入された被分析試料と反応を起こす固定相、を含み、前記被分析試料は前記基板から電気的に絶縁される。 - 特許庁

To accurately measure the position of patterns and the patterns by highly precisely matching the patterns over the entire surface of a flat sample without being influenced by the change of a parameter in an electro-optical system due to re-focusing when there is a distortion exceeding the focus depth in the electro-optical system on the flat sample, as to a method and a device for collating the patterns.例文帳に追加

本発明は、パターン照合方法およびパターン照合装置に関し、平坦試料上で電子光学系の焦点深度を超えた歪みがある場合などに再フォーカス合わせによる電子光学系のパラメータの変化による影響を受けることなく平坦試料の全面に渡って高精度にパターンマッチングしてパターンの位置およびパターン測長を正確に行うことを目的とする。 - 特許庁

This surface analyzer is provided with a cantilever having a conductive probe opposed to a sample, an electron beam source for emitting an electron beam to a probe portion of the cantilever, and a spectrometer for collecting a charged particle generated from the sample by the X-ray generated from the probe, and for dispersing it spectrally, and the electron beam is emitted toward a probe opposite face of the cantilever.例文帳に追加

試料に対向する導電性探針を有するカンチレバーと、前記カンチレバーの前記探針部分に電子線を照射する電子線源と、前記探針から発生したＸ線により前記試料から発生した荷電粒子を捕集して分光する分光器を備えた表面分析装置であって、前記電子線が前記カンチレバーの探針反対面に照射する表面分析装置。 - 特許庁

In the testing method for accelerating the deterioration in the electrophotographic photoreceptor in which an electrifying step by an electrifier and an exposure step by an exposure device are simultaneously carried out, a sample presser member is arranged between the photoreceptor and the electrifier and the material of the surface of the sample presser member facing the electrifier is formed of a material having insulation properties.例文帳に追加

電子写真用感光体に、帯電器による帯電工程と露光装置による露光工程とを同時に行う電子写真用感光体劣化加速試験方法において、前記感光体と前記帯電器との間にサンプル押さえ部材が配置され、該サンプル押さえ部材の前記帯電器に対向する面の材質が絶縁性を有する材料で形成されていることを特徴とする。 - 特許庁

In this temperature rising desorption gas analyzer equipped with a load locking chamber 1 evacuated under vacuum and the heating chamber 11 for heating the sample fed from the load locking chamber 1 to raise the temperature thereof and measuring the characteristics of the desorption gas of the halogen element generated from the sample 21, the surface of the inner wall of the heating chamber 1 is coated with an aluminum sesquioxide film or a chromium sesquioxide film.例文帳に追加

真空排気されたロードロックチャンバ１と、ロードロックチャンバ１から搬送された試料を加熱、昇温させる加熱チャンバ１１とを備え、試料２１から発生するハロゲン元素の脱離ガス特性を測定する昇温脱離ガス分析装置であって、加熱チャンバ１１内壁の表面が、三酸化二アルミニウム膜または三酸化二クロム膜で被覆されている。 - 特許庁

The nonmetallic inclusion in a sample is surfaced by dissolving the sample extracted from a stainless steel material by arc in a non-oxidizing atmosphere, the whole inclusion area ratio of the nonmetallic inclusion surfaced and collected on a surface after cooling is calculated, and the harmful nonmetallic inclusion in the stainless steel material is evaluated using the whole inclusion area ratio.例文帳に追加

ステンレス鋼材から採取した試料を非酸化性雰囲気中にてアークで溶解することにより試料中の非金属介在物を浮上させ、冷却後表面に浮上・集積した非金属介在物の全介在物面積率を算出し、該全介在物面積率を用いてステンレス鋼材中における有害な非金属介在物を評価することを特徴とする。 - 特許庁

A measurement solution 11 made of a sample solution and an electrolyte solution is held by or passed through an electrochemical cell 5, namely a reaction cell, and light is intermittently applied to a working electrode 10 of which the surface comes into contact with the measurement solution from a light source 8.例文帳に追加

反応セルである電気化学セル５に試料溶液及び電解質溶液からなる測定溶液１１を保持又は通過させ、該測定溶液に表面が接触する作用電極１０に向けて光源８から光を間欠照射する。 - 特許庁

In the correction work, an opening width of a photoreception slit 18 is widened compared with that in the time of measuring the X-ray reflectance, and the analyzer crystal 58 is arranged in the midway of a reflection route to detect a total reflection X-ray 20 from a surface of a sample 16.例文帳に追加

その修正作業では，受光スリット１８の開口幅をＸ線反射率測定時よりも広くして，反射経路の途中にアナライザー結晶５８を配置して，試料１６の表面からの全反射Ｘ線２０を検出する。 - 特許庁

The microscope is also equipped with an optical microscope 17 for observing the measuring spot on the sample surface together with the cantilever, a camera 18 for generating image data from an observation image acquired by a second microscope, and transmitting the data to the control device, and a storage part 51 for storing the image data.例文帳に追加

さらに、試料の表面の測定箇所をカンチレバーと共に観察する光学顕微鏡１７と、第２顕微鏡で得られる観察像から画像データを作り、制御装置に送るカメラ１８と、画像データを記憶する記憶部５１を備える。 - 特許庁

An orbit of the charged particle is calculated in compliance with the decided distribution model, and a surface potential distribution state of the sample is determined on a base of the result of the calculation, (step 523 to 535).例文帳に追加

そして、その取得結果に基づいて、適切な電荷又は電位の分布モデルを決定し、その決定された分布モデルに応じて荷電粒子ビームの軌道を計算し、該計算結果に基づいて試料の表面電位の分布状態を求める（ステップ５２３〜５３５）。 - 特許庁

The fluorescence excited by the exciting light to be generated from the sample surface 16 is condensed by the same Schwarz's mirror 14 to transmit through the half mirror 12 as parallel light and the transmitted light is condensed by a Sshwarz's mirror 18 to be incident on a fluorescence side spectroscope 20.例文帳に追加

励起光により励起されて試料面１６から発生した蛍光は、同じシュワルツ鏡１４により集光され、平行光とされてハーフミラー１２を透過し、シュワルツ鏡１８により集光されて蛍光側分光器２０に入射する。 - 特許庁

(a) Scattered light from a surface of a sample after the same process as that of an inspection object is observed to detect defects based on the intensity of the scattered light, and the positions of the detected defects and the intensity of scattered light caused by the defects are acquired.例文帳に追加

（ａ）検査対象物と同一の処理を経たサンプルの表面からの散乱光を観測して、散乱光の強度に基づいて欠陥を検出し、検出された欠陥の位置、及び当該欠陥に起因する散乱光の強度を取得する。 - 特許庁

In this case, light in an oblique lower direction produced from the adjacent well 10a or from a sample in another well 10a is reflected in an oblique upper direction by the outer-periphery surface of the shading pipe part 2a, and cannot reach the light reception part 1a as stray light.例文帳に追加

この際、隣接するウエル１０ａや他のウエル１０ａ内の試料から発生する斜め下方向からの光は、遮光パイプ部２ａの外周面で斜め上方に向けて反射され、迷光として受光部１ａに達することはない。 - 特許庁

Thus, the image of a uniform plane light source free from irregular luminance occurring at the emitting end of the rod integrator 3 is formed on the observation surface of the sample so as to achieve critical illumination, thereby performing observation in such a state where the depth of focus is shallow in comparison with Koehler illumination.例文帳に追加

これによりロッドインテグレータ３の射出端に生じる輝度ムラの無い均一な平面状光源を試料の観察面に結像しクリティカル照明が実現され、ケーラー照明に比べて焦点深度の浅い状態での観察ができる。 - 特許庁

To provide a method of removing blur of a pattern image acquired by an SEM and easily and accurately measuring the three-dimensional shape of a pattern of a sample surface based on information of the height direction of a pattern acquired by another measuring machine such as an AFM.例文帳に追加

ＳＥＭによって得られたパターン画像のボケを除去し、ＡＦＭなどの他の計測機で得られたパターンの高さ方向の情報と合わせ、試料表面のパターンの３次元形状を簡便にかつ精度良く計測する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cell analyzing and separating apparatus using an inexpensive chip for cell separation which is replaceable in every sample, using a channel formed on one surface of a substrate, and to provide a method for culturing which cultures the separated cells without contamination.例文帳に追加

基板の一面に形成する流路を用いる細胞分離用の安価で試料毎に取替えが可能なチップを用いた細胞分析分離装置と、分離された細胞を汚染されること無く培養可能とする培養方法を提供すること。 - 特許庁

A sample is made of a silicon substrate monocrystal silicon, a protective film made of a silicon oxide film or a silicon nitride film is formed on the surface, a window of 50 μm2 is formed in part of the protective film, and part of the silicon substrate is exposed through the window.例文帳に追加

試料はシリコン単結晶のシリコン基板から成り、その表面にシリコン酸化膜またはシリコン窒化膜による保護膜が形成され、保護膜の一部に５０μｍ角の窓が形成されて、窓を通じシリコン基板の一部が露出している。 - 特許庁

To provide a plasma treatment method which can be used for synthesis of various carbon coatings, and for reforming and etching of the surface of a sample substrate, without sacrificing any of speed and cost for synthesizing diamond, and to provide an apparatus therefor.例文帳に追加

ダイヤモンドの合成速度もしくは合成コストの何れをも犠牲にすることなく、各種炭素皮膜の合成及び試料基板表面の改質，エッチングに適用可能なプラズマ処理方法及びその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A detector for detecting electrons generated from a surface of the substrate is composed of divided detection elements, desired control according to a sample state is executed to orbits of the electrons, and a calculation process of an obtained output signal of each element is carried out.例文帳に追加

基板表面から発生する電子を検出する検出器を分割した検出素子で構成し、電子の軌道に対し試料状態に応じた所望の制御を行い、得られた各素子の出力信号の演算処理を行う。 - 特許庁

The α-ray measuring apparatus 100 includes an elevator 5 allowing the distance between a sample under measurement 2 and a charged particle incident surface of a semiconductor detector 1 to be regulated, a position sensor 5a, a control unit 13, and an α-ray radiation nuclide analyzer 40.例文帳に追加

α線測定装置１００は、測定試料２と半導体検出器１の荷電粒子入射面との間の距離を調節可能な昇降機５、位置センサ５ａ、制御ユニット１３、α線放出核種分析装置４０を備える。 - 特許庁

The leaflet label includes a base film 10, a leaflet body 20, that is attached on the surface of the base film 10, with commodity information described thereon, and a storage 30 of an article M of the sample, or the like, formed on the leaflet body 20.例文帳に追加

ベースフィルム１０と、このベースフィルム１０の表面に貼着される、商品関連情報が記載されたリーフレット本体２０と、このリーフレット本体２０の上に形成された、試供品等の物品Ｍの収納部３０とから構成されている。 - 特許庁

To calculate a high-accuracy RPC (Rational Polynomial Coefficients) model at a high speed by optimizing how to sample a corresponding point on the ground surface used for fitting and the number of the points by attitude information, orbit information and an imaging mode of a satellite, in an RPC calculation device.例文帳に追加

ＲＰＣ計算装置において、フィッティングに用いる地表面上の対応点の取り方、点数を、衛星の姿勢情報、軌道情報および撮像モードによって最適化することで、高精度のＲＰＣモデルを高速に計算する。 - 特許庁

The ribs of the pipette tip operate to keep the barrier separated from the outer surface of the pipette tip such that ambient air is allowed to flow into and from the interior of the sealed container assembly during aspiration of the liquid sample into the pipette tip allowing for accurate transfer of liquids while minimizing the risk of contamination.例文帳に追加

前記リブは、液体試料の吸引の間に空気が密封容器内に流入又は流出するように該ピペットチップの外表面からバリヤーを隔離し、液体の正確な移し替えを可能にしつつ汚染の危険を最小にする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measurement setting method capable of specifying a measuring spot on the sample surface highly accurately at high speed, and aligning the spot with a probe, to thereby heighten measurement efficiency by an atomic force microscope or the like.例文帳に追加

試料表面の測定箇所を高速にかつ高精度に特定して探針との位置合わせを行い、原子間力顕微鏡等により測定の効率を高める走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法を提供する。 - 特許庁

A sample 1 containing an analyzing target is arranged in the recess 5 with a depth of 0.8 μm or above formed to the surface of a window material 2 not having an absorption peak becoming an obstacle in the wavelength range used in infrared absorption spectrum analysis (a).例文帳に追加

分析対象物を含む試料１を、赤外吸収スペクトル分析に使用される波長範囲において邪魔になる吸収ピークを持たない窓材２の表面に形成された０．８μｍ以上の深さの凹部５内に配置する（ａ）。 - 特許庁

To provide a sensor using total reflection attenuation like a surface plasmon sensor wherein a differential value is obtained for a direction of each ranged photoelectric conversion element of a linear CCD that receives a light beam and a sample is accurately analyzed without using a complicated circuit.例文帳に追加

表面プラズモンセンサーのような全反射減衰を利用したセンサーにおいて、複雑な回路を用いることなく、光ビームを受光したリニアＣＣＤの各光電変換素子の列設方向に関する微分値を取得し、試料分析を正確に行なう。 - 特許庁

As the fixing member 11 for pressing the outer surface 10a of the holding part 10 with such a force, articles, such as caps, clips or fastening bands, can be cited, and can acquire proper mounting working efficiency of the sample container 9 on the holding part 10.例文帳に追加

このような力で保持部１０の外面１０ａを加圧する固定部材１１として、例えば、キャップ、クリップ、締結バンドのようなものを挙げることができ、保持部１０に対する試料容器９の取付け作業性が良好である。 - 特許庁

A light separation member 22 is arranged in a position nearly conjugate to the condensing point of the sample 12, separates the observation light into two luminous fluxes and emits them from the pinholes 22a and 22b formed in a reflecting film 22d provided on one side surface of the light separation member 22.例文帳に追加

光分離部材２２は、試料１２の集光点と略共役な位置に配置され、観察光を２つの光束に分離して、一側面に設けられている反射膜２２ｄに形成されているピンホール２２ａおよび２２ｂから射出する。 - 特許庁

A microfluid disk, which includes not only (a) a symmetric axis vertical to the surface of a disk, but also (b) an internal adapting region located at a radius distance that is smaller than the draw-out port and further, includes the microchannel structure (I) including the MS port and the sample drawing port (I), is disclosed.例文帳に追加

(ａ）ディスクの面に垂直な対称軸、（ｂ）引出しポートよりも短い半径距離のところに内部適用領域を含み、ＭＳポートおよび試料引入れポート（Ｉ）を含むマイクロチャンネル構造（Ｉ）を含むマイクロ流体ディスクを開示する。 - 特許庁

Reflection light of the visible light from the surface of the sample 2 is received by the poly capillary lens 8 again, is reflected by an X-ray transmitting mirror 12, passes through a pinhole 22, is reflected by a mirror 18 through a lens 16 and enters a light-sensitive element 20 so as to be detected.例文帳に追加

試料２上からの可視光の反射光は再びポリキャピラリレンズ８で受光され、Ｘ線透過ミラー１２で反射されピンホール２２を経てレンズ１６からミラー１８で反射され、受光素子２０に入射して検出される。 - 特許庁

A corrosive liquid 3 is put into a lower part in a sealed container 1, such as a desiccator, and a sample 4 is arranged in the vapor over the liquid surface of the corrosive liquid 3, and the sealed container 1 is stored in a thermostat 2 in this state, and heat cycle is performed.例文帳に追加

デシケータ等の密閉容器１内の下方に腐食性液体３を入れ、その腐食性液体３の液面より上の気中に試料４を配置し、この状態で密閉容器１を恒温槽２に収容し、ヒートサイクルを行う。 - 特許庁

A cantilever is forcibly vibrated near at least a secondary high-order resonance frequency in a cantilever, and the change in the amplitude phase, or resonance frequency is detected, thus measuring a force gradient in force operating between the probe and the sample surface.例文帳に追加

カンチレバーの少なくとも２次以上の高次の共振周波数近傍でカンチレバーを強制振動させ、その振幅、位相または共振周波数の変化を検出して探針と試料表面の間にはたらく力の力勾配を測定する。 - 特許庁

To provide-electron-optical equipment capable of developing magnetic anisotropy toward a cathode axis direction (traveling direction of spin polarization electrons) and thereby capable of efficiently carrying out the measurement of a spin polarization rate and an analysis/surface analysis of a magnetic material sample.例文帳に追加

陰極軸方向（スピン偏極電子の進行方向）への磁気異方性を発現することができ、もってスピン偏極率の測定や磁性体試料の解析・表面分析などを効率よく行うことが可能な電子光学機器を提供すること。 - 特許庁

A microscope adapter unit 4 disposed in an optical path of an illumination light from a light source unit 2 including a light source LS to a sample surface SP comprises a first lens group (lens L4 and L3) and a second lens group (lens L2 and L1).例文帳に追加

光源ＬＳを含む光源ユニット２から標本面ＳＰに至る照明光の光路中に配置される顕微鏡アダプタユニット４を、第１のレンズ群（レンズＬ４及びレンズＬ３）と第２のレンズ群（レンズＬ２及びレンズＬ１）で構成する。 - 特許庁

The objective optical system 4 for the microscope includes, in order from the side of a sample surface 5: a first lens group including at least two lenses of negative refractive power and having negative refractive power as a whole; and a second lens group including positive refractive power.例文帳に追加

顕微鏡用の対物光学系４は、標本面５側から順に、負の屈折力を有する少なくとも２つのレンズを含み、全体で負の屈折力を有する第１レンズ群と、正の屈折力を有する第２レンズ群と、を含む。 - 特許庁

To provide an electrostatic chuck which is used in a halogen-based corrosive gas and plasma thereof, and has sufficient electrostatic attracting force, and an electrostatic chuck device that is driven at a low voltage and reduces a thickness of an insulating dielectric material forming a sample mounting surface.例文帳に追加

ハロゲン系腐食性ガス及びそのプラズマ中で用いられ、十分な吸着力を有する静電チャック、低電圧駆動が可能で試料載置面を構成する絶縁性誘導体材料の厚さを厚くし得る静電チャック装置を提供する。 - 特許庁

The non-ideal condition, for example the foams on a fluid surface or clots in a fluid, results in the sample fluid volume much smaller than anticipated in the foams, and much greater than anticipated in clots.例文帳に追加

非理想的条件、例えば流体表面の気泡あるいは流体中のクロットにより、気泡の場合には試料流体量が予想よりも非常に小さくなり、クロットの場合には試料流体量が予想よりも非常に大きい結果となる。 - 特許庁

The focus controller acquires the result of imaging of the illuminated light image from the imaging section, evaluates the focus, and focuses the fluorescent image to the imaging surface, by driving at least either of the objective lens and the sample according to the focus evaluation of the illuminated light image.例文帳に追加

焦点制御部は、撮像部から照明光像の撮像結果を取得して合焦評価し、照明光像の合焦評価に従って対物レンズおよび標本の少なくとも一方を駆動して、蛍光像を撮像面に合焦させる。 - 特許庁

As a function of the minimum and maximum values of capacitance measured at each point and the depth on or from the topside surface 16 where each point resides, the electrically active dopant density of the semiconductor wafer or the sample 10 can be determined.例文帳に追加

各ポイントで測定された最小及び最大キャパシタンスと、各ポイントが存在する上面１６上又は上面１６からの深さとの関数として、半導体ウエハ又はサンプル１０の電気活性ドーピング密度を測定することができる。 - 特許庁

To provide a spacer for a hot press which is highly thermally conductive, makes the heat transfer of the contact surface with sample powder uniform at the sintering time of hot pressing, is capable of improving the temperature distribution in a furnace and has excellent compressive strength and impact resistance.例文帳に追加

高熱伝導性であり、ホットプレス焼結時における試料粉末との接触面の熱伝導を均一にし、炉内の温度分布を改善することができるとともに、圧縮強度及び耐衝撃性にも優れたホットプレス用スペーサーを提供する。 - 特許庁

Further, even when the high-pressure gas is introduced into the hermetically closed space 42, gas pressure is dispersed uniformly to the semispherical inner wall surface of the dome part 36 and the elastic deformation range of the dome part 36 is wide, the sample container can withstand the high pressure gas.例文帳に追加

また、密閉空間４２に高圧のガスを導入した場合でも、ドーム部３６の半球状の内壁面にガス圧が均一に分散されると共に、ドーム部３６の弾性変形範囲が広いため、高圧のガスにも耐えることができる。 - 特許庁