「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(46ページ目) - Weblio英語例文検索

For the sample carry-in/out operation between a load lock chamber 9a and an atmospheric carry-in/out means, a dry nitrogen gas is introduced and humidity in the load lock chamber 9a is reduced, and the gas introduction member 40, made up of a porous material when introducing the dry nitrogen gas, is set up on the top surface of the load lock chamber lid 21 that faces the sample table 14a.例文帳に追加

ロードロック室９ａと大気搬送手段間の試料搬入出処理操作に対し、乾燥窒素ガスを導入し、ロードロック室９ａ内の湿度を低減する構成とし、乾燥窒素ガスの導入時に多孔質材により構成するガス導入部材４０を試料台１４ａに対向するロードロック室蓋２１の上面に設置することにより構成する。 - 特許庁

The inside surface is constructed so that a curvature radius of an arc may decrease from a sample 1 to a detector 14 along the reference line and an angle formed by a line segment and a reference line from a reference intersection to the sample 1 side may decrease, which connects an arc intersection at which an arc and a reference plane intersect and a reference intersection at which the reference line and a plane including an arc intersect.例文帳に追加

内側面は、基準直線に沿って試料１から検出器１４に向かって、円弧の曲率半径が小さくなるとともに、円弧と基準平面とが交わる円弧交点と、基準直線と円弧含有平面とが交わる基準交点とを結ぶ線分と、基準交点から試料１側の基準直線との成す角が小さくなるよう構成されている。 - 特許庁

This surface analyzer is provided with a cantilever having a conductive probe opposed to a sample, an electron beam source for emitting an electron beam to a probe portion of the cantilever, and a spectrometer for collecting a charged particle generated from the sample by the X-ray generated from the probe, and for dispersing it spectrally, and the electron beam is emitted toward a probe opposite face of the cantilever.例文帳に追加

試料に対向する導電性探針を有するカンチレバーと、前記カンチレバーの前記探針部分に電子線を照射する電子線源と、前記探針から発生したＸ線により前記試料から発生した荷電粒子を捕集して分光する分光器を備えた表面分析装置であって、前記電子線が前記カンチレバーの探針反対面に照射する表面分析装置。 - 特許庁

In the testing method for accelerating the deterioration in the electrophotographic photoreceptor in which an electrifying step by an electrifier and an exposure step by an exposure device are simultaneously carried out, a sample presser member is arranged between the photoreceptor and the electrifier and the material of the surface of the sample presser member facing the electrifier is formed of a material having insulation properties.例文帳に追加

電子写真用感光体に、帯電器による帯電工程と露光装置による露光工程とを同時に行う電子写真用感光体劣化加速試験方法において、前記感光体と前記帯電器との間にサンプル押さえ部材が配置され、該サンプル押さえ部材の前記帯電器に対向する面の材質が絶縁性を有する材料で形成されていることを特徴とする。 - 特許庁

In this temperature rising desorption gas analyzer equipped with a load locking chamber 1 evacuated under vacuum and the heating chamber 11 for heating the sample fed from the load locking chamber 1 to raise the temperature thereof and measuring the characteristics of the desorption gas of the halogen element generated from the sample 21, the surface of the inner wall of the heating chamber 1 is coated with an aluminum sesquioxide film or a chromium sesquioxide film.例文帳に追加

真空排気されたロードロックチャンバ１と、ロードロックチャンバ１から搬送された試料を加熱、昇温させる加熱チャンバ１１とを備え、試料２１から発生するハロゲン元素の脱離ガス特性を測定する昇温脱離ガス分析装置であって、加熱チャンバ１１内壁の表面が、三酸化二アルミニウム膜または三酸化二クロム膜で被覆されている。 - 特許庁

The evaluation of the nonmetallic inclusion means estimating the inclusion mass ratio of the harmful nonmetallic inclusion in the stainless steel material using a calibration curve showing the correlation between the mass ratio of the nonmetallic inclusion where the CaO concentration in the prepared sample before dissolution is 25 mass% or higher and the whole inclusion area ratio of the sample surface after the dissolution.例文帳に追加

また、前記非金属介在物の評価が、予め作成した溶解前試料中のＣａＯ濃度が２５質量％以上の非金属介在物の質量率と溶解後試料表面の全介在物面積率との相関を示す検量線を用いてステンレス鋼材中における有害な非金属介在物の介在物質量率を推定するものであることを特徴とする。 - 特許庁

To realize a method for laser ionization mass spectrometry that performs operations such as classification of spectra according to pulses and computation with use of a signal of ions (index ions) generated through interaction between pulse laser light and either the surface of a substrate or the interface between a sample and the substrate and thereby attempts to extract a desired signal and filter out undesirable background noise, and to realize a substrate for the sample.例文帳に追加

パルスレーザー光と基板の表面または試料と基板の界面との相互作用により発生するイオン（指標イオン）の信号を利用してパルス毎のスペクトルに分類または演算などの操作を施し、望ましい信号の抽出や望ましくないバックグラウンドノイズの除去を行うようにしたレーザーイオン化質量分析法及びその試料用の基板を実現する。 - 特許庁

A defect inspection device is provided with a first irradiating means S for irradiating a sample 9 by emitting primary electron beams, mapping optical mechanisms 11 to 13 or imaging secondary electrons emitted from the surface of the sample 9 irradiated with the secondary electron beams, a detector D for detecting the secondary electrons, and an image treatment mechanism 18 for treating signals from the detector D.例文帳に追加

欠陥検査装置は、一次電子線を放出して試料９を照射するための第１の照射手段Ｓと、一次電子線で照射された試料９の表面から放出された二次電子を結像させるための写像光学機構１１〜１３と、二次電子を検出するための検出器Ｄと、検出器Ｄからの信号を処理する画像処理機構１８とを具備する。 - 特許庁

The work function measuring instrument 100A is constituted so as to calculate the work function of the probe 2A of a conductive cantilever 1A from the known work function value of each region of a standard sample 3A calculated by photoelectron spectroscopy and the surface potential value of each region of the standard sample 3A measured by a scanning Kelvin force microscope having the conductive cantilever 1A.例文帳に追加

仕事関数測定装置１００Ａは、光電子分光法により求められた標準試料３Ａの各領域の既知の仕事関数値と、導電性カンチレバー１Ａを有する走査型ケルビンフォース顕微鏡により計測された標準試料３Ａの各領域の表面電位値とから、導電性カンチレバー１Ａの深針２Ａの仕事関数を算出する。 - 特許庁

The nonmetallic inclusion in a sample is surfaced by dissolving the sample extracted from a stainless steel material by arc in a non-oxidizing atmosphere, the whole inclusion area ratio of the nonmetallic inclusion surfaced and collected on a surface after cooling is calculated, and the harmful nonmetallic inclusion in the stainless steel material is evaluated using the whole inclusion area ratio.例文帳に追加

ステンレス鋼材から採取した試料を非酸化性雰囲気中にてアークで溶解することにより試料中の非金属介在物を浮上させ、冷却後表面に浮上・集積した非金属介在物の全介在物面積率を算出し、該全介在物面積率を用いてステンレス鋼材中における有害な非金属介在物を評価することを特徴とする。 - 特許庁

The leaflet label includes a base film 10, a leaflet body 20, that is attached on the surface of the base film 10, with commodity information described thereon, and a storage 30 of an article M of the sample, or the like, formed on the leaflet body 20.例文帳に追加

ベースフィルム１０と、このベースフィルム１０の表面に貼着される、商品関連情報が記載されたリーフレット本体２０と、このリーフレット本体２０の上に形成された、試供品等の物品Ｍの収納部３０とから構成されている。 - 特許庁

In this application method of the reagent for applying the capturing reagent onto the film member for capturing a measuring object in a specimen sample provided in a flow through type assay device, the tool for application equipped with a projection part on the abutting surface to the film member is used.例文帳に追加

フロースルー型アッセイ装置に備えられる検体試料中の被測定物を捕捉するための膜部材に対し、捕捉試薬を塗布する試薬の塗布方法において、前記膜部材との当接面に突出部を備える塗布用治具を用いる。 - 特許庁

The α-ray measuring apparatus 100 includes an elevator 5 allowing the distance between a sample under measurement 2 and a charged particle incident surface of a semiconductor detector 1 to be regulated, a position sensor 5a, a control unit 13, and an α-ray radiation nuclide analyzer 40.例文帳に追加

α線測定装置１００は、測定試料２と半導体検出器１の荷電粒子入射面との間の距離を調節可能な昇降機５、位置センサ５ａ、制御ユニット１３、α線放出核種分析装置４０を備える。 - 特許庁

To provide a cell analyzing and separating apparatus using an inexpensive chip for cell separation which is replaceable in every sample, using a channel formed on one surface of a substrate, and to provide a method for culturing which cultures the separated cells without contamination.例文帳に追加

基板の一面に形成する流路を用いる細胞分離用の安価で試料毎に取替えが可能なチップを用いた細胞分析分離装置と、分離された細胞を汚染されること無く培養可能とする培養方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measurement setting method capable of specifying a measuring spot on the sample surface highly accurately at high speed, and aligning the spot with a probe, to thereby heighten measurement efficiency by an atomic force microscope or the like.例文帳に追加

試料表面の測定箇所を高速にかつ高精度に特定して探針との位置合わせを行い、原子間力顕微鏡等により測定の効率を高める走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法を提供する。 - 特許庁

A sample 1 containing an analyzing target is arranged in the recess 5 with a depth of 0.8 μm or above formed to the surface of a window material 2 not having an absorption peak becoming an obstacle in the wavelength range used in infrared absorption spectrum analysis (a).例文帳に追加

分析対象物を含む試料１を、赤外吸収スペクトル分析に使用される波長範囲において邪魔になる吸収ピークを持たない窓材２の表面に形成された０．８μｍ以上の深さの凹部５内に配置する（ａ）。 - 特許庁

To provide a sensor using total reflection attenuation like a surface plasmon sensor wherein a differential value is obtained for a direction of each ranged photoelectric conversion element of a linear CCD that receives a light beam and a sample is accurately analyzed without using a complicated circuit.例文帳に追加

表面プラズモンセンサーのような全反射減衰を利用したセンサーにおいて、複雑な回路を用いることなく、光ビームを受光したリニアＣＣＤの各光電変換素子の列設方向に関する微分値を取得し、試料分析を正確に行なう。 - 特許庁

A cantilever is forcibly vibrated near at least a secondary high-order resonance frequency in a cantilever, and the change in the amplitude phase, or resonance frequency is detected, thus measuring a force gradient in force operating between the probe and the sample surface.例文帳に追加

カンチレバーの少なくとも２次以上の高次の共振周波数近傍でカンチレバーを強制振動させ、その振幅、位相または共振周波数の変化を検出して探針と試料表面の間にはたらく力の力勾配を測定する。 - 特許庁

To provide-electron-optical equipment capable of developing magnetic anisotropy toward a cathode axis direction (traveling direction of spin polarization electrons) and thereby capable of efficiently carrying out the measurement of a spin polarization rate and an analysis/surface analysis of a magnetic material sample.例文帳に追加

陰極軸方向（スピン偏極電子の進行方向）への磁気異方性を発現することができ、もってスピン偏極率の測定や磁性体試料の解析・表面分析などを効率よく行うことが可能な電子光学機器を提供すること。 - 特許庁

A microscope adapter unit 4 disposed in an optical path of an illumination light from a light source unit 2 including a light source LS to a sample surface SP comprises a first lens group (lens L4 and L3) and a second lens group (lens L2 and L1).例文帳に追加

光源ＬＳを含む光源ユニット２から標本面ＳＰに至る照明光の光路中に配置される顕微鏡アダプタユニット４を、第１のレンズ群（レンズＬ４及びレンズＬ３）と第２のレンズ群（レンズＬ２及びレンズＬ１）で構成する。 - 特許庁

The objective optical system 4 for the microscope includes, in order from the side of a sample surface 5: a first lens group including at least two lenses of negative refractive power and having negative refractive power as a whole; and a second lens group including positive refractive power.例文帳に追加

顕微鏡用の対物光学系４は、標本面５側から順に、負の屈折力を有する少なくとも２つのレンズを含み、全体で負の屈折力を有する第１レンズ群と、正の屈折力を有する第２レンズ群と、を含む。 - 特許庁

To provide an electrostatic chuck which is used in a halogen-based corrosive gas and plasma thereof, and has sufficient electrostatic attracting force, and an electrostatic chuck device that is driven at a low voltage and reduces a thickness of an insulating dielectric material forming a sample mounting surface.例文帳に追加

ハロゲン系腐食性ガス及びそのプラズマ中で用いられ、十分な吸着力を有する静電チャック、低電圧駆動が可能で試料載置面を構成する絶縁性誘導体材料の厚さを厚くし得る静電チャック装置を提供する。 - 特許庁

In this case, light in an oblique lower direction produced from the adjacent well 10a or from a sample in another well 10a is reflected in an oblique upper direction by the outer-periphery surface of the shading pipe part 2a, and cannot reach the light reception part 1a as stray light.例文帳に追加

この際、隣接するウエル１０ａや他のウエル１０ａ内の試料から発生する斜め下方向からの光は、遮光パイプ部２ａの外周面で斜め上方に向けて反射され、迷光として受光部１ａに達することはない。 - 特許庁

Thus, the image of a uniform plane light source free from irregular luminance occurring at the emitting end of the rod integrator 3 is formed on the observation surface of the sample so as to achieve critical illumination, thereby performing observation in such a state where the depth of focus is shallow in comparison with Koehler illumination.例文帳に追加

これによりロッドインテグレータ３の射出端に生じる輝度ムラの無い均一な平面状光源を試料の観察面に結像しクリティカル照明が実現され、ケーラー照明に比べて焦点深度の浅い状態での観察ができる。 - 特許庁

(a) Scattered light from a surface of a sample after the same process as that of an inspection object is observed to detect defects based on the intensity of the scattered light, and the positions of the detected defects and the intensity of scattered light caused by the defects are acquired.例文帳に追加

（ａ）検査対象物と同一の処理を経たサンプルの表面からの散乱光を観測して、散乱光の強度に基づいて欠陥を検出し、検出された欠陥の位置、及び当該欠陥に起因する散乱光の強度を取得する。 - 特許庁

An orbit of the charged particle is calculated in compliance with the decided distribution model, and a surface potential distribution state of the sample is determined on a base of the result of the calculation, (step 523 to 535).例文帳に追加

そして、その取得結果に基づいて、適切な電荷又は電位の分布モデルを決定し、その決定された分布モデルに応じて荷電粒子ビームの軌道を計算し、該計算結果に基づいて試料の表面電位の分布状態を求める（ステップ５２３〜５３５）。 - 特許庁

The fluorescence excited by the exciting light to be generated from the sample surface 16 is condensed by the same Schwarz's mirror 14 to transmit through the half mirror 12 as parallel light and the transmitted light is condensed by a Sshwarz's mirror 18 to be incident on a fluorescence side spectroscope 20.例文帳に追加

励起光により励起されて試料面１６から発生した蛍光は、同じシュワルツ鏡１４により集光され、平行光とされてハーフミラー１２を透過し、シュワルツ鏡１８により集光されて蛍光側分光器２０に入射する。 - 特許庁

To provide a method of removing blur of a pattern image acquired by an SEM and easily and accurately measuring the three-dimensional shape of a pattern of a sample surface based on information of the height direction of a pattern acquired by another measuring machine such as an AFM.例文帳に追加

ＳＥＭによって得られたパターン画像のボケを除去し、ＡＦＭなどの他の計測機で得られたパターンの高さ方向の情報と合わせ、試料表面のパターンの３次元形状を簡便にかつ精度良く計測する方法を提供する。 - 特許庁

The non-ideal condition, for example the foams on a fluid surface or clots in a fluid, results in the sample fluid volume much smaller than anticipated in the foams, and much greater than anticipated in clots.例文帳に追加

非理想的条件、例えば流体表面の気泡あるいは流体中のクロットにより、気泡の場合には試料流体量が予想よりも非常に小さくなり、クロットの場合には試料流体量が予想よりも非常に大きい結果となる。 - 特許庁

The focus controller acquires the result of imaging of the illuminated light image from the imaging section, evaluates the focus, and focuses the fluorescent image to the imaging surface, by driving at least either of the objective lens and the sample according to the focus evaluation of the illuminated light image.例文帳に追加

焦点制御部は、撮像部から照明光像の撮像結果を取得して合焦評価し、照明光像の合焦評価に従って対物レンズおよび標本の少なくとも一方を駆動して、蛍光像を撮像面に合焦させる。 - 特許庁

To calculate a high-accuracy RPC (Rational Polynomial Coefficients) model at a high speed by optimizing how to sample a corresponding point on the ground surface used for fitting and the number of the points by attitude information, orbit information and an imaging mode of a satellite, in an RPC calculation device.例文帳に追加

ＲＰＣ計算装置において、フィッティングに用いる地表面上の対応点の取り方、点数を、衛星の姿勢情報、軌道情報および撮像モードによって最適化することで、高精度のＲＰＣモデルを高速に計算する。 - 特許庁

The ribs of the pipette tip operate to keep the barrier separated from the outer surface of the pipette tip such that ambient air is allowed to flow into and from the interior of the sealed container assembly during aspiration of the liquid sample into the pipette tip allowing for accurate transfer of liquids while minimizing the risk of contamination.例文帳に追加

前記リブは、液体試料の吸引の間に空気が密封容器内に流入又は流出するように該ピペットチップの外表面からバリヤーを隔離し、液体の正確な移し替えを可能にしつつ汚染の危険を最小にする。 - 特許庁

To provide a method of preparing, an analytical sample from which detailed information on a defective portion, in particular, a defective portion positioned in the vicinity of the surface of a semiconductor substrate, among the defective portion generated in a semiconductor device, can be obtained.例文帳に追加

半導体装置において発生した不良個所のうち、特に半導体基板の表面近傍に位置する不良箇所について、この部分の詳細な情報を得ることができる試料を作製する分析用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

A light-receiving unit 37 is rotated about a normal line (vertical axis) to the surface of a sample 24 by means of a pulse motor 31 and, in addition, is rotated in the forward and backward directions about around a prescribed horizontal axis in Fig. 1 by means of a pulse motor 34.例文帳に追加

受光ユニット３７は、パルスモータ３１の駆動により、試料２４の試料面法線（鉛直軸）を中心に回転され、且つ、パルスモータ３４の駆動により、所定の水平軸を中心に図１において前後方向に回転される。 - 特許庁

A micro-fluid disk is disclosed which includes not only (a) a symmetric axis vertical to the surface of a disk but also (b) an internal adapting region located at a radius distance that is smaller than the draw-out port and further, and includes the microchannel structure (I) which includes the MS port and the sample draw-in port (I).例文帳に追加

(ａ）ディスクの面に垂直な対称軸、（ｂ）引出しポートよりも短い半径距離のところに内部適用領域を含み、ＭＳポートおよび試料引入れポート（Ｉ）を含むマイクロチャンネル構造（Ｉ）を含むマイクロ流体ディスクを開示する。 - 特許庁

In this stain resistance testing method and a stain resistance testing machine, a staining substance is bonded to the surface of a sample by repeating dripping of a definite amount of a staining substance-containing liquid from an upper constant position and rinsing of the staining substance-containing liquid to evaluate dust.例文帳に追加

本発明の耐汚染性試験方法及び装置は、汚染物質含有液を上部の定位置から一定量の滴下と水洗を繰り返すことで試料表面に汚染物質を付着させるとした塵埃について評価する。 - 特許庁

In the probe 14, when information detection laser light 19 is focused onto the tip, plasmon resonance occurs on the surface of the metal film coat 30, and near-field light 31 is generated from the tip, and the sample 31 is irradiated with the near-field light 31.例文帳に追加

プローブ１４において、情報検出レーザ光１９を先端にフォーカスさせると、金属膜コート３０の表面でプラズモン共鳴を起こし、先端から近接場光３１が発生し、近接場光３１が試料に照射される。 - 特許庁

A plurality of lens barrels 32, arranged in parallel in this electron beam apparatus, comprise the electron gun chamber 1 for emitting a plurality of electron beams from a plurality of projections of cathodes 3 and electron optical systems Y for forming the images of the plurality of electron beams on the surface of a sample.例文帳に追加

該電子線装置では、カソード３の複数の突起から複数の電子ビームを放出する電子銃部１と該複数の電子ビームを試料の面上に結像させる電子光学系Ｙとを有する鏡筒３２が複数並設される。 - 特許庁

A measurement solution 11 made of a sample solution and an electrolyte solution is held by or passed through an electrochemical cell 5, namely a reaction cell, and light is intermittently applied to a working electrode 10 of which the surface comes into contact with the measurement solution from a light source 8.例文帳に追加

反応セルである電気化学セル５に試料溶液及び電解質溶液からなる測定溶液１１を保持又は通過させ、該測定溶液に表面が接触する作用電極１０に向けて光源８から光を間欠照射する。 - 特許庁

The microscope is also equipped with an optical microscope 17 for observing the measuring spot on the sample surface together with the cantilever, a camera 18 for generating image data from an observation image acquired by a second microscope, and transmitting the data to the control device, and a storage part 51 for storing the image data.例文帳に追加

さらに、試料の表面の測定箇所をカンチレバーと共に観察する光学顕微鏡１７と、第２顕微鏡で得られる観察像から画像データを作り、制御装置に送るカメラ１８と、画像データを記憶する記憶部５１を備える。 - 特許庁

In the correction work, an opening width of a photoreception slit 18 is widened compared with that in the time of measuring the X-ray reflectance, and the analyzer crystal 58 is arranged in the midway of a reflection route to detect a total reflection X-ray 20 from a surface of a sample 16.例文帳に追加

その修正作業では，受光スリット１８の開口幅をＸ線反射率測定時よりも広くして，反射経路の途中にアナライザー結晶５８を配置して，試料１６の表面からの全反射Ｘ線２０を検出する。 - 特許庁

A corrosive liquid 3 is put into a lower part in a sealed container 1, such as a desiccator, and a sample 4 is arranged in the vapor over the liquid surface of the corrosive liquid 3, and the sealed container 1 is stored in a thermostat 2 in this state, and heat cycle is performed.例文帳に追加

デシケータ等の密閉容器１内の下方に腐食性液体３を入れ、その腐食性液体３の液面より上の気中に試料４を配置し、この状態で密閉容器１を恒温槽２に収容し、ヒートサイクルを行う。 - 特許庁

In the filter tip, the difference between the widths the upper and the lower part of the cross section of a convex portion perpendicularly to the channel, which forms the micro-fabrication channel is within about 4 μm or less, and there is no cute angle shape in the surface facing the flow of a sample liquid.例文帳に追加

微細流路を形成する凸部の、流路に直交する方向の断面の上及び下における幅の差が約４μｍ以下であるフィルターチップ、及び試料液の流れに対向する面に鋭角形状を持たないフィルターチップ。 - 特許庁

To provide a technique capable of analyzing a segregation degree without polishing any cross-section surface of a cast piece sample, and capable of conducting the analysis of the segregation degree over a short period (about 2-4 hours) in which the process to be conducted is shifted from a continuous casting process to a rolling process.例文帳に追加

鋳片サンプル断面を研磨加工することなく偏析度の分析を行うこと可能であって、かつ、連続鋳造工程から圧延工程へ移行するまでの短時間（約２〜４時間）の間に偏析度の分析を可能とする技術の提供。 - 特許庁

This filter chip has a difference between the upper and lower widths of the cross section, in the direction of crossing the fine flow channel of the protruded part of the fine flow channel is about 4 μm or smaller and has no acute angle shape in the surface opposite to the flow of the sample liquid.例文帳に追加

微細流路を形成する凸部の、流路に直交する方向の断面の上及び下における幅の差が約４μｍ以下であるフィルターチップ、及び試料液の流れに対向する面に鋭角形状を持たないフィルターチップ。 - 特許庁